FI65332C - Foerfarande foer maetning i tvao prov av skillnaden av optiskaegenskaper beroende av ljusets riktning - Google Patents

Foerfarande foer maetning i tvao prov av skillnaden av optiskaegenskaper beroende av ljusets riktning Download PDF

Info

Publication number
FI65332C
FI65332C FI822306A FI822306A FI65332C FI 65332 C FI65332 C FI 65332C FI 822306 A FI822306 A FI 822306A FI 822306 A FI822306 A FI 822306A FI 65332 C FI65332 C FI 65332C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
light
equipment
samples
maintenance
release
Prior art date
Application number
FI822306A
Other languages
English (en)
Other versions
FI65332B (fi
FI822306A0 (fi
Inventor
Hannu Harjunmaa
Original Assignee
Labsystems Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Labsystems Oy filed Critical Labsystems Oy
Publication of FI822306A0 publication Critical patent/FI822306A0/fi
Priority to FI822306A priority Critical patent/FI65332C/fi
Priority to AT83902258T priority patent/ATE22995T1/de
Priority to PCT/FI1983/000050 priority patent/WO1984000213A1/en
Priority to US06/579,887 priority patent/US4555178A/en
Priority to JP58502278A priority patent/JPS59501176A/ja
Priority to DE8383902258T priority patent/DE3367027D1/de
Priority to EP83902258A priority patent/EP0112376B1/en
Priority to IT67697/83A priority patent/IT1159429B/it
Application granted granted Critical
Publication of FI65332B publication Critical patent/FI65332B/fi
Priority to DK85384A priority patent/DK85384A/da
Priority to SU843706912A priority patent/SU1384218A3/ru
Publication of FI65332C publication Critical patent/FI65332C/fi

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/49Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
    • G01N21/53Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
    • G01N21/532Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke with measurement of scattering and transmission
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity
    • G01N21/57Measuring gloss

Description

1 65332
Menetelmä kahden näytteen valon suunnasta riippuvien optisten ominaisuuksien eron mittaamiseksi Tämän keksinnön kohteena on menetelmä kahden näytteen valon suunnasta riippuvien optisten ominaisuuksien 5 eron mittaamiseksi, jossa menetelmässä käytetään yhtä tai useampaa valonlähdettä sekä yhtä valonilmaisinta. Keksinnön mukaisella menetelmällä saadaan ero yhdellä mittauksella.
Näytteet, joille keksinnön mukainen menetelmä sovel-10 tuu,voivat olla kiinteitä, nestemäisiä tai kaasumaisia tilavuusnäytteitä tai valoa heijastavia pintoja tai valoa läpäiseviä kalvoja.
Julkaisusta GB 1356049 tunnetaan menetelmä kahden pinnan heiiastuskyvyn vertaamiseksi. Siinä heijastetaan 15 valoa vuorotellen kummallekin pinnalle ja verrataan heijastuneita valoja. Julkaisusta DE 2 335 794 tunnetaan järjestely, jossa yhteen näytteeseen johdetaan vuorotellen erisuuntaiset valonsäteet ja verrataan heijastuneita valoja näytteen pinnan heijastusominaisuuksien muutoksen havaitsemiseksi.
20 Nämä mittaussysteemit eivät kuitenkaan sovellu kahden näytteen valon suunnasta riippuvien optisten ominaisuuksien eron mittaamiseen siten, että ilmaisimen vaihtosi^naali on suoraan verrannollinen kyseiseen eroon.
Keksintö käy lähemmin selville seuraavasta selitykses-25 tä ja oheisista piirustuksista, joissa kuvio 1 esittää suoritusmuotoa, jossa mitataan ihon epätasaisuutta ihon paikallisen näppylöitymisen johdosta allergiareaktiossa ja kuvio 2 esittää sovellutusmuotoa, jossa mitataan 30 eroa kahden nestenäytteen sameudessa. Menetelmäkuvauksessa esimerkkinä käytetään kahden ointanäytteen eoätasaisuus-eron mittausta, .’e, miten näytteiden laatu vaikuttaa menetelmän toteutuksen yksityiskohtiin, on alan ammattimiehelle selvää. Samoin on selvää, että tätä menetelmää voi sovel-35 taa myö3 ultravioletti- ja ihfrapuna-alueella.
Keksinnön mukaisessa menetelmässä käytetään näytettä kohti kahta valoa, joiden tulosuunnan ja lähtösuunnan väli- 2 65332 nen kulma on erisuuri. Valojen suuntaaminen tapahtuu ammattimiehelle tunnetulla tavalla, kuten esimerkiksi peileillä tai prismoilla, jos käytetään yhtä tai kahta valonlähdettä, tai pelkästään valonlähteiden ja niihin mahdollisesti liit-5 tyvien linssien sijoittelulla, jos käytetään neljää valonlähdettä. Nimitetään toista pintanäytettä tutkittavaksi pinnaksi ja toista vertailupinnaksi. Molempia pintoja valaistaan samanaikaisesti, toista toisensuuntaisella ja toista toisensuuntaisella valolla, ja molemmista heijastuneen 10 valon annetaan samanaikaisesti vaikuttaa yhteen valonilmai-simeen. Valojen suuntia vaihdellaan keskenään sopivalla taajuudella, joka valitaan siten, että sekä valon suunnan sähköinen tai mekaaninen ohjaus että valonilmaisin ja siihen liittyvä elektroniikka, kuten esim. vahvistimet, 15 pystyvät ko. taajuudella luotettavasti ja tarkasti toimimaan. Valonilmaisimen lineaarisuuden ansiosta informaatio heijastuskertoimien erotuksesta säilyy, ja jos pintojen epätasaisuus on erisuuri, ts. jos yhden pinnan heijastus-kertoimien erotus käytettävillä kahdella valon suunnalla 20 on erisuuri kuin toisen pinnan vastaava erotus, valonilmaisin antaa vaihtosignaalin, jonka taajuus on sama kuin valon suuntien vuorottelutaajuus ja amplitudi verrannollinen pintojen epätasaisuuseroon. Mittauksen tulos on riippumaton näytteen tummuudesta eli sen absorption suun-25 nan suhteen neutraalista komponentista ja myöskin riippumaton näytteiden mahdollisista värieroista.
Alan ammattimiehelle on selvää, että yleisesti tässä menetelmässä mittausvalon suunnan valinta voidaan tehdä näytteen jälkeenkin, jolloin näytteitä valaistaisiin jat-30 kuvasti samansuuntaisella valolla.
Yleisesti keksinnön mukaisessa menetelmässä, jottei näytteen tummuus vaikuttaisi mittaustulokseen, on tarpeen säätää samaa näytettä valaisevien valonlähteiden voimakkuus sellaiseksi, että erisuuntaiset valot aiheuttavat 35 valonilmaisimessa yhtä suuren signaalin. Säätö tapahtuu käytännössä siten, että toisen näytteen paikalle asetetaan valkoinen ja toisen paikalle musta kalibrointininta 3 65332 .ja säädetään valonvoimakkuitta joko sähköisesti tai suotimilla siten, että valonilmaisimen vaihtosignaali tulee nollaksi. Mustan ja valkoisen kalibrointinäytteen paikat vaihdetaan ja säätö toistetaan.
5 Sen lisäksi, että näytteet voivat olla saman pinnan eri osia, ne voivat olla myös saman neste- tai kaasuvir-tauksen eri osia.
Kuvion 1 esimerkissä keksintöä sovelletaan ihon paikalliseen näppylöitymiseen allergiareaktion vaikutuksesta. 10 Valonlähteinä 3-6 käytetään neljää samanväristä valoa emittoivaa diodia, joista kaksi 3, 4 valaisee ihoa kohtisuoraan ja kaksi 5, 6 vinosti. Valonilmaisimena käytetään yhtä valotransistoria 7, johon osuu kahdesta ihon testi-alueesta 1, 2 heijastunut valo. Ohjausyksikkö 8 toimii 15 siten, että kumpaakin testialuetta valaisee yksi LED kohtisuoraan ja yksi vinosti siten, että aina yhden LEDin valaistessa toista testialuetta kohtisuoraan valaisee toista LED vinosti. Valotransistorin 7 vaihtosignaali syötetään vahvistimeen 9, tasasuunnataan ja mitataan.
20 Merkitään testialueiden heijastuskertoimia kohtisuo rassa valossa ja D2 sekä vinossa valossa ja S.,. Valonlähteiden vuorotellessa yllä kuvatulla tavalla valon-ilmaisimen vaihtosignaali on verrannollinen lausekkeeseen 25 R = (Dx + S21 - (D2 + joka saadaan yksinkertaisella tavalla muotoon S = (Dx - Sx) - (P2 - S2) 30
Merkitään
Hl = D1 - S1
Hj = Dj - S2 .
1» 65332 Tästä seuraa R = H1 - H2 5 Suureet ja karakterisoivat näytteiden heijastussuun-takuviota. Jos näytteiden heijastussuuntakuvio on erilainen, saadaan signaali, joka, koska heijastussuuntakuvion ero on seurausta epätasaisuuserosta, on sitä suurempi, mitä suurempi on ero pintojen epätasaisuudessa.
10 Kuvion 2 sovellutuksessa tutkittavana on kaksi neste- näytettä la ja 2a, ja mitattavana ominaisuutena sameus. Laite on siis differentiaalinen nefelometri. Sinänsä tunnetuilla menetelmillä suunnataan valo yhdestä, kahdesta tai neljästä valonlähteestä kuvion mukaisesti näytteisiin.
15 Osa valosta tavoittaa valonilmaisimen 7a, jonka vaihto-signaalin kanssa menetellään samoin kuin edellä.
Yleisesti keksinnön mukaisessa menetelmässä, käytettäessä kahta tai neljää valonlähdettä, voidaan balanssi-säätö tehdä automaattisesti toisen valonilmaisimen avulla.
20 Tähän johdetaan vuoronperään sopivalla taajuudella näyte kummastakin erisuuntaisesta valonsäteestä yhdeltä näytteeltä kerrallaan, ja saatavaa vaihtosignaalia käytetään valonlähteiden valovoimakkuuden keskinäisen suhteen säätämiseen siten, että kyseinen vaihtosignaali tuLee nollaksi.
25 Tämän toisen valonilmaisimen tasasignaalia voidaan myös käyttää valonlähteiden valovoimakkuuden stabilointiin.
Olennaista tälle keksinnölle ei ole se, mitä tunnettuja keinoja käytetään valonsäteiden suuntaamiseen näytteeseen tai näytteestä lähtevän ilmaistavan valon suunnan 30 valitsemiseen ja valon suuntien vuorottelun aikaansaamiseen, tapahtui se laitteesen kuuluvaa optiikkaa liikuttamalla tai valonlähteitä ohjaamalla, taikka näytteitä liikuttamalla, vaan katsotaan kaikki mainittuja keinoja käyttävät laitteet kuuluviksi keksinnön suojapiiriin.
55
FI822306A 1982-06-29 1982-06-29 Foerfarande foer maetning i tvao prov av skillnaden av optiskaegenskaper beroende av ljusets riktning FI65332C (fi)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI822306A FI65332C (fi) 1982-06-29 1982-06-29 Foerfarande foer maetning i tvao prov av skillnaden av optiskaegenskaper beroende av ljusets riktning
JP58502278A JPS59501176A (ja) 1982-06-29 1983-06-21 二つの主成文の光線方向に依存する光学的性質における差異の測定方法
PCT/FI1983/000050 WO1984000213A1 (en) 1982-06-29 1983-06-21 Method for the measurement of the difference in the optical properties of two samples
US06/579,887 US4555178A (en) 1982-06-29 1983-06-21 Method for the measurement of the difference in the optical properties dependent on the light direction of two samples
AT83902258T ATE22995T1 (de) 1982-06-29 1983-06-21 Verfahren zum messen der unterschiede an optischen eigenschaften zweier muster.
DE8383902258T DE3367027D1 (en) 1982-06-29 1983-06-21 Method for the measurement of the difference in the optical properties of two samples
EP83902258A EP0112376B1 (en) 1982-06-29 1983-06-21 Method for the measurement of the difference in the optical properties of two samples
IT67697/83A IT1159429B (it) 1982-06-29 1983-06-27 Procedimento per misurare la differenza delle proprieta ottiche dipendenti dalla direzione della luce di due campioni
DK85384A DK85384A (da) 1982-06-29 1984-02-21 Fremgangsmaade til maaling af forskellen i optiske egenskaber afhaengigt af lysretningen fra to proever
SU843706912A SU1384218A3 (ru) 1982-06-29 1984-02-27 Способ сравнени оптических свойств двух образцов

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI822306 1982-06-29
FI822306A FI65332C (fi) 1982-06-29 1982-06-29 Foerfarande foer maetning i tvao prov av skillnaden av optiskaegenskaper beroende av ljusets riktning

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI822306A0 FI822306A0 (fi) 1982-06-29
FI65332B FI65332B (fi) 1983-12-30
FI65332C true FI65332C (fi) 1984-04-10

Family

ID=8515760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI822306A FI65332C (fi) 1982-06-29 1982-06-29 Foerfarande foer maetning i tvao prov av skillnaden av optiskaegenskaper beroende av ljusets riktning

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4555178A (fi)
EP (1) EP0112376B1 (fi)
JP (1) JPS59501176A (fi)
DE (1) DE3367027D1 (fi)
DK (1) DK85384A (fi)
FI (1) FI65332C (fi)
IT (1) IT1159429B (fi)
SU (1) SU1384218A3 (fi)
WO (1) WO1984000213A1 (fi)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0789083B2 (ja) * 1984-04-27 1995-09-27 名古屋大学長 山形ミラーを用いた新ホモダイン法による非対称スペクトル分布測定装置
US4750140A (en) * 1984-11-30 1988-06-07 Kawasaki Steel Corporation Method of and apparatus for determining glossiness of surface of a body
IT1237711B (it) * 1989-12-20 1993-06-15 Fiat Auto Spa Procedimento e dispositivo per la valutazione oggettiva dell'acciacamento di tessuti pelosi, in particolare velluti per il rivestimento di sedili di autoveicoli
US4997497A (en) * 1990-04-05 1991-03-05 Rockwell International Corporation Castable smoke-producing pyrotechnic compositions
US5293210A (en) * 1992-04-24 1994-03-08 Becton, Dickinson And Company Detection of bacteria in blood culture bottles by time-resolved light scattering and absorption measurement
US5204538A (en) * 1992-05-18 1993-04-20 Xerox Corporation Densitometer for an electrophotographic printer using focused and unfocused reflecting beams
WO2001029541A1 (en) * 1999-10-18 2001-04-26 Siemens Plc Device for measuring water quality
JP2016120535A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 株式会社ディスコ 加工装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE489392C (de) * 1930-01-16 Zeiss Carl Fa Zum Vorschalten vor ein Photometer bestimmte Einrichtung
GB796661A (en) * 1955-06-02 1958-06-18 Zeiss Stiftung Optical arrangement for comparing the transmission ratio of a sample with a standard
US3892492A (en) * 1972-10-16 1975-07-01 Loepfe Ag Geb Optoelectrical apparatus with directional light sources for detecting reflection behaviour of an object
SU690372A1 (ru) * 1975-12-26 1979-10-05 Предприятие П/Я Р-6900 Нефелометр
US4120592A (en) * 1976-03-24 1978-10-17 E. I. Du Pont De Nemours And Company Multiplex optical analyzer apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
SU1384218A3 (ru) 1988-03-23
US4555178A (en) 1985-11-26
EP0112376A1 (en) 1984-07-04
IT1159429B (it) 1987-02-25
JPS59501176A (ja) 1984-07-05
DK85384D0 (da) 1984-02-21
DK85384A (da) 1984-02-21
EP0112376B1 (en) 1986-10-15
FI65332B (fi) 1983-12-30
DE3367027D1 (en) 1986-11-20
IT8367697A0 (it) 1983-06-27
FI822306A0 (fi) 1982-06-29
WO1984000213A1 (en) 1984-01-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4981362A (en) Particle concentration measuring method and device
JP3730612B2 (ja) 薄膜検査方法およびその装置
US4740079A (en) Method of and apparatus for detecting foreign substances
WO1998051993A1 (fr) Dispositif servant a mesurer une hauteur
FI65332C (fi) Foerfarande foer maetning i tvao prov av skillnaden av optiskaegenskaper beroende av ljusets riktning
US4801810A (en) Elliptical reflector illumination system for inspection of printed wiring boards
KR960014919A (ko) 광학적검사방법 및 광학적 검사장치
US8184282B2 (en) Method and system for defect detection using transmissive bright field illumination and transmissive dark field illumination
FI78355C (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
US7087885B1 (en) Particle size distribution measuring apparatus and method
KR970075860A (ko) 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치
US20180188515A1 (en) Vertical chromatic confocal scanning method and system
FI72391C (fi) Foerfarande foer maetning av skillnaden av faergaemnehalt i prov.
FI96451C (fi) Refraktometri
JP2914967B2 (ja) 外観検査方法
FI95078B (fi) Menetelmä ja laitteisto pitkänomaisten kappaleiden muodon optiseksi mittaamiseksi
CN107340247A (zh) 一种溶液吸光度检测系统及方法
SU1249324A1 (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
SU1029002A2 (ru) Способ измерени толщины сло
SU1500920A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени
SU1675669A1 (ru) Устройство дл контрол качества поверхности
JP2002340786A (ja) 光量照度調整装置及びそれを備えた試料検査装置
JPH116798A (ja) 反射測定方法および反射測定装置
SU1597532A1 (ru) Устройство дл контрол диаметра прозрачных волокон
JPH085566A (ja) 光学部品の異物および欠陥の検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: LABSYSTEMS OY