KR970075860A - 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치 - Google Patents

물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 상 초점 평면(Fi)내에 기본영역(101)의 푸리에 변환(102)을 형성하는 측정 렌즈(2), 검출기(4i, j)에 의해 형성되는 센서(4)상에 기본 영역의 상을 형성하는 트랜스퍼 렌즈(3), 기본 영역(101)의 개구를 한정하는 조리개(5) 및 처리회로(6)를 포함하는, 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치를 제공한다. 푸리에 변환(102)을 발생시키는 측정 렌즈(2)는 시야 렌즈와 연관이 있고, 두개의 광학수단(2, 10)과, 조리개(5)에 의해 한정되는 직경(d)로 이루어진 원형 개구와의 조합으로 인해, 입사각 θ와 방위각 φ를 갖는 어떤 임의의 광성에 대해서, 분석 물체(1)상에 타원 형태의 측정 영역 선택이 가능하다.

Description

물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 분석중인 물체의 기본 영역에 의해 방사되는 평행 광선의 궤적을 갖는 본 발명에 따른 측정 장치를 나타낸 도면, 제2도는 제1도의 측정 장치를 도시한 것으로서, 분석중인 물체의 기본 영역에 의해 방사되는, 상이한 각도를 이루는 여러개의 광선을 개략적으로 나타낸 도면, 제3도는 분석중인 물체의 기본 영역을 투광하기 위한 장치를 개략적으로 도시한 도면, 제4도는 제3와 유사한 도면으로서, 분석중인 물체의 기본 영역에 대해 상이한 입사 각도를 이루는 여러개의 광선으로 상기 물체의 기본 영역을 투광하는 상태를 나타낸 도면.

Claims (6)

  1. 물체(1), 특히 액정 스크린의 기본 영역(101)의 특성을 그 기본 영역(101)의 관측 방향에서 결정하기 위해, 상기 물체의 측광 및 측색 특성을 측정하는 장치에 있어서, 상기 기본 영역(101)의 푸리에 변환(각도 세기 분포)(102)을 상기 기본 영역의 상 초점 평면(Fi)에 발생시키기 위한 측정 렌즈(2)와; 주어진 각도 좌표에 대해 상기 기본 영역(101)의 빛의 세기에 대응하는 전기적 신호(Si, j, φ)를 각각 제공하는 일련의 검출기(4i, j)로 구성되는 센서(4)상에 상기 각도 세기 분포의 상을 형성하기 위한 트랜스퍼 렌즈(3)와; 상기 기본 영역(101)의 개구를 한정하기 위해 상기 광선의 경로상에 위치하는 조리개(5)와; 상기 센서(4)의 각 검출 셀(4i, j)로부터 상기 전기적 신호를 수신하기 위한 처리 회로를 구비하고, 상기 측정 렌즈(2)는 시야 렌즈(10)와 연관이 있고, 상기 두개의 광학렌즈(2, 10)와, 상기 조리개(5)에 의해 한정되는 직경(d)로 이루어진 원형 개구와의 조합으로 인해, 입사각 θ와 방위각 φ를 갖는 어떤 임의의 광선에 대해서, 상기 분석 물체(1)상에서 타원 형태의 측정 영역 선택이 가능하고, 상기 타원 영역은 단축(D) 및 장축(D/cosθ)으로 구성되어, 1/cosθ, 정량(D) 및 (d)가 상기 측정 렌즈(2) 및 시야 렌즈(10)에 의해 형성되는 광학계의 배율과 관련이 있음으로 인해 상기 단축과 장축의 곱이 변하고; 상기 장축은 상기 광학계의 축 및, 상기 타원 영역의 중심에 의해 방사되는 각도θ를 이루는 광선을 통과하는 평면내에 위치하는 것을 특징으로 하는 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광선의 경로는 파장 선택 필터(8), 즉 일군의 파장중에서 선택가능한 필터 또는 편광 필터를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 광선의 경로는 분석선 특히, 각도φ의 방위각선을 한정하는 슬릿(10)을 구비하는 것을 특징으로 하는 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 광선이 경로는 광 제어 요소로 구성되는 상기 렌즈(2)상의 초점 평면의 켤레 평면에 위치하는 광원에 의해 형성되고, 상기 렌즈(2)를 통해 조명 조리개에 의해 한정되는 일정한 횡단면을 갖는 일군의 광선으로 상기 물체(1)를 조명하는 조명 디바이스(11)를 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  5. 제4항에 있어서, 상기 광선의 경로는 상기 조명 디바이스(11)를 광축으로부터 벗어나게 이동시키고, 분석 광선이 상기 물체(1)에 의해 방사되도록 하기 위한 반 투명 거울(12)을 포함하는 것을 특징으로 하는 장치.
  6. 제4항에 있어서, 상기 광원(11)은 상기 물체(1)에 대해 수행될 분석의 방식에 기초하여 주어진 방향으로 또는 주어진 조명 분포에 따라 선택 조명을 제공하기 위해, 특히 상기 센서(4)에 의해 절달되는 신호(Si, j, φ)의 분석결과에 따라 마이크로프로세서(7)에 의해 제어되는 것을 특징으로 하는 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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