SU1485070A1 - Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц и устройство для его осуществления - Google Patents

Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц и устройство для его осуществления Download PDF

Info

Publication number
SU1485070A1
SU1485070A1 SU874270758A SU4270758A SU1485070A1 SU 1485070 A1 SU1485070 A1 SU 1485070A1 SU 874270758 A SU874270758 A SU 874270758A SU 4270758 A SU4270758 A SU 4270758A SU 1485070 A1 SU1485070 A1 SU 1485070A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
light
transverse
concentration
medium
scattering particles
Prior art date
Application number
SU874270758A
Other languages
English (en)
Inventor
Oleg V Angelskij
Petr P Maksimyak
Original Assignee
Univ Chernovitskij G
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Univ Chernovitskij G filed Critical Univ Chernovitskij G
Priority to SU874270758A priority Critical patent/SU1485070A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1485070A1 publication Critical patent/SU1485070A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к оптическим способам и устройствам контроля дисперсных сред , может найти приИзобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к оптическим способам и устройствам контроля дисперсных сред, и может найти применение в микробиологии, медицине, электронной и химической промышленностях, а также. при контроле загрязнения окружающей среды.
Цель изобретения — повышение точности, сокращение времени анализа и его упрощение.
На фиг. I изображена блок-схема устройства, реализующего .способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц; на фиг. 2 — схема интерферометра поперечного сканирования; на фиг. 3 — типичный вид поперечной
2
менение в микробиологии, медицине, электронной и химической промышленности при контроле загрязнения окружающей среды. Целью изобретения является повышение точности, сокращение времени анализа и упрощение. Среду с исследуемыми частицами подвергают зондированию параллельным пучком высококогерентного света. Прошедший через среду свет расщепляют амплитудно на два пучка равной интенсивности, которые соосно смешивают, формируя в плоскости фотоприемника интерференционную картину от ансамбля светорассеивающих частиц, Последовательно смещая в поперечном направлении две составляющие расщепленного пучка друг относительно друга, определяют полуширину поперечной корреляционной функции, а также усредненное значение по- <5 перечной функции когерентности, из которых находят средний размер частиц и концентрацию частиц в среде. 2 с. п. ф-лы,
3 ил.
корреляционной функции Г(р) в зависимости от величины поперечного смещения р.
Устройство содержит источник 1 излучения, телескопическую систему 2, оптическую кювету 3, интерферометр 4 поперечного сканирования,объектив 5,апертурную 6 и полевую 7 диафрагмы, фотоэлектрический блок 8 регистрации.
Интерферометр 4 поперечного сканирования состоит из первой 9 и второй 10. идентичных, склеенных большими основаниями трапецеидальных призм и с углами у оснований, равными 45°, и плоского зеркала 1 1. На большом основании первой призмы 9 нанесено полупрозрачное светоделящее покрытие, а на ее малом основании — зеркально-отражающее покрытие. Плоское зер511 ,,,, 1485070
1485070
кало 1 1 находится в оптическом контакте с малым основанием второй призмы 10 посредством слоя иммерсионной жидкости 12 с показателем преломления, равным показателю преломления материала призмы, и $ связано с механизмом 13 юстировки и микроперемещения, обеспечивающем смещение в направлении, нормальном к его плоскости.
Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц поясняется на примере работы устройства.
Устройство работает следующим образом.
На вход устройства поступает излучение одномодового лазера. Телескопическая система 2 служит для расширения пучка и 15 формирования волны с плоским фронтом.
При прохождении этой волны через исследуемую среду, помещенную в плоскопараллельную кювету 3, происходит рассеяние излучения. Рассеянное излучение попадает в интерферометр 4 поперечного сканирования. В интерферометре обеспечивается расщепление пучка на две равноинтенсивных составляющие, взаимное поперечное смещение расщепленных составляющих и последующее их смещение. Объектив 5 прое- 25 цирует изображение ансамбля светорассеивающих частиц в плоскость полевой диафрагмы 7, непосредственно за которой расположен фотоэлектрический блок 8 регистрации. Апертурная диафрагма 6 позволяет ограничивать спектр принимаемых прост- 30 ранственных частот поля рассеянного излучения.
Путем измерения интенсивностей результирующего поля 1Махс и 1Ьин для разностей хода пучков в плечах интерферометра соответственно О и λ/2 по формуле 35
V = Г (О) = -Гмалсс 4“ I миц
определяют видность V или степень когерентности Г (О) изображения ансамбля дд светорассеивающих частиц при нулевом относительном смещении между пучками. Аналогично определяют степень когерентности поля для различных поперечных смещений между пучками. Поперечное смещение осуществляют перемещением зеркала 11 с по- 45 мощью механизма 13 микроперемещения.
Поперечная функция Ц (у) когерентности граничного поля излучения, прошедшего через светорассеивающую среду, несет информацию о корреляционной функции фг (р) изображения системы частиц и связана с 50 ней следующим соотношением:
<1 (р) = Фг (р) + ι~, (1)
Нормированная поперечная корреляционная функция Ф<($/фо(0) изображения монодисперсного ансамбля N частиц соответствует нормированной корреляционной функции фДу) изображения для одной частицы:
Щ =2Й:<?) (?)_ = 44 (£1
ψζ(0) Ν%(0) 44,(0)’
(2)
Для сферической частицы радиуса К величина ф„ (ίΓ/Φο(0) определяется площадью перекрытия наложенных изображений частицы в зависимости от поперечного смещения р между центрами изображений частицы:
/{<2- "К2 агс51п£-].
(3)
При ρ = 2К, φΉ (Г>) = 0, т. е. по нулевому значению поперечной корреляционной функции изображения частиц, можно определить их радиус. Однако переход ф„ (р) 0
довольно плавный, поэтому возникает погрешность определения К. Эта погрешность особенно существенна для полидисперсного ансамбля частиц. Более эффективным является определение К по полуширине корреляционной функции. Решение уравнения (3) для случая, когда фДр) = 1/2, дает
К=1,238р„. (4)
Для полидисперсного ансамбля частиц К соответствует среднему значению радиусов частиц.
Объемную концентрацию С светорассеивающих частиц определяют из следующих соображений. Пусть 5О — площадь поперечного сечения падающего пучка, а 5 — суммарное сечение светорассеивающих частиц. Определив на основании предыдущих измерений Р, получаем, что
5 = ΝπΡ2,
где N — число светорассеивающих частиц в объеме (ά — геометрическая толщина кюветы).
Тогда объемная концентрация частиц
Л/ _ 5
С 8„ ά 8ояРМ (5)
Значение’ ί^, определяется видностью интерференционной картины при поперечном смещении р >>2Р. Из предположения пропорциональности интенсивностей поля поперечному сечению падающего пучка получаем
где 1^ — когерентная составляющая, обусловленная нерассеянным пучком и равная усредненному значению поперечной функции Гг когерентности.
1ма.кс4~ Тни
Бикс = 4 (5О—25) ф- 25; 1^«= 25,
Тогда
р — V — 1мии __ |__К
5
1485070
ό
откуда 5 = (
4-ΤΧο
2-П
)5,,
тогда с « (1^-ξ) . (6)
Для полидисперсного ансамбля рассеивающих частиц соотношение (6) выполняется хуже. Погрешность в определении С тем больше, чем больше отклонение от монодисперсности.
Таким образом, полуширина ψΗ(ρ) дает значение К. По отношению (6) определяем С.
Повышение точности, экспрессное™ и сни жение трудоемкости в предлагаемом способе и устройстве, его реализующем, достигается за счет того, что операция статического осреднения локальных значений поля осуществляется здесь интерференционно уже в оптическом тракте.
10
15
20

Claims (2)

  1. Формула изобретения
    1. Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц, включающий зондирование среды с иссле- 25 дуемыми частицами параллельным пучком когерентного света, измерение интенсивности прошедшего через среду светового излучения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, сокращения времени анализа и его упрощения, прошедший среду све- 30 товой пучок амплитудно расщепляют на две составляющие равной интенсивности, соосно смешивают эти две составляющие, формируют изображение ансамбля светорассеивающих частиц в плоскости приемного фоторегистратора, производят последовательное 35 поперечное смещение смешиваемых составляющих прошедшего светового пучка друг относительно друга, для каждого положения поперечного смещения составляющих в плоскости приемного фоторегистратора измеряют вндность результирующей интерференцион- 40
    ной картины, определяют поперечную функцию когерентности поля рассеянного излучения, из которой находят полуширину рп соответствующей ей корреляционной функции и усредненное значение Γθ, поперечной функции когерентности, при этом радиус К и концентрацию С светорассеивающих частиц определяют из соотношений
    К = 1,238^;
    с (2—Ιί.2κν
    где ά — геометрическая толщина слоя исследуемой среды.
  2. 2. Устройство для определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц, содержащее источник высококогерентного светового излучения, на оптической оси которого последовательно размещены элемент расширения пучка, оптическая кювета с исследуемой средой, полевая диафрагма, приемный фоторегистратор, отличающееся тем, что в устройство дополнительно введены последовательно размещенные по ходу луча между оптической кюветой и полевой диафрагмой интерферометр поперечного сканирования, объектив и аппертурная диафрагма, причем интерферометр поперечного сканирования выполнен в виде первой и второй трапецеидальных призм с углами у больших оснований, равными 45°, плоского зеркала и механизма микроперемещения, при этом первая и вторая трапецеидальные призмы склеены большими основаниями, большое и малое основания первой трапецеидальной призмы снабжены соответственно полупрозрачным и зеркальноотражающим покрытиями, плоское зеркало, установленное в оптическом контакте с малым основанием второй трапецеидальной призмы при помощи иммерсионной жидкости, соединено с механизмом микроперемещения.
    7 4
    фиг.1
    6
    1485070
    /7^
SU874270758A 1987-04-20 1987-04-20 Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц и устройство для его осуществления SU1485070A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874270758A SU1485070A1 (ru) 1987-04-20 1987-04-20 Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц и устройство для его осуществления

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874270758A SU1485070A1 (ru) 1987-04-20 1987-04-20 Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц и устройство для его осуществления

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1485070A1 true SU1485070A1 (ru) 1989-06-07

Family

ID=21314230

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874270758A SU1485070A1 (ru) 1987-04-20 1987-04-20 Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц и устройство для его осуществления

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1485070A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111504870A (zh) * 2020-05-15 2020-08-07 中国计量科学研究院 检测样品中聚集体颗粒在目标粒径下浓度的非标记方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111504870A (zh) * 2020-05-15 2020-08-07 中国计量科学研究院 检测样品中聚集体颗粒在目标粒径下浓度的非标记方法
CN111504870B (zh) * 2020-05-15 2021-01-29 中国计量科学研究院 检测样品中聚集体颗粒在目标粒径下浓度的非标记方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Rastogi Techniques of displacement and deformation measurements in speckle metrology
Kafri et al. Moiré deflectometry: a ray deflection approach to optical testing
US4011044A (en) Use of laser speckle patterns for measurement of electrophoretic mobilities
CN108027568A (zh) 光谱光束轮廓叠对度量
JPS58210548A (ja) 干渉屈折計
JPS6355020B2 (ru)
JPS5862507A (ja) 表面の形状を光の干渉により決定する方法
US4577940A (en) Moire microscope
Muller Double beam interferometry for electrochemical studies
SU1485070A1 (ru) Способ определения среднего размера и концентрации светорассеивающих частиц и устройство для его осуществления
JPS62266439A (ja) 分光偏光測定装置
EP0128183B1 (en) Inspection apparatus and method
Joyeux et al. Real time measurement of angström order transverse displacement or vibrations, by use of laser speckle
CN108760684A (zh) 一种测量流体界面性质的传感器
US3432239A (en) Optical instruments of the interference type
US4639132A (en) Direct determination of modulation transfer function by moire deflectrometry
JPH05500853A (ja) ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置
SU1717971A1 (ru) Сканирующий интерферометр Маха-Цандера дл измерени комплексного показател преломлени жидкостей
SU882322A1 (ru) Лазерный доплеровский микроскоп
RU2107903C1 (ru) Способ контроля формы оптической поверхности
SU1582091A1 (ru) Интерференционный способ определени показател преломлени
SU1550378A1 (ru) Способ определени показател преломлени прозрачных сред
SU1705706A1 (ru) Голографический способ измерени амплитуды колебаний объекта
RU2039969C1 (ru) Голографический способ определения показателя преломления жидких и газообразных сред
SU1500920A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента зеркального отражени