SU1323940A1 - Неразрушающий способ контрол адгезии металла к диэлектрику - Google Patents
Неразрушающий способ контрол адгезии металла к диэлектрику Download PDFInfo
- Publication number
- SU1323940A1 SU1323940A1 SU864034711A SU4034711A SU1323940A1 SU 1323940 A1 SU1323940 A1 SU 1323940A1 SU 864034711 A SU864034711 A SU 864034711A SU 4034711 A SU4034711 A SU 4034711A SU 1323940 A1 SU1323940 A1 SU 1323940A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- dielectric
- sample
- metal
- adhesion
- current
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к способам контрол механической прочности соединений металл-диэлектрик и может быть использовано в микроэлектронике, полупроводниковой технике, кабельной промышленности и других област х. Способ позвол ет упростить процесс измерени . Образец с ассиметрией, заложенной в нем либо в процессе технологии изготовлени , либо в предварительно созданной анизатропии самого диэлектрика, подключают через переключатель пол рности к измерителю тока. Помещают образец в услови повышенной влажности и регистрируют изменение направлени тока при смене пол рности включени образца, что позвол ет судить об адгезии металла к диэлектрику . В услови х повышенной влажности происходит сорбци пленки на поверхности диэлектрика, при этом увеличиваетс ток, что повышает достоверность контрол адгезии металла к диэлектрику. 1 ил. Р 00 ГчЭ СО СО 1
Description
Изобретение относитс к способам определени прочности и может быть использовано в кабельной технике, микроэлектронике и полупроводниковой технике.
Целью изобретени вл етс упрощение процесса измерени .
На чертеже приведена принципиальна схема устройства дл осуществлени предлагаемого способа.
Диэлектрик 1, на который нанесены металлические электроды 2, зажимаютс между токоотвод щими электродами 3, которые подсоединены к измерительному прибору 4 через переключатель 5 пол рности при этом образец помещен в камеру 6 влажности.
Способ осуществл ют следующим образом .
Образец с асимметрией, заложенной в технологии изготовлени его или в предварительно созданной анизотропии самого диэлектрика 1, помещают в камеру 6 влажности , затем подсоедин ют его к регистратору тока и в замкнутой цепи образец-измерительный прибор 4 регистрируют генерируемый образцом ток. Далее производ т переключение пол рности образца, поворачива его на 180° или мен местами токоподвод щие проводники 3 измерительного прибора, что также можно сделать с помощью переключател 5, после чего регистрируют смену направлени тока, что вл етс гарантией генерации тока образцом, а следовательно, доказывает наличие хорошей адгезии металла к диэлектрику.
Контроль адгезии металлических покрытий на диэлектрическом основании данным способом можно проводить только дл асимметричных структур металл-диэлектрик-металл . Такие ассиметричные структуры имеютс в микроэлектронике, когда на
диэлектрическую подложку (ситалл, керамика , сапфир, брокерит и т. д.) нанос т резистивные пленки из алюмини или тантала , из золота или никел и т. д., а также осуществл ют многослойное покрытие с разным количеством слоев металла на каждой
из сторон диэлектрика, или, если имеетс градиент концентрации носителей зар да, вдоль самого диэлектрика.
Claims (1)
- Формула изобретениНеразрущающий способ контрол адгезии металла к диэлектрику, при котором на образце измер ют электрические параметры, отличающийс тем, что, с целью упрощени процесса измерени ,образец с асимметрией провод щих слоев или с анизотропией диэлектрика помещают в камеру влажности, регистрируют ток, генерируемый образцом, производ т переключение пол рности образца и по смене направлени генерируемого тока суд т обадгезии металла с диэлектриком.Составитель Е. АнисимовРедактор А. ЛежнинаТехред И. ВересКорректор В Бут гаЗаказ 2959/48Тираж 776ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий1 13035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5 Производственно-полиграфическое предпри тие, г. Ужгород, ул. Проектна , 4
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864034711A SU1323940A1 (ru) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Неразрушающий способ контрол адгезии металла к диэлектрику |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864034711A SU1323940A1 (ru) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Неразрушающий способ контрол адгезии металла к диэлектрику |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1323940A1 true SU1323940A1 (ru) | 1987-07-15 |
Family
ID=21225534
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864034711A SU1323940A1 (ru) | 1986-03-07 | 1986-03-07 | Неразрушающий способ контрол адгезии металла к диэлектрику |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1323940A1 (ru) |
-
1986
- 1986-03-07 SU SU864034711A patent/SU1323940A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Зайдман С. А. Твердотельный источник тока с высоким внутренним сопротивлением. - Приборы и системы управлени , 1982, № 8, с. 25. Авторское свидетельство СССР № 491085, кл. G 01 N 19/04, опублик. 1975. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6231743B1 (en) | Method for forming a semiconductor device | |
EP1616172B1 (en) | A thin semiconductor film gas sensor device | |
ATE93320T1 (de) | Verfahren zum feststellen und/oder zum identifizieren einer biologischen substanz durch elektrische messungen und vorrichtung zum durchfuehren dieses verfahrens. | |
SU1323940A1 (ru) | Неразрушающий способ контрол адгезии металла к диэлектрику | |
JP2965176B2 (ja) | 静電チャックの過渡特性評価方法 | |
US7710130B2 (en) | Volume resistivity measurement apparatus for dielectric layer of electrostatic chuck and measurement method using the apparatus | |
JP2901781B2 (ja) | 半導体装置の検査方法 | |
SU894571A1 (ru) | Способ обнаружени трещин в электроизол ционных материалов | |
SU1429060A1 (ru) | Способ измерени напр женности электрического пол в твердом диэлектрике | |
SU1572170A1 (ru) | Способ контрол толщины диэлектрической пленки на электропровод щей подложке | |
Kern et al. | New methods for detecting structural defects in glass passivation films | |
SU989422A1 (ru) | Датчик влажности и температуры | |
SU1185066A1 (ru) | Способ определени толщины многослойных электропроводных покрытий | |
SU763767A1 (ru) | Способ контрол дефектов | |
SU1536528A1 (ru) | Зондовое устройство дл измерени электрических параметров изделий микроэлектроники | |
JPH0124271B2 (ru) | ||
JPH05149989A (ja) | プリント配線板の試験方法 | |
JPS5917259A (ja) | 半導体素子の測定方法 | |
SU1250982A1 (ru) | Способ определени сопротивлени контактного соединени проволоки и тонкой пленки | |
SU1599747A1 (ru) | Способ контрол сплошности диэлектрических покрытий | |
SU729156A1 (ru) | Способ определени готовности комбинированных металло-стекл нных и металлокерамических спаев | |
JP2890180B2 (ja) | 電子回路へのアクセスを提供するための給受電制御プローブの製造方法 | |
SU1177778A1 (ru) | Способ определени координат дефектов в электроизол ционных материалах | |
RU2186440C1 (ru) | Магниторезистивный датчик | |
JPS61110443A (ja) | 半導体素子コ−テイング材の判別方法 |