SU1276435A1

SU1276435A1 - Способ регулировани соосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждени и устройство дл его осуществлени

Info

Publication number: SU1276435A1
Application number: SU853928533A
Authority: SU
Inventors: Николай Иванович Шестаков; Валерий Михайлович Паршин; Евгений Алексеевич Нечаев; Юрий Иванович Жаворонков; Альберт Павлович Щеголев; Борис Николаевич Николаев
Original assignee: Череповецкий Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Металлургический Комбинат Им.50-Летия Ссср
Priority date: 1985-07-12
Filing date: 1985-07-12
Publication date: 1986-12-15

Description

Изобретение относитс к металлургии, а именно к непрерывной разливке металлов.

Целью изобретени вл етс повышение качества слитка.

На чертеже приведена функциональна с.хема устройства, предназначенного дл осуществлени способа.

Схема содержит измерители 1 и 2 температуры рабочи.к стенок 3 и 4 кристаллизатора , сумматор 5, регистрирую1ций прибор 6, пороговый элемент 7, задатчик 8 разности температур рабочих стенок, усилители 9 и 10, фазочувствительные элементы 11 и 12, исполнительные механизмы 13 и 14. Причем измеритель 1 температуры рабочей стенки, сумматор 5, пороговый элемент 7, усилитель 9, фазочувствительный элемент 11 и исиолнительный механизм 13 соединены последовательно . Также последовательно соединены усилитель 10, фазочувствительпый элемент 12 и исиолнительный механизм 14. Вход усилител 10 соединен с вторым выходом иорогового элемента 7, а второй вход порогового элемента 7 соединен с выходом задатчика 8 разности температуры рабочих стенок. Выход измерител 2 температуры рабочей стенки соединен с вторым входом блока 5 сравнени , а выход этого блока соединен также с входом регистрирующего прибора 6.

Способ регулировапи несооспости кристаллизатора и 11оддержива1он1ей секции зоны вторичного охлаждени включает измерение температуры двух противоположных рабочих стенок кристаллизатора на рассто нии от нижнего торна кристаллизатора, равном 0,01-0,15 его высоты, и Г1еремеи1епие кристаллизатора или поддерживаюи1,ей секции в зависимости от разности измеренных температур. Этот диапазон установлен экспериментально из услови получени наибо .тее достоверной ин(})ормании о величине несоосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждени .

При рассто нии от нижнего торца кристаллизатора , меньшем 0,010 и большем 0,15 его высоты, разность температур двух противоположных рабочих стенок не иревышает К) К. С учетом того, что погрешность замера температуры составл ет (1,5--2) К. точность регулировани наклона рабочей стенки, при установке термопар в этих зонах, будет невысокой. Наибо;1ьи а разность температур в нижней части кристаллизатора св зана с тем, что существенное вли ние на результат замера оказывает вторичное охлаждение, интенсиЕлюсть которого от величины несоосности не зависит.

При рассто нии от нижнего торп.г, кристал:1изатора , большем 0,15 его BbicoTU, оболочка слитка под действием с|)еррсстатического давлени достаточно плотно прижимаетс к рабочей стенке даже при значительной несоосности, поэтому разность температур двух противоположных стенок невелика .

При изменении несоосности кристаллизатора и поддерживаюш,ей секции зоны вторичного охлаждени слиток будет более плотно прижиматьс к одной из рабочих стенок кристаллизатора и отходить от противоположной. Стенка, более плотно контактирующа со слитком, будет и.меть и более высокую температуру. Таким образом, то разности темнератур противоположных стенок можно вполне определенно судить о величине несоосности кристаллизатора и поддерживающей секции.

Если несоосность небольша , то переметать следует иоддерживающую секцию, поскольку технически это осуществить несложно . Однако при значите.тьной несоосности (более 1-2 мм) перемещать поддерживающую секцию не следует, так как это влечет за собой существенное искажение те.хпологической осп мащипы. В данном случае необходимо перемещать кристаллизатор.

Устройство работает следующим образом .

Измерители 1 и 2 из.мер ют температуру противоположных рабочих стенок 3 и 4 кристаллизатора в точках, расположенных на рассто нии от нижнего торца кристаллизатора , равном 0,01-0,15 его высоты.

0 Сигналы, соответствующие измеренным температурам , поступают на входы су.мматора 5, на выходе из сумматора формируетс сигнал, пропорциональный разности измеренных температур. Этот сигнал ноступает на регистрирующий прибор 6 дл визуального

контрол оператором величины несоосности . Кроме того, унравл юншй сигнал с сумматора поступает на вход порогового элемента 7, где он сравниваетс с сигналом, поступившим с задатчика 8 разности темQ пературы стенок кристаллизатора. ECJSH управл ющий сигнал превьипает заданную величину, то он ноступает без изменени на вход усилител 9, где усиливаетс до мощности, необходимой дл управлени исполнительным механизмом 13 перемеще5 нп кристаллизатора по нормали к поверхности слитка. Причем управл юпиш сигнал ироходит через фазочувствительный элемент 11, где определ етс направление перемещени кристаллизатора. Если управл ющий сигнал .MeHbHje заданной величины, то он поступает без измепени на вход усилител 10, где усиливаетс до мощности, необходи .мой дл унравлени исиолнительны.м механизмом 14 неремеще ни поддерживающей секции но нормали к поверхности

5 слитка.

В этом случае уг1ра15л ющий сигнал проходит через фазочувствительпый элемепт.

где определ етс направление перемещени секции.

Техническое преимущество изобретени заключаетс в повыщении степени достоверности информации о тепловых процессах, протекающих в рабочих стенках, что позвол ет осуществить обоснованное регулирование несоосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждени . Ожидаетс снижение пораженности металла трещинами на 35-40%.

Claims

1. Способ регулировани соосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного охлаждени , включающий перемещение поддерживающей секции по нормали к поверхности слитка, отличающийс тем, что, с целью повыщени качества слитка, дополнительно измер ют температуру двух противоположных рабочих стенок кристаллизатора на рассто нии от нижнего торца кристаллизатора, равном 0,01-0,15 его высоты, определ ют разность этих температур , сравнивают ее с заданной и при разности, меньщей заданного значени , перемещают поддерживающую секцию по нормали к поверхности слитков, контактирующей с более холодной рабочей стенкой, а при разности, больщей заданного значени , перемещают кристаллизатор по нормали к поверхности более гор чей стенки.

2. Устройство дл регулировани соосности кристаллизатора и поддерживающей секции зоны вторичного -охлаждени , содержащее первый усилитель и первый исполнительный механизм, отличающеес тем, что, с целью повышени качества слитка, оно снабжено двум измерител ми температуры противоположных рабочих стенок

0 кристаллизатора, сумматором, двум фазочувствительными элементами, задатчиком разности температур стенок кристаллизатора , пороговым элементом, вторым усилителем и вторым исполнительным механизмом,

j причем выходы измерителей температуры соединены с входами сумматора, выход которого соединен с первым входом порогового элемента, второй вход которого соединен с выходом задатчика разности температур, первый выход порогового элемента соединен

0 с входом первого усилител , выход которого соединен с входом первого фазочувствительного элемента, выход которого соединен с входом первого исполнительного механизма , второй выход порогового элемента соединен с входом второго усилител , выход которого соединен с входом второго фазочувствительного элемента, выход которого соединен с входом второго исполнительного механизма.