SU1206732A1 - Устройство дл диагностировани логических блоков - Google Patents

Устройство дл диагностировани логических блоков Download PDF

Info

Publication number
SU1206732A1
SU1206732A1 SU843748323A SU3748323A SU1206732A1 SU 1206732 A1 SU1206732 A1 SU 1206732A1 SU 843748323 A SU843748323 A SU 843748323A SU 3748323 A SU3748323 A SU 3748323A SU 1206732 A1 SU1206732 A1 SU 1206732A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
inputs
input
output
outputs
display unit
Prior art date
Application number
SU843748323A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Юрьевич Лидак
Владимир Григорьевич Тодуров
Виктор Васильевич Данилов
Валерий Леонидович Никонов
Сергей Степанович Полосин
Лев Яковлевич Сокур
Григорий Борисович Соловей
Петр Иванович Соснин
Original Assignee
Ульяновский политехнический институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ульяновский политехнический институт filed Critical Ульяновский политехнический институт
Priority to SU843748323A priority Critical patent/SU1206732A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1206732A1 publication Critical patent/SU1206732A1/ru

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быт использовало при поиске неисправное- тей логических блоков с точностью до корпуска микросхемы.
Цель изобретени  - повьшение быстродействи  устройства.
На чертеже представлена блок-схем предлагаемого устройства.
Устройство дл  диагностировани  неисправностей объекта 1 диагностики содержит генератор 2 тестов, сумматор 3 по модулю два, блок 4 свертки по модулю, два, регистр 5 сдвига, блок 6 индикации, первый 7 и второй формирователи одиночного импульса, счетчик 9, мультиплексор 10, регистр II, первый 12 и второй 13 элементы ИЛИ, первый 14 и второй 15 элементы задержки, многоконгактный зонд 16, задатчик 17 контролируемых вьшодов, элементы И 18.
Блок 6 индикации содержит индикатор 19 готовности сигнатуры, индикатор 20 сигнатуры, индикатор 21 номера вьшода. Выходы первого 7 и второго 8 формирователей одиночного импульса соединены соответственно с установочным и счетным входами счетчика 9. Первые выходы генератора 2 .тестов соединены с клеммами дл  подключени  входов объекта 1 диагностики . Выход сумматора 3 по модулю два соединен с информационньм входом гистра 5 сдвига, соединенного выходами с первыми входами сумматора 3 п модулю два. Входы многоконтактного зонда 16 соединены с клеммами дл  по ключени  выводов одной из микросхем диагностируемого логического блока, выходы - с соответств тощими первыми входами элементов И 18,вторые входы которых соединены с выходами задатчи ка 17 контролируемых выводов, выходы - с соответствующими первыми ин- формационными входами мультиплексора 10 и с входами блока 4 свертки по модулю два, соединенного выходом с вторым информационньм входом мультиплексора 10, соединенного адресными входами с выходами счетчика 9 и с первыми входами блока б индикации, выходом с вторым входом сз мматора 3 по модулю два.
Установочный вход регистра сдвига соединен с выходом первого элемента ИЖ 12, соединенного первьм входом через первый элемент 14 задерж
ки с выходом второго формировател  8 одиночного импульса, с первым входом второго элеме нта ИЛИ 1-3 и с управл ющим входом регистра 11, соединенного выходами с вторыми входами блока 6 индикации, соединенного : третьим входом с вторым выходом генератора 2 тестов, четвертым входом - с входом генератора 2 тестов и с выходом второго элемента 15 задержки, соединенного входом с выходом второго элемента ИЛИ 13, соединенного вторым входом с выходом первого формировател  7 одиночного импульса и с вторым входом первого элемента ИЛИ 12. .
Устройство работает следующим об-, разом.;
С помощью устройства осуществл етс  автоматизированный поиск неисправностей объекта 1 диагностики с точностью до корпуса неисправной микросхемы. Поиск начинаетс  с неисправного по тесту выхода объекта 1 диагностики, при этом с помощью электрической схемы объекта 1 диагностики вы вл етс  микросхема, работающа  на неисправный выход объек- - та 1 диагностики. К вьшодам корпуса этой микросхемы подключаютс  . миогоконтактный зонд 16, обеспечивающий съем сигналов со всех входных и выходных вьюодов микросхемы. Затем определ етс  соответствие сигналов на выходных выводах микросхемы эталоннымо Дл  этого с помощью задатчика 17 контролируемых вьшодов, ..выполненного, например, на тумблерах, формируютс  разрешающие сигналы на входы элементов И 18, соответствующих выходным выводам мик- росхемы, к которой подключен многоконтактный зонд 16, С помощью формировател  7 одиночного импульса, за даетс  одиночный импульс, который устанавливает счетчик 9 в состо ние 1 И ,,. 1, регистр 5 сдвига через элемент ИЛИ 12 - в нулевое состо ние. Код 1 11... 1 с выходов счетчика 9
поступает на адресные входы мультиплексора 10, что приводит к подключению через мультиплексор 10 выходи блока 4 свертки по модулю два к информационному входу сигнатурного ана
лизатора, выполненного на суммато- I ре 3 по модулю два и регистре 5 сдвига . Одиночный импульс с выхода формировател  7 поступает также через
элемент ИЛИ 13 и элемент 15 задержки на вход генератора 2 тестов и на вход блока 6 индикации, вьпслюча  в нем индикатор 19 готйвности сигнатуры . Индикатор 19 готовности сигнатуры выключен в течение всего времени работы генератора 2 тестов, что указьюает оператору, что очередна  сигнатура в регистре 5 сдвига еще не получена и можно обрабатьшать предшествующую сигнатуру сравнивать ее с эталонной), По запускающему сигналу с выхода элемента 15 задержки генератор 2 тестов задает йа входы объекта 1 диагностики входные воздействи , причем при недостаточно высокой частоте работы генератора 2 тестов и большом числе тестов врем  их задани  становитс  сравнимым со временем .обработки предшествующей сигнатуры оператором, что позвол ет , совмещать задание тестов дл  получени  i+1-и сигнатуры с анализом 1-и сигнатуры.
i Реакции с выходных контактов ди- агнос.тируемой микросхемы проход т - через зонд 16 и открытые задатчи- ком 17 элементы И 18 на входы блока 4 свертки по модулю два, где дл  каждого из входных тестовых воздействий на объект 1 диагностики формируетс  свертка по модулю два выходных реакций диагностируемой микросхемы. Результат свертки, полученной в блоке 4, поступает через мультиплексор 10 на вход сз мматора 3 по модулю два, где суммируютс  с содержимьм регистра 5 сдвига, сдвиг в котором осуществл етс  синхронно с подачей тестов от Генератора 2, Сигнатурный анализатор на сумматоре 3 по модулю два и регистре 5 сдвига суммирует полученные на всех тестовых воздействи х свертки по модулю два выходных сигналов диагностируемой микросхемы и формирует соответствующую сигнатуру , котора  поступает на входы регистра 11.
По окончании цикла работы генератора 2 тестов он вьодает сигнал на блок 6 индикации, где включаетс  ин;дикатор 19 готовности сигнатуры, сигнализирующий оператору о том, что очередна  i+1-  сигнатура получена И можно, окончив анализ i-й сигнатуры, перейти к анализу i-H-й.
Дн  анализа i+1-и сигнатуры с одновременным получением i+2-й оператор с помощью формировател  8 одиночного импульса задает одиночный импульс на счетный вход счетчика 9, , добавл   к его содержимому единиду,
При этом (в случае, если ) в счетчике 9 записьшаетс  код 000...О, что соответствует сигнатуры сверток по модулю два выходных реакций диагностируемой микросхемы и
приводит к подключению к входу сумматора 3 через мультиплексор IО i-ro входного вьшода микросхемы. Если , то в счетчике 9 записьшаетс  код i номера входного вьшода микросхемы , с которого получа&тс  i+1-  сигнатура По одиночному импульсу с выхода формировател  8 производитс  также перепись содержимого регистра 5 сдвига в регистр 11, затем с некоторой задержкой по времени, определ емой элементом 14 задержки, через элемент НИИ 12 сбрасьшаетс  в нулевое состо ние регистр 5 сдвига, и он подготавливаетс  таким образом к
получению i+1-и сигнатуры. В результате сразу же после задани  импульса с формировател  8 на индикаторе 21 номера вьшода индицируетс  номер входного вьгоода микросхемы, с которого снимаетс  i+1-  сигнатура, а на индикаторе 20 сигнатуры сама i+1-  сигнатура.
Тем же импульсом с формировател  8 через элемент ИЛИ 13 и элемент 15
задержки, обеспечивающий задержку запуска генератора 2 тестов на врем  сброса регистра 5 сдвига, запускаетс  генератор 2 тестов, что позвол ет во врем  анализа оператором
i+1-и сигнатуры получать i+2-ю.
После того, как получена сигнатура сверток по модулю два с выходных вьшодов диагностируемой микросхемы, она сравниваетс  с эталонной. Если
эталонна  сигнатура совпадает с реально полученной, делаетс  вывод о том, что данна  микросхема исправна, если нет - то осуществл етс  поиск неисправности. Дл  этого путем после-
довательной вьщачи одиночных импульсов с формировател  8 увеличивают содержимое счетчика 9, что приводит к последовательному подключению к сигнатурному анализатору на сумматоре 3 и регистре 5 сдвига входных выводов диагностируемой микросхемы. Сигнатуры выходных выводов микросхемы при этом не получаютс , так как
5
задатчиком 17 запираютс  соответствующие элементы И 18. В том случае, если сигнатура, высвеченна  индика-- тором 20, одного из входных вьшодов, номер которого определ етс  индикатором 21, равна эталонной, осуществл етс  переход к контролю другого входного вьшода микросхемы, если не равна, то зонд 16 подключаетс  к другой микросхеме, работающей своим выходом на анализируемую, и -поиск дефекта продолжаетс  до обнаружени  микросхемы, у которой все входные сигнатуры равны эталоннь1м,а выходна  сигнатура CBeptdKпо модулю два-нет.
5
067326
Таким образом, в предложенном устройстве за счет введени  многокон- тактного зонда, задатчика, элементов И мультиплексора 10, регистра 1 1 , элементов задержки и элементов РШИ обеспечиваетс  возможность автоматизированного поиска дефектной микросхемы путем автоматического получени  сигнатур дл  выходных и входных выводов микросхем, лежащих на пути поиска неисправности, а также возможность анализа предыдущей сигнатуры во врем  получени  последующей , что существенно повьшает быст- 5 родействие устройства.
10

Claims (2)

  1. ( 54)( 57) 1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ЛОГИЧЕСКИХ БЛОКОВ, содержащее первый и второй формирователи одиночных импульсов, соединенные выходами соответственно с установочным и счетным входами счетчика, блок индикации, блок свертки по модулю два, первый элемент ИЛИ, генератор тестов, соединенный первыми выходами с клеммами для подключения входов объекта диагностики, сумматор по модулю два, соединенный выходом с информационным входом регистра сдвига, соединенного выходами с первыми входами сумматора по модулю два, отличающееся тем, что, с целью повышения быстродействия устройства, в него введены многоконтактный зонд, задатчик контролируемых выводов, элементы И, мультиплексор, регистр, второй элемент ИЛИ, первый и второй элементы задержки, причем входы многоконтактного зонда соединены с клеммами для подключения выводов одной из микросхем .диагностируемого логического блока, 'выходы - с «соответствующими первыми входами элементов И, вторые входы которых соединены с выходами задатчика контролируемых выводов, выходы - с соответствующими первыми информационными входами мультиплексора и с входами блока свертки по модулю два, соединенного выходом с вторым информационным входом мультиплексора, соединенного адресными входами с выходами счетчика и с первыми входами блока индикации, выходом с вторым входом сумматора по модулю два, установочный вход регистра сдвига соединен с выходом первого элемента ИЛИ, соединенного первым входом через первый элемент задержки с вы- !S ходом второго формирователя одиноч-: ного импульса, с первым входом второго элемента ИЛИ и с управляющим входом регистра, соединенного выхо— дами с вторыми входами блока индикации, соединенного третьим входом с вторым выходом генератора тестов, четвертым входом - с входом генератора тестов и с выходом второго элемента задержки, соединенного входом с выходом второго элемента ИЛИ,соединенного вторым входом с выходом первого формирователя одиночного импульса и с вторым входом первого элемента ИЛИ.
  2. 2. Устройство по п,1, о т л и ч а ю щ е е с«я тем, что блок индикации содержит индикатор готовности сигнатуры, соединенный первым и вторым входами соответственно с третьим и четвертые входами блока индикации, индикатор сигнатуры и ийдика— тор номера вывода, соединенные входами соответственно с вторыми и первыми входами блока индикации.
SU843748323A 1984-06-05 1984-06-05 Устройство дл диагностировани логических блоков SU1206732A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843748323A SU1206732A1 (ru) 1984-06-05 1984-06-05 Устройство дл диагностировани логических блоков

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843748323A SU1206732A1 (ru) 1984-06-05 1984-06-05 Устройство дл диагностировани логических блоков

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1206732A1 true SU1206732A1 (ru) 1986-01-23

Family

ID=21121911

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843748323A SU1206732A1 (ru) 1984-06-05 1984-06-05 Устройство дл диагностировани логических блоков

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1206732A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1018063, кл. G 01 R 31/28, 1981. Авторское свидетельство СССР № 890398, кл. G 06 F 11/16, 1980. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3573751A (en) Fault isolation system for modularized electronic equipment
US5610925A (en) Failure analyzer for semiconductor tester
US4926425A (en) System for testing digital circuits
SU1206732A1 (ru) Устройство дл диагностировани логических блоков
Sedmark Boundary-scan: beyond production test
JPH0610791B2 (ja) データバスの保証のための方法および装置
US4358847A (en) Electrical circuit test apparatus and method
RU2261471C1 (ru) Способ формирования диагностических тестов
SU1656540A1 (ru) Устройство дл тестировани цифровых блоков
SU809185A1 (ru) Устройство дл функциональногоКОНТРОл МиКРОэлЕКТРОННыХ узлОВ
RU2127447C1 (ru) Система диагностирования цифровых устройств
CN112527710B (zh) 一种jtag数据捕获分析系统
JPS63286939A (ja) 装置診断辞書作成方式
SU546888A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых объектов
SU911532A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых узлов
SU957278A1 (ru) Устройство дл контрол блоков оперативной пам ти
SU1038926A1 (ru) Устройство дл задани тестов
SU970283A1 (ru) Устройство дл поиска неисправностей в логических узлах
SU840817A1 (ru) Устройство дл диагностики системАВТОМАТичЕСКОгО упРАВлЕНи
SU1019454A1 (ru) Устройство дл контрол многовыходных цифровых узлов
RU1774272C (ru) Устройство дл регистрации сигналов
SU980028A1 (ru) Устройство дл ускоренных испытаний на надежность узлов и элементов радиоэлектронной аппаратуры
SU1269139A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых узлов
SU1067506A1 (ru) Устройство дл контрол и диагностики цифровых блоков
SU896627A1 (ru) Устройство дл контрол и диагностики цифровых узлов