SU1203710A1 - Самопровер емый тестер дл кода 3 из 8 - Google Patents
Самопровер емый тестер дл кода 3 из 8 Download PDFInfo
- Publication number
- SU1203710A1 SU1203710A1 SU843766003A SU3766003A SU1203710A1 SU 1203710 A1 SU1203710 A1 SU 1203710A1 SU 843766003 A SU843766003 A SU 843766003A SU 3766003 A SU3766003 A SU 3766003A SU 1203710 A1 SU1203710 A1 SU 1203710A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- inputs
- outputs
- elements
- input
- eleventh
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
входами одиннадцатого элемента И, выходы седьмого и дес того элементов ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами двенгэдцатого элемента И, выходы п того элемента ИЛИ и одиннадцатого элемента И - соответственно с первым и вторым входами одиннадцатого элемента ИЛИ выходы .шестого элемента РИГИ и двенадцатого элемента И - соответственно с первым и вторым входами двенадцатого элемента I-fflH, выходы одиннадцатого элемента ИЛИ и двенадцатого элемента И - соответственно с первым и вторым входами тринадцатого элемента ИЛИ, выходы шестого и одиннадцатого элементов ИЛИ соответственно с первым и
Изобретение относитс к автоматике и вычислительной технике и предназначено дл проверки правильности функционировани устройствj на выходах которых (рабочих или контрольных) в исправном техническом состо нии формируютс сигналы, содержащие три логические 1 из восьми, т.е. код 3 из 8.
Целью изобретени вл етс повышение надежности тестера за счет упрощени его схемы.
.На чертеже представлена функциональна схема предлагаемого тестера .
Тестер Содержит первые элементы И 1 и ИЛИ 2, вторые элементы И 3 и КШ. 4, третьи элементы И 5 и ИЛИ 6, четвертые элементы И 7 и И,ПИ 8, соответственно п тый, шестой, седьмой и восьмой элементы И 9 - 12 п тый, шестой, седьмой и восьмой элементы ИЛИ 13 - 16, дев тые элементы И 17 и ИЛИ 18, дес тые элементы И 19 и ИЛИ 20, одиннадцатый и двенадцатый элементы И 21 и 22, одиннадцатый и двенадцатый элементы ИЛИ 23 и 24, тринадцатый, четырнадцатый , п тнадцатый и шестнадцатый элементы ИЛИ 25-28,, тринадца- тьш и четырнадцатый элементы И 29 и 3
вторым входами четырнадцатого эле- мента ИЛИ, выходы п того и двенадцатого элементов ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами п тнадцатого элемента ИЛИ, выходы одиннадцатого элемента И и двенадцатого элемента ИЛИ - соответст- вгнно с первым и вторым входами шестнадцатого элемента ИЛИ, выходы тринадцатого и п тнадцатого элементов ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами тринадцатого элемента И, а выходы четьфнадцатого и шестнадцатого элементов ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами чет ырнадцатого элемента И, выходы тринадцатого и четырнадцатого элементов И вл ютс выходами тестера
Выходы элементов И 29 и 30 вл ютс соответственно выходами 31 и 32 тестера.
Работа тестера иллюстрируетс
таблицей, в которой показаны состо ни GI и Gj выходов 31 и 32 в за- вис -1мости от сигналов, поступающих на входы 33-40 тестера дл первых 16 наборов 8-разр дного кода.
Как видно из таблицы, при наличии трех .сигналов логической 1 из в осьми сигналы G., и G на выходах 31 и 32 парафазные (наборы 7j 11, 13, 14). В случае, если
число единиц в коде меньше чем 3
(наборы О,...,6), сигналы на выходах 31 и 32 тестера равны нулю (& иг - 0). Если же число единиц больше 3 (набор 15), то сигналы
на выходах 31 и 32 тестера равны единице ( GI &г, 1).
Сказанное справедливо дл всех 256 комбинаций 8-разр дного кода (2 256), 56 из которых содержат
3 единицы из 8.
Лредлагаемый тестер обладает свойством самопроверки, т.е. люба оди- .ночна неисправность, а также одно- направленные кратные неисправности в его схеме могут быть обнаружены. Например, неисправность Константа О первого входа 33 первого эле
Claims (1)
- САМОПРОВЕРЯЕМЫЙ ТЕСТЕР ДЛЯ КОДА 3 ИЗ 8, содержащий элементы И и ИЛИ, первый вход тестера соединен с первыми входами первых элементов И и ИЛИ, второй вход - с их вторыми входами, третий вход — с первыми входами вторых элементов И и ИЛИ, четвертый вход - с их вторыми входами, пятый вход - с первыми входами третьих элементов И и ИЛИ, шестой вход - с их вторыми входами, седьмой вход - с первыми входами четвертых элементов И и ИЛИ, восьмой вход - с их вторыми входами, выходы первого элемента ИЛИ и второго элемента И соединены соответственно с первым и вторым входами пятого элемента И, выходы первого элемента И и второго элемента ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами шестого элемента И, выходы третьего элемента ИЛИ и четвертого элемента И соответственно с первым и вторым входами седьмого элемента И, выходы третьего элемента И и четвертого элемента ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами восьмого элемента И, выходы пятого и седь*·* мого элементов И - соответственно с первым и вторым входами пятого элемента ИЛИ, выходы шестого и восьмого элементов И - соответственно с первым и вторым входами шестого элемента ИЛИ, отличающийс я тем, что, с целью повышения надежности тестера, выход первого элемента И соединен с первым входом седьмого элемента ИЛИ, выход первого элемента ИЛИ - с первыми входами восьмого элемента ИЛИ и девятого элемента И,, выход второго элемента И соединен с вторым входом седьмого элемента ИЛИ, выход второго элемента ИЛИ - с вторыми входами восьмого элемента ИЛИ и девятого элемента И, выход третьего элемента И - с первым входом девятого элемента ИЛИ, выход третьего элемента ИЛИ - с первыми входами десятых элементов И и ИЛИ, выход четвертого элемента И - с вторым входом девятого элемента ИЛИ, выход четвертого элемента ИЛИ - с вторыми входами десятых элементов И и ИЛИ, выход девятого элемента И - с третьим входом седьмого элемента ИЛИ, выход десятого элемен-. та И - с третьим входом девятого элемента ИЛИ, выходы восьмого и девятого элементов ИЛИ соединены соответственно с первым и вторымSU ..„1203710 входами одиннадцатого элемента И, выходы седьмого и десятого элементов ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами двенадцатого элемента И, выходы пятого элемента ИЛИ и одиннадцатого элемента И - соответственно с первым и вторым входами одиннадцатого элемента ИЛИ, выходы.шестого элемента ИЛИ и двенадцатого элемента И - соответственно с первым и вторым входами двенадцатого элемента ИЛИ, выходы одиннадцатого элемента ИЛИ и двенадцатого элемента И - соответственно с первым и вторым входами тринадцатого элемента ИЛИ, выходы шестого и одиннадцатого элементов ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами четырнадцатого эле-’ мента ИЛИ, выходы пятого и двенадцатого элементов ИЛИ - соответствен· но с первым и вторым входами пят' надцатого элемента ИЛИ, выходы одиннадцатого элемента И и двенадцатого элемента ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами шестнадцатого элемента ИЛИ, выходы тринадцатого и пятнадцатого элементов ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами тринадцатого элемента И, а выходы четырнадцатого и шестнадцатого элементов ИЛИ - соответственно с первым и вторым входами четырнадцатого элемента И, выходы тринадцатого и четырнадцатого элементов Иявляются выходами тестера
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843766003A SU1203710A1 (ru) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | Самопровер емый тестер дл кода 3 из 8 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843766003A SU1203710A1 (ru) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | Самопровер емый тестер дл кода 3 из 8 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1203710A1 true SU1203710A1 (ru) | 1986-01-07 |
Family
ID=21128808
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843766003A SU1203710A1 (ru) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | Самопровер емый тестер дл кода 3 из 8 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1203710A1 (ru) |
-
1984
- 1984-06-28 SU SU843766003A patent/SU1203710A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4340857A (en) | Device for testing digital circuits using built-in logic block observers (BILBO's) | |
DE3174062D1 (en) | Testing embedded arrays in large scale integrated circuits | |
ATE14939T1 (de) | Apparatur zum dynamischen tasten im schaltkreis von elektronischen digital-schaltkreiselementen. | |
SU1203710A1 (ru) | Самопровер емый тестер дл кода 3 из 8 | |
US4910734A (en) | Intergrated circuit having testing function circuit and control circuit therefor | |
SU1324117A1 (ru) | Самопровер емый тестер дл кода "1 из 8 | |
SU1543551A1 (ru) | Самопровер емое устройство контрол дл кода 3 из 10 | |
SU1251065A2 (ru) | Многофункциональный логический модуль | |
SU1476457A1 (ru) | Универсальный логический модуль | |
SU1282335A1 (ru) | Самопровер емое устройство дл контрол кода "3 из 6 | |
SU1501060A1 (ru) | Самодиагностируемый парафазный элемент И | |
JPS62115857A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
SU1765817A2 (ru) | Тестопригодное логическое устройство | |
SU1539784A1 (ru) | Дешифратор на N входов с контролем | |
SU1580562A1 (ru) | Самопровер емое устройство дл контрол кода "2 из 6 | |
SU1236618A1 (ru) | Самопровер емый тестер дл кода два из п ти | |
SU1305872A1 (ru) | Самопровер емое устройство контрол четырехразр дного кода | |
SU1451846A1 (ru) | Коммутатор | |
Guha et al. | Relating the cyclic behavior of linear and intrainverted feedback shift registers | |
SU1651373A1 (ru) | Устройство проверки счетчиков | |
SU1182686A1 (ru) | Самопровер емый тестер дл кода 3 из 6 | |
RU1783620C (ru) | "Трансл тор кода "1 из 3" в код "1 из 4" | |
SU1226657A1 (ru) | Устройство контрол счетчика | |
SU1302270A1 (ru) | Самоконтролируемый мультиплексор | |
SU1425847A1 (ru) | Самопровер емый тестер дл кода "2 из 7 |