SU1765817A2

SU1765817A2 - Тестопригодное логическое устройство

Info

Publication number: SU1765817A2
Application number: SU894636336A
Authority: SU
Inventors: Николай Дмитриевич Стукач
Original assignee: Киевское производственное объединение "Электронмаш"
Priority date: 1989-01-13
Filing date: 1989-01-13
Publication date: 1992-09-30

Description

Изобретение относитс к вычислительной технике и может быть использовано дл построени легкотестируемой цифровой аппаратуры .

Цель изобретени - упрощение тестировани относительно константных отказов sO.

На чертеже показана структура тестоп- ригодного логического устройства.

Устройство содержит группы элементов 1-3, группы элементов ИЛИ 4,5, диагностические входы 6,7 группы информационно-диагностических входов 8,9, выходы 10,11, группу элементов НЕ 14, распределитель токов 15 с входом 16.

Путем разрушени перемычек на входах элементов И первой 1 и второй 2 групп, на группах входов элементов И группы 3, а также на группе выходов 11 устройство может настраиватьс на реализацию произвольного конечного автомата.

Устройство тестируетс следующим образом .

В таблице представлены изменени сигналов на входах и выходах исправного устройства в процессе тестировани .

Под тактом понимаетс произвольный промежуток времени, характеризующийс отсутствием переходных процессов в устройстве .

В течение интервала 1 на вход 9 подаетс перепад 0 1 а на остальные входы - посто нные сигналы, которые в случае исправности устройства обеспечивают прохождение перепада на выход 10 по пути, проход щем через выходы и первые входы элементов И группы 3 и элементов ИЛИ группы 4.

В течение интервала 2 на вход 9 подаетс двойной перепад 1 0 1, а на остальные входы - посто нные сигналы, которые в случае исправности устройства обеспечивают прохождение перепада на выход 11 по пути, проход щем через выходы и вторые входы элементов И третьей группы 3, а также через

сл

с

VI о

СП 00

ю

выходы и первые входы элементов ИЛИ второй группы 5.

Если устройство имеет константные отказы sO, то указанные перепады не проход т на выходы 11 и 10 не только по указанным, но и ни по каким другим пут м .

При подаче потенциальной единицы на вход 16 распределитель 15 генерирует токи, которые вызывают формирование элементами 14 нулевых логических значений.

В рабочем режиме на все входы питани устройства подаетс питание.

В режиме тестировани устройства вход 16 заземл етс , в результате элементы

14формируют на своих выходах единичные логические значени , позвол ющие тестировать устройство 1 в режиме, приведенном в таблице. При этом автоматически вы вл ютс константные отказы распределител

15и элементов 14, способные вызвать ошибки О вместо 1 на входах 6 как в режиме тестировани , так и в рабочем режиме.

Поскольку в устройстве вместо подачи тестовых воздействий на входы 6 необходимо подача тестового воздействи на вход 16, оно тестируетс проще, чем прототип.

Claims

Формула изобретени

Тестопригодное логическое устройство по авт.св. № 1672453, отличающеес

тем, что, с целью упрощени тестировани относительно константных отказов О, оно содержит группу элементов НЕ, распределитель токов, причем каждый вход первой группы информационно-диагностических

входов устройства соединен через соответствующие элемент Труппы элементов НЕ с первыми группами входов элементов И первой и второй групп и с группами входов элементов И третьей группы, входы элементов группы элементов НЕ соединены соответственно с группой выходов распределител токов, вход питани которого соединен с шиной потенциальной единицы.

15

7/7 7/2

15

Г/ 7.2

16

16

П

. w f

99

Lift

Ml

f V