SU1196688A1 - Способ контрол качества поверхностей оптических деталей - Google Patents

Способ контрол качества поверхностей оптических деталей Download PDF

Info

Publication number
SU1196688A1
SU1196688A1 SU823516225A SU3516225A SU1196688A1 SU 1196688 A1 SU1196688 A1 SU 1196688A1 SU 823516225 A SU823516225 A SU 823516225A SU 3516225 A SU3516225 A SU 3516225A SU 1196688 A1 SU1196688 A1 SU 1196688A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
amplitude
beams
cross
section
quality
Prior art date
Application number
SU823516225A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Николаевич Менсов
Александр Иванович Хилько
Original Assignee
Горьковский ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский радиофизический институт
Горьковский государственный университет им.Н.И.Лобачевского
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Горьковский ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский радиофизический институт, Горьковский государственный университет им.Н.И.Лобачевского filed Critical Горьковский ордена Трудового Красного Знамени научно-исследовательский радиофизический институт
Priority to SU823516225A priority Critical patent/SU1196688A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1196688A1 publication Critical patent/SU1196688A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

СПОСОБКОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ . заключающийс  в тон, что раздел ют когерентное монохроматическое излучение на два пучка, первый из которых преобразуют- в параллельный и мо дулируют по амплитуде и фазе с помощью поверхности контролируемой де тали,- суммируют два пучка и преобра зуют результирую1ций световой поток в электрический сигнал,- о т л и ч а ю щ- и и с   тем, что, с целью повышени  точности, после модул ции первого пучка измен ют его поперечное сечение и одновременно производ т изменение амплитуды второго пучка в соответствии с соотношением Ас D(t) (t). где Ас D(t) -амплитуда второго пучка5 -максимальньй размер апертуры первого пуч- текущий размер поперечного сечени  первого пучка; Ад - амплитуда первого пучка, суммирование первого и второго пучков производ т в фокальной точке поверхности , а о качестве поверхности суд т по зависимости временного распределени  амплитуд электрического сигнала от текущего размера поперечного сечени  первого пучка. .

Description

1 Изобретение относитс  к области контрольно измерительной техники, предназначено дл  контрол  качества изготовлени  длиннофокусных фокусир ющих систем (линз, рефлекторов, объ ективов) , Цель изобретени  - повышение точ ности за счет, уменьшени  вли ни  искажений фазы сигнала, обусловленных шероховатостью поверхности. На чертеже представлена структур на  схема устройства, реализующего предлагаемый способ контрол . Устройство содержит оптически св занные источник 1 когерентного монохроматического света, полупрозрачное зеркало 2, коллиматор 3, ко троЛИруемую деталь.4, динамическую апертурную диафрагму 5, полупрозрач ное. зеркало 6, фотоприемник 7,расположенное параллельно полупрозрачному зеркалу 2 зеркало 8, оптически св занное со светофильтром 9 и зеркалом 10, размещенным параллельно полупрозрачному зеркалу 6, выход фотоприемника 7 через блок 11 эталонной обработки соединен с осциллографом 12. Способ контрол  качества поверхности фокусирующей системы осуществ л етс  следующим образом. Раздел ют когерентное монохроматическое излучение источника 1 на два пучка с помощью полупрозрачного зеркала 2. С помощью коллиматора 3 преобра ,,зуют первый пучок в параллельньш по перечного сечени  D, где В,максимальный размер окна динамической апертурной диафрагмы 5. Модулируют этот пучок по амплиту и фазе с помощью- поверхности контро лируемой детали 4. Измен ют во времени поперечное сечение первого светового пучка с помощью динамической апертурной диа фрагмы 5. Временное распределение комплексной амплитуды AfoCt) пол  первого светового пучка в фокальной точке контролируемой детали определ етс  следующим образом А fD(t) f (f{x)dx ад Омакс.1 J L f J + m I S(x) (x) dx, m - глубина модул ции случайных изменений фазы сигнала , обусловленных шероховатостью контролируемой поверхности Ад - амплитуда первого пучка: Вмакс.- максимальный размер окна динамической апертурной диафрагмы 5j tp(x)- распределение по оси X изменений фазы сигнала, обусловленных аберрадией контролируемой детали 4 S(x)- изменение по оси X случайных изменений фазы сигнала , обусловленных шероховатостью поверхности контролируемой детали 4. При этом А D(t) I I Ц1 (х) dx-H m-ilD(t) -ро). Одновременно с помощью светофиль9 измен ют амплитуду второго тового пучка, отраженного от зера 8, в соответствии с соотношениЛ () (t) DMaKC , A lXt)j -амплитуда второго пучка на выходе светофиль .тра 9j D(t) -текущий размер поперечного сечени  первого пучка; Ад -амплитуда первого пучKaj Вмакс. -максимальный размер апертуры первого пучка . Суммируют первый и второй пучки окальной точке контролируемой деи 4 с помощью зеркал 10 и 6. Сумное временное распределение комксной амплитуды А В(1У} пол  окальной точке контролируемой али 4 в зависимости от текущего мера окна динамической апертурной фрагмы 5 определ етс  следующим азом (t) (С) + (t) Вмакс. J ехр ( i tp (х) +1)dx +
+ 2m -4D(t). PO (t) +Л oCt),
где A D(t)J - временное распределение амплитуды полезного сигнала, обусловленного аберрацией контролируемой детали 4
А b(t)J - временное распределение амплитуды шумового сигнала, обусловленного шероховатостью поверхности контролируемой детали 4. Искажени  фазы сигнала, прошедшего через контролируемую деталь 4,., в основном сказываетс  на ее кра х. В этом случае выполн етс  условие D(t)po
г-де Од - радиус коррел ции случайных изменений фазы S(x) обусловленных шероховатостью контролируемой детали 4. Дл  контролируемой детали 4 без
искажений t|(x) OJ
(t) - 2D(t)
При этом отношение полезный сигнал/шум в фокальной точке контролируемой детали 4
D .
- 1
га 1 РО
С помощью фотоприемника 7 преобразуют световой сигнал в электрический.
Переменна  составл юща  электрического сигнала на выходе фотоприемника 7
..D(t)
,2 и, D(t) 2и„ I
cos УСх)
dx
. т
где и - посто нньш коэффициент, определ емый параметрами фотоприемника 7.
По зависимости временного распределени  амплитуд электрического сигнала от текущего размера поперечного сечени  первого светового пучка суд  о качестве поверхности фокусирующей системы. Дл  этого сигнал U b(t)j с помощью блока 11 эталонной обработки преобразуют в сигнал вида
,(t)
о(0
.2U
cos
откуда определ ют искажени  фазы сигнала , обусловленные аберрацией контролируемой детали 4
(t)J Zarccos НМ. .

Claims (1)

  1. .(57.) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ заключающийся в том, что разделяют когерентное монохроматическое излучение на два пучка, первый из которых преобразуют- в параллельный и модулируют по амплитуде и фазе с помощью поверхности контролируемой детали,· суммируют два пучка и преобразуют результирующий световой поток в электрический сигнал,- о. т л и ч а ю щ- и й с я тем, что, с целью повышения точности, после модуляции первого пучка изменяют его поперечное сечение и одновременно производят изменение амплитуды второго пучка в соответствии с соотношением
    Ac [D(t)J = 4s--D (t), где Ac [p(t)J ^махс .
    D(t)
    - амплитуда второго пучка;
    - максимальный размер апертуры первого пучка;
    - текущий размер поперечного сечения первого пучка;
    - амплитуда первого пучка, суммирование первого и второго пучков производят в фокальной точке по верхности, а о качестве поверхности судят по зависимости временного распределения амплитуд электрического сигнала от текущего размера попереч ного сечения первого пучка
SU823516225A 1982-11-26 1982-11-26 Способ контрол качества поверхностей оптических деталей SU1196688A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823516225A SU1196688A1 (ru) 1982-11-26 1982-11-26 Способ контрол качества поверхностей оптических деталей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823516225A SU1196688A1 (ru) 1982-11-26 1982-11-26 Способ контрол качества поверхностей оптических деталей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1196688A1 true SU1196688A1 (ru) 1985-12-07

Family

ID=21037298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823516225A SU1196688A1 (ru) 1982-11-26 1982-11-26 Способ контрол качества поверхностей оптических деталей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1196688A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Мальцев М.Д. и ,др. Прикладна оптика и оптические измерени ,М..: М шиностроение, 1968, с.420-421. .(S4) *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1227946A (en) Laser-doppler-anemometer
CN112904526B (zh) 基于差动共焦探测具有抗噪能力的高精度自动对焦方法及装置
US4744660A (en) Apparatus for measuring difference in shallow level
SU1196688A1 (ru) Способ контрол качества поверхностей оптических деталей
EP0383832B1 (fr) Procede de mesure de diametres de fils ou de profils ou pieces circulaires par diffraction de rayons lumineux et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede
JP3333236B2 (ja) 光学式表面形状測定装置
SU1370456A1 (ru) Способ фиксации положени границы объекта
FR2564198A1 (fr) Dispositif d'analyse et de correction de surfaces d'onde en temps reel
JPH0290037A (ja) レーザ多焦点法による粒子の速度,径,屈折率の同時測定システム
JP3112095B2 (ja) 眼軸長測定装置
JPS60243583A (ja) レ−ザドツプラ速度計
SU1582039A1 (ru) Устройство дл определени положени фокальной плоскости объектива
SU1791788A1 (en) Device for measurement of spatial-time characteristics of light beams
FR2657958A1 (fr) Procede et dispositif de mesure d'au moins une dimension transversale d'un fil textile.
SU1661571A1 (ru) Устройство дл измерени профил отражающей поверхности
SU1345156A1 (ru) Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени
RU2018101C1 (ru) Способ контроля качества и фокусировки оптической системы
SU1348638A1 (ru) Способ контрол линейных размеров объекта
RU2055309C1 (ru) Устройство для измерения колебаний объекта
SU1696890A1 (ru) Способ измерени амплитуды колебаний и устройство дл его осуществлени
SU1247776A1 (ru) Способ оптического спектрального анализа двумерных сигналов
SU1112895A1 (ru) Оптический анемометр
SU1562689A1 (ru) Способ определени рассто ни до поверхности объекта и устройство дл его осуществлени
SU1308835A1 (ru) Способ измерени диаметров и межосевого рассто ни отверстий
SU1201688A1 (ru) Устройство дл измерени параметров механических колебаний