SU1196688A1 - Способ контрол качества поверхностей оптических деталей - Google Patents
Способ контрол качества поверхностей оптических деталей Download PDFInfo
- Publication number
- SU1196688A1 SU1196688A1 SU823516225A SU3516225A SU1196688A1 SU 1196688 A1 SU1196688 A1 SU 1196688A1 SU 823516225 A SU823516225 A SU 823516225A SU 3516225 A SU3516225 A SU 3516225A SU 1196688 A1 SU1196688 A1 SU 1196688A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- amplitude
- beams
- cross
- section
- quality
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
СПОСОБКОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ . заключающийс в тон, что раздел ют когерентное монохроматическое излучение на два пучка, первый из которых преобразуют- в параллельный и мо дулируют по амплитуде и фазе с помощью поверхности контролируемой де тали,- суммируют два пучка и преобра зуют результирую1ций световой поток в электрический сигнал,- о т л и ч а ю щ- и и с тем, что, с целью повышени точности, после модул ции первого пучка измен ют его поперечное сечение и одновременно производ т изменение амплитуды второго пучка в соответствии с соотношением Ас D(t) (t). где Ас D(t) -амплитуда второго пучка5 -максимальньй размер апертуры первого пуч- текущий размер поперечного сечени первого пучка; Ад - амплитуда первого пучка, суммирование первого и второго пучков производ т в фокальной точке поверхности , а о качестве поверхности суд т по зависимости временного распределени амплитуд электрического сигнала от текущего размера поперечного сечени первого пучка. .
Description
1 Изобретение относитс к области контрольно измерительной техники, предназначено дл контрол качества изготовлени длиннофокусных фокусир ющих систем (линз, рефлекторов, объ ективов) , Цель изобретени - повышение точ ности за счет, уменьшени вли ни искажений фазы сигнала, обусловленных шероховатостью поверхности. На чертеже представлена структур на схема устройства, реализующего предлагаемый способ контрол . Устройство содержит оптически св занные источник 1 когерентного монохроматического света, полупрозрачное зеркало 2, коллиматор 3, ко троЛИруемую деталь.4, динамическую апертурную диафрагму 5, полупрозрач ное. зеркало 6, фотоприемник 7,расположенное параллельно полупрозрачному зеркалу 2 зеркало 8, оптически св занное со светофильтром 9 и зеркалом 10, размещенным параллельно полупрозрачному зеркалу 6, выход фотоприемника 7 через блок 11 эталонной обработки соединен с осциллографом 12. Способ контрол качества поверхности фокусирующей системы осуществ л етс следующим образом. Раздел ют когерентное монохроматическое излучение источника 1 на два пучка с помощью полупрозрачного зеркала 2. С помощью коллиматора 3 преобра ,,зуют первый пучок в параллельньш по перечного сечени D, где В,максимальный размер окна динамической апертурной диафрагмы 5. Модулируют этот пучок по амплиту и фазе с помощью- поверхности контро лируемой детали 4. Измен ют во времени поперечное сечение первого светового пучка с помощью динамической апертурной диа фрагмы 5. Временное распределение комплексной амплитуды AfoCt) пол первого светового пучка в фокальной точке контролируемой детали определ етс следующим образом А fD(t) f (f{x)dx ад Омакс.1 J L f J + m I S(x) (x) dx, m - глубина модул ции случайных изменений фазы сигнала , обусловленных шероховатостью контролируемой поверхности Ад - амплитуда первого пучка: Вмакс.- максимальный размер окна динамической апертурной диафрагмы 5j tp(x)- распределение по оси X изменений фазы сигнала, обусловленных аберрадией контролируемой детали 4 S(x)- изменение по оси X случайных изменений фазы сигнала , обусловленных шероховатостью поверхности контролируемой детали 4. При этом А D(t) I I Ц1 (х) dx-H m-ilD(t) -ро). Одновременно с помощью светофиль9 измен ют амплитуду второго тового пучка, отраженного от зера 8, в соответствии с соотношениЛ () (t) DMaKC , A lXt)j -амплитуда второго пучка на выходе светофиль .тра 9j D(t) -текущий размер поперечного сечени первого пучка; Ад -амплитуда первого пучKaj Вмакс. -максимальный размер апертуры первого пучка . Суммируют первый и второй пучки окальной точке контролируемой деи 4 с помощью зеркал 10 и 6. Сумное временное распределение комксной амплитуды А В(1У} пол окальной точке контролируемой али 4 в зависимости от текущего мера окна динамической апертурной фрагмы 5 определ етс следующим азом (t) (С) + (t) Вмакс. J ехр ( i tp (х) +1)dx +
+ 2m -4D(t). PO (t) +Л oCt),
где A D(t)J - временное распределение амплитуды полезного сигнала, обусловленного аберрацией контролируемой детали 4
А b(t)J - временное распределение амплитуды шумового сигнала, обусловленного шероховатостью поверхности контролируемой детали 4. Искажени фазы сигнала, прошедшего через контролируемую деталь 4,., в основном сказываетс на ее кра х. В этом случае выполн етс условие D(t)po
г-де Од - радиус коррел ции случайных изменений фазы S(x) обусловленных шероховатостью контролируемой детали 4. Дл контролируемой детали 4 без
искажений t|(x) OJ
(t) - 2D(t)
При этом отношение полезный сигнал/шум в фокальной точке контролируемой детали 4
D .
- 1
га 1 РО
С помощью фотоприемника 7 преобразуют световой сигнал в электрический.
Переменна составл юща электрического сигнала на выходе фотоприемника 7
..D(t)
,2 и, D(t) 2и„ I
cos УСх)
dx
. т
где и - посто нньш коэффициент, определ емый параметрами фотоприемника 7.
По зависимости временного распределени амплитуд электрического сигнала от текущего размера поперечного сечени первого светового пучка суд о качестве поверхности фокусирующей системы. Дл этого сигнал U b(t)j с помощью блока 11 эталонной обработки преобразуют в сигнал вида
,(t)
о(0
.2U
cos
откуда определ ют искажени фазы сигнала , обусловленные аберрацией контролируемой детали 4
(t)J Zarccos НМ. .
Claims (1)
- .(57.) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ заключающийся в том, что разделяют когерентное монохроматическое излучение на два пучка, первый из которых преобразуют- в параллельный и модулируют по амплитуде и фазе с помощью поверхности контролируемой детали,· суммируют два пучка и преобразуют результирующий световой поток в электрический сигнал,- о. т л и ч а ю щ- и й с я тем, что, с целью повышения точности, после модуляции первого пучка изменяют его поперечное сечение и одновременно производят изменение амплитуды второго пучка в соответствии с соотношениемAc [D(t)J = 4s--D (t), где Ac [p(t)J ^махс .D(t)- амплитуда второго пучка;- максимальный размер апертуры первого пучка;- текущий размер поперечного сечения первого пучка;- амплитуда первого пучка, суммирование первого и второго пучков производят в фокальной точке по верхности, а о качестве поверхности судят по зависимости временного распределения амплитуд электрического сигнала от текущего размера попереч ного сечения первого пучка
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823516225A SU1196688A1 (ru) | 1982-11-26 | 1982-11-26 | Способ контрол качества поверхностей оптических деталей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823516225A SU1196688A1 (ru) | 1982-11-26 | 1982-11-26 | Способ контрол качества поверхностей оптических деталей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1196688A1 true SU1196688A1 (ru) | 1985-12-07 |
Family
ID=21037298
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823516225A SU1196688A1 (ru) | 1982-11-26 | 1982-11-26 | Способ контрол качества поверхностей оптических деталей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1196688A1 (ru) |
-
1982
- 1982-11-26 SU SU823516225A patent/SU1196688A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Мальцев М.Д. и ,др. Прикладна оптика и оптические измерени ,М..: М шиностроение, 1968, с.420-421. .(S4) * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1227946A (en) | Laser-doppler-anemometer | |
CN112904526B (zh) | 基于差动共焦探测具有抗噪能力的高精度自动对焦方法及装置 | |
US4744660A (en) | Apparatus for measuring difference in shallow level | |
SU1196688A1 (ru) | Способ контрол качества поверхностей оптических деталей | |
EP0383832B1 (fr) | Procede de mesure de diametres de fils ou de profils ou pieces circulaires par diffraction de rayons lumineux et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede | |
JP3333236B2 (ja) | 光学式表面形状測定装置 | |
SU1370456A1 (ru) | Способ фиксации положени границы объекта | |
FR2564198A1 (fr) | Dispositif d'analyse et de correction de surfaces d'onde en temps reel | |
JPH0290037A (ja) | レーザ多焦点法による粒子の速度,径,屈折率の同時測定システム | |
JP3112095B2 (ja) | 眼軸長測定装置 | |
JPS60243583A (ja) | レ−ザドツプラ速度計 | |
SU1582039A1 (ru) | Устройство дл определени положени фокальной плоскости объектива | |
SU1791788A1 (en) | Device for measurement of spatial-time characteristics of light beams | |
FR2657958A1 (fr) | Procede et dispositif de mesure d'au moins une dimension transversale d'un fil textile. | |
SU1661571A1 (ru) | Устройство дл измерени профил отражающей поверхности | |
SU1345156A1 (ru) | Способ измерени дифракционной эффективности и устройство дл его осуществлени | |
RU2018101C1 (ru) | Способ контроля качества и фокусировки оптической системы | |
SU1348638A1 (ru) | Способ контрол линейных размеров объекта | |
RU2055309C1 (ru) | Устройство для измерения колебаний объекта | |
SU1696890A1 (ru) | Способ измерени амплитуды колебаний и устройство дл его осуществлени | |
SU1247776A1 (ru) | Способ оптического спектрального анализа двумерных сигналов | |
SU1112895A1 (ru) | Оптический анемометр | |
SU1562689A1 (ru) | Способ определени рассто ни до поверхности объекта и устройство дл его осуществлени | |
SU1308835A1 (ru) | Способ измерени диаметров и межосевого рассто ни отверстий | |
SU1201688A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров механических колебаний |