SU1173201A1 - Прецизионный спекторфотометр - Google Patents

Прецизионный спекторфотометр Download PDF

Info

Publication number
SU1173201A1
SU1173201A1 SU833562813A SU3562813A SU1173201A1 SU 1173201 A1 SU1173201 A1 SU 1173201A1 SU 833562813 A SU833562813 A SU 833562813A SU 3562813 A SU3562813 A SU 3562813A SU 1173201 A1 SU1173201 A1 SU 1173201A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
modulator
interferometer
spectrophotometer
plates
disk
Prior art date
Application number
SU833562813A
Other languages
English (en)
Inventor
Лев Исаакович Альперович
Сергей Викторович Сальников
Original Assignee
Таджикский государственный университет им.В.И.Ленина
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Таджикский государственный университет им.В.И.Ленина filed Critical Таджикский государственный университет им.В.И.Ленина
Priority to SU833562813A priority Critical patent/SU1173201A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1173201A1 publication Critical patent/SU1173201A1/ru

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

1. ПРЕЦИЗИОННЫЙ СПЕКТРОФОТОМЕТР , содержащий оптически св занные между собой источник излучени , линзу, светоделительное устройство, модул тор и приемное устройство, отличающийс  тем, что, с целью повышени  т.очности изд ерений, светод(глительное устройство вьшолнено в виде интерферометра типа Жамена, модул тор выполнен в виде диска и расположен между пластинами интерферометра , причем диск модул тора имеет по крайней мере одну щель. 2. Спектрофотометр, по п.1, от личающийс  тем, что, с це ,лью. повышени  светосилы, на.передние i поверхности пластин интерферометра нанесены полупрозрачные покрыти . СЛ

Description

00
to
Изобретение относитс  к оптическому спектральному приборостроению и предназначено дл  измерени  оптических характеристик поглощающих сред и отражающих поверхностей.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерений.
На чертеже представлена блок-схема устройства.
На схеме показаны источник света 1, линза 2, плоскопараллельные пластины 3 с полупрозрачным покрытием 4, образец 5, эталон 6, модул тор 7, фотоприемник 8, электронные ключи 9 и 10 дл  разделени  сигнала, датчики 11 и 12 сигнала управлени  ключами , система 13 обработки сигнала, лучи 14 и 15 интерферометра, щели 16 и отверсти  17 и 18 в модул торе.
Свет от источника 1 преобразуетс  линзой 2 в параллельный световой луч и подаетс  на первую пластину 3 интерферометра, где он с помощью полупрозрачного покрыти  4 раздел етс  на два луча 14 и 15. Далее луч 14 попадает на образец 5, а луч 15 - на эталон 6 и, поочередно проход  через отверсти  17 и 18 модул тора, они попадают на пластину 3, после чего свод тс  на фотоприемнике 8.
Во врем  работы при вращении модул тора 7 лучи попадают на фотоприемник поочередно, поскольку отверсти  17 и 18 смещены одно относительно другого на некоторый-угол, -т.е. луч 15 проходит через образец 6 и через одно из отверстий 17 попадает на покрытие 4 второй пластины 3 и, отража сь от нее, попадает на фотоприемник 8, который вьфабатьшает сигнаЛ, про-порциональный величине светового потока . В этот же момент временной датчик 11 управлени  ключами формирует управл ющий импульс, который открывает ключ 9, и сигнал с фотоприемника подаетс  в систему 13 обработки сигнала . При дальнейшем повороте модул тора перекрьшаетс  луч 15 и открываетс  луч 14, который проходит через отверстие 18, через пластину 3 и попадает на фотоприемник 8, В этом случае датчик 12 выдает сигнал управлени  и сигнал пропускани  в систему обработки 13 через ключ 10.
Юстировка устройства осуществл етс  получением на фотоприемнике 8 интерференционных полос бесконечной ширины, дл  чего в устройстве предусмотрена возможность плавного перемещени  пластин 3 и в модул торе сделаны специальные щели 16, позвол кмцие пропускать одновременно оба луча.
Критерием идентичности обоих каналов  вл етс  интерференционна  картина при строго параллельном расположении пластин интерферометра. По нулевому максимуму интерференционной картины контролируют качество сведени  лучей с точностью длины волны.
1
15

Claims (2)

1. ПРЕЦИЗИОННЫЙ СПЕКТРОФОТОМЕТР, содержащий оптически связан ные между собой источник излучения, линзу, светоделительное устройство, модулятор и приемное устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения т.очности измерений, светоделительное устройство выполнено в виде интерферометра типа Жамена, модулятор выполнен в виде диска и расположен между пластинами интерфе рометра, причем диск модулятора имеет по крайней мере одну щель.
2. Спектрофотометр, по π.1, от личающийся тем, что, с це:лью. повышения светосилы, на .передние поверхности пластин интерферометра нанесены полупрозрачные покрытия.
1 1173201
SU833562813A 1983-03-14 1983-03-14 Прецизионный спекторфотометр SU1173201A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833562813A SU1173201A1 (ru) 1983-03-14 1983-03-14 Прецизионный спекторфотометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833562813A SU1173201A1 (ru) 1983-03-14 1983-03-14 Прецизионный спекторфотометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1173201A1 true SU1173201A1 (ru) 1985-08-15

Family

ID=21053200

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833562813A SU1173201A1 (ru) 1983-03-14 1983-03-14 Прецизионный спекторфотометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1173201A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Sell D. А senvitive spectrophotometer for optical reflectance measurements. - Appl. Opt., 1970, 9, №10, 1976. Патент US №4092069, кл. G 01 J 3/42, 1978. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5999262A (en) Process and apparatus for detecting structural changes of specimens
JPH073344B2 (ja) エンコ−ダ−
US4320967A (en) Apparatus for measuring a radiation affecting parameter of a film or coating
US5000542A (en) Optical type encoder
US3966324A (en) Laser doppler anemometer
SU1152533A3 (ru) Сканирующий интерферометр (его варианты)
JPS59131106A (ja) 干渉計およびこれを用いて微少距離を測定する方法
SU1173201A1 (ru) Прецизионный спекторфотометр
US3794426A (en) Holographic spectrometer
JPH0118371B2 (ru)
SU1695145A1 (ru) Эллипсометр
RU1768967C (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
JPH05500853A (ja) ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置
SU1515039A2 (ru) Фотоэлектрический автоколлиматор дл фиксации углового положени объекта
JPH0517528B2 (ru)
SU1364866A1 (ru) Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений
SU1241062A1 (ru) Лазерный измеритель линейных перемещений поверхности
RU2159406C2 (ru) Многолучевой интерферометр для измерения параметров сферической оболочки
SU1619021A1 (ru) Устройство дл измерени углового отклонени объекта
JPS60129645A (ja) ガス濃度測定装置
SU1739188A1 (ru) Интерференционный компаратор дл измерени линейных перемещений
SU1283521A1 (ru) Интерферометр дл контрол изменени формы поверхности оптических элементов
SU872973A1 (ru) Фотометр дл измерени коэффициента отражени оптической поверхности
SU940018A1 (ru) Двухлучевой фотометр
SU1213504A1 (ru) Устройство дл фоторазметки линейных шкал