SU1152533A3 - Сканирующий интерферометр (его варианты) - Google Patents
Сканирующий интерферометр (его варианты) Download PDFInfo
- Publication number
- SU1152533A3 SU1152533A3 SU792732746A SU2732746A SU1152533A3 SU 1152533 A3 SU1152533 A3 SU 1152533A3 SU 792732746 A SU792732746 A SU 792732746A SU 2732746 A SU2732746 A SU 2732746A SU 1152533 A3 SU1152533 A3 SU 1152533A3
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirrors
- beam splitter
- optical element
- prism
- interferometer
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 32
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 3
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 abstract 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
- G01J3/4532—Devices of compact or symmetric construction
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
1. Сканирующий интерферометр, содержащий светоделитель и два плоских зеркала, отличающий-сс тем, что, с целью повьшени производительности измерений с помощью интерферометра, он снабжен вторым светоделителем и оптическим элементом , установленным между светоделител ми , выполненными каждый в виде свегоделительной пластины и размещенными последовательно один за другим, зеркала расположены параллельно одно относительно другого, отражанидими поверхност ми одна навстречу другой, а оптический элемент вьтолнен в ВКЩЁ призмы с основанием в форме ромба с двум отражающими и двум пропускающими излучеS ние гран ми, оптически св зан со светоделител ми через зеркала и установлен с возможностью вращени относительно осиг симметрии призгфь Фиг /
Description
2. Интерферометр, содержащий све тоделитель и два плоских зеркала, отличающийс тем, что, с целью повьшени производительности измерений с помощью интерферометра, он снабжен оптическим элементом и вторым светоделителем, оба светоделител вьтолнены в виде призмы с основанием в форме пр моугольника и общим светоделительньм слоем, зер кала расположены под углом одно относительно другого, оптический элемент выполнен в виде призмы.
52533
идентичной светоделительньм и.установленной между светоделител ми и зеркалами с возможностью вращени относительно оси призмы, перпендикул рной к ее основанию и проход щей через ее середину, а светоделители и зеркала соответственно оптически св заны между собой через оптический элемент.
Приоритет по пунктам: 17,02.78 по П.1, 21.09.78 по п.2.
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл измерени абсолютной длины волны, спектров Фурье получени пикосекундных световых импульсов , а также дл исследовани материи.
Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к изобретению вл етс сканирующий интерферометр , содержащий светоделитель и два плоских зеркала fl .
Недостатком известного интерферометра вл етс невысока производительность измерений из-за небольшой скорости -приращени разности хода длин оптических путей, что не позвол ет использовать его дл высокоскоростных измерений.
Целью изобретени вл етс повыше ние производительности измерений с помощью интерферометра.
Дл достижени цели изобретени по первому варианту сканирующий.интерферометр , содержащий светоделител и два плоских зеркала, снабжен вторы светоделителем и оптическим элементо установленным между светоделител ми, выполненными каждый в виде светбделительной пластины и размещенными последовательно один за другим, зеркала расположены параллельно одно относительно другого, отражающими поверхност ми одна навстречу другой, а оптический элемент выполнен в виде призмы с основанием в форме ромба с двум отражающими и двум пропус-- h-кающими излучение гран ми, оптически св зан со светоделител ми через зеркала и установлен с возможностью вращени относительно оси симметрии призмы.
Цель изобретени по второму вариату достигаетс тем, что сканирующий интерферометр, содержащий светоделитель и два плоских зеркала, снабжен оптическим элементом и вторым светоделителем , оба светоделител выполнены в внце призмы с основанием в форме пр моугольника и общим светоделительньм слоем, зеркала расположены под углом одно относительно другого, оптический элемент вьтолнен в виде призьш, идентичной светоделнтельньм и установленной между светоделител ми и зеркалами с возможность вращени относительно оси призмы, перпендикул рной к ее основанию и проход щей через ее середину, а светодели тели и зеркала соответственно оптически св заны мезкду собой через оптический элемент.
На фиг. 1 изображен сканирующ интерфер(1етр по первому варианту; на фиг. 2 - то же, по второму варианту .
Сканирующий интерферометр по обоим вариантам содержит два светоделител 1 и 2, два плоских зеркала 3 и 4 и оптич.еский элемент 5.
В сканирующем интерферометре по первому варианту светоделители 1 и 2 выполнены каждый в виде светоделительной пластины и размещены последовательно один за другим, зеркала 3 и 4 расположены параллель но одно относительно другого, отражающими поверхност ми навстречу одно другому, оптический элемент 5 установлен между светоделител ми 1 и 2 и выполнен в виде призмы с основанием в форме ромба, с двум отражающими и двум пропусканнцими излучение гран ми, элемент 5 оптически св зан со светоделител ми 1 и 2 через зеркала 3 и 4 и установлен с возможностью вращени отно сительно оси симметрии призмы. По второму варианту оба светодел тел 1 и 2 выполнены в виде призмы с основанием в форме пр моугольника и общим светоделительным слоем 6, зеркала 3 и 4 расположены под углом одно относительно другого, а оптический элемент 5 вьтолнен в виде призмы, идентичной светоделительным и установленной между светоделител ми 1 и 2 и зеркалами 3 и 4 с возможностью вращени относительно оси призмы, перпендикул рной к ее основанию и проход щей через ее середину , а светоделители 1 и 2 и зер кала 3 и 4 соответственно оптически .св заны между собой через оптический элемент 5. Интерферометр по первому варианту работает следукщим образом. Вход щий в интерферометр пучок падает на светоделитель 1 и раздел етс на: два когерентных пучка, один из которых отражаетс от зеркала 3, входит в оптический элемент через грань, дважды отражаетс внутри элемента 5 от противоположных граней а и Ъ,выходит из элемента 5 через грань с , отражаетс от зеркала 4 и падает на светоделитель 2 второй пучок сначала отражаетс от зеркала 4, через грань cJ входит в элемент 5, отражаетс от граней «и с , через грань t выходит из элемента 5, отражаетс от зеркала 3 и падает на светоделитель 2, где встречаетс с первым пучком. Когерентные пучки интерферируют один с другим и выход т из интерферомет ра. Энерги пучков зависит от разн ти длин оптических путей когерентны пучков, причем длина оптического пути каждого из когерентных пучков измер етс вдоль всего пути методу 3 двум светораздел ющими сло ми СРСтоделителей 1. Если элемент 5 вращаетс относительно оси О, то оптический путь одного из когерентных пучков сокращаетс , а второго - удлин етс . Вокруг положени , в котором на фиг. 1 показан элемент 5, существует небольша зона углов поворота элемента 5, внутри которой равномерное вращение оптического элемента 5 вызьтает равномерное приращение разности длин оптических путей двух когерентных пучков. Тогда энерги пучков модулируетс по синусоидальному закону, причем период модул ции зависит от скорости вращени элемента 5 и длины волны света. Перед измерением модулированной энергии можно разогнать элемент 5 до большой скорости вращени , а измерение произвести в таком диапазоне углов поворота , в котором приращение длины оптического пути вл етс равномерным . В оптическом элементе 5, в котором противолежащие грани параллельны одна другой из шести возможных степеней свободны элемента только одна, а именно вращение относительно оси, перпендикул рной к основанию вызывает изменение разности длин оптических путей когерентных пучков. Любые поступательные или вращательные движени элемента 5 не нарущают юстировки интерферометра. Такие свойства интерферометра сохран ютс тогда, когда каждый из когерентных пучков входит в оптический элемент 5 и выходит из него через две противолежащие грани, а также внутри отражаетс от двух таких же граней. Чтобы при определенном направлении вращени элемента 5 оптический путь одного из когерентных пучков сокращалс , а второго удлин лс , необходимо эти пучки внутри элемента 5 вести таким образом, чтобы путь одного пучка бып зеркальным отражением пути второго пучка относительно одной на плоскостей симметрии оптического элемента 5,перпендикул рной к основанию призмы в виде которой выполнен элемент 5, По второму варианту интерферометр работает следующим образом. Оптическ1й элемент 5 вращаетс относительно оси, перпендикул рной к ее основанию и проход щей через середину основани 0. Между свето
Claims (2)
1. Сканирующий интерферометр, содержащий светоделитель и два плоских зеркала, отличающий-ί- ο я тем, что, с целью повьвпения производительности измерений с помощью интерферометра, он снабжен вторым светоделителем и оптическим элементом, установленным между светоделителями, выполненными каждый в виде свеТоделительной пластины и размещенными последовательно один за другим, зеркала расположены параллельно одно относительно другого, отражающими поверхностями одна навстречу другой, а оптический элемент выполнен в виде призмы с основанием в форме ромба с двумя отражающими и двумя пропускающими излучение гранями, оптически связан со светоделителями через зеркала и установлен с возможностью вращения относительно оси симметрии призмы.
у_,,,, 1152533
2. Интерферометр, содержащий светоделитель и два плоских зеркала, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности измерений с помощью интерферометра, он снабжен оптическим элементом и вторым светоделителем, оба светоделителя выполнены в виде призмы с основанием в форме прямоугольника и общим светоделительньы слоем, зеркала расположены под углом одно относительно другого, оптический элемент выполнен в виде призмы, идентичной светоделительным и установленной между светоделителями и зеркалами с возможностью вр!ащения относительно оси призмы, перпендикулярной к ее основанию и проходящей через ее середину, а светодели тели и зеркала соответственно оптически связаны между собой через оптический элемент.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL20472978A PL124767B1 (en) | 1978-02-17 | 1978-02-17 | Interferometer |
PL20974578A PL127011B3 (en) | 1978-09-27 | 1978-09-27 | Interferometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1152533A3 true SU1152533A3 (ru) | 1985-04-23 |
Family
ID=26652896
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU792732746A SU1152533A3 (ru) | 1978-02-17 | 1979-02-13 | Сканирующий интерферометр (его варианты) |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS54133156A (ru) |
DE (1) | DE2906015A1 (ru) |
FR (1) | FR2417788A1 (ru) |
GB (1) | GB2014754B (ru) |
SU (1) | SU1152533A3 (ru) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2900899C2 (de) * | 1979-01-11 | 1983-04-14 | Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V., 3400 Göttingen | Lasereinrichtung zum Erzeugen von ultrakurzen Laserstrahlungsimpulsen |
DE2904836A1 (de) * | 1979-02-08 | 1980-08-14 | Max Planck Gesellschaft | Interferometrische einrichtung zur messung der wellenlaenge optischer strahlung |
SE445074B (sv) * | 1980-10-31 | 1986-05-26 | Bofors Ab | Anordning vid en chopper |
US4654530A (en) * | 1983-10-31 | 1987-03-31 | Dybwad Jens P | Refractively scanned interferometer |
DE3476583D1 (en) * | 1983-12-22 | 1989-03-09 | Deutsche Forsch Luft Raumfahrt | Interferometer |
GB2154019B (en) * | 1984-02-10 | 1988-01-13 | Zeiss Jena Veb Carl | Double-beam interferometer arrangement particularly for fourier-transform spectrometers |
DE3523382A1 (de) * | 1985-06-29 | 1987-01-08 | Protop Bleile Gmbh | Interferenzanordnung zur pruefung von wellenflaechen |
US4915502A (en) * | 1988-01-11 | 1990-04-10 | Nicolet Instrument Corporation | Interferometer spectrometer having tiltable reflector assembly and reflector assembly therefor |
US5150172A (en) * | 1988-01-11 | 1992-09-22 | Nicolet Instrument Corporation | Interferometer spectrometer having tiltable reflector assembly and reflector assembly therefor |
US5159405A (en) * | 1989-10-28 | 1992-10-27 | Horiba, Ltd. | Multibeam interferometer for use in a fourier transform spectrometer and a driving device for moving the mirrors used therein |
EE04571B1 (et) * | 2001-02-15 | 2005-12-15 | Wilfred Vince Cecil | Skaneeriv interferomeeter |
CN101871816B (zh) * | 2010-06-03 | 2012-02-29 | 北京航空航天大学 | 模块化分体式Sagnac干涉仪 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH526090A (fr) * | 1970-06-29 | 1972-07-31 | Genevoise Instr Physique | Microscope photoélectrique à affichage numérique |
-
1979
- 1979-02-13 SU SU792732746A patent/SU1152533A3/ru active
- 1979-02-13 GB GB7905096A patent/GB2014754B/en not_active Expired
- 1979-02-14 FR FR7903757A patent/FR2417788A1/fr active Granted
- 1979-02-16 JP JP1715879A patent/JPS54133156A/ja active Pending
- 1979-02-16 DE DE19792906015 patent/DE2906015A1/de not_active Ceased
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Spectrometrie techaigues Academic Press, New York, San Francisco. London, 1977, v. 1, p, 89. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2014754A (en) | 1979-08-30 |
JPS54133156A (en) | 1979-10-16 |
FR2417788B1 (ru) | 1984-06-08 |
FR2417788A1 (fr) | 1979-09-14 |
GB2014754B (en) | 1982-06-16 |
DE2906015A1 (de) | 1979-08-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4784490A (en) | High thermal stability plane mirror interferometer | |
SU1152533A3 (ru) | Сканирующий интерферометр (его варианты) | |
US5583638A (en) | Angular michelson interferometer and optical wavemeter based on a rotating periscope | |
US3635552A (en) | Optical interferometer | |
CN101369015A (zh) | 基于双边缘检测的测风激光雷达的分光装置 | |
EP0333783B1 (en) | Straightness interferometer system | |
US3109049A (en) | Interferometer | |
SU1168800A1 (ru) | ДВУХСТУПЕНЧАТЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР, предназначенный, в частности | |
RU2239157C2 (ru) | Интерферометр | |
US3419331A (en) | Single and double beam interferometer means | |
US2846919A (en) | Interferometer | |
SU1673926A1 (ru) | Рефрактометр | |
SU1364866A1 (ru) | Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений | |
SU1582091A1 (ru) | Интерференционный способ определени показател преломлени | |
SU1308829A1 (ru) | Способ определени толщины кристаллической пластины | |
SU1516910A1 (ru) | Рефрактометр | |
SU1288498A1 (ru) | Интерферометр | |
SU1567870A1 (ru) | Интерферометр дл измерени линейных величин | |
SU1518663A1 (ru) | Интерферометр дл измерени поперечных перемещений | |
SU1534300A1 (ru) | Устройство контрол оптических световозвращателей | |
SU712654A1 (ru) | Интерферометр | |
SU1656365A1 (ru) | Юстировочное устройство | |
SU1578599A1 (ru) | Способ измерени показател преломлени оптического стекла | |
SU1739188A1 (ru) | Интерференционный компаратор дл измерени линейных перемещений | |
SU387207A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ В ДВУХ КООРДИНАТАХ |