SU1149124A1 - Device for checking hole misalignment - Google Patents
Device for checking hole misalignment Download PDFInfo
- Publication number
- SU1149124A1 SU1149124A1 SU802991251A SU2991251A SU1149124A1 SU 1149124 A1 SU1149124 A1 SU 1149124A1 SU 802991251 A SU802991251 A SU 802991251A SU 2991251 A SU2991251 A SU 2991251A SU 1149124 A1 SU1149124 A1 SU 1149124A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- holes
- fix
- photodetector
- controlled sections
- coordinates
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕСООСНаСТИ ОТВЕРСТИЙ путем пропускани через них светового луча и определени его координат относительно осей отверстий с помощью фотоприемников, установленных в контролируемых сечени х, отличающийс тем, что, с целью повьшени производительности , луч направл ют через отверсти под произвольным углом и фиксируют положени луча с помощью фотоприемников , сцентрированных в контролируемых сечени х, при этом после считывани координат по очередному фотоприемнику его смещают с пути луча дл пропускани последнего к следующему фотоприемнику.A METHOD FOR MEASURING OPEN OPENINGS by passing a light beam through them and determining its coordinates relative to the axes of the holes using photo detectors installed in controlled sections, characterized in that the beam is directed through the holes at an arbitrary angle to fix the performance and fix the beam positions using photodetectors centered in controlled sections, after reading the coordinates along the next photodetector, it is shifted from the beam path to pass the last Go to the next photodetector.
Description
1 1eleven
Изобретение относитс к техническим измерени м в машиностроении, а именно к проверке соосности разнесенных отверстий.The invention relates to technical measurements in mechanical engineering, in particular to checking the alignment of spaced holes.
Целью изобретени вл етс повышение производительности.The aim of the invention is to increase productivity.
.На чертеже приведена схема реализации способа.The drawing shows the scheme of implementation of the method.
В провер емые отверсти стенок 1 издели устанавливают центрирующие обоймы 2, несущие по два фотопри1491242In the tested holes of the walls 1 of the product, centering sleeves 2 are installed, each carrying two photo light 1491242
емника 3, ка щый из которых шарнирно подвещен к обойме 2 в крайнем сече|Нии отверсти . Источник света А устанавливают так, чтобы его луч 5 f проходил сквозь отверсти под произвольньш углом в пределах рабочей зоны каждого фотЪприемника. При измерении по каждому фотоприемнику 3 считывают координаты луча, а затем fO смеш.ают этот приемник с пути луча дл пропускани его к следующему приемнику .3, each of which is pivotally attached to the holder 2 in the outermost section | of the opening. Light source A is set so that its beam 5 f passes through the holes at an arbitrary angle within the working area of each photo receiver. When measuring for each photodetector 3, the coordinates of the beam are read, and then fO mixes this receiver from the path of the beam to pass it to the next receiver.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802991251A SU1149124A1 (en) | 1980-10-10 | 1980-10-10 | Device for checking hole misalignment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU802991251A SU1149124A1 (en) | 1980-10-10 | 1980-10-10 | Device for checking hole misalignment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1149124A1 true SU1149124A1 (en) | 1985-04-07 |
Family
ID=20921262
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU802991251A SU1149124A1 (en) | 1980-10-10 | 1980-10-10 | Device for checking hole misalignment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1149124A1 (en) |
-
1980
- 1980-10-10 SU SU802991251A patent/SU1149124A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 150360, кл. J 03 В 19/12, 1961. Авторское свидетельство СССР № 749173, кл. G 01 В 11/26, 1978. J * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0083650B1 (en) | Multichannel spectrophotometer | |
JPS56126747A (en) | Inspecting method for flaw, alien substance and the like on surface of sample and device therefor | |
ES2069136T3 (en) | PHOTOMETRIC MEASUREMENT INSTALLATION. | |
SU1149124A1 (en) | Device for checking hole misalignment | |
JPS57204437A (en) | Measuring method for interval of inspection body in concentration measuring apparatus | |
SE7613703L (en) | DEVICE FOR DETERMINING THE CONDITION OF A SURFACE. | |
JPH03220444A (en) | Measuring method of absorbing state and measuring apparatus of absorption | |
KR900000856A (en) | Optical head unit | |
SU1399644A1 (en) | Apparatus for multiple reflection in double-beam interferometer | |
SU847805A1 (en) | Method of recording variations of optical path | |
SU953451A2 (en) | Interferrometer for checking spherical surfaces | |
SU1413415A1 (en) | Method of determining diameter of holes | |
RU1806348C (en) | Remote flue-gas analyzer | |
JPS594258Y2 (en) | double beam spectrophotometer | |
SU1651093A1 (en) | Method of non-contact measurement of hole diameter | |
SU1247776A1 (en) | Method of optical spectrum analyzing of two-dimensional signals | |
SU1425437A1 (en) | Interferometer for checking convex paraboloids | |
SU1241062A1 (en) | Laser meter of linear shifts of surface | |
SU1712778A1 (en) | Interferometer for control over aspherical surfaces of second order | |
SU575917A1 (en) | Interference method of measuring phase distribution across laser bundle section | |
SU1483248A1 (en) | Method for monitoring linear dimensions of part | |
SU1620826A1 (en) | Method and apparatus for determining diameter of holes | |
SU1265468A1 (en) | Device for measuring geometrical parameters of laser radiation beam | |
SU1254847A1 (en) | Photometer for measuring transparency of materials | |
RU2169360C1 (en) | Double-beam photometer |