SU1019520A1 - Растровый электронный микроскоп-микроанализатор - Google Patents

Растровый электронный микроскоп-микроанализатор Download PDF

Info

Publication number
SU1019520A1
SU1019520A1 SU823381991A SU3381991A SU1019520A1 SU 1019520 A1 SU1019520 A1 SU 1019520A1 SU 823381991 A SU823381991 A SU 823381991A SU 3381991 A SU3381991 A SU 3381991A SU 1019520 A1 SU1019520 A1 SU 1019520A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ray
detector
unit
information
microanalyzer
Prior art date
Application number
SU823381991A
Other languages
English (en)
Inventor
Валентин Алексеевич Кобыляков
Виктор Григорьевич Копылов
Георгий Дмитриевич Кисель
Виктор Георгиевич Зипинев
Борис Климентьевич Волнухин
Вилен Николаевич Капличный
Вениамин Иосифович Удальцов
Original Assignee
Сумский Завод Электронных Микроскопов Им.50-Летия Влксм
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сумский Завод Электронных Микроскопов Им.50-Летия Влксм filed Critical Сумский Завод Электронных Микроскопов Им.50-Летия Влксм
Priority to SU823381991A priority Critical patent/SU1019520A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1019520A1 publication Critical patent/SU1019520A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРО-СКОП- МИКР0АНАЛИЗАТОР , содержащий систему формированк  9JieKTpoHHoro зонда. -i.OiaA5f ; :«fдтаг-гс. . тt:;: i; П(;:.дg 10 5. ;.v ;отклон ющую систему схему отображени  информации, вклшчаюиило первый канал, содержащий детектор рентгеновскогю излучени , счётчик шлтульСов. и блок регист|рации, второй канал, содержащий детектор вторичнБК электронов и инйикаторннй блок, а также генера-тор развеp-poic, соединенный с отклон ющей системой и индикаторны

Description

Изобретение относитс  к технике электронной микроскопии и может быть использовано в приборостроительной промышлейности при производстве электронных микроскопов. .
Известны электронные микроскопымикроанализаторы 1J.
Однако электронные микроскопы-микроанализаторы ,, в которых осуществл етс  ренТгеноспектральный анализ, обладают относительно малыми функцио- нальными возможност ми.
Наиболее близким по технической сущности к предлагаемом;,  вл етс  растровый электронный микроскоп-микроанализатор (РЭММА), содержащий сие- 15 тему формировани .электронного зонда , отклон ющую систему, схему ртображени  информации, включающую первый канал, содержащий детектор рентге-новского излучени , счетчик импуль-20 оов и блок регистра1|ии, второй канал , содержащий детектор вторичных, электронов и индикаторный блок, а также генератор разверток, соединениый с от.клон юией системой и индика- 25 торным блоком 2 .
Однако на изображении поверхности объекта в рентгеновских лучах отсутст;вуюТ градации серого в промежутке между двум  крайними градаци ми (ep-jQ ного и Целого). Така  информаци  дает возмож ность установить только сам факт наличи  рентгеновского излучени  в данной точке исследуемой поверхности , при этом изображение представл етсобой совокупность свет щихс  с одинаковой  ркостью точек, которые соответствуют точкам поверхности, содержащим данньй химический элемент. Это обусловлено импульсным характеромвидеосигнала , сформированного в кана- О ле получени  рентгеновского изображени ,. koTOpHM модулируетс  по  ркости .электронный Луч в электроннолучевой трубке индикаторного блока. , , - , . ... . 45
При совмещении рентгеновских и лектронных- изображений отсутствует нформаци  о количественном распреелении элемента. Это св зано с тем, то в формировании совмещенного изоб-50 ажени  используетс  импульсный сигал , несущий информацию о рентгеновком излучении, наложение которого а аналоговый видеосигнал с последуюей модул цией комбинированным видео-55
сигналом электронного луча по  ркости в электроннолучевой трубке индикаторного блока не позвол ет по совмещен НОМУ изображению визуально получить более полную информацию кроме опре- 60 елени  наличи  в данной точке рентгеновского излучени  (элемента). В целом известный прибор обеспечивает недостат,очную информативность анализа .65
Кроме того, канал регистрации характеристического рентгеновского излучени  обладает недостаточно высокой чувствительностью и линейног стью преобразовани  импульсной информации , поступающей с выхода детектора рентгеновского излучени , а амплитуду аналогового сигнала из-за погрешностей, вносимых интегратором с R,S элементами и усилителем посто нного тока. Это приводит к снижению точности анализа.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности анализа и повышение его информативности путем увеличени  градаций серого на изображении, сформированном в рентгеновских лучах, И обеспечени .возможности получени  количественной информации о .распределении химических элементов по сов-, мещенным изображени м в рентгеновских лучах и во вторичных электронах.
.Указаннна  цель достигаетс  тем, что в РЭММА, содержащем систему формировани  электронного зонда, отклон ющую систему, схему отображени  информации, включающую первый канал, содержащий;детектор рентгеновского излучени , счетчик импульсов и блок регистрации, ВТОРО.Й канал, содержащий детектор вторичных электронов и индикаторный блок, а также генератор разверток,.соединенный с отклон ющей систег/юй и индикаторным блоком, схема отображени  информации, снабжёи Цифро-аналоговым преобразователь с. блоком управлени  и гюдул тором, которые включены последовательно между .дете.ктором рентгёновского излучени  и индикаторным блоком, при этом модул тор соединен с детектором вторичных электронов. :
На чертеже представлена блок-схем предлагаемого устройства.
РЭММА содержит электронную пушку 1 и блок 2 электромагнитных линз, образующих систему формировани  элек:тронного зонда, отклон ющую систему 9, исследуемый объект 4. Схема отображени  информации содержит первый канал, включающий детектор рентгеновского излучени  с кристалл- анализатором 5 и преобразователем 6, цифроаналоговый преобразователь (ЦАП) 7 с блоком 8 управлени  и блок регистрации , выполненный, например, в виде счетчика 9 импульсов с цифровым табло . Второй канал схемы отображени  информации содержит детектор 10 вторичных электронов, соединенный с модул тором 11, и индикаторный блок 12. Генератор 13 разверток соединён с индикаторным блоком 12 и с отклон ющей .системой 3. Схема содержит переключатели 14 и 15, обеспечивающие выбор вида записи информации, а также самописец 16, соединенный с 1ДАП 7. Устройство работает следующим о6- разом. В результате взаимодействи  электронного луча с поверхностью объекта возникают рентгеновское излучение и вторичные электроны, несущие информацию о поверхностном слое объекта. Вторичные электроны, попада  на де тектор 10 вторичных электронов, преоб разуютс  в видеосигнал, котоЕий создает на экране электроннолучевой трубки индикаторного блока 12 изображение поверхности объекта 4. Площадь растра на поверхности исследуемого объекта регулируетс  изменением амплитуды пилообразного тока генератора 13 разверток, подаваемого в отклон ющую систему 3. Рентгеновское излучение, несущее информацию об элементном составе поверхности объеката 4, попадает на кристалл-анализатор 5, настроенный на определенный элемент таблицы Менделеева . С выхода преобразовател  6 поступают испульсы с частотой, пропорци  ональной интенсивности рентгеновского излучени . Импульсы считаютс  счетчиком 9 или попадают через переключатель 15 непосредственно в индикаторный блок 12 дл  формировани  изображени  в рентгеновских лучах. При этом, модул ци  электронного луча по  ркости в электроннолучевой трубке индикаторного блока 12 осущест вл етс  аналоговым сигналом, который формируетс  с помощью цифро-аналогового преобразовател  7 и блока 8 управлени . Амплитудй аналогового сигнала пропорциональна частоте импульсов, поступающих с выхода детектора рентгеновского излучени . В ПАП 7 осуществл етс  преобразовани  только того количества импульсов , которое приходитс  на заданный интервал-времени. Временные интервалы между импульсами, которые задаютс  блоком 8 управлени , равным между со бой в режиме формировани  изображени  в рентгеновских лучах. Осуществление гюдул ции электронного луча по  ркости в электроннолучевой трубке индикаторного блока аналоговым сигналом, полученным с помощью ПАП, обеспечивает возможность получе- ни  изображени  в рентгеновских лучах с количеством гргшаций серого, определ емом наличием количества неравных значений интенсивности рентгеновского изображени , несущего информацию не только о пространственном распределении элементов, но и количественных соотношени х при формировании совмещенных изображений. i - . ./- . - В то же врем  это позвол ет с более высокой чувствительностью и линейностью преобразовать импульсную информацию в аналоговый сигнал, т. е. с большей точностью зарегистрировать и записать рентгеновский спектр.

Claims (1)

  1. ) РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП-МИКРОАНАЛИЗАТОР, содержащий систему формирования электронного зонда.
    .отклоняющую систему, схему отображения информаций, включающую первый канал, содержащий детектор рентгеновского излучения, счётчик импульсов, и блок регистрации, второй канал, содержа- 1 щий детектор вторичных электронов и индикаторный блок, а также генератор разверток, соединенный с отклоняющей системой и индикаторным блоком, о т л и ч а ю щ н й с я тем, что, с целью повышения точности анализа и повышения его информативности,, схема отображения информации снабжена цифро-аналоговым преобразоватером, которые включены последовательно между детектором рентгеновского $ излучения и индикаторным блоком, при этом модулятор соединен с . вторичных электронов детектором l/l
SU823381991A 1982-01-05 1982-01-05 Растровый электронный микроскоп-микроанализатор SU1019520A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823381991A SU1019520A1 (ru) 1982-01-05 1982-01-05 Растровый электронный микроскоп-микроанализатор

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823381991A SU1019520A1 (ru) 1982-01-05 1982-01-05 Растровый электронный микроскоп-микроанализатор

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1019520A1 true SU1019520A1 (ru) 1983-05-23

Family

ID=20992416

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823381991A SU1019520A1 (ru) 1982-01-05 1982-01-05 Растровый электронный микроскоп-микроанализатор

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1019520A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007024155A1 (en) * 2005-08-24 2007-03-01 Zakrytoe Aktzionernoe Obschestvo 'nt-Mdt' Scanning probe microscope combined with an object surface modifying device

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
. 1. Биркс Л,С. Ре зтеновскийни роанализ С; 1ГОмощью электрического эонда. М., Металлурги г 1966, .с. Sp-ei ,-..,-;- , , --,.-;-. 2.Дерк«ч B.II. и др. Электроннозондбвые устррвства. Киев., Иаукова Думка, , с. 176 (прЬтртип). 1 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007024155A1 (en) * 2005-08-24 2007-03-01 Zakrytoe Aktzionernoe Obschestvo 'nt-Mdt' Scanning probe microscope combined with an object surface modifying device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3314182B2 (ja) 試験体のx線レスポンスの視覚画像を表示するための装置および方法
US3626184A (en) Detector system for a scanning electron microscope
US4385317A (en) Specimen image display apparatus
US2745985A (en) Pulse amplitude analysers
US4399360A (en) Transmission electron microscope employing sequential pixel acquistion for display
US4034220A (en) Process and apparatus for the elementary and chemical analysis of a sample by spectrum analysis of the energy of the secondary electrons
US2982814A (en) Apparatus for determining the composition and condition of a specimen of material
SU1019520A1 (ru) Растровый электронный микроскоп-микроанализатор
EP0121309B1 (en) Scan line type dynamic observation apparatus
US3820898A (en) Multi channel radiation analyzer
US3866044A (en) Apparatus for determining concentration profile of an element
SU399937A1 (ru) Электронный микроскоп-анализатор
JP2775928B2 (ja) 表面分析装置
US3920890A (en) Graphic display of raster scanning system output signals
KR830002861Y1 (ko) 주사전자 현미경 및 그의유사장치의 주사상 관찰장치
SU1118921A1 (ru) Осциллографический измеритель амплитудных параметров электрических сигналов
KR830002860Y1 (ko) 주사전자현미경 및 그 유사장치의 주사상 관찰장치
JPS56141156A (en) Sample image display device
SU682967A1 (ru) Растровый электронный микроскоп
SU746623A1 (ru) Устройство дл отображени информации на экране электронно-лучевой трубки
SU911343A1 (ru) Электронно-лучевой осциллограф
SU1003197A1 (ru) Способ индикации участка изображени , анализируемого диссектором
SU651428A1 (ru) Электроннолучевой коммутатор
JPH0696711A (ja) 走査電子顕微鏡像の表示方法
US3343082A (en) Raster scanning spectrum analyzer