SK501342018U1 - Systém zhotovovania snímok a stanica na kontrolu kvality obsahujúca systém zhotovovania snímok - Google Patents

Systém zhotovovania snímok a stanica na kontrolu kvality obsahujúca systém zhotovovania snímok Download PDF

Info

Publication number
SK501342018U1
SK501342018U1 SK50134-2018U SK501342018U SK501342018U1 SK 501342018 U1 SK501342018 U1 SK 501342018U1 SK 501342018 U SK501342018 U SK 501342018U SK 501342018 U1 SK501342018 U1 SK 501342018U1
Authority
SK
Slovakia
Prior art keywords
imaging system
field illuminator
camera
illuminator
bright field
Prior art date
Application number
SK50134-2018U
Other languages
English (en)
Other versions
SK9053Y1 (sk
Inventor
Matthieu Richard
Francis Pilloud
Original Assignee
Bobst Mex Sa
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bobst Mex Sa filed Critical Bobst Mex Sa
Publication of SK501342018U1 publication Critical patent/SK501342018U1/sk
Publication of SK9053Y1 publication Critical patent/SK9053Y1/sk

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901—Optical details; Scanning details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8822—Dark field detection
    • G01N2021/8825—Separate detection of dark field and bright field
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
    • G01N2021/8917—Paper, also ondulated
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Systém zhotovovania snímok zahŕňa líniovú kameru (12), prispôsobenú na snímanie lineárnej pozorovacej oblasti (20), iluminátor (14) na tmavé pole a iluminátor (16) na jasné pole, osvetľujúci pozorovaciu oblasť (20), pričom zmienené súčasti sú usporiadané tak, že vzhľadom na referenčnú rovinu (M), ktorá je kolmá na povrch plochých prvkov (4) prechádzajúcich pozorovacou oblasťou (20), kde sú zhotovované snímky, je optická rovina líniovej kamery (12) usporiadaná pod uhlom (α) približne 10° až 30°, výhodne 20°, vzhľadom na referenčnú rovinu (M), pričom optická rovina iluminátora (14) na tmavé pole je usporiadaná pod uhlom (β) približne 30° až 60°, výhodne 45°, vzhľadom na referenčnú rovinu (M), a optická rovina iluminátora (16) na jasné pole je usporiadaná pod uhlom (γ) približne 20° až 40°, výhodne 30°, vzhľadom na referenčnú rovinu (M), pričom iluminátor (16) na jasné pole má uhol otvorenia od 50° do 110°, výhodne od 80° do 90°.

Description

Oblasť techniky
Technické riešenie satýka systému zhotovovania snímok na inšpekciu povrchu plochých prvkov a stanice na kontrolu kvality obsahujúcej uvedený systém prispôsobenej na inšpekciu plochých prvkov v stroji na spracovanie plochých prvkov.
Doterajší stav techniky
Je všeobecne známe uskutočňovanie inšpekcie povrchu plochého prvku dopravovaného cez stanicu na kontrolu kvality pomocou kamery a analyzovania vyhotovených snímok z rôznych hľadísk. Za týmto účelom sú používané pomerne sofistikované kamery a osvetľovacie jednotky, ktoré sú inštalované do stroja na spracovávanie plochých prvkov na stanici na kontrolu kvality, pričom pojem „stroj na spracovanie plochých prvkov“ je tu zamýšľaný tak, aby zahŕňal akýkoľvek stroj, ktorý je používaný na spracovávanie plochých prvkov, ako je napríklad papier, kartón, plastová fólia alebo podobné materiály, najmä tlačové stroje, poťahovacie stroje, laminovacie stroje a konvertovacie stroje (napríklad rezacie, raziace, skladacie a/alebo lepiace stroje).
Možnosti inšpekcie povrchu zobrazovacími zariadeniami sú dané aj usporiadaním jednotlivých komponentov. Zo stavu techniky sú známe osvetľovacie jednotky, ktoré síce poskytujú možnosť inšpekcie povrchu z rôznych hľadísk, majú ale rôzne nevýhody, ako napr. nekompaktnosť, potreba separátnej inštalácie jednotlivých komponentov a s tým súvisiace usporiadanie jednotlivých komponentov.
Cieľom technického riešenia je umožniť uskutočňovanie inšpekcie plochých prvkov tak, aby bola inšpekcia uskutočňovaná z rôznych hľadísk, napríklad čo sa týka polohy embosovaných štruktúr, polohy odrazivých častí povrchu alebo identifikácie škrabancov na povrchu a to bez nevýhod zariadení známy ch zo stavu techniky.
Podstata technického riešenia
Na dosiahnutie tohto cieľa technické riešenie navrhuje systém zhotovovania snímok zahŕňajúci líniovú kameru zachytávajúcu lineárnu pozorovaciu oblasť, iluminátor pre tmavé pole a iluminátor pre jasné pole osvetľujúci pozorovanú oblasť, pričom zmienené komponenty sú usporiadané tak, že vzhľadom na referenčnú rovinu, ktorá je kolmá na povrch plochého prvku podstupujúceho inšpekciu, ktorý prechádza cez lineárnu pozorovaciu oblasť, je optická rovina kamery usporiadaná pod uhlom a približne 10° až 30°, s výhodou 20°, vzhľadom na referenčnú rovinu, pričom optická rovina iluminátora pre tmavé pole je usporiadaná pod uhlom β približne 30° až 60°, s výhodou 45°, vzhľadom na referenčnú rovinu, a optická rovina iluminátora pre jasné pole je usporiadaná pod uhlom y približne 20° až 40°, s výhodou 30°, vzhľadom na referenčnú rovinu, pričom iluminátor 16 pre jasné pole má uhol otvorenia od 50° do 110°, s výhodou od 80° do 90°. Bolo zistené, že toto usporiadanie komponentov umožňuje vykonávať inšpekciu povrchu plochých prvkov súčasne v mnohých ohľadoch, napríklad čo sa týka polohy embosovaných štruktúr, polohy odrazových častí povrchu alebo identifikácie škrabancov na povrchu.
Vzdialenosť kamery je 600 mm ± 200 mm v závislosti na šírke, ktorú má pokryť.
Je možné použiť viac ako jednu líniovú kameru spolu s rovnakým osvetľovacím systémom, najmä dve alebo tri kamery.
Na dosiahnutie kompaktnejšieho designu je možné použiť zrkadlo na ohnutie trasy svetla smerom ku kamere.
Rozmery pozorovanej oblasti, merané kolmo na smer pohybu plochých prvkov, môžu byť 400 mm až 1 500 mm a niekedy dokonca až 3 200 mm na dĺžku, s rozmerom rovnobežným s pohybom plochých prvkov veľmi malým, napríklad so šírkou len niekoľkých milimetrov.
Kamera a iluminátor pre tmavé pole sú s výhodou umiestnené na rovnakej strane od referenčnej roviny, a iluminátor pre jasné pole je umiestnený, vzhľadom ku rovnakej referenčnej rovine, na strane, ktorá je protiľahlá ku strane, na ktorej je umiestnená kamera.
Podľa výhodného uskutočnenia technického riešenia iluminátor pre tmavé pole generuje svetlo s intenzitou v zornom poň kamery, ktorá sa významne nemení vo výške rádovo 10 mm až 12 mm. To na jednej strane činí systém zhotovovania snímok necitlivým z hľadiska inštalačných tolerancií. Na druhej strane to umožňuje osvetliť pozorovaciu oblasť kamery s nemennou intenzitou aj v prípade významnej zmeny hrúbky plochých prvkov podstupujúcich inšpekciu.
Podľa výhodného uskutočnenia iluminátor pre jasné pole zahŕňa niekolko vedľa seba umiestnených radov svetelných zdrojov. To umožňuje osvetľovanie pozorovacej oblasti kamery pod rôznymi uhlami osvetlenia.
S K 50134-2018 U1
Podľa uskutočnení technického riešenia sú kamera a iluminátory kombinované do samostatnej jednotky. Ďalej technické riešenie navrhuje stanicu na kontrolu kvality zahŕňajúcu tento systém zhotovovania snímok, pričom stanica na kontrolu kvality je prispôsobená na uskutočňovanie inšpekcie plochých prvkov v stroji na spracovávanie plochých prvkov. Myšlienkou, na ktorej je technické riešenie založené, je mať relatívne malú jednotku, ktorá môže byť inštalovaná do stroja na vhodné miesto beztoho, aby to vyžadovalo príliš úsilia na rozloženie prvkov systému zhotovovania snímok v zmienenom stroji. Jednotka je dostatočne kompaktná na to, aby bola umiestnená v mieste, kde bude kamera môcť zhotovovať potrebné snímky pozorovacej oblasti.
Kamera a iluminátory sú s výhodou usporiadané v spoločnom puzdre, takže môžu byť nainštalované ako vopred zarovnané. Ďalej súsúčastisystémuzhotovovaniasnímok chránené proti prachu.
V jednom možnom uskutočnení má puzdro šírku, ktorá je menšia ako 30 cm a ktorá umožňuje použitie systému zhotovovania snímok v obmedzenom priestore dostupnomv stroji na spracovanie plochých prvkov. Všeobecne povedané tu má puzdro veľkosť škatule od topánok.
Systém zhotovovania snímok môže byť používaný najmä na uskutočňovanie inšpekcie okraja plochých prvkov, ktoré sú dopravované cez stanicu na kontrolu kvality, pretože na túto úlohu postačí veľmi malá jednotka s malou pozorovacou oblasťou.
Prehľad obrázkov na výkresoch
Technické riešenie bude teraz bližšie vysvetlené s odkazom na výhodné uskutočnenie, ktoré je zobrazené na pripojených výkresoch. Na týchto výkresoch: obr. 1 schematicky zobrazuje pohľad zboku na systém na inšpekciu povrchu podľa technického riešenia, použitý pre stanicu na kontrolu kvality stroja na spracovávanie plochýchprvkov;
obr. 2 schematicky zobrazuje sy stémna inšpekciu povrchu z obr. 1 pri pohľade zhora;
obr. 3 schematicky zobrazuje systémna inšpekciu povrchu z obr. 1 podrobnejšie; a obr. 4 schcmíit icky zobrazuje systémna inšpekciu povrchu podľa alternatívneho uskutočnenia pri pohľade zhora.
Príklady uskutočnenia
Na obr. 1 je schematicky zobrazená stanica 2 na kontrolu kvality, ktorá je použitá v stroji na spracovávanie plochých prvkov, z ktoiých sú zobrazené dopravníkové stoly 3. Stroj na spracovávanie plochých prvkov môže spracovávať ploché prvky 4, ktoré sú transportované v smere šípky A. Ploché prvky 4 môžu byť hárky papiera, kartónu, plastovej fólie alebo podobného materiálu, alebo môžu byť vo forme dlhšieho pásu. Stroj na spracovávanie plochých prvkov môže byť tlačiarenský stroj, raziaci stroj, laminovací stroj, skladací stroj, lepiaci stroj, atď.
Stanica 2 na kontrolu kvality je používaná na kontrolu kvality plochých prvkov 4. Za týmto účelom je možné kontrolovať viac parametrov, napr. polohu určitých prvkov vzhľadom k iným prvkom, ako napríklad polohu hologramu vzhľadom k tlači, alebo prítomnosť embosovanýchčastív správnej polohe.
Na stanici 2 na kontrolu kvality je používaný systém 10 na zhotovovanie snímok, ktoiý je tu prispôsobený na zhotovovanie snímok pozorovacou oblasťou 20. Pozorovacia oblasť 20 je usporiadaná tak, aby bola pokrytá celá šírka plochého prvku 4 (t. j. pod uhlom 90 stupňov ku smeru A pohybu plochých prvkov 4 cez stroj). Snímky zhotovené systémom 10 na zhotovovanie snímok sú vyhodnocované pomocou jednotky na vyhodnocovanie snímok (nezobrazené) na overenie toho, že povrchové znaky hárka zodpovedajú požiadavkám. To môže napríklad zahŕňať ktorékoľvek jedno alebo viac z nasledujúcich: určovanie toho, že povrchové prvky vrátane tlačených, embosovaných, razených, (vrátane obsahujúcich fólie alebo hologram) alebo lakovaných prvkov sú správne umiestnené vo smere x, smere y a čo sa týka ich orientácie okolo osi z, že povrchové prvky pokrývajú požadovanú plochu, že povrchové prvky sú bez vynechávok, že povrchové prvky nepresahujú mimo vopred definovanú oblasť, že reprodukcia farieb zodpovedá špecifikácii, a/alebo že akýkoľvek trojrozmerný profil bol správne reprodukovaný.
Systém 10 na zhotovovanie snímok tu zahŕňa kameru 12, iluminátor 14 pre tmavé pole a iluminátor 16 pre jasné pole.
Kamera 12 je prispôsobená na zhotovovanie snímok pozorovacej oblasti 20 (línia záujmu), čo je podlhovastá zóna, ktorá vedie kolmo k smeru A po šírke stroja na spracovávanie hárkov (a tak môže byť až 3 200 mm široká).
Kamera 12 je usporiadaná pod uhlom približne 20° vzhľadom k mediánovej rovine M, ktorá je kolmá na povrch plochých prvkov 4 v pozorovacej oblasti 20 a ktorá tvorí referenčnú rovinu.
Kamera 12 je líniová kamera schopná zhotovovať snímky pozorovacej oblasti 20 rýchlosťou 20 000 až 40 000 snímok za sekundu alebo ešte viac.
S K 50134-2018 U1
Rozlíšenie kamery 12 je také, že je možné rozlíšiť prvky rádovo 0,05 až 0,3 mm na povrchu plochých prvkov 4, s výhodou 0,1 mm
Iluminátor 14 pre tmavé pole je prispôsobený na osvetľovanie pozorovacej oblasti 20. Optická rovina iluminátora 14 pre tmavé pole je usporiadaná pod uhlom β približne 45° vzhľadom k mediánovej rovine M. Uhol θ otvorenia iluminátora 14 pre tmavé pole je v rozsahu od 10° do 25°.
Iluminátor 14 pre tmavé pole môže byť všeobecne akéhokoľvek typu. V konkrétnom uskutočnení zahŕňa rad LED usporiadaní vedľa seba, a dva reflektory usporiadané proti sebe pozdĺž radu LED. Reflektory majú taký obrys, aby svetlo smerované na pozorovaciu oblasť 20 malo intenzitu, ktorá nie je (alebo aspoň nie významne) premenlivá so zmenami výšky pozorovacej oblasti 20. Preto sú tenké ploché prvky 4 (napr. papier) osvetľované v pozorovacej oblasti s rovnakou intenzitou ako silné ploché prvky 4 (napr. silný kartón).
Vhodnou volbou geometrie reflektorov a smerovaním časti svetla LED priamo do pozorovacej oblasti je možné, aby zmeny intenzity boh menšie ako 3 %/mm vo vertikálnom smere a menšie ako 5 % medzi najnižšou a najvyššou úrovňou, na ktorej môžu byť povrchy rôznych plochých prvkov 4 (pokiaľ je tento rozdiel maximálne radovo 10 mm).
Vzdialenosť medzi pozorovacou oblasťou 20 a iluminátorom 14 pre tmavé pole je v rozsahu od 30 mm do 100 mm
Iluminátor 16 pre jasné pole je tiež prispôsobený na osvetľovanie pozorovacej oblasti 20. Optická rovina iluminátora 16 pre tmavé poleje usporiadaná pod uhlom Y približne 30° vzhľadom k mediánovej rovine M.
Iluminátor 16 pre jasné pole môže byť všeobecne akéhokoľvek typu. V konkrétnom uskutočnení zahŕňa niekoľko rovnobežných radov LED usporiadaných vedľa seba, pričomkaždý rad je prispôsobený na osvetľovanie pozorovacej oblasti 20. Tento typ iluminátora môže byť používaný v rôznych aplikáciách na smerovanie svetla z rôznych smerov do pozorovacej oblasti 20.
V uskutočnení z obr. 1 až 3 je zobrazené osem radov LED 17. Je možné použiť iný počet radov, s výhodou v rozsahu od 3 do 12 radov a s väčšou výhodou v rozsahu od 5 do 8 radov.
Medzi LED 17 a pozorovacou oblasťou 20 je umiestnený difúzér 19. Vzdialenosť medzi difúzérom 19 a LED by mala byť v rozsahu od 30 do 100 mm
Vzhľadom ku skutočnosti, že je iluminátor 14 používaný ako iluminátor pre tmavé poleje umiestnený na rovnakej strane od mediánovej roviny M ako kamera 12. Iluminátor 16 je však, pretože je používaný ako iluminátor pre jasné pole, umiestnený na opačnej strane od mediánovej roviny M.
Ako je zrejmé na obr. 3, niektoré z radov LED iluminátora 16 pre jasné pole sú usporiadané s menším sklonom vzhľadom k mediánovej rovine M a niektoré z radov LED iluminátora 16 pre jasné pole sú usporiadané s väčším sklonom vzhľadom k mediánovej rovine M. Preto je možné zaistiť podmienky so zrkadlovým odrazom vzhľadom ku kamere 12 pre veľký rozptyl sklonov povrchu plochých prvkov 4 v pozorovacej oblasti 20.
Pri pohľade z pozorovacej oblasti je uhol λ otvárania iluminátora 16 pre jasné pole (uhol medzi radom LED, ktorý je najbližšie mediánovej rovine M a radom LED, ktorý je najďalej od mediánovej roviny M) rádovo80° až 90°.
LED každého radu sú orientované smerom k pozorovacej oblasti. Vzhľadom ku skutočnosti, že rady sú usporiadané s rovnakými odstupnú medzi sebou, sú usporiadané vzhľadom k sebe navzájom s v podstate rovnomernými uhlovými odstupmi. Inými slovami: uhol otvárania iluminátora 16 pre jasné pole je rozdelený na rovnomerné intervaly radami LED
Na obr. 4 je zobrazené alternatívne uskutočnenie. Rozdiel oproti uskutočneniu zobrazenému na obr. 1 až 3 je v tom, že systém 10 na zhotovovanie snímok je používaný na zhotovovanie snímok pozorovacej oblasti 20, ktorá je usporiadaná tak, aby pokrývala okraj plochých prvkov 4. Snímky zhotovené systémom 10 na zhotovenie snímok sú vyhodnocované jednotkou na vyhodnocovanie snímok (nezobrazené) na overenie, či boli testovacie značky (vyznačené schematicky vzťahovou značkou 22) správne natlačené na ploché prvky 4. Tieto testovacie značky môžu pozostávať z geometrických vzorov, farebných vzoriek, atď., ktoré umožňujú obsluhe kontrolu, či je stroj na spracovávanie plochých prvkov správne nastavený.
Dôležitým znakom systému 10 na zhotovenie snímok je to, že ide o samostatnú jednotku. Kamera 12 a iluminátory 14, 16 sú integrované do spoločného puzdra 24.
Výhodou integrovania súčasti do spoločného puzdra 24 je to, že je to len spoločné puzdro 24, ktoré je potrebné nainštalovať do stroja na spracovanie plochých prvkov. Kamera 12 a iluminátory 14, 16 môžu byť presne nainštalované a kalibrované na konci procesu výroby, takže len jeden prvok, konkrétne puzdro 24, je potrebné správne zarovnať neskôr.
Ďalej spoločné puzdro 24 chráni kameru 12 a iluminátory 14, 16 pred prachom
Čo sa týka uhlovej orientácie súčasti systému zhotovovania snímok, odvolávame sa na podrobnosti o uskutočnení z obr. 1 až 3.

Claims (19)

  1. NÁROKY NA OCHRANU
    1. Systém zhotovovania snímok zahŕňajúci líniovú kameru (12), prispôsobenú na snímanie lineárnej pozorovacej oblasti (20), iluminátor (14) pre tmavé pole a iluminátor (16) pre jasné pole, osvetľujúci pozorovaciu oblasť (20), vyznačujúci sa tým, že uvedené súčasti sú usporiadané tak, že vzhľadom na referenčnú rovinu (M), ktorá je kolmá na povrch plochých prvkov (4) prechádzajúcich pozorovacou oblasťou (20), kde sú zhotovované snímky, je optická rovina líniovej kameiy (12) usporiadaná pod uhlom (a) 10° až 30°, s výhodou 20°, vzhľadom na referenčnú rovinu (M), pričom optická rovina iluminátora (14) pre tmavé pole je usporiadaná pod uhlom (β) 30° až 60°, s výhodou 45°, vzhľadom na referenčnú rovinu (M), a optická rovina iluminátora (16) pre jasné pole je usporiadaná pod uhlom (y) 20° až 40°, s výhodou 30°, vzhľadom na referenčnú rovinu (M), pričom iluminátor (16) pre jasné pole má uhol otvorenia od 50° do 110°, s výhodou od 80° do 90°
  2. 2. Systém zhotovovania snímok podľa nároku 1, vyznačujúci sa tým, že kamera (12) a iluminátor (14) pre tmavé pole sú umiestnené na rovnakej strane od referenčnej roviny (M).
  3. 3. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z predchádzajúcich nárokov, vyznačujúci sa tým, že iluminátor (16) pre jasné pole je umiestnený, vzhľadom na referenčnú rovinu (M), na strane, ktorá je opačnáku strane, na ktorej je umiestnená kamera (12).
  4. 4. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z predchádzajúcich nárokov, vyznačujúci sa tým, že svetlo generované iluminátorom (14) pre tmavé pole má intenzitu v zornom poli kamery (12), ktorej zmeny sú menšie ako 3 %/mm vo vertikálnom smere a menšie ako 5 % medzi najnižšou a najvyššou úrovňou na výške rádovo do 10 mm.
  5. 5. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z predchádzajúcich nárokov, vyznačujúci sa tým, že vzdialenosť medzi iluminátorom (14) pre tmavé pole a pozorovacou oblasťou (20) je od 60 mm do 150 mm.
  6. 6. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z predchádzajúcich nárokov, vyznačujúci satým, že uhol otvárania iluminátora (14) pre tmavé poleje od 10° do 25°.
  7. 7. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z predchádzajúcich nárokov, vyznačujúci satým, že iluminátor (16) pre jasné pole zahŕňa viacero susediacich radov svetelných zdrojov (17).
  8. 8. Systém zhotovovania snímok podľa nároku 7, vyznačujúci sa tým, že svetelné zdroje (17) sú nastaviteľné.
  9. 9. Systém zhotovovania snímok podľa nároku 7 alebo nároku 8, vyznačujúci sa tým, že iluminátor (16) pre jasné pole zahŕňa od troch do dvanástich radov svetelných zdrojov (17), s výhodou päť až osem.
  10. 10. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z nárokov 7 až 9, vyznačujúci sa tým, že rady svetelných zdrojov (17) sú usporiadané vzhľadom k sebe navzájom v rovnomerných uhlových odstupoch.
  11. 11. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z nárokov 7 až 10 vyznačujúci sa tým, že dífúzér (19) je umiestnený medzi svetelnými zdrojmi (17) a pozorovacou oblasťou (20).
  12. 12. Systém zhotovovania snímok podľa nároku 11, vyznačujúci sa tým, že vzdialenosť medzi difuzérom a svetelnými zdrojmi (17) iluminátora (16) pre jasné pole je od 30 mm do 100 mm.
  13. 13. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z predchádzajúcich nárokov, vyznačujúci sa tým, že každý svetelný zdroj iluminátora pre jasné pole pozostáva z viaceíých susediacich LED (17).
  14. 14. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z predchádzajúcich nárokov, vyznačujú ci sa tým, že šírka pozorovacej oblasti (20) je aspoň 1 000 mm.
  15. 15. Systém zhotovovania snímok podľa ktoréhokoľvek z nárokov 1 až 13, tým, že spoločné puzdro (24) má šírku menšiu ako 30 cm
  16. 16. Systém zhotovovania snímok podľa nároku 15, vyznačujúci sa iluminátory (14, 16) sú skombinované do samostatnej jednotky.
  17. 17. Systém zhotovovania snímok podľa nároku 16, vyznačujúci sa iluminátoiy (14, 16) sú usporiadané v spoločnom puzdre (24).
  18. 18. Stanica na kontrolu kvality, vyznačujúca sa tým, vyznačujúci sa tým, že kamera (12) a tým, že kamera (12) a že zahŕňa systém (10) na zhotovovanie snímok, ako je definované v ktoromkoľvek z predchádzajúcich nárokov, pričom stanica (2) na kontrolu kvality je prispôsobená na uskutočňovanie inšpekcie plochých prvkov (4) v stroji na spracovanie plochých prvkov.
  19. 19. Stanica na kontrolu kvality, podľa nároku 18, vyznačujúca sa tým, že systém (10) na zhotovovanie snímok je zostavený na vykonávanie inšpekcie okraja plochých prvkov (4) transportovaných cez stanicu na kontrolu kvality.
SK501342018U 2016-05-30 2017-05-17 Systém zhotovovania snímok a stanica na kontrolu kvality obsahujúca systém zhotovovania snímok SK9053Y1 (sk)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEDE202016102851.5 2016-05-30
DE202016102851.5U DE202016102851U1 (de) 2016-05-30 2016-05-30 Bildaufnahmesystem und Qualitätskontrollstation mit Bildaufnahmesystem

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SK501342018U1 true SK501342018U1 (sk) 2020-11-03
SK9053Y1 SK9053Y1 (sk) 2021-02-24

Family

ID=56852912

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SK501342018U SK9053Y1 (sk) 2016-05-30 2017-05-17 Systém zhotovovania snímok a stanica na kontrolu kvality obsahujúca systém zhotovovania snímok

Country Status (9)

Country Link
CN (1) CN209589870U (sk)
AT (1) AT16584U1 (sk)
CZ (1) CZ32481U1 (sk)
DE (1) DE202016102851U1 (sk)
ES (1) ES1224499Y (sk)
PL (1) PL127953U1 (sk)
SK (1) SK9053Y1 (sk)
TR (1) TR201817920U4 (sk)
WO (1) WO2017207114A1 (sk)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102022113313A1 (de) 2022-05-25 2023-11-30 Mb Automation Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und verfahren zum sensorbasierten inspizieren eines objekts

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6327374B1 (en) * 1999-02-18 2001-12-04 Thermo Radiometrie Oy Arrangement and method for inspection of surface quality
JP3686329B2 (ja) * 2000-08-22 2005-08-24 シーシーエス株式会社 表面検査用照明装置及び表面検査装置
US20050122509A1 (en) * 2002-07-18 2005-06-09 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Apparatus for wafer inspection
DE102004004761A1 (de) * 2004-01-30 2005-09-08 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion eines Wafers
DE102007007828B4 (de) * 2007-02-16 2011-02-24 Bst International Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Beleuchten eines Druckbildes auf einer Materialbahn
JP5806808B2 (ja) * 2010-08-18 2015-11-10 倉敷紡績株式会社 撮像光学検査装置
DE102011113670A1 (de) * 2011-09-20 2013-03-21 Schott Ag Beleuchtungsvorrichtung, Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren für die optische Prüfung eines Objekts

Also Published As

Publication number Publication date
CZ32481U1 (cs) 2019-01-22
TR201817920U4 (tr) 2021-05-21
DE202016102851U1 (de) 2016-08-11
ES1224499Y (es) 2019-04-26
WO2017207114A1 (en) 2017-12-07
ES1224499U (es) 2019-02-06
CN209589870U (zh) 2019-11-05
AT16584U1 (de) 2020-02-15
PL127953U1 (pl) 2019-07-29
SK9053Y1 (sk) 2021-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102339677B1 (ko) 광학 검사 장치
US10215708B2 (en) Inspection apparatus and inspection method for inspection of the surface appearance of a flat item that represents a test specimen
ES2894869T3 (es) Sistema de inspección de superficies y método de inspección de superficies
US20110181874A1 (en) Bottle seam and embossing alignment
KR20150116863A (ko) 투명 판상체 표면 검사용 촬상 시스템
WO2011055432A1 (ja) ワーク検査装置
WO2013051716A1 (ja) 半導体ウェハの表面検査システム
US20120300212A1 (en) Arrangement for detecting marks on reflective material for regulating registration on printing machines
SK501342018U1 (sk) Systém zhotovovania snímok a stanica na kontrolu kvality obsahujúca systém zhotovovania snímok
ES2387448T3 (es) Dispositivo y procedimiento para contar y reconocer productos planos
JP6782449B2 (ja) 表面検査方法及びその装置
US6359694B1 (en) Method and device for identifying the position of an electrical component or terminals thereof, and equipping head employing same
CA3021911C (en) Quality control station for a sheet element processing machine and illumination unit for the quality control station
KR102628620B1 (ko) 시트 형상물의 검사 장치 및 시트 형상물의 검사 방법
US20180202633A1 (en) Light projecting device
TWI651490B (zh) 銜接型稜鏡片及附稜鏡片線型光照射裝置
CN108700529A (zh) 用于印刷图像检查的设备
KR101361587B1 (ko) 기판에 구성부품을 배치하기 위한 장치
US11341630B2 (en) Lighting for defect inspection of sheet-shaped objects, defect inspection apparatus for sheet-shaped objects, and method of defect inspection of sheet-shaped objects
KR20120086333A (ko) 적응 초점을 갖는 고속 광학 검사 시스템
RU2284510C1 (ru) Способ контроля широкого изделия (варианты)
FI95415C (fi) Optinen menetelmä kappaleen kolmiulotteisen muodon määrittämiseksi
KR20240015571A (ko) 결함 분석을 위한 검사 시스템 및 방법
KR101442770B1 (ko) 기판 검사 장치
JP2015087116A (ja) 検査装置