CZ32481U1 - Systém pro pořizování snímků a systém pro kontrolu kvality se systémem pro pořizování snímků - Google Patents
Systém pro pořizování snímků a systém pro kontrolu kvality se systémem pro pořizování snímků Download PDFInfo
- Publication number
- CZ32481U1 CZ32481U1 CZ2018-35741U CZ201835741U CZ32481U1 CZ 32481 U1 CZ32481 U1 CZ 32481U1 CZ 201835741 U CZ201835741 U CZ 201835741U CZ 32481 U1 CZ32481 U1 CZ 32481U1
- Authority
- CZ
- Czechia
- Prior art keywords
- image capture
- field illuminator
- camera
- capture system
- viewing area
- Prior art date
Links
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 14
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 239000011111 cardboard Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 3
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 2
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/002—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8822—Dark field detection
- G01N2021/8825—Separate detection of dark field and bright field
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N2021/8917—Paper, also ondulated
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Úřad průmyslového vlastnictví v zápisném řízení nezjišťuje, zda předmět užitného vzoru splňuje podmínky způsobilosti k ochraně podle § 1 zák. ě. 478/1992 Sb.
Systém pro pořizování snímků a systém pro kontrolu kvality se systémem pro pořizování snímků
Oblast techniky
Technické řešení se týká systému pro pořizování snímků a stanice pro kontrolu kvality uzpůsobené pro inspekci plochých prvků ve stroji pro zpracování plochých prvků.
Pojem „stroj pro zpracování plochých prvků je zde zamýšlen tak, aby zahrnoval jakýkoliv stroj, který je používán pro zpracovávání plochých prvků, jako je například papír, karton, plastová fólie nebo podobné materiály, zejména tiskové stroje, potahovací stroje, laminovací stroje a konvertovací stroje (například řezací, razící, skládací a/nebo lepicí stroje).
Dosavadní stav techniky
Je obecně známo provádění inspekce povrchu plochého prvku dopravovaného přes stanici pro kontrolu kvality pomocí kamery a analyzování pořízených snímků z různých hledisek. Za tímto účelem jsou používány poměrně sofistikované kamery a osvětlovací jednotky, které jsou instalovány do stroje pro zpracovávání plochých prvků na stanici pro kontrolu kvality.
Cílem technického řešení je umožnit provádění inspekce plochých prvků tak, aby byla inspekce prováděna z různých hledisek.
Podstata technického řešení
Pro dosažení tohoto cíle technické řešení navrhuje systém pro pořizování snímků zahrnující liniovou kameru zachycující lineární pozorovací oblast, iluminátor pro tmavé pole a iluminátor pro světlé pole osvětlující pozorovanou oblast, přičemž zmíněné komponenty jsou uspořádány tak, že vzhledem k referenční rovině, která je kolmá na povrch plochého prvku podstupujícího inspekci, který prochází přes lineární pozorovací oblast, je optická rovina kamery uspořádána pod úhlem přibližně 10° až 30°, s výhodou 20°, vzhledem k referenční rovině, přičemž optická rovina iluminátoru pro tmavé pole je uspořádána pod úhlem přibližně 30° až 60°, s výhodou 45°, vzhledem k referenční rovině, a optická rovina iluminátoru pro světlé pole je uspořádána pod úhlem přibližně 20° až 40°, s výhodou 30°, vzhledem k referenční rovině, přičemž iluminátor 16 pro světlé pole má úhel otevření od 50° do 110°, s výhodou od 80° do 90°. Bylo zjištěno, že toto uspořádání komponent umožňuje provádět inspekci povrchu plochých prvků současně v mnoha ohledech, například co se týče polohy embosovaných struktur, polohy odrazivých částí povrchu nebo identifikace škrábanců na povrchu.
Vzdálenost kamery je 600 mm ± 200 mm v závislosti na šířce, kterou má pokrýt. Je možno použít více než jednu liniovou kameru spolu se stejným osvětlovacím systémem, zejména dvě nebo tři kamery.
Pro dosažení kompaktnějšího designuje možno použít zrcadlo pro ohnutí trasy světla směrem ke kameře.
Rozměry pozorované oblasti, měřené kolmo na směr pohybu plochých prvků, mohou být 400 mm až 1500 mm a někdy dokonce až 3200 mm na délku, s rozměrem rovnoběžným s pohybem plochých prvků velmi malým, například s šířkou jen několik milimetrů.
Kamera a iluminátor pro tmavé pole jsou s výhodou uspořádány na stejné straně od referenční roviny, a iluminátor pro světlé pole je uspořádán, vzhledem ke stejné referenční rovině, na straně,
- 1 CZ 32481 U1 která je protilehlá ke straně, na níž je uspořádána kamera.
Podle výhodného provedení technického řešení iluminátor pro tmavé pole generuje světlo s intenzitou vzorném poli kamery, která se významně nemění ve výšce řádově 10 mm až 12 mm. To na jedné straně činí systém pro pořizování snímků necitlivým z hlediska instalačních tolerancí. Na druhé straně to umožňuje osvětlit pozorovací oblast kamery s neměnnou intenzitou i v případě významné změny tloušťky plochých prvků podstupujících inspekci.
Podle výhodného provedení iluminátor pro jasné pole zahrnuje několik vedle sebe umístěných řad světelných zdrojů. To umožňuje osvětlování pozorovací oblasti kamery pod různými úhly osvětlení.
Podle provedení technického řešení jsou kamera a iluminátory kombinovány do samostatné jednotky. Dále technické řešení navrhuje stanici pro kontrolu kvality zahrnující tento systém pro pořizování snímků, přičemž stanice pro kontrolu kvality je uzpůsobena pro provádění inspekce plochých prvků ve stroji pro zpracovávání plochých prvků. Myšlenkou, na níž je technické řešení založeno, je mít relativně malou jednotku, která může být instalována do stroje na vhodné místo bez toho, aby to vyžadovalo příliš úsilí pro rozložení prvků systému pro pořizování snímků ve zmíněném stroji. Jednotka je dostatečně kompaktní na to, aby byla umístěna v místě, kde bude kamera moci pořizovat potřebné snímky pozorovací oblasti.
Kamera a iluminátory jsou s výhodou uspořádány ve společném pouzdru, takže mohou být nainstalovány jako předem zarovnané. Dále jsou součásti systému pro pořizování snímků chráněny proti prachu.
V jednom možném provedení má pouzdro šířku, která je menší než 30 cm a která umožňuje použití systému pro pořizování snímků v omezeném prostoru dostupném ve stroji pro zpracování plochých prvků. Obecně řečeno zde má pouzdro velikost krabice od bot.
Systém pro pořizování snímků může být zejména používán pro provádění inspekce okraje plochých prvků, které jsou dopravovány přes stanici pro kontrolu kvality, protože pro tento úkol postačí velmi malá jednotka s malou pozorovací oblastí.
Objasnění výkresů
Technické řešení bude nyní blíže vysvětleno s odkazem na výhodné provedení, které je zobrazeno na připojených výkresech. Na těchto výkresech:
obr. 1 schematicky zobrazuje pohled z boku na systém pro inspekci povrchu podle technického řešení, použitý na stanici pro kontrolu kvality stroje pro zpracovávání plochých prvků;
obr. 2 schematicky zobrazuje systém pro inspekci povrchu z obr. 1 při pohledu shora;
obr. 3 schematicky zobrazuje systém pro inspekci povrchu z obr. 1 podrobněji; a obr. 4 schematicky zobrazuje systém pro inspekci povrchu podle alternativního provedení při pohledu shora.
Příklady uskutečnění technického řešení
Na obr. 1 je schematicky zobrazena stanice 2 pro kontrolu kvality, která je použita ve stroji pro zpracovávání plochých prvků, z nějž jsou zobrazeny dopravníkové stoly 3. Stroj pro zpracovávání plochých prvků může zpracovávat ploché prvky 4, které jsou transportovány ve
-2CZ 32481 U1 směru šipky A. Ploché prvky 4 mohou být archy papíru, kartonu, plastové fólie nebo podobného materiálu, nebo mohou být ve formě delšího pásu. Stroj pro zpracovávání plochých prvků může být tiskový stroj, razící stroj, laminovací stroj, skládací stroj, lepicí stroj atd.
Stanice 2 pro kontrolu kvality je používána pro kontrolu kvality plochých prvků 4. Za tímto účelem je možno kontrolovat více parametrů, např. polohu určitých prvků vzhledem k jiným prvkům, jako například polohu hologramu vzhledem k tisku, nebo přítomnost embosovaných částí ve správné poloze.
Na stanici 2 pro kontrolu kvality je používán systém 10 pro pořizování snímků, který je zde uzpůsoben pro pořizování snímků pozorovací oblasti 20. Pozorovací oblast 20 je uspořádána tak, aby byla pokryta celá šířka plochého prvku 4 (tj. pod úhlem 90 stupňů ke směru A pohybu plochých prvků 4 skrz stroj). Snímky pořízené systémem 10 pro pořizování snímků jsou vyhodnocovány pomocí jednotky pro vyhodnocování snímků (nezobrazeno) pro ověření toho, že povrchové znaky archu odpovídají požadavkům. To může například zahrnovat kterékoliv jedno nebo více z následujících: určování toho, že povrchové prvky (včetně tištěných, embosovaných, ražených (včetně obsahujících fólii nebo hologram) nebo lakovaných prvků jsou správně umístěny ve směru x, směru y a co se týče jejich orientace kolem osy z, že povrchové prvky pokrývají požadovanou plochu, že povrchové prvky jsou bez vynechávek, že povrchové prvky nepřesahují mimo předem definovanou oblast, že reprodukce barev odpovídá specifikaci, a/nebo že jakýkoliv trojrozměrný profil byl správně reprodukován.
Systém 10 pro pořizování snímků zde zahrnuje kameru 12, iluminátor 14 pro tmavé pole a iluminátor 16 pro světlé pole.
Kamera 12 je uzpůsobena pro pořizování snímku pozorovací oblasti 20 (linie zájmu), což je podlouhlá zóna, která vede kolmo na směr A po šířce stroje pro zpracovávání archů (a tak může být až 3200 mm široká).
Kamera 12 je uspořádána pod úhlem přibližně 20° vzhledem k mediánové rovině M, která je kolmá na povrch plochých prvků 4 v pozorovací oblasti 20 a která tvoří referenční rovinu.
Kamera 12 je liniová kamera schopná pořizovat snímky pozorovací oblasti 20 rychlostí 20 000 až 40 000 snímků za sekundu nebo ještě více.
Rozlišení kamery 12 je takové, že je možno rozlišit prvky řádově 0,05 až 0,3 mm na povrchu plochých prvků 4, s výhodou 0,1 mm.
Iluminátor 14 pro tmavé pole je uzpůsoben pro osvětlování pozorovací oblasti 20. Optická rovina iluminátoru 14 pro tmavé pole je uspořádána pod úhlem β přibližně 45° vzhledem k mediánové rovině M. Uhel otevření o iluminátoru 14 pro tmavé pole je v rozsahu od 10° do 25°.
Iluminátor 14 pro tmavé pole může být obecně jakéhokoliv typu. V konkrétním provedení zahrnuje řadu LED uspořádaných vedle sebe, a dva reflektory uspořádané proti sobě podél řady LED. Reflektory mají takový obrys, aby světlo směrované na pozorovací oblast 20 mělo intenzitu, která není (nebo alespoň ne významně) proměnlivá se změnami výšky pozorovací oblasti 20. Proto jsou tenké ploché prvky 4 (např. papír) osvětlovány v pozorovací oblasti se stejnou intenzitou jako silné ploché prvky 4 (např. silný karton).
Vhodnou volbou geometrie reflektorů a směrováním části světla LED přímo do pozorovací oblasti je možné, aby změny intenzity byly menší než 3 %/mm ve vertikálním směru a menší než 5 % mezi nejnižší a nejvyšší úrovní, na níž mohou být povrchy různých plochých prvků 4 (pokud je tento rozdíl maximálně v řádu 10 mm).
Vzdálenost mezi pozorovací oblastí 20 a iluminátorem 14 pro tmavé pole jev rozsahu od 30 mm
-3 CZ 32481 U1 do 100 mm.
Iluminátor 16 pro jasné pole je také uzpůsoben pro osvětlování pozorovací oblasti 20. Optická rovina iluminátoru 16 pro tmavé pole je uspořádána pod úhlem χ přibližně 30° vzhledem k mediánové rovině.
Iluminátor 16 pro jasné pole může být obecně jakéhokoliv typu. V konkrétním provedení zahrnuje několik rovnoběžných řad LED uspořádaných vedle sebe, přičemž každá řada je uzpůsobena pro osvětlování pozorovací oblasti 20. Tento typ iluminátoru může být používán v různých aplikacích pro směrování světla z různých směrů do pozorovací oblasti 20.
V provedení z obr. 1 až 3 je zobrazeno osm řad LED 17. Je možno použít jiný počet řad, s výhodou v rozsahu od tří do dvanácti řad a s větší výhodou v rozsahu od pěti do osmi řad.
Mezi LED 17 a pozorovací oblastí 20 je uspořádán difuzér 19. Vzdálenost mezi difůzérem 19 a LED by měla být v rozsahu od 30 do 100 mm.
Vzhledem ke skutečnosti, že je iluminátor 14 používán jako iluminátor pro tmavé pole, je uspořádán na stejné straně od mediánové roviny M jako kamera 12. Iluminátor 16 je nicméně, protože je používán jako iluminátor pro jasné pole, uspořádán na opačné straně od mediánové roviny M.
Jak je patrné na obr. 3, některé z řad LED iluminátoru 16 pro jasné pole jsou uspořádány s menším sklonem vzhledem k mediánové rovině M a některé z řad LED iluminátoru 16 pro jasné pole jsou uspořádány s větším sklonem vzhledem k mediánové rovině M. Proto je možné zajistit podmínky se zrcadlovým odrazem vzhledem ke kameře 12 pro velký rozptyl sklonů povrchu plochých prvků 4 v pozorovací oblasti 20.
Při pohledu z pozorovací oblasti je „úhel otevření (označený \) iluminátoru 16 pro jasné pole (úhel mezi řadou LED, která je nejblíže mediánové rovině M a řadou LED, která je nejdále od mediánové roviny M) řádově 80° až 90°.
LED každé řady jsou orientovány směrem k pozorovací oblasti. Vzhledem ke skutečnosti, že řady jsou uspořádány se stejnými odstupy mezi sebou, jsou uspořádány vzhledem k sobě navzájem s v podstatě rovnoměrnými úhlovými odstupy. Jinými slovy: úhel otevření iluminátoru 16 pro jasné poleje rozdělen na rovnoměrné intervaly řadami LED.
Na obr. 4 je zobrazeno alternativní provedení. Rozdíl oproti provedení zobrazenému na obr. 1 až 3 je v tom, že systém 10 pro pořizování snímků je používán pro pořizování snímků pozorovací oblasti 20, která je uspořádána tak, aby pokrývala okraj plochých prvků 4. Snímky pořízené systémem 10 pro pořizování snímků jsou vyhodnocovány jednotkou pro vyhodnocování snímků (nezobrazeno) pro ověření, zda byly testovací značky (vyznačeny schematicky se vztahovou značkou 22) správně natištěny na ploché prvky 4. Tyto testovací značky mohou sestávat z geometrických vzorů, barevných vzorků, atd., které umožňují obsluze kontrolu, zdaje stroj pro zpracovávání plochých prvků správně nastaven.
Důležitým znakem systému 10 pro pořizování snímků je to, že jde o samostatnou jednotku. Kamera 12 a iluminátory 14, 16 jsou integrovány do společného pouzdra 24.
Výhodou integrování součástí do společného pouzdra je to, že je to pouze pouzdro 24, které je třeba nainstalovat do stroje pro zpracování plochých prvků. Kamera 12 a iluminátory 14, 16 mohou být přesně nainstalovány a kalibrovány na konci procesu výroby, takže pouze jeden prvek, konkrétně pouzdro 24, je třeba správně zarovnat později.
Dále pouzdro 24 chrání kameru 12 a iluminátory 14, 16 před prachem.
-4CZ 32481 U1
Co se týče úhlové orientace součástí systému pro pořizování snímků, je odkazováno na podrobnosti o provedení z obr. 1 až 3.
NÁROKY NA OCHRANU
Claims (19)
1. Systém pro pořizování snímků zahrnující liniovou kameru (12), uzpůsobenou pro snímání lineární pozorovací oblasti (20), iluminátor (14) pro tmavé pole a iluminátor (16) pro jasné pole, osvětlující pozorovací oblast (20), přičemž zmíněné součásti jsou uspořádány tak, že vzhledem k referenční rovině (M), která je kolmá na povrch plochých prvků (4) procházejících pozorovací oblastí (20), kde jsou pořizovány snímky, je optická rovina liniové kamery (12) uspořádána pod úhlem (a) přibližně 10° až 30°, s výhodou 20°, vzhledem k referenční rovině (M), přičemž optická rovina iluminátoru (14) pro tmavé pole je uspořádána pod úhlem (3) přibližně 30° až 60°, s výhodou 45°, vzhledem k referenční rovině (M), a optická rovina iluminátoru (16) pro jasné pole je uspořádána pod úhlem (y) přibližně 20° až 40°, s výhodou 30°, vzhledem k referenční rovině (M), přičemž iluminátor (16) pro jasné pole má úhel otevření od 50° do 110°, s výhodou od 80° do 90°.
2. Systém pro pořizování snímků podle nároku 1 přičemž kamera (12) a iluminátor (14) pro tmavé pole jsou uspořádány na stejné straně od referenční roviny (M).
3. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z předcházejících nároků, přičemž iluminátor (16) pro jasné poleje uspořádán, vzhledem k referenční rovině (M), na straně, která je opačnou ke straně, na které je uspořádána kamera (12).
4. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z předcházejících nároků, přičemž iluminátor (14) pro tmavé pole generuje světlo s intenzitou v zorném poli kamery (12) která není významně proměnlivá na výšce v řádu 10 mm až 12 mm.
5. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z předcházejících nároků, přičemž vzdálenost mezi iluminátorem (14) pro tmavé pole a pozorovací oblastí (20) je od 60 mm do 150 mm.
6. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z předcházejících nároků, přičemž úhel otevření iluminátoru (14) pro tmavé poleje od 10° do 25°.
7. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z předcházejících nároků, přičemž iluminátor (16) pro jasné pole zahrnuje několik sousedících řad světelných zdrojů (17).
8. Systém pro pořizování snímků podle nároku 7, přičemž světelné zdroje (17) jsou nastavitelné.
9. Systém pro pořizování snímků podle nároku 7 nebo nároku 8, přičemž iluminátor (16) pro světlé pole zahrnuje od tri do dvanácti řad světelných zdrojů (17), s výhodou pět až osm.
10. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z nároků 7 až 9, přičemž řady světelných zdrojů (17) jsou uspořádány vzhledem k sobě navzájem ve v podstatě rovnoměrných úhlových odstupech.
-5 CZ 32481 U1
11. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z nároků 7 až 10, přičemž difuzér (19) je uspořádán mezi světelnými zdroji (17) a pozorovací oblastí (20).
12. Systém pro pořizování snímků podle nároku 11, přičemž vzdálenost mezi difůzérem a světelnými zdroji (17) iluminátoru (16) pro jasné pole je od 30 mm do 100 mm.
13. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z předcházejících nároků, přičemž každý světelný zdroj iluminátoru pro jasné pole sestává z více sousedících LED (17).
14. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z předcházejících nároků, přičemž šířka pozorovací oblasti (20) je alespoň 1000 mm.
15. Systém pro pořizování snímků podle kteréhokoliv z nároků 1 až 13, přičemž pouzdro (24) má šířku menší než 30 cm.
16. Systém pro pořizování snímků podle nároku 15, přičemž kamera (12) a iluminátory (14, 16) jsou zkombinovány do samostatné jednotky.
17. Systém pro pořizování snímků podle nároku 16, přičemž kamera (12) a iluminátory (14, 16) jsou uspořádány ve společném pouzdru (24).
18. Stanice (2) pro kontrolu kvality, zahrnující systém (10) pro pořizování snímků, jak je definován v kterémkoliv z předcházejících nároků, přičemž stanice (2) pro kontrolu kvality je uzpůsobeny pro provádění inspekce plochých prvků (4) ve stroji pro zpracování plochých prvků.
19. Stanice pro kontrolu kvality, jak je definována v nároku 18, přičemž systém (10) pro pořizování snímků je uspořádán pro provádění inspekce okraje plochých prvků (4) transportovaných přes stanici pro kontrolu kvality.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE202016102851.5U DE202016102851U1 (de) | 2016-05-30 | 2016-05-30 | Bildaufnahmesystem und Qualitätskontrollstation mit Bildaufnahmesystem |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CZ32481U1 true CZ32481U1 (cs) | 2019-01-22 |
Family
ID=56852912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CZ2018-35741U CZ32481U1 (cs) | 2016-05-30 | 2017-05-17 | Systém pro pořizování snímků a systém pro kontrolu kvality se systémem pro pořizování snímků |
Country Status (9)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN209589870U (cs) |
| AT (1) | AT16584U1 (cs) |
| CZ (1) | CZ32481U1 (cs) |
| DE (1) | DE202016102851U1 (cs) |
| ES (1) | ES1224499Y (cs) |
| PL (1) | PL127953U1 (cs) |
| SK (1) | SK9053Y1 (cs) |
| TR (1) | TR201817920U4 (cs) |
| WO (1) | WO2017207114A1 (cs) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102022113313A1 (de) | 2022-05-25 | 2023-11-30 | Mb Automation Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und verfahren zum sensorbasierten inspizieren eines objekts |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6327374B1 (en) * | 1999-02-18 | 2001-12-04 | Thermo Radiometrie Oy | Arrangement and method for inspection of surface quality |
| JP3686329B2 (ja) * | 2000-08-22 | 2005-08-24 | シーシーエス株式会社 | 表面検査用照明装置及び表面検査装置 |
| US20050122509A1 (en) * | 2002-07-18 | 2005-06-09 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Apparatus for wafer inspection |
| DE102004004761A1 (de) * | 2004-01-30 | 2005-09-08 | Leica Microsystems Semiconductor Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Inspektion eines Wafers |
| DE102007007828B4 (de) * | 2007-02-16 | 2011-02-24 | Bst International Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Beleuchten eines Druckbildes auf einer Materialbahn |
| JP5806808B2 (ja) * | 2010-08-18 | 2015-11-10 | 倉敷紡績株式会社 | 撮像光学検査装置 |
| DE102011113670A1 (de) * | 2011-09-20 | 2013-03-21 | Schott Ag | Beleuchtungsvorrichtung, Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren für die optische Prüfung eines Objekts |
-
2016
- 2016-05-30 DE DE202016102851.5U patent/DE202016102851U1/de active Active
-
2017
- 2017-05-17 SK SK501342018U patent/SK9053Y1/sk unknown
- 2017-05-17 PL PL127953U patent/PL127953U1/pl unknown
- 2017-05-17 ES ES201890024U patent/ES1224499Y/es active Active
- 2017-05-17 TR TR2018/17920U patent/TR201817920U4/tr unknown
- 2017-05-17 WO PCT/EP2017/025133 patent/WO2017207114A1/en active Application Filing
- 2017-05-17 CN CN201790000885.2U patent/CN209589870U/zh active Active
- 2017-05-17 CZ CZ2018-35741U patent/CZ32481U1/cs active Protection Beyond IP Right Term
- 2017-05-17 AT ATGM9007/2017U patent/AT16584U1/de unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AT16584U1 (de) | 2020-02-15 |
| DE202016102851U1 (de) | 2016-08-11 |
| WO2017207114A1 (en) | 2017-12-07 |
| CN209589870U (zh) | 2019-11-05 |
| SK9053Y1 (sk) | 2021-02-24 |
| ES1224499Y (es) | 2019-04-26 |
| ES1224499U (es) | 2019-02-06 |
| TR201817920U4 (tr) | 2021-05-21 |
| SK501342018U1 (sk) | 2020-11-03 |
| PL127953U1 (pl) | 2019-07-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| ES2765493T3 (es) | Procedimiento y sistema para inspeccionar superficies | |
| ES2894869T3 (es) | Sistema de inspección de superficies y método de inspección de superficies | |
| RU2498931C2 (ru) | Система сбора информации для фиксации бутылок и применение системы сбора информации (варианты) | |
| CN102023164B (zh) | 用于检测透明平板的局部缺陷的装置和方法 | |
| WO2018088423A1 (ja) | 光学検査装置 | |
| US9638642B2 (en) | Apparatus and method for optically scanning a surface of an object under adverse external condition | |
| US20120300212A1 (en) | Arrangement for detecting marks on reflective material for regulating registration on printing machines | |
| WO2017207115A1 (en) | Surface inspection system and inspection method | |
| CZ32481U1 (cs) | Systém pro pořizování snímků a systém pro kontrolu kvality se systémem pro pořizování snímků | |
| ES2387448T3 (es) | Dispositivo y procedimiento para contar y reconocer productos planos | |
| JP3176803U (ja) | 検査用照明装置 | |
| RU178286U1 (ru) | Автоматизированное оптико-электронное устройство для диагностики защитных голограмм | |
| ES2896884T3 (es) | Sistema de captación de imágenes y método para determinar la posición de una estructura estampada sobre un elemento laminar | |
| JP6908373B2 (ja) | 検査対象物の表面の凹凸を検査する方法及びその表面検査装置 | |
| JP6801860B2 (ja) | 被検査物の外観検査装置 | |
| US9156246B2 (en) | Method and device for the quality inspection and testing of flat printed products | |
| JP5508303B2 (ja) | 三次元形状計測装置 | |
| KR20160119201A (ko) | 움직이는 유리 시트 상의 식별 코드를 판독하기 위한 장치 | |
| KR102178856B1 (ko) | 비젼검사장치 | |
| WO2009097193A1 (en) | Table gauge | |
| NL1037616C2 (en) | Measuring system used for measuring the thickness and location of contact wires. | |
| NL1040756B1 (en) | Instrument to measure the thickness and position of contact wires. | |
| JP2023130783A (ja) | 照明装置 | |
| US20050127276A1 (en) | Sensorblock | |
| JP2014190730A (ja) | 印刷物検査用照明装置および印刷物の検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FG1K | Utility model registered |
Effective date: 20190122 |
|
| ND1K | First or second extension of term of utility model |
Effective date: 20210312 |
|
| ND1K | First or second extension of term of utility model |
Effective date: 20240306 |