SE532397C2 - Vätskefilmmätare - Google Patents
VätskefilmmätareInfo
- Publication number
- SE532397C2 SE532397C2 SE0850034A SE0850034A SE532397C2 SE 532397 C2 SE532397 C2 SE 532397C2 SE 0850034 A SE0850034 A SE 0850034A SE 0850034 A SE0850034 A SE 0850034A SE 532397 C2 SE532397 C2 SE 532397C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- radiation
- housing
- radiator
- detectors
- directs
- Prior art date
Links
- 239000012530 fluid Substances 0.000 title 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 34
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 210000000664 rectum Anatomy 0.000 claims description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000010349 pulsation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
- G01B11/0625—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3577—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing liquids, e.g. polluted water
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/8422—Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/061—Sources
- G01N2201/06186—Resistance heated; wire sources; lamelle sources
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Description
25 30 35 532 3%? Ett ändamål med föreliggande uppfinning är att tillhandahålla en anordning som är relativt kompakt och således enkelt kan installeras i olika miljöer. I många fall är det en fördel om den kan användas som en del av ett modulärt system.
Enligt uppfinningen tillhandahålls en anordning för radiometrisk mätning av tunna vätskefilmer. Anordningen har ett hölje som innesluter en strålningskälla, en strålningsstyrning, en reflektor och en eller flera detektorer.
Ytterligare ändamål och fördelar med föreliggande uppfinning kommer att vara självklara för en fackman som läser den detaljerade beskrivningen nedan över olika utföringsforrner.
Kortfattad beskrivning ritnigganra Uppfmningen kommer att beskrivas närmare nedan såsom ett exempel och med hänvisning till bifogade ritningar. I ritningarna visar; Fig. l en vy ovanifrån över en apparat enligt föreliggande uppfinning, Fig. 2 ett tvärsnitt av apparaten enligt fig 1 taget längs linjen A-A, och Fig. 3 ett tvärsnitt motsvarande fi g 2 av en alternativ utföringsform.
Detalierad beskrivning av olika utföringsformer Apparaten enligt uppfinningen har allmänt ett hölje l. Inuti höljet 1 finns åtminstone en strålare 2, en strålningsstyming 3, 7, som styr strålningen mot en vätske- film som skall övervakas, en reflektor 4, som riktar reflekterad strålning mot en eller flera detektorer 5 inuti höljet 1.
I de olika figurerna ges motsvarande delar samma hänvísningssiffior, så länge som de har samma allmänna utformning.
Höljet l visat i figurema 1 och 2 har en huvudsakligen cylindrisk yttre form. I mitten av höljet och upptill är en IR-strålare 2 placerad. IR-stzrålaren 2 är en bredbands- strålare. IR-strålaren 2 moduleras med en fast frekvens och strålningen pulseras nor- malt. IR-strålarens 2 effekt skall vara tillräckligt hög för att ge en rimlig mätsignal.
Det är även möjligt att förse apparaten med en smalbandsstrâlare. En smal- bandsstrålare kommer att ge högre flöde av strålningsenergi och en smalbandsstrålare är energisnålare än en bredbandsstrålare. Det är möjligt att öka pulseringsfiekvensen som ger ökad känslighet hos detektorerna.
IR-strålaren 2 strålar ned i en strålningsstyrníng, som i detta fall är ett strålningsrör 3. Strålningsröret 3 har en huvudsakligen cylindrisk form. Med hjälp av strålningsröret 3 styrs strålningen på ett sådant sätt att strålningens strålar kommer att 10 15 20 25 30 35 532 33? vara parallella. Strålarens 2 strålning leds med hjälp av strålningsröret 3 mot en yta på vilken en vätskefilm passerar och på vilken vätskefilrn mätningen skall utföras. Normalt placeras apparaten enligt föreliggande uppfinning i en aktiv produktionslinje och styrningen och övervakningen av vätskefilmen görs således medan en maskin etc går.
Ytan som tar emot vätskefilrnen skall ha en viss reflektans för att apparaten skall fungera på det önskade sättet. Om reflektansen är för låg kan det vara problem att plocka upp signaler vid vätskefilrnens passage. I sådana fall kan vätskefilrnen tas ut och ledas till en yta som ger tillräcklig reflektans.
Strålningen reflekteras på ett spritt sätt från ytan och riktas av reflektom 4 mot den enda eller flera detektorer 5. Reflektom 4 är av typen icke avbildande optik.
Reflektoms 4 yta har formen av en del av en elipsoid. Sett i tvärsnitt har således reflek- tom sidor i form av en del av en elips.
I praktiken kan varje detektor 5 i vissa fall bildas av en enhet av mindre detek- torer. För att underlätta beskrivningen är avsikten att uttrycket ”detektor”, såsom använt här, skall täcka både en enskild detektor och en enhet av detektorer som verkar som en enhet.
Varje detektor 5 har ett filter 6. Detektorerna 5 är så kallade bredbandsdetektorer och bandpassfilter 6 placeras frarnfór detektorerna. Normalt har en detektor 5 ett filter 6 som släpper igenom strålning av en våglängd som absorberas av vätskefilmen och en annan detektor 5 (referensdetektor) har ett filter 6 som släpper igenom en våglängd som inte tillhör vätskefilmens absorptionsband. Förhållandet mellan de signalnivåer som plockas upp av detektorema 5 avspeglar vätskefilmens tjocklek. Med hjälp av referensdetektorn är det också möjligt att kompensera till exempel för alternerande fysiska egenskaper hos vätskefilmen eller ytan som vätske- filmen passerar, avståndet till vätskefilrnen och möjlig bakgrundsstrålning. Den visade apparaten är axiellt synnnenisk, detektorerna 5 är således jänmt fördelade mnt en central linje. Detektorema 5 placeras vid den tjockaste delen av elipsoiddelen bildad av reflektom 4. Strålníngsflödet är relativt jämnt i det läget. Genom att byta filter 6 anpassas apparaten till olika mätförfaranden, varvid filtret 6 väljs beroende på vätskefilmen som skall analyseras.
För att spara kostnader och i situationer där förhållandena är relativt stabila kan det räcka med att använda en enda detektor 5. I sådana fall finns således ingen referens- detektor.
Den enda skillnaden mellan utföringsformerrra enligt fig. 3 och fig. 2 är att strålningsstyrningen vid utföringsformen enligt fig. 3 är en strålningskon 7. Med 10 15 20 25 30 532 33? användning av strålningskonen 7 kommer strålningen som träffar vätskefilmen att vara mer koncentrerad.
Vid en alternativ utföringsform har apparaten ett rektangulärt yttre utseende, varvid normalt två detektorer placeras i linje med varandra på motsatta sidor om IR- strålaren. I detta fall kommer reflektorn att ha två motsatta ytor som har tvärsnittsformen av en del av en elips och två motsatta ytor som har en rak tvärsnittsform. Genom att använda en rektangulär yttre form är det relativt enkelt att ge apparaten enligt uppfinningen en modulär struktur.
En axiellt symmetrisk apparat kan ha vilket antal detektorer som helst. En apparat som har en rektangulär yttre dimension kommer normalt endast att ha två de- tektorer. I vissa fall har en apparat som har en rektangulär yttre dimension fler än två detektorer, vilka detektorer nödvändigtvis inte är placerade i linje. Genom att använda flera detektorer kommer det att vara möjligt att till exempel mäta koncentrationen hos olika delar av vätskefilmen.
Vid en utfiiringsform finns ett glasfiânster mellan apparaten och vätskefilmen, vilket fönster är transparent for de aktuella våglângdema. Det kan även finnas en så kallad luftkniv, som transporterar bort partiklar och stänk från mätningsprocessen. Både ett möjligt glasfönster och en luñkniv kommer således att skydda apparaten i tuffa niiljöer.
Normalt placeras elektronik för att styra de olika delarna, för att utvärdera mätningarna och för att eventuellt förstärka signaler inuti i apparatens hölje 1. En fack- man inser emellertid att dessa delar kan placeras utanför höljet och kommunikationen med dessa delar kan ske antingen via en kabel eller trådlöst.
Vid en ytterligare alternativ utforingsform används fiberoptik för att leda exempelvis ljus från en laser mot vätskefilmen. Härvid kan strålningsstyniingen användas som ett stöd för en fiberoptisk kabel.
Claims (13)
1. l. Anordning för radiometrisk mätning av tunna vätskefilmer, kännetecknar! av att den innefattar ett hölje (l) som innesluter minst en radiator (2), en strålnings- styrning, som styr strålningen mot vätskefilmen som skall mätas och som styr strålningens strålar till att vara parallella, och en reflektor (4) som riktar den reflekterade strålningen mot en eller flera detektorer (5) inuti höljet (l), där reflektorn (4) har formen av icke avbildande optik.
2. Anordning enligt krav l, där radíatom är en IR-radiator (2).
3. Anordningen enligt krav 2, där strålningsstyrriingen är placerad direkt under IR-radiatorn (2).
4. Anordning enligt krav l, där radiatom utnyttjar en fiberoptisk kabel och där den fiberoptiska kabeln tas emot inuti strålningsstyrníngen.
5. Anordning enligt krav 1, där strålníngsstyrningen är ett strâlningsrör (3).
6. Anordning enligt krav l, där strålningsstyrningen är en strålningskon (7).
7. Anordning enligt krav 1, där reflektom (4) har formen av en del av en elipsoid.
8. Anordning enligt krav 1, där reflektom har två motsatta sidor med en rak tvärsnittsforrn och två motsatta sidor med en tvärsnittsfonn som en del av en elíps.
9. Anordning enligt krav 1, där höljet har en yttre cylindrisk form.
10. Anordning enligt krav l, där höljet har en yttre rektangulär form.
11. Anordning enligt något av föregående krav, där elektronik för att styra anordningens olika delar, för att utvärdera mätningarna och för att förstärka signaler är placerade inuti höljet (1).
12. Anordning enligt något av kraven l-l0, där elektronik för att styra anord- ningens olika delar, för att utvärdera mätningarna och för att förstärka signaler är place- rade utanför höljet (1).
13. Anordning enligt krav 1, vilken har åtminstone två detektorer (5) av vilka åtminstone en är en referensdetektor.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE0850034A SE532397C2 (sv) | 2008-10-09 | 2008-10-09 | Vätskefilmmätare |
EP09819483A EP2344838A1 (en) | 2008-10-09 | 2009-10-05 | Fluid film indicator |
PCT/SE2009/051104 WO2010042029A1 (en) | 2008-10-09 | 2009-10-05 | Fluid film indicator |
JP2011530991A JP5544643B2 (ja) | 2008-10-09 | 2009-10-05 | 流体フィルム測定器 |
US13/122,860 US8618484B2 (en) | 2008-10-09 | 2009-10-05 | Fluid film indicator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE0850034A SE532397C2 (sv) | 2008-10-09 | 2008-10-09 | Vätskefilmmätare |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE0850034L SE0850034L (sv) | 2010-01-12 |
SE532397C2 true SE532397C2 (sv) | 2010-01-12 |
Family
ID=41502186
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE0850034A SE532397C2 (sv) | 2008-10-09 | 2008-10-09 | Vätskefilmmätare |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8618484B2 (sv) |
EP (1) | EP2344838A1 (sv) |
JP (1) | JP5544643B2 (sv) |
SE (1) | SE532397C2 (sv) |
WO (1) | WO2010042029A1 (sv) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106645144B (zh) * | 2016-09-29 | 2019-04-12 | 河海大学常州校区 | 一种流动液膜发生装置及其使用方法 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4167746A (en) * | 1975-03-03 | 1979-09-11 | General Electric Company | Radiation triggered thyristor with light focussing guide |
FI65143C (fi) * | 1981-12-23 | 1984-03-12 | Valtion Teknillinen | Maethuvud foer infraroedhygrometer |
HU188795B (en) * | 1982-05-28 | 1986-05-28 | Koezponti Elelmiszeripari Kutato Intezet,Hu | Detecting arrangement for meassuring the intensity of radiation scattering at a given angle from a sample exposed to radiation of given angle of incidence |
DE3220282C3 (de) * | 1982-05-28 | 1995-05-18 | Roland Man Druckmasch | Vorrichtung zum betrieblichen Erfassen eines Maßes für die Feuchtmittelmenge auf der rotierenden Druckplatte in Offset-Druckmaschinen |
JPH02128168A (ja) * | 1988-11-07 | 1990-05-16 | Natl Space Dev Agency Japan<Nasda> | 電子走査型マイクロ波放射計 |
JPH03225258A (ja) * | 1990-01-30 | 1991-10-04 | Yokogawa Electric Corp | シート状物体の特性測定装置 |
US5124552A (en) * | 1991-01-28 | 1992-06-23 | Measurex Corporation | Sensor and method for measuring web moisture with optimal temperature insensitivity over a wide basis weight range |
US5338361A (en) * | 1991-11-04 | 1994-08-16 | Measurex Corporation | Multiple coat measurement and control apparatus and method |
JPH05312723A (ja) * | 1992-03-12 | 1993-11-22 | Kobe Steel Ltd | 鋼板の連続めっき合金化ラインでの合金化度測定方法 |
US5302823A (en) * | 1992-08-31 | 1994-04-12 | Itt Corporation | Satellite solar band calibration source target apparatus |
JPH07128144A (ja) * | 1993-11-04 | 1995-05-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 分光測定装置 |
US5552604A (en) * | 1994-05-13 | 1996-09-03 | Donald W. Sting | Optical sensing with crystal assembly sensing tip |
JP3203149B2 (ja) * | 1995-04-24 | 2001-08-27 | 株式会社クボタ | 分光分析装置用の投受光装置 |
AU768800B2 (en) * | 1996-03-19 | 2004-01-08 | University Of Utah Research Foundation | System for determining analyte concentration |
EP0890093A4 (en) * | 1996-03-19 | 2000-03-15 | Univ Utah Res Found | SYSTEM FOR DETERMINING THE CONCENTRATION OF A SAMPLE TO BE ANALYZED |
US5963333A (en) * | 1996-09-12 | 1999-10-05 | Color Savvy Systems Limited | Color sensor |
US6271523B1 (en) * | 1997-12-05 | 2001-08-07 | John D. Weaver | Optical sensor system and method for monitoring consumables |
JP4063947B2 (ja) * | 1998-03-20 | 2008-03-19 | 横河電機株式会社 | 繊維配向計 |
GB9906011D0 (en) * | 1999-03-16 | 1999-05-12 | Whiley Foils Ltd | Fluorescent materials |
US6424416B1 (en) * | 1999-10-25 | 2002-07-23 | Textron Systems Corporation | Integrated optics probe for spectral analysis |
SE519918C2 (sv) * | 2000-11-24 | 2003-04-22 | Cervitrol Ab | Förfarande och anordning för radiometrisk mätning av tunna vätskefilmer |
US7697750B2 (en) * | 2004-12-06 | 2010-04-13 | John Castle Simmons | Specially coherent optics |
DE502006004095D1 (de) * | 2005-02-16 | 2009-08-13 | X Rite Europe Gmbh | Farbmessgerät und zugehöriger Messkopf |
-
2008
- 2008-10-09 SE SE0850034A patent/SE532397C2/sv not_active IP Right Cessation
-
2009
- 2009-10-05 US US13/122,860 patent/US8618484B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2009-10-05 WO PCT/SE2009/051104 patent/WO2010042029A1/en active Application Filing
- 2009-10-05 JP JP2011530991A patent/JP5544643B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-10-05 EP EP09819483A patent/EP2344838A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8618484B2 (en) | 2013-12-31 |
SE0850034L (sv) | 2010-01-12 |
EP2344838A1 (en) | 2011-07-20 |
US20110204238A1 (en) | 2011-08-25 |
JP2012505401A (ja) | 2012-03-01 |
WO2010042029A1 (en) | 2010-04-15 |
JP5544643B2 (ja) | 2014-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2967903C (en) | A nephelometric turbidimeter and method for controlling the humidity of venting air in a nephelometric turbidimeter | |
CN109000796A (zh) | 光化学分析仪和液体深度传感器 | |
JP2015200745A5 (sv) | ||
SE532397C2 (sv) | Vätskefilmmätare | |
US20130271756A1 (en) | Sensor for Monitoring a Medium | |
US11353395B2 (en) | System and method for ozone concentration measurement in liquids having a negative scaling index | |
CN106290099A (zh) | 一种基于svm的烟雾预警装置 | |
US12013336B2 (en) | Gas concentration measurement apparatus and techniques | |
US20150036125A1 (en) | Sensor for monitoring a medium | |
JP2013036807A (ja) | 濁度計 | |
KR20190068425A (ko) | 방사 온도계 | |
EP3398000B1 (en) | Optical detection system with light sampling | |
US11231357B2 (en) | System and method for ozone concentration in liquids having a positive scaling factor | |
KR101420181B1 (ko) | 오염 모니터링 광센서 및 이를 이용한 수질오염 측정장치 | |
FI78353B (fi) | Fiberoptiska temperaturmaetfoerfarande och -anordning. | |
SE468368B (sv) | Optoelektronisk maetskala foer att positionsbestaemma och indikera laeget foer ett mot maetskalan infallande riktat ljus fraan en straalningskaella | |
US11913879B2 (en) | Non-dispersive infrared sensor | |
KR102265564B1 (ko) | 산란광 측정 방식의 가스 센싱 시스템 | |
RU2503952C1 (ru) | Устройство обнаружения пылеотложения на печатных платах радиоэлектронной аппаратуры | |
JP6680098B2 (ja) | 示差屈折率検出器 | |
RU2284579C2 (ru) | Устройство для испытания дымовых пожарных извещателей | |
JP2014002062A5 (sv) | ||
RU136564U1 (ru) | Датчик малых расходов жидкости | |
JP5562539B2 (ja) | 濃度測定装置 | |
GB2186076A (en) | Chemical monitor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |