SE532397C2 - Vätskefilmmätare - Google Patents

Vätskefilmmätare

Info

Publication number
SE532397C2
SE532397C2 SE0850034A SE0850034A SE532397C2 SE 532397 C2 SE532397 C2 SE 532397C2 SE 0850034 A SE0850034 A SE 0850034A SE 0850034 A SE0850034 A SE 0850034A SE 532397 C2 SE532397 C2 SE 532397C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
radiation
housing
radiator
detectors
directs
Prior art date
Application number
SE0850034A
Other languages
English (en)
Other versions
SE0850034L (sv
Inventor
Leif Cronvall
Original Assignee
Microfluid Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Microfluid Ab filed Critical Microfluid Ab
Priority to SE0850034A priority Critical patent/SE532397C2/sv
Priority to EP09819483A priority patent/EP2344838A1/en
Priority to PCT/SE2009/051104 priority patent/WO2010042029A1/en
Priority to JP2011530991A priority patent/JP5544643B2/ja
Priority to US13/122,860 priority patent/US8618484B2/en
Publication of SE0850034L publication Critical patent/SE0850034L/sv
Publication of SE532397C2 publication Critical patent/SE532397C2/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G01B11/0625Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3577Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing liquids, e.g. polluted water
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection
    • G01N21/4738Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
    • G01N21/474Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources
    • G01N2201/06186Resistance heated; wire sources; lamelle sources

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Description

25 30 35 532 3%? Ett ändamål med föreliggande uppfinning är att tillhandahålla en anordning som är relativt kompakt och således enkelt kan installeras i olika miljöer. I många fall är det en fördel om den kan användas som en del av ett modulärt system.
Enligt uppfinningen tillhandahålls en anordning för radiometrisk mätning av tunna vätskefilmer. Anordningen har ett hölje som innesluter en strålningskälla, en strålningsstyrning, en reflektor och en eller flera detektorer.
Ytterligare ändamål och fördelar med föreliggande uppfinning kommer att vara självklara för en fackman som läser den detaljerade beskrivningen nedan över olika utföringsforrner.
Kortfattad beskrivning ritnigganra Uppfmningen kommer att beskrivas närmare nedan såsom ett exempel och med hänvisning till bifogade ritningar. I ritningarna visar; Fig. l en vy ovanifrån över en apparat enligt föreliggande uppfinning, Fig. 2 ett tvärsnitt av apparaten enligt fig 1 taget längs linjen A-A, och Fig. 3 ett tvärsnitt motsvarande fi g 2 av en alternativ utföringsform.
Detalierad beskrivning av olika utföringsformer Apparaten enligt uppfinningen har allmänt ett hölje l. Inuti höljet 1 finns åtminstone en strålare 2, en strålningsstyming 3, 7, som styr strålningen mot en vätske- film som skall övervakas, en reflektor 4, som riktar reflekterad strålning mot en eller flera detektorer 5 inuti höljet 1.
I de olika figurerna ges motsvarande delar samma hänvísningssiffior, så länge som de har samma allmänna utformning.
Höljet l visat i figurema 1 och 2 har en huvudsakligen cylindrisk yttre form. I mitten av höljet och upptill är en IR-strålare 2 placerad. IR-stzrålaren 2 är en bredbands- strålare. IR-strålaren 2 moduleras med en fast frekvens och strålningen pulseras nor- malt. IR-strålarens 2 effekt skall vara tillräckligt hög för att ge en rimlig mätsignal.
Det är även möjligt att förse apparaten med en smalbandsstrâlare. En smal- bandsstrålare kommer att ge högre flöde av strålningsenergi och en smalbandsstrålare är energisnålare än en bredbandsstrålare. Det är möjligt att öka pulseringsfiekvensen som ger ökad känslighet hos detektorerna.
IR-strålaren 2 strålar ned i en strålningsstyrníng, som i detta fall är ett strålningsrör 3. Strålningsröret 3 har en huvudsakligen cylindrisk form. Med hjälp av strålningsröret 3 styrs strålningen på ett sådant sätt att strålningens strålar kommer att 10 15 20 25 30 35 532 33? vara parallella. Strålarens 2 strålning leds med hjälp av strålningsröret 3 mot en yta på vilken en vätskefilm passerar och på vilken vätskefilrn mätningen skall utföras. Normalt placeras apparaten enligt föreliggande uppfinning i en aktiv produktionslinje och styrningen och övervakningen av vätskefilmen görs således medan en maskin etc går.
Ytan som tar emot vätskefilrnen skall ha en viss reflektans för att apparaten skall fungera på det önskade sättet. Om reflektansen är för låg kan det vara problem att plocka upp signaler vid vätskefilrnens passage. I sådana fall kan vätskefilrnen tas ut och ledas till en yta som ger tillräcklig reflektans.
Strålningen reflekteras på ett spritt sätt från ytan och riktas av reflektom 4 mot den enda eller flera detektorer 5. Reflektom 4 är av typen icke avbildande optik.
Reflektoms 4 yta har formen av en del av en elipsoid. Sett i tvärsnitt har således reflek- tom sidor i form av en del av en elips.
I praktiken kan varje detektor 5 i vissa fall bildas av en enhet av mindre detek- torer. För att underlätta beskrivningen är avsikten att uttrycket ”detektor”, såsom använt här, skall täcka både en enskild detektor och en enhet av detektorer som verkar som en enhet.
Varje detektor 5 har ett filter 6. Detektorerna 5 är så kallade bredbandsdetektorer och bandpassfilter 6 placeras frarnfór detektorerna. Normalt har en detektor 5 ett filter 6 som släpper igenom strålning av en våglängd som absorberas av vätskefilmen och en annan detektor 5 (referensdetektor) har ett filter 6 som släpper igenom en våglängd som inte tillhör vätskefilmens absorptionsband. Förhållandet mellan de signalnivåer som plockas upp av detektorema 5 avspeglar vätskefilmens tjocklek. Med hjälp av referensdetektorn är det också möjligt att kompensera till exempel för alternerande fysiska egenskaper hos vätskefilmen eller ytan som vätske- filmen passerar, avståndet till vätskefilrnen och möjlig bakgrundsstrålning. Den visade apparaten är axiellt synnnenisk, detektorerna 5 är således jänmt fördelade mnt en central linje. Detektorema 5 placeras vid den tjockaste delen av elipsoiddelen bildad av reflektom 4. Strålníngsflödet är relativt jämnt i det läget. Genom att byta filter 6 anpassas apparaten till olika mätförfaranden, varvid filtret 6 väljs beroende på vätskefilmen som skall analyseras.
För att spara kostnader och i situationer där förhållandena är relativt stabila kan det räcka med att använda en enda detektor 5. I sådana fall finns således ingen referens- detektor.
Den enda skillnaden mellan utföringsformerrra enligt fig. 3 och fig. 2 är att strålningsstyrningen vid utföringsformen enligt fig. 3 är en strålningskon 7. Med 10 15 20 25 30 532 33? användning av strålningskonen 7 kommer strålningen som träffar vätskefilmen att vara mer koncentrerad.
Vid en alternativ utföringsform har apparaten ett rektangulärt yttre utseende, varvid normalt två detektorer placeras i linje med varandra på motsatta sidor om IR- strålaren. I detta fall kommer reflektorn att ha två motsatta ytor som har tvärsnittsformen av en del av en elips och två motsatta ytor som har en rak tvärsnittsform. Genom att använda en rektangulär yttre form är det relativt enkelt att ge apparaten enligt uppfinningen en modulär struktur.
En axiellt symmetrisk apparat kan ha vilket antal detektorer som helst. En apparat som har en rektangulär yttre dimension kommer normalt endast att ha två de- tektorer. I vissa fall har en apparat som har en rektangulär yttre dimension fler än två detektorer, vilka detektorer nödvändigtvis inte är placerade i linje. Genom att använda flera detektorer kommer det att vara möjligt att till exempel mäta koncentrationen hos olika delar av vätskefilmen.
Vid en utfiiringsform finns ett glasfiânster mellan apparaten och vätskefilmen, vilket fönster är transparent for de aktuella våglângdema. Det kan även finnas en så kallad luftkniv, som transporterar bort partiklar och stänk från mätningsprocessen. Både ett möjligt glasfönster och en luñkniv kommer således att skydda apparaten i tuffa niiljöer.
Normalt placeras elektronik för att styra de olika delarna, för att utvärdera mätningarna och för att eventuellt förstärka signaler inuti i apparatens hölje 1. En fack- man inser emellertid att dessa delar kan placeras utanför höljet och kommunikationen med dessa delar kan ske antingen via en kabel eller trådlöst.
Vid en ytterligare alternativ utforingsform används fiberoptik för att leda exempelvis ljus från en laser mot vätskefilmen. Härvid kan strålningsstyniingen användas som ett stöd för en fiberoptisk kabel.

Claims (13)

10 20 25 30 35 532 33? PATENTKRAV
1. l. Anordning för radiometrisk mätning av tunna vätskefilmer, kännetecknar! av att den innefattar ett hölje (l) som innesluter minst en radiator (2), en strålnings- styrning, som styr strålningen mot vätskefilmen som skall mätas och som styr strålningens strålar till att vara parallella, och en reflektor (4) som riktar den reflekterade strålningen mot en eller flera detektorer (5) inuti höljet (l), där reflektorn (4) har formen av icke avbildande optik.
2. Anordning enligt krav l, där radíatom är en IR-radiator (2).
3. Anordningen enligt krav 2, där strålningsstyrriingen är placerad direkt under IR-radiatorn (2).
4. Anordning enligt krav l, där radiatom utnyttjar en fiberoptisk kabel och där den fiberoptiska kabeln tas emot inuti strålningsstyrníngen.
5. Anordning enligt krav 1, där strålníngsstyrningen är ett strâlningsrör (3).
6. Anordning enligt krav l, där strålningsstyrningen är en strålningskon (7).
7. Anordning enligt krav 1, där reflektom (4) har formen av en del av en elipsoid.
8. Anordning enligt krav 1, där reflektom har två motsatta sidor med en rak tvärsnittsforrn och två motsatta sidor med en tvärsnittsfonn som en del av en elíps.
9. Anordning enligt krav 1, där höljet har en yttre cylindrisk form.
10. Anordning enligt krav l, där höljet har en yttre rektangulär form.
11. Anordning enligt något av föregående krav, där elektronik för att styra anordningens olika delar, för att utvärdera mätningarna och för att förstärka signaler är placerade inuti höljet (1).
12. Anordning enligt något av kraven l-l0, där elektronik för att styra anord- ningens olika delar, för att utvärdera mätningarna och för att förstärka signaler är place- rade utanför höljet (1).
13. Anordning enligt krav 1, vilken har åtminstone två detektorer (5) av vilka åtminstone en är en referensdetektor.
SE0850034A 2008-10-09 2008-10-09 Vätskefilmmätare SE532397C2 (sv)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0850034A SE532397C2 (sv) 2008-10-09 2008-10-09 Vätskefilmmätare
EP09819483A EP2344838A1 (en) 2008-10-09 2009-10-05 Fluid film indicator
PCT/SE2009/051104 WO2010042029A1 (en) 2008-10-09 2009-10-05 Fluid film indicator
JP2011530991A JP5544643B2 (ja) 2008-10-09 2009-10-05 流体フィルム測定器
US13/122,860 US8618484B2 (en) 2008-10-09 2009-10-05 Fluid film indicator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0850034A SE532397C2 (sv) 2008-10-09 2008-10-09 Vätskefilmmätare

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE0850034L SE0850034L (sv) 2010-01-12
SE532397C2 true SE532397C2 (sv) 2010-01-12

Family

ID=41502186

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE0850034A SE532397C2 (sv) 2008-10-09 2008-10-09 Vätskefilmmätare

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8618484B2 (sv)
EP (1) EP2344838A1 (sv)
JP (1) JP5544643B2 (sv)
SE (1) SE532397C2 (sv)
WO (1) WO2010042029A1 (sv)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106645144B (zh) * 2016-09-29 2019-04-12 河海大学常州校区 一种流动液膜发生装置及其使用方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4167746A (en) * 1975-03-03 1979-09-11 General Electric Company Radiation triggered thyristor with light focussing guide
FI65143C (fi) * 1981-12-23 1984-03-12 Valtion Teknillinen Maethuvud foer infraroedhygrometer
HU188795B (en) * 1982-05-28 1986-05-28 Koezponti Elelmiszeripari Kutato Intezet,Hu Detecting arrangement for meassuring the intensity of radiation scattering at a given angle from a sample exposed to radiation of given angle of incidence
DE3220282C3 (de) * 1982-05-28 1995-05-18 Roland Man Druckmasch Vorrichtung zum betrieblichen Erfassen eines Maßes für die Feuchtmittelmenge auf der rotierenden Druckplatte in Offset-Druckmaschinen
JPH02128168A (ja) * 1988-11-07 1990-05-16 Natl Space Dev Agency Japan<Nasda> 電子走査型マイクロ波放射計
JPH03225258A (ja) * 1990-01-30 1991-10-04 Yokogawa Electric Corp シート状物体の特性測定装置
US5124552A (en) * 1991-01-28 1992-06-23 Measurex Corporation Sensor and method for measuring web moisture with optimal temperature insensitivity over a wide basis weight range
US5338361A (en) * 1991-11-04 1994-08-16 Measurex Corporation Multiple coat measurement and control apparatus and method
JPH05312723A (ja) * 1992-03-12 1993-11-22 Kobe Steel Ltd 鋼板の連続めっき合金化ラインでの合金化度測定方法
US5302823A (en) * 1992-08-31 1994-04-12 Itt Corporation Satellite solar band calibration source target apparatus
JPH07128144A (ja) * 1993-11-04 1995-05-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 分光測定装置
US5552604A (en) * 1994-05-13 1996-09-03 Donald W. Sting Optical sensing with crystal assembly sensing tip
JP3203149B2 (ja) * 1995-04-24 2001-08-27 株式会社クボタ 分光分析装置用の投受光装置
AU768800B2 (en) * 1996-03-19 2004-01-08 University Of Utah Research Foundation System for determining analyte concentration
EP0890093A4 (en) * 1996-03-19 2000-03-15 Univ Utah Res Found SYSTEM FOR DETERMINING THE CONCENTRATION OF A SAMPLE TO BE ANALYZED
US5963333A (en) * 1996-09-12 1999-10-05 Color Savvy Systems Limited Color sensor
US6271523B1 (en) * 1997-12-05 2001-08-07 John D. Weaver Optical sensor system and method for monitoring consumables
JP4063947B2 (ja) * 1998-03-20 2008-03-19 横河電機株式会社 繊維配向計
GB9906011D0 (en) * 1999-03-16 1999-05-12 Whiley Foils Ltd Fluorescent materials
US6424416B1 (en) * 1999-10-25 2002-07-23 Textron Systems Corporation Integrated optics probe for spectral analysis
SE519918C2 (sv) * 2000-11-24 2003-04-22 Cervitrol Ab Förfarande och anordning för radiometrisk mätning av tunna vätskefilmer
US7697750B2 (en) * 2004-12-06 2010-04-13 John Castle Simmons Specially coherent optics
DE502006004095D1 (de) * 2005-02-16 2009-08-13 X Rite Europe Gmbh Farbmessgerät und zugehöriger Messkopf

Also Published As

Publication number Publication date
US8618484B2 (en) 2013-12-31
SE0850034L (sv) 2010-01-12
EP2344838A1 (en) 2011-07-20
US20110204238A1 (en) 2011-08-25
JP2012505401A (ja) 2012-03-01
WO2010042029A1 (en) 2010-04-15
JP5544643B2 (ja) 2014-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2967903C (en) A nephelometric turbidimeter and method for controlling the humidity of venting air in a nephelometric turbidimeter
CN109000796A (zh) 光化学分析仪和液体深度传感器
JP2015200745A5 (sv)
SE532397C2 (sv) Vätskefilmmätare
US20130271756A1 (en) Sensor for Monitoring a Medium
US11353395B2 (en) System and method for ozone concentration measurement in liquids having a negative scaling index
CN106290099A (zh) 一种基于svm的烟雾预警装置
US12013336B2 (en) Gas concentration measurement apparatus and techniques
US20150036125A1 (en) Sensor for monitoring a medium
JP2013036807A (ja) 濁度計
KR20190068425A (ko) 방사 온도계
EP3398000B1 (en) Optical detection system with light sampling
US11231357B2 (en) System and method for ozone concentration in liquids having a positive scaling factor
KR101420181B1 (ko) 오염 모니터링 광센서 및 이를 이용한 수질오염 측정장치
FI78353B (fi) Fiberoptiska temperaturmaetfoerfarande och -anordning.
SE468368B (sv) Optoelektronisk maetskala foer att positionsbestaemma och indikera laeget foer ett mot maetskalan infallande riktat ljus fraan en straalningskaella
US11913879B2 (en) Non-dispersive infrared sensor
KR102265564B1 (ko) 산란광 측정 방식의 가스 센싱 시스템
RU2503952C1 (ru) Устройство обнаружения пылеотложения на печатных платах радиоэлектронной аппаратуры
JP6680098B2 (ja) 示差屈折率検出器
RU2284579C2 (ru) Устройство для испытания дымовых пожарных извещателей
JP2014002062A5 (sv)
RU136564U1 (ru) Датчик малых расходов жидкости
JP5562539B2 (ja) 濃度測定装置
GB2186076A (en) Chemical monitor

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed