SE516607C2 - Sätt och anordning vid kantavkänning - Google Patents

Sätt och anordning vid kantavkänning

Info

Publication number
SE516607C2
SE516607C2 SE9504326A SE9504326A SE516607C2 SE 516607 C2 SE516607 C2 SE 516607C2 SE 9504326 A SE9504326 A SE 9504326A SE 9504326 A SE9504326 A SE 9504326A SE 516607 C2 SE516607 C2 SE 516607C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
edge
line
angle
dimensions
illuminating means
Prior art date
Application number
SE9504326A
Other languages
English (en)
Other versions
SE9504326L (sv
SE9504326D0 (sv
Inventor
Bo Nyman
Original Assignee
Optonova Ab
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Optonova Ab filed Critical Optonova Ab
Priority to SE9504326A priority Critical patent/SE516607C2/sv
Publication of SE9504326D0 publication Critical patent/SE9504326D0/sv
Priority to EP96119460A priority patent/EP0778462A3/en
Publication of SE9504326L publication Critical patent/SE9504326L/sv
Publication of SE516607C2 publication Critical patent/SE516607C2/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

25 30 ~ n n « un 516 607 ääfä 2 Ett syfte med uppfinningen är att åstadkomma den ovan beskrivna automatiska avkänningen. Därtill ska av- känningen ske snabbt, sä att panelen utan fördröjning kan bringas att passera en avkänningsplats.
Kort beskrivning av ritningarna Uppfinningen ska nu närmare beskrivas med hjälp av utföringsexempel under hänvisning till bifogade ritning- ar, på vilka FIG 1 är en tvärsektionsvy, som visar en uppställning för avkänning av en kant enligt uppfinningen och FIG 2 är en planvy framifrån av en kant, varvid ett parti på vänster sida är felfritt och ett parti på höger sida uppvisar fel.
Beskrivning I uppställningen enligt FIG 1 belyses ett föremål 10 i form av en panel av ett belysningsorgan 11. Panelen är på en kant försedd med en fjäder 13, vilken skjuter ut mellan en övre första basdel 14 och en nedre andra basdel 15 hos kanten. Panelen i det visade utförandet innefattar också ett ytskikt 17, som t ex kan vara ett hårdare ytma- terial. En andra sida hos panelen, vanligtvis den i för- hållande till den i FIG 1 visade motstàende, är utförd med motsvarande not, så att två paneler kan sammanfogas i et not-fjäderförband. Belysningsorganet 11 belyser en linje 16, som löper över hela kantens längd. Linjen 16 bör vara väl avgränsad, varför belysningsorganet 11 bör innefatta en ljuskälla, som avger en koncentrerad ljus- stråle.
AH ÉQZIZPSDOC YÉII-Ol vil. 2G non.. 10 15 20 25 30 516.607 En elektronisk kamera 12 är riktad mot kanten för upptagning av en bild av kanten och linjen 16. Kamerans 12 riktning är sådan att dess optiska axel bildar en första vinkel d mot kantens plan. I det visade utförandet innehåller kantens plan första och andra basdelen.
Belysningsorganet 11 är anordnat, så att ljuset från det träffar panelens kant i en andra vinkel B mot kantens plan. Lämpligtvis ligger belysningsorganet 11 i samma plan som kameran 12. För att möjliggöra mätning enligt principerna med triangulering ska gälla att d # B. I det visade utförandet enligt FIG 1 är d = 90° och ß = 135°. Även andra val av vinklar kan göras.
De dimensionsavvikelser som i första hand är viktiga att finna är sådana som motsvaras av skador i ytskiktet 17 och olika höjd på den övre första basdelen. I det första fallet är skadan synlig efter montering av pane- len, och i det andra fallet medför avvikelsen att en ” höjdskillnad kommer att föreligga mellan två intilliggan- de paneler. Ett första exempel på skada i ytskiktet visas vid 21. Denna skada är en avrundad fördjupning i ytskik- tet. Ett andra exempel visas vid 22. I det fallet har ett kantigt parti av ytskiktet avlägsnats. Båda skadorna är viktiga att finna.
FIG 2 visar på vänster sida hur den linje som ljus- strålen från belysningsorganet 11 ritar upp på kanten ser ut från kameran 12 vid belysning av ett felfritt parti av kanten. Notera att ytskiktets 17 tjocklek har överdri- vits. Linjen är uppdelad i en övre del 18, som omfattar den första basdelen 14 och ytskiktet 17, en mellandel 19, som reflekteras från fjädern 13, samt en nedre del 20, som omfattar den andra basdelen 15. Den övre delen av 18 ÄH NÉPSDOC lÉ-'IZ-O! vil. H 10 15 20 25 30 516 _60? ëfiiifí- 4 linjen har längden dl, mellandelen 19 har längden d2 och den nedre delen 20 har längden d3.
Kameran 12 registrerar en bild av linjerna l8,19,20, och i kameran anordnade, eller med kameran förbundna, be- räkningsorgan bestämmer linjernas längder i bilden. Dessa längder motsvarar längderna dl, d2 och d3, vilka i sin tur motsvarar dimensionerna hos inskurna respektive utskju- tande partier av kanten, dvs not respektive fjäder, samt den första basdelen 14 och den andra basdelen 15.
Den ovan beskrivna anordningen används på följande sätt. En ”normalpanel” med korrekta dimensioner bringas Bilden av lin- att passera uppställningen, som i FIG 1. jerna 18,19,20 registreras i kameran 12, och längderna dl, dz och da bestäms, antingen på föredraget sätt i en med kamerans sensor integrerad processorenhet, eller i en med sensorn förbunden processorenhet. I det föredragna utförandet används en sensor av typen MAPP22OO från INTEGRATED VISION PRODUCTS AB, Linköping, Sweden. Proces- sorenheten är också förbunden med en yttre styrenhet, vilken innefattar eller är förbunden med display och tan- gentbord. I styrenheten inmatas och lagras på konventio- nellt sätt gränsvärden och alarmgränser för indikering av felaktiga paneler.
Därefter förs paneler ur produktionen förbi mätupp- ställningen och värden pà linjernas längder registreras fortlöpande i kameran 12. Från högra delen av FIG 2 har följande mätvärden på längderna registrerats. En övre linje 18', som motsvarar 18 i vänstra delen av FIG 2, har längden d4. En mellanlinje 19', som motsvarar 19 i vänst- ra delen av FIG 2, har längden ds. Slutligen har en undre linje 20', som motsvarar 20 i vänstra delen av FIG 2, längden de.
AH QMOZPSDOC lfill-N var. B u n-øø.. wlan; 10 15 20 25 30 o ø ø u :o 516 607 u v - ~ ø | . .n 5 Dessa senare registrerade värden jämförs fortlöpande med de lagrade normalvärdena och med eventuella gränsvär- den och intervall. Därvid kan t ex följande slås fast. Om d, < dl, föreligger en fördjupning i ytskiktet (pá ovan- sidan av panelen), eller en bula eller liknande på fjä- derns 13 ovansida. Om d,+d5 < d1+d2, föreligger en för- djupning i ytskiktet eller en fördjupning i fjäderns un- dersida. Om d4+d5+d6 < d1+d2+d3, föreligger en fördjupning i ytskiktet eller en fördjupning i panelens undersida. Om samtliga tre villkor enligt ovan är uppfyllda, är sanno- likheten för att en fördjupning på ovansidan har påträf- fats mycket hög. Detta är vanligtvis ett allvarligt fel, eftersom ytskiktet i så fall är skadat, så att ett efter montering av panelen synligt fel föreligger. Därvid kan sådant feltillstånd indikeras på olika sätt och/eller föranleda kassering panelen eller annan lämplig åtgärd.
Motsvarande jämförelser kan göras för att detektera bulor pä ovan- eller undersida, vilket kan innebära limsläpp eller liknande, samt bulor på eller fördjupningar i fjä- der eller not.
Genom noggrann analys av d4 i förhållande till nor- malvärdet och eventuella gränsvärden kan mycket små för- djupningar i ovansidan detekteras. Den övre delen av lin- jen 18 kan vid ett ”flackt” urslag böjas av i det allra översta partiet. Detta är fallet vid den skada som indi- keras vid 21 i FIG 1. Om urslaget är skarpt i kanterna, kommer linjen att brytas i ett nedre segment 18' och ett övre segment 23, vilket är förskjutet i sidled från det första. Motsvarande skada på fjädern 13 kan ge en för- skjuten linje 24 från mellandelen 19' av linjen.
Motsvarande andra villkor för de olika längderna an- vänds, när panelens notsida kontrolleras. Det inskurna AH QDÄÉPSDOC 1%12-01 Vtf, 2G .u n u o o .n 516 _60? Éïïïš *zzëfík- 'I 6 parti som noten utgör medför också att mellandelen l9;19' av linjen förskjuts åt höger, i stället för åt vänster som i det visade exemplet.
Den ljuskälla som ingår i belysningsorganet innefat- tar lämpligtvis någon form av laserdiod eller liknande, så att en linje med önskad linjebredd kan framställas på mätobjektet.
AH ÉNYPSDOC IÉ-IZ-Ol VII. 2!

Claims (6)

10 15 20 25 30 516 607 PATENTKRAV
1. Sätt vid avkänning av en kant hos ett platt föremål (10), pande registreras i en elektronisk kamera varvid kanten belyses och en bild av kanten fortlö- (l2) med en op- tisk axel riktad i en första vinkel (d) (16) och ljuset från belysningsorganet mot kanten, var- på kanten belyses av ett belysningsor- (ll) vid en linje gan (ll) riktas mot kanten i en andra vinkel (ß),k ä n n e t e c k n a t aV (12) anordnas väsentligen i ett plan, att den elektronisk kameran (ll) det platta föremålet utsträcker sig, och belysningsorganet i vilket även att mätvärden avseende dimensionerna hos inskurna re- spektive utskjutande partier av kanten hos ett nor- malföremàl bestäms genom mätning av dimensionerna (12) hos den i kameran registrerade bilden av lin- jen, att mätvärdena lagras, att mätvärden avseende motsvarande dimensioner hos andra föremål jämförs med de lagrade mätvärdena, varvid avvikelser över förutbestämda gränser indikeras som fel hos det platta föremålet.
2. Sätt enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a t av att vid kanten förekommande fel hos ett ytskikt på det platta föremålet indikeras som ett från linjen avvikande linjesegment.
3. Sätt enligt krav 1, varvid kanten utgör del i en not- fjäderförbindning, k ä n n e t e c k n a t av AH nnnnwsn uppdat. nnnnnh H:\Doc\SVEP\P1416SEO0ps ándnDOC ver. | 10 15 20 25 30 516 607 att längden (d1;d4) av en första del (l8;l8') av linjen från normalföremålet bestäms som ett mått på en för- sta basdel i förbindningen, varvid ett eventuellt ytskikt ingår i den första basdelen, att längden av en andra del (dg) av linjen från normal- föremålet bestäms som ett mått på förbindningens ut- skjutande respektive inskurna del, att längden av en tredje del (d3) av linjen från normal- föremålet bestäms som ett mått på en andra basdel i förbindningen och att motsvarande längder bestäms från provföremàl, varvid en kortare första del (dq) hos provföremålet än hos normalföremålet indikeras som skadad yta eller ska- dat ytskikt hos provföremàlet.
4. Sätt enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a t av att den första vinkel (d) är ungefär lika med 90° och att den andra vinkeln (ß) är ungefär lika med l35°.
5. Anordning för avkänning av en kant hos ett platt före- (10), (ll) belysning av kanten och en elektronisk kamera är anordnade för (12) ordnad med en optisk axel riktad i en första vinkel (d) mål varvid belysningsorgan är an- mot kanten för fortlöpande registrering av en bild av (11) är utfört att (ll) avgivet (B), är skild från den andra kanten däri, varvid belysningsorganet (16) så att från belysningsorganet belysa en linje av kanten och belysningsorganet är anordnat, (11) ljus träffar föremålet (10) under en andra vinkel varvid den första vinkeln (d) vinkeln (ß), k ä n n e t e c k n a d av AH nnnnwsn uppdaLnnnnn^z1 H:\Doc\SVEP\P1416SE00ps ändnDOC vem att belysningsorganet att att 5 10
6. 15 Anordning enligt krav 5, 516 607 den elektronisk kameran (ll) även det platta föremålet utsträcker sig, (12) och belysningsorganet är anordnade väsentligen i ett plan, i vilket kameran (12) att bestämma dimensionerna hos delar av den i kame- är förbunden med beräkningsorgan för ran registrerade bilden av linjen och för att jämfö- ra dimensionerna hos ett mätföremål med dimensioner- na hos ett normalföremål, varvid delarna motsvarar inskurna respektive utskjutande partier av kanten hos föremålet. k ä n n e t e c k n a d av (ll) innefattar en i rektangelform ordnad uppsättning lysdioder. AH nnnnvusn uppdal. nnnnnh H:\Doc\SVEP\P1416SEODps åndnDOC ver. |
SE9504326A 1995-12-04 1995-12-04 Sätt och anordning vid kantavkänning SE516607C2 (sv)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9504326A SE516607C2 (sv) 1995-12-04 1995-12-04 Sätt och anordning vid kantavkänning
EP96119460A EP0778462A3 (en) 1995-12-04 1996-12-04 Method and device for inspecting the edge of a board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9504326A SE516607C2 (sv) 1995-12-04 1995-12-04 Sätt och anordning vid kantavkänning

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE9504326D0 SE9504326D0 (sv) 1995-12-04
SE9504326L SE9504326L (sv) 1997-06-05
SE516607C2 true SE516607C2 (sv) 2002-02-05

Family

ID=20400455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE9504326A SE516607C2 (sv) 1995-12-04 1995-12-04 Sätt och anordning vid kantavkänning

Country Status (2)

Country Link
EP (1) EP0778462A3 (sv)
SE (1) SE516607C2 (sv)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2376068A (en) * 2001-05-31 2002-12-04 Millennium Venture Holdings Lt Method and apparatus of in-process inspection
DE102005032246B4 (de) * 2005-07-09 2009-07-30 Hema Elektronik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Detektierung des Durchfahrtsprofils eines 3D-Objektes
MX2021007957A (es) * 2019-02-28 2021-08-11 Yoshino Gypsum Co Aparato para inspeccionar cuerpos semejantes a una placa.
JP7195706B2 (ja) * 2019-04-01 2022-12-26 株式会社ディスコ 測定方法
CN111504223B (zh) * 2020-04-22 2022-05-31 荆亮 一种基于线激光传感器的叶片轮廓测量方法及装置和系统

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4741621A (en) * 1986-08-18 1988-05-03 Westinghouse Electric Corp. Geometric surface inspection system with dual overlap light stripe generator
US5083867A (en) * 1988-11-28 1992-01-28 Allegheny Ludlum Corporation Slab surface contour monitor
US5129010A (en) * 1989-12-15 1992-07-07 Kabushiki Kaisha Toyoto Chuo Kenkyusho System for measuring shapes and dimensions of gaps and flushnesses on three dimensional surfaces of objects
US5125746A (en) * 1990-06-07 1992-06-30 Harold Lipshitz Surface topography measurement apparatus and method
CA2070824A1 (en) * 1990-10-24 1992-04-25 Herbert Barg Process and device for the opto-electronic measurement of objects
DE4408291C2 (de) * 1994-03-11 1997-04-10 Abb Patent Gmbh Verfahren zur automatisierten optischen Prüfung einer Schweißnaht eines Bauteils unter Anwendung des Lichtschnittverfahrens
DE4411986A1 (de) * 1994-04-10 1995-10-12 Kjm Ges Fuer Opto Elektronisch Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Querschnitts von stabförmigen Objekten

Also Published As

Publication number Publication date
SE9504326L (sv) 1997-06-05
SE9504326D0 (sv) 1995-12-04
EP0778462A2 (en) 1997-06-11
EP0778462A3 (en) 1998-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960703231A (ko) 고정밀 부품 얼라인먼트 센서 시스템(a high precision component alignment sensor system)
EP0866308A3 (en) Optical profile sensor
JP2890578B2 (ja) Icリード検査装置とicリード検査方法
KR890001000A (ko) 지폐 식별기
WO2005022076A3 (en) Part inspection apparatus
EP2866059A2 (en) Limited-Area reflection type optical sensor and electronic device
KR890005522A (ko) 공간 필터식 속도측정 장치
US11550161B2 (en) Illumination system having different light sources adapt to different work surfaces
SE516607C2 (sv) Sätt och anordning vid kantavkänning
US5408325A (en) Apparatus for measuring the profile of a moving object
EP0284347B1 (en) A device for inspecting the degree of vacuum in a sealed vessel
US6445518B1 (en) Three dimensional lead inspection system
US4140397A (en) Method for sensing the pattern side of microcircuit chips
JPS58216906A (ja) びん方向自動検査方法
US20080062702A1 (en) Apparatus and method as well as equipment for testing image sensors
KR880701140A (ko) 목재제품의 제어용 장치
SE523212C2 (sv) Ljusemitterande element
US5672863A (en) Anti-dither optical container sensor with sensors separation measurement
SE510242C2 (sv) Metod och mätsystem för detektering av defekter vid ytan av ett trästycke
EP2950053B1 (en) Assembly of a consumption meter and a sensor device
JP2758550B2 (ja) 外観検査装置
KR100252203B1 (ko) 비접촉식적층쉐도우마스크계수산출장치
JPS6230905A (ja) 材料試験機
JP2801657B2 (ja) ピン付きパッケージ検査装置
KR960035040A (ko) 전자부품의 단자 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed