SE504047C2 - Anordning för inläsning och behandling av bildinformation - Google Patents

Anordning för inläsning och behandling av bildinformation

Info

Publication number
SE504047C2
SE504047C2 SE9502063A SE9502063A SE504047C2 SE 504047 C2 SE504047 C2 SE 504047C2 SE 9502063 A SE9502063 A SE 9502063A SE 9502063 A SE9502063 A SE 9502063A SE 504047 C2 SE504047 C2 SE 504047C2
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
sensor element
compensation
sensor
offset
voltage
Prior art date
Application number
SE9502063A
Other languages
English (en)
Other versions
SE9502063L (sv
SE9502063D0 (sv
Inventor
Jan-Erik Eklund
Original Assignee
Integrated Vision Prod
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Integrated Vision Prod filed Critical Integrated Vision Prod
Priority to SE9502063A priority Critical patent/SE504047C2/sv
Publication of SE9502063D0 publication Critical patent/SE9502063D0/sv
Priority to AT96917780T priority patent/ATE235777T1/de
Priority to US08/973,726 priority patent/US6313876B1/en
Priority to CA002223406A priority patent/CA2223406A1/en
Priority to KR1019970708386A priority patent/KR19990021911A/ko
Priority to AU60206/96A priority patent/AU700050B2/en
Priority to IL12232296A priority patent/IL122322A/xx
Priority to BR9608573A priority patent/BR9608573A/pt
Priority to CN96194423A priority patent/CN1186584A/zh
Priority to EP96917780A priority patent/EP0880851B1/en
Priority to JP9500343A priority patent/JPH11506285A/ja
Priority to DE69627033T priority patent/DE69627033T2/de
Priority to PCT/SE1996/000728 priority patent/WO1996041464A1/en
Publication of SE9502063L publication Critical patent/SE9502063L/sv
Publication of SE504047C2 publication Critical patent/SE504047C2/sv
Priority to MXPA/A/1997/009441A priority patent/MXPA97009441A/xx

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/616Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise involving a correlated sampling function, e.g. correlated double sampling [CDS] or triple sampling
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/67Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
    • H04N25/671Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Facsimile Heads (AREA)
  • Auxiliary Devices For Music (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Image Input (AREA)

Description

10 15 20 25 30 504 Û47 2 Genom konferensbidraget "Standard CMOS Active Pixel Image Sensors for Multimedia Applications" av A.Dickinson, B.Ackland, El-Sayed Eid, D.Inglis, och E.Fossum, som presenterades i samband med "l6th conference in advanced research in VLSI" i Chapel Hill, North Carolina, 27-29 mars, är förut känd en anordning som i varje sensorelement kombinerar fotoelement med utläsningselektronik. En nackdel med denna kända anordning är att variationer i de ingående elektriska komponenterna ger upphov till så kallade offsetfel, vilka yttrar sig som ett fast mönster i den utlästa bilden. Dessa offsetfel motverkas i kolumnvis elektronik för kompensering, vilket innebär att bilden måste flyttas från sensorelementen innan offsetkompensering kan utföras. I vissa tillämpningar, exempelvis när det finns processorkapacitet i sensorelementet, utgör denna överflyttning en nackdel.
REDOGÖRELSE FÖR UPPFINNINGEN Ändamålet med föreliggande uppfinning är tillhandahålla en anordning för inläsning och behandling av bildinformation, vilken minskar förekomsten av störningar i en utläst bild på grund av offset.
Detta ändamål uppnås med den uppfinningsenliga anordningen, vilken innefattar i natrisform anordnade sensorelement.
Varje sensorelement i den uppfinningsenliga anordningen är så inrättat att kompensering av ett offsetfel i. den i sensorelementet ingående utläsningselektroniken utförs i sensorelementet. Denna offsetkompensering utförs i varje sensorelement oberoende av övriga sensorelement i anord- ningen, om skilda styrsignaler utnyttjas till de olika sensorelementen. 10 15 20 25 30 504 047 3 Genom de uppfinningsenliga utförandena av sensorelementet kan offsetkompensering utföras lokalt i sensorelementen med ett relativt litet antal komponenter.
FIGURBESKRIVNING Figur 1 visar en första utföringsform av ett upp- finningsenligt sensorelement.
Figur 2 visar en andra utföringsform av ett upp- finningsenligt sensorelement.
Figur 3 visar en tredje utföringsform av ett upp- finningsenligt sensorelement.
Figur 4 visar en fjärde utföringsform av ett upp- finningsenligt sensorelement.
Figur 5 visar en femte utföringsform av ett upp- finningsenligt sensorelement.
Figur 6 visar en sjätte utföringsform av ett upp- finningsenliga sensorelement.
FÖREDRAGNA UTFöRINGsFoRMER Uppfinningen avser offsetkompensering i ett sensorelement, vilket ingår i en uppsättning, i matrisform ordnade sensorelement. Alla sensorelementen är integrerat bildade pá ett substrat och innefattar vardera ett fotoelement och utläsningselektronik, exempelvis en förstärkare eller komparator. Pà grund av offset i utläsningselektroniken i varje sensorelement samt variationer mellan offsetfel i olika utläsningselektronik, är varje sensorelement inrättat för lokal offsetkompensation i sensorelementet. Offset- kompensering i ett sensorelement kan utföras oberoende av offsetkompensering i övriga sensorelement i anordningen, om skilda styrsignaler utnyttjas till respektive sensor- element. Kompenseringen grundar sig pà korrelerad dub- 10 15 20 25 30 504 D47 4 belsampling. Först utförs sampling av ett känt kom- penseringsvärde under ett första kompenseringssteg' och sedan sampling av ett okänt värde under ett steg för inläsning av bildinformation. I de på figur 1 till figur 6 visade exemplen på sensorelement samplas ett känt värde med återställningsswitchen och det okända värdet när utläsningselektronikens värde läses ut. Båda dessa värden innehåller konstanta fel, här kallade offset. Genom att subtrahera det kända och okända värdet kan de konstanta felen elimineras.
Uppfinningen kommer nu att förklaras ytterligare med hänvisning till figurerna som visar ett antal föredragna utföringsformer av ett uppfinningsenligt sensorelement.
Det i figur 1 visade sensorelement har två ingångar, varav den första ingången via en första omkopplare 1 ansluter en kompenseringsspânning UU,till en kondensator <2 och den andra ingången via en andra omkopplare 2 ansluter en referensspänning Umf till samma kondensator C. Sensor- elementet innefattar vidare en fotodiod PD, vars katod är inkopplad mot en känd referensnivå, exempelvis jord.
Fotodiodens anod ansluter till utläsningselektronik och till nämnda kondensator C i en nod Nl. Utläsnings- elektroniken utgörs i det på figur 1 visade fallet av en komparator 3 innefattande två kaskadkopplade FET-tran- sistorer samt en återställningsswitch 4 i form av en FET- transistor.
Genom den i figuren visade möjliga inkopplingen till tvâ olika spänningsnivåer, kan en kompensering av ett offsetfel i komparatorn åstadkommas i sensorelementet. Vid ett första 10 15 20 25 30 564 047 5 kompenseringssteg sluts nämnda áterställningsswitch 4 och kompenseringsspänningen Um inkopplas. Laddningen i nod IQ bestäms av komparatorns 3 offset. Efter att kondensatorn C har laddats med kompenseringsspänningen kan bild- information inhämtas av sensorelementet. Innan inläsning av bildinformationen påbörjas, bortkopplas kompenserings- spänningen Um och referensspänningen Umf inkopplas. Ladd- ningen i nod N1 ändras i proportion mot skillnaden mellan referensspänningen Umf och kompenseringsspänningen Um, vilken skillnad kan bestämmas exakt genom valet av nämnda referensspänning och kompenseringsspänning. Vid belysning av fotodioden urladdas denna i proportion mot ljusstyrkan.
Urladdningstiden för kondensatorn C är beroende av strömmen genom kondensatorn och kommer efter genomförd kompensering endast vara beroende av precisionen hos kondensatorn C och fotodioden PD. Eftersom kondensatorn C utgör ett passivt element kan variationerna mellan kondensatorer i. olika sensorelement göras liten.
I figur 2 visas en andra utföringsform av ett uppfinnings- enligt sensorelement. Detta sensorelement skiljer sig från det i figur 1 visade sensorelementet genom att en kompenseringsspänning Um och en referensspänning Umf är direkt anslutna till fotoelementet PD via en switch Sr Detta fotoelement är kapacitivt kopplat via en kondensator C till utläsningselektroniken, vilken i detta fall utgörs av en komparator 3 med en àterställningsswitch 4.
Vid ett första kompenseringssteg inkopplas kompenserings- spänningen Um, varigenom ett starttillstànd för laddning i nod N2 sätts. Inkoppling av kompenseringsspänningen Um sker genom att en första omkopplare 1 sluts. Efter att nod 10 15 20 25 30 504 047 6 N2 har erhållit ett starttillstånd i beroende av kompenseringsspänningen. kan loildinformation inhämtas av sensorelementet. Innan inläsning av bildinformationen påbörjas, öppnas omkopplare 1 så att kompenseringsspän- ningen Uw bortkopplas. Referensspänningen Umf inkopplas genom att omkopplare 2 sluts samt genom att switchen S1 sluts under ett kort intervall. Spänningen i N1 ändras från kompenseringsspänningen ikh till referensspänningen tLá.
Denna spänningsförändring kopplas med kondensatorn C till N2. Då switchen S1 öppnas, urladdas laddningen i nod N¿ av fotoströmmen genom fotodioden. Komparatorn 3 slàr om då spänningen i N1 har återgått till kompenseringsspänningen Um. Urladdningstiden påverkas endast av fotodioden PD.
I figur 3 visas en tredje utföringsform av ett sensor- element i enlighet med uppfinningen. Det visade sensor- elementet innefattar en komparator 3 med en àterställnings- switch 4 och en fotodiod PD. Vid denna utföringsform utnyttjas fotodiodens kapacitiva egenskaper, vilket gör det möjligt att eliminera den i figur 1 visade kondensatorn C.
På samma sätt som vid den i figur 1 visade utföringsformen utnyttjas två skilda spänningsnivåer för att åstadkomma den eftersträvade elimineringen av offsetfel i komparatorn 3.
Vid ett första kompenseringssteg sluts àterställnings- switchen 4 och kompenseringsspänningen Um inkopplas.
Laddningen j. nod N1 bestäms av komparatorns offset. Då önskad laddning uppnåtts i nod. N1 bortkopplas kompen- seringsspänningen Um och referensspänningen Ung inkopplas. Återställningsswitchen 4 öppnas och inläsning av bild- information möjliggörs. Laddningen i nod N1 ändras såsom vid den i figur 1 visade utföringsformen med AQ=(Umf4Lh)Cw.
Den urladdning som åstadkoms av fotodiodens belysning blir 10 15 20 25 30 7 alltså i detta fall endast beroende av fotodiodens pre- cision. Genom att utnyttja fotodiodens kapacitiva egenska- per kan kondensatorn C (enligt figur 1) elimineras, vilket kan vara värdefullt ur en ytbesparningsaspekt. Den visade metoden för offsetkompensation ger emellertid inte en lika fullständig offsetkompensation som vid den i figur 1 visade utföringsformen på grund av att kapacitansen i fotodioden inte är oberoende av spänningen över dioden.
I figur 4 visas en fjärde utföringsform av ett sensor- element som möjliggör kompensation av offset. Det visade sensorelement innefattar en komparator' 5 med en åter- ställningsswitch 4a,4b, en kondensator C och en fotodiod PD. Komparatorn skiljer sig något från den i anslutning till figur 1 till figur 3 tidigare beskrivna komparatorn 3, men problemet med offsetfel existerar även för denna typ av komparatorer. Vid ett första kompenseringssteg i sensor- elementet sluts àterställningsswitchen 4a,4b och kompenseringsspänningen Um inkopplas. Laddningen i noderna NI och N, bestäms av komparatorns 5 omslagspunkt.
Kompenseringsspänningen Ikh frànkopplas därefter och referensspänningen Uæf inkopplas. Återställningsswitchen öppnas och inläsning av bildinformation möjliggörs.
Laddningen i nod N2 ändras ned. üLá-Um)C. För att kom- paratorns tillstànd ska ändras måste en lika stor för- ändring ske på komparatorns andra ingång i nod NI. Denna förändring styrs av strömmen genom fotodioden PD och påverkas genom den visade kompenseringen ej av ett even- tuellt offsetfel i komparatorn 5.
I figur 5 visas ytterligare en utföringsform av ett sensorelement med lokal kompensation av offset. Vid det 10 15 20 25 30 504 047 8 visade sensorelement utnyttjas motsvarande typ av' kom- parator 5 som vid den i figur 4 visade utföringsformen.
Sensorelement innefattar utöver komparatorn ES en åter- ställningsswitch 6, en kondensator C och en fotodiod PD.
Ett första kompenseringssteg utförs i sensorelementet, såsom beskrivits för tidigare utföringsformer, genom inkoppling av en kompenseringsspänning Um. Vid ett inläsningssteg öppnas återställningsswitchen 6 och refe- rensspänningen Uæf inkopplas under ett kort tidsintervall.
Laddningen i nod Nländras då med ükfi-Uw)CmJ där Cm_är den totala kapacitansen i nod N1, vilken väsentligen beror av kapacitansen hos fotodioden PD. Urladdningstiden blir i detta fall beroende av fotodiodens precision.
Vid det i figur 6 visade sensorelementet utnyttjas slut- ligen en fotoresistor R, för omvandling av ljusinformation till en elektrisk signal. Under ett kompenseringssteg sluts en àterställningsswitch 2 och en referensspänning 'Uæf kopplas in. Laddningen i nod N1 bestäms av komparatorns omslagspunkt, dvs dess offset. Vid ett steg för inläsning av bildinformation öppnas àterställningsswitchen och Umf kopplas bort. Laddningen i nod N1 ändras i beroende av spänningsdelningen mellan resistanserna R1 och R2. Kom- paratorn slår om i beroende av laddningens polaritet.
De ovan beskrivna utföringsformerna utgör nâgra exempel pà sensorelement med lokal kompensering av offset. Upp- finningen är emellertid inte begränsad till dessa beskrivna utföringsformer utan andra sensorelement med lokal offset- kompensering är även möjliga inom ramen för upp- finningstanken.

Claims (1)

10 15 20 25 504 047 PATENTKRAV Anordning för inläsning och behandling av bild- information innefattande i matrisform anordnade sensorelement, vilka är integrerat bildade pà ett substrat och vilka vardera innefattar utläsnings- elektronik (3,5) och átminstone ett fotoelement (PD,R2), vilket är inrättat att omvandla en pá foto- elementet infallande ljussignal till en elektrisk signal, kännetecknad av, -att varje sensorelement är inrättat att utföra kompensering av ett offsetfel i den i sensorelementet ingående utläsningselektroniken (3,5), -att varje sensorelement är inrättat att utföra nämnda offsetkompensering oberoende av övriga sensorelement i anordningen. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av, att nämnda sensorelement är inrättat för korrelerad dubbelsampling av ett känt och ett okänt värde. Anordning enligt något av föregående patentkrav, kännetecknad av, sensorelementet innefattar två omkopplare (1,2), vilka är inrättade att kontrollera inkoppling av två skilda referensspänningar (Um, Uæf) till sensorelementet.
SE9502063A 1995-06-07 1995-06-07 Anordning för inläsning och behandling av bildinformation SE504047C2 (sv)

Priority Applications (14)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9502063A SE504047C2 (sv) 1995-06-07 1995-06-07 Anordning för inläsning och behandling av bildinformation
PCT/SE1996/000728 WO1996041464A1 (en) 1995-06-07 1996-06-03 Apparatus for reading and processing image information
IL12232296A IL122322A (en) 1995-06-07 1996-06-03 Apparatus for reading and processing image information
CN96194423A CN1186584A (zh) 1995-06-07 1996-06-03 用于读取和处理图像信息的装置
CA002223406A CA2223406A1 (en) 1995-06-07 1996-06-03 Apparatus for reading and processing image information
KR1019970708386A KR19990021911A (ko) 1995-06-07 1996-06-03 이미지 정보의 리딩및 프로세싱을 위한 장치
AU60206/96A AU700050B2 (en) 1995-06-07 1996-06-03 Apparatus for reading and processing image information
AT96917780T ATE235777T1 (de) 1995-06-07 1996-06-03 Gerät zum lesen und zur bildinformationsverarbeitung
BR9608573A BR9608573A (pt) 1995-06-07 1996-06-03 Dispositivo para a entrada e processamento de informa-Æo de imagem
US08/973,726 US6313876B1 (en) 1995-06-07 1996-06-03 Sensor element array for reading and processing image information
EP96917780A EP0880851B1 (en) 1995-06-07 1996-06-03 Apparatus for reading and processing image information
JP9500343A JPH11506285A (ja) 1995-06-07 1996-06-03 画像情報読取処理装置
DE69627033T DE69627033T2 (de) 1995-06-07 1996-06-03 Gerät zum lesen und zur bildinformationsverarbeitung
MXPA/A/1997/009441A MXPA97009441A (en) 1995-06-07 1997-12-03 Apparatus to read and process ima information

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE9502063A SE504047C2 (sv) 1995-06-07 1995-06-07 Anordning för inläsning och behandling av bildinformation

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE9502063D0 SE9502063D0 (sv) 1995-06-07
SE9502063L SE9502063L (sv) 1996-10-28
SE504047C2 true SE504047C2 (sv) 1996-10-28

Family

ID=20398531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE9502063A SE504047C2 (sv) 1995-06-07 1995-06-07 Anordning för inläsning och behandling av bildinformation

Country Status (13)

Country Link
US (1) US6313876B1 (sv)
EP (1) EP0880851B1 (sv)
JP (1) JPH11506285A (sv)
KR (1) KR19990021911A (sv)
CN (1) CN1186584A (sv)
AT (1) ATE235777T1 (sv)
AU (1) AU700050B2 (sv)
BR (1) BR9608573A (sv)
CA (1) CA2223406A1 (sv)
DE (1) DE69627033T2 (sv)
IL (1) IL122322A (sv)
SE (1) SE504047C2 (sv)
WO (1) WO1996041464A1 (sv)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6532040B1 (en) * 1998-09-09 2003-03-11 Pictos Technologies, Inc. Low-noise active-pixel sensor for imaging arrays with high speed row reset
US6587142B1 (en) 1998-09-09 2003-07-01 Pictos Technologies, Inc. Low-noise active-pixel sensor for imaging arrays with high speed row reset
KR200164315Y1 (ko) * 1999-07-12 2000-02-15 주식회사인포웨이브코리아 자연광을이용한문자입력장치
US6424375B1 (en) * 1999-09-21 2002-07-23 Pixel Devices, International Low noise active reset readout for image sensors
KR100355146B1 (ko) * 2000-12-05 2002-10-11 세빛아이에스 주식회사 씨모스 이미지 센서
US8836626B2 (en) 2011-07-15 2014-09-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for driving the same
JP6585195B2 (ja) * 2016-01-26 2019-10-02 富士フイルム株式会社 撮像装置、及び、画像データ生成方法
CN109167770B (zh) * 2018-08-21 2021-02-09 北京小米移动软件有限公司 输出联网认证信息的方法、联网方法、装置及存储介质

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4313067A (en) 1979-07-16 1982-01-26 Miles Laboratories, Inc. Sensor-integrator system
JPS56159621A (en) 1980-05-13 1981-12-09 Morris Shashin Kogyo Kk Photometric circuit
JPH0669049B2 (ja) 1984-08-20 1994-08-31 株式会社東芝 Ccd出力信号処理回路
JPH01106677A (ja) 1987-10-20 1989-04-24 Sony Corp 電荷転送素子の出力回路
US5086344A (en) 1990-05-11 1992-02-04 Eastman Kodak Company Digital correlated double sampling circuit for sampling the output of an image sensor
JPH04286464A (ja) * 1991-03-15 1992-10-12 Rohm Co Ltd イメージセンサの出力回路
EP0529176B1 (de) 1991-08-26 1995-02-22 Gretag Imaging Ag Verfahren und Vorrichtung zur Messung kleiner Lichtmengen
JP2965777B2 (ja) * 1992-01-29 1999-10-18 オリンパス光学工業株式会社 固体撮像装置
US5631704A (en) * 1994-10-14 1997-05-20 Lucent Technologies, Inc. Active pixel sensor and imaging system having differential mode
US5576763A (en) * 1994-11-22 1996-11-19 Lucent Technologies Inc. Single-polysilicon CMOS active pixel
US5633679A (en) * 1995-05-19 1997-05-27 Xerox Corporation Photosensitive chip having transfer circuits which compensate for shielded test photosensors
US6115066A (en) * 1997-06-12 2000-09-05 International Business Machines Corporation Image sensor with direct digital correlated sampling

Also Published As

Publication number Publication date
KR19990021911A (ko) 1999-03-25
JPH11506285A (ja) 1999-06-02
AU6020696A (en) 1996-12-30
ATE235777T1 (de) 2003-04-15
IL122322A (en) 2001-03-19
CN1186584A (zh) 1998-07-01
IL122322A0 (en) 1998-04-05
BR9608573A (pt) 1999-08-24
CA2223406A1 (en) 1996-12-19
DE69627033T2 (de) 2003-10-16
AU700050B2 (en) 1998-12-17
SE9502063L (sv) 1996-10-28
DE69627033D1 (de) 2003-04-30
EP0880851A1 (en) 1998-12-02
US6313876B1 (en) 2001-11-06
WO1996041464A1 (en) 1996-12-19
SE9502063D0 (sv) 1995-06-07
MX9709441A (es) 1998-06-28
EP0880851B1 (en) 2003-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100732140B1 (ko) 촬상 장치
US5448056A (en) Photoelectric converting circuit having an amplification factor
US9258499B2 (en) Solid-state image pickup apparatus, image pickup system, and driving method of the solid-state image pickup apparatus for converting analog signal into digital signal
EP1178673B1 (en) Solid state image pickup apparatus
US7456885B2 (en) Per column one-bit ADC for image sensors
CA2056667C (en) Image pick-up device
US20070132868A1 (en) Signal generator and method for generating signals for reducing noise in signals
WO1995022117A1 (en) Auto-zero switched-capacitor integrator
SE504047C2 (sv) Anordning för inläsning och behandling av bildinformation
US5917960A (en) Image correlator, an image processing apparatus using the same, and a signal adder used in the image correlator
US20220303488A1 (en) Image sensor and image capturing device
EP3871407B1 (en) Ultra-high dynamic range cmos sensor
JPH04298176A (ja) 固体撮像装置
US20050062866A1 (en) Multiplexed pixel column architecture for imagers
JP2719058B2 (ja) 固体撮像装置
JP2002290980A (ja) A/d変換器及びこのa/d変換器を備えた撮像装置
MXPA97009441A (en) Apparatus to read and process ima information
JPH1169231A (ja) センサ出力読み出し回路
EP3836400A1 (en) Charge sensitive amplifier circuit for sensor frontend
JPS59168772A (ja) 光電変換装置
JPS63245183A (ja) アナログ信号処理回路
JPH05199360A (ja) イメージセンサの信号処理回路
JPS63161784A (ja) 固体撮像素子

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed