SE504047C2 - Anordning för inläsning och behandling av bildinformation - Google Patents
Anordning för inläsning och behandling av bildinformationInfo
- Publication number
- SE504047C2 SE504047C2 SE9502063A SE9502063A SE504047C2 SE 504047 C2 SE504047 C2 SE 504047C2 SE 9502063 A SE9502063 A SE 9502063A SE 9502063 A SE9502063 A SE 9502063A SE 504047 C2 SE504047 C2 SE 504047C2
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- sensor element
- compensation
- sensor
- offset
- voltage
- Prior art date
Links
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 3
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 15
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 6
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical group C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/616—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise involving a correlated sampling function, e.g. correlated double sampling [CDS] or triple sampling
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/67—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response
- H04N25/671—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to fixed-pattern noise, e.g. non-uniformity of response for non-uniformity detection or correction
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Auxiliary Devices For Music (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Image Input (AREA)
Description
10
15
20
25
30
504 Û47
2
Genom konferensbidraget "Standard CMOS Active Pixel Image
Sensors for Multimedia Applications" av A.Dickinson,
B.Ackland, El-Sayed Eid, D.Inglis, och E.Fossum, som
presenterades i samband med "l6th conference in advanced
research in VLSI" i Chapel Hill, North Carolina, 27-29
mars, är förut känd en anordning som i varje sensorelement
kombinerar fotoelement med utläsningselektronik. En nackdel
med denna kända anordning är att variationer i de ingående
elektriska komponenterna ger upphov till så kallade
offsetfel, vilka yttrar sig som ett fast mönster i den
utlästa bilden. Dessa offsetfel motverkas i kolumnvis
elektronik för kompensering, vilket innebär att bilden
måste flyttas från sensorelementen innan offsetkompensering
kan utföras. I vissa tillämpningar, exempelvis när det
finns processorkapacitet i sensorelementet, utgör denna
överflyttning en nackdel.
REDOGÖRELSE FÖR UPPFINNINGEN
Ändamålet med föreliggande uppfinning är tillhandahålla en
anordning för inläsning och behandling av bildinformation,
vilken minskar förekomsten av störningar i en utläst bild
på grund av offset.
Detta ändamål uppnås med den uppfinningsenliga anordningen,
vilken innefattar i natrisform anordnade sensorelement.
Varje sensorelement i den uppfinningsenliga anordningen är
så inrättat att kompensering av ett offsetfel i. den i
sensorelementet ingående utläsningselektroniken utförs i
sensorelementet. Denna offsetkompensering utförs i varje
sensorelement oberoende av övriga sensorelement i anord-
ningen, om skilda styrsignaler utnyttjas till de olika
sensorelementen.
10
15
20
25
30
504 047
3
Genom de uppfinningsenliga utförandena av sensorelementet
kan offsetkompensering utföras lokalt i sensorelementen med
ett relativt litet antal komponenter.
FIGURBESKRIVNING
Figur 1 visar en första utföringsform av ett upp-
finningsenligt sensorelement.
Figur 2 visar en andra utföringsform av ett upp-
finningsenligt sensorelement.
Figur 3 visar en tredje utföringsform av ett upp-
finningsenligt sensorelement.
Figur 4 visar en fjärde utföringsform av ett upp-
finningsenligt sensorelement.
Figur 5 visar en femte utföringsform av ett upp-
finningsenligt sensorelement.
Figur 6 visar en sjätte utföringsform av ett upp-
finningsenliga sensorelement.
FÖREDRAGNA UTFöRINGsFoRMER
Uppfinningen avser offsetkompensering i ett sensorelement,
vilket ingår i en uppsättning, i matrisform ordnade
sensorelement. Alla sensorelementen är integrerat bildade
pá ett substrat och innefattar vardera ett fotoelement och
utläsningselektronik, exempelvis en förstärkare eller
komparator. Pà grund av offset i utläsningselektroniken i
varje sensorelement samt variationer mellan offsetfel i
olika utläsningselektronik, är varje sensorelement inrättat
för lokal offsetkompensation i sensorelementet. Offset-
kompensering i ett sensorelement kan utföras oberoende av
offsetkompensering i övriga sensorelement i anordningen, om
skilda styrsignaler utnyttjas till respektive sensor-
element. Kompenseringen grundar sig pà korrelerad dub-
10
15
20
25
30
504 D47
4
belsampling. Först utförs sampling av ett känt kom-
penseringsvärde under ett första kompenseringssteg' och
sedan sampling av ett okänt värde under ett steg för
inläsning av bildinformation. I de på figur 1 till figur 6
visade exemplen på sensorelement samplas ett känt värde med
återställningsswitchen och det okända värdet när
utläsningselektronikens värde läses ut. Båda dessa värden
innehåller konstanta fel, här kallade offset. Genom att
subtrahera det kända och okända värdet kan de konstanta
felen elimineras.
Uppfinningen kommer nu att förklaras ytterligare med
hänvisning till figurerna som visar ett antal föredragna
utföringsformer av ett uppfinningsenligt sensorelement.
Det i figur 1 visade sensorelement har två ingångar, varav
den första ingången via en första omkopplare 1 ansluter en
kompenseringsspânning UU,till en kondensator <2 och den
andra ingången via en andra omkopplare 2 ansluter en
referensspänning Umf till samma kondensator C. Sensor-
elementet innefattar vidare en fotodiod PD, vars katod är
inkopplad mot en känd referensnivå, exempelvis jord.
Fotodiodens anod ansluter till utläsningselektronik och
till nämnda kondensator C i en nod Nl. Utläsnings-
elektroniken utgörs i det på figur 1 visade fallet av en
komparator 3 innefattande två kaskadkopplade FET-tran-
sistorer samt en återställningsswitch 4 i form av en FET-
transistor.
Genom den i figuren visade möjliga inkopplingen till tvâ
olika spänningsnivåer, kan en kompensering av ett offsetfel
i komparatorn åstadkommas i sensorelementet. Vid ett första
10
15
20
25
30
564 047
5
kompenseringssteg sluts nämnda áterställningsswitch 4 och
kompenseringsspänningen Um inkopplas. Laddningen i nod
IQ bestäms av komparatorns 3 offset. Efter att kondensatorn
C har laddats med kompenseringsspänningen kan bild-
information inhämtas av sensorelementet. Innan inläsning av
bildinformationen påbörjas, bortkopplas kompenserings-
spänningen Um och referensspänningen Umf inkopplas. Ladd-
ningen i nod N1 ändras i proportion mot skillnaden mellan
referensspänningen Umf och kompenseringsspänningen Um,
vilken skillnad kan bestämmas exakt genom valet av nämnda
referensspänning och kompenseringsspänning. Vid belysning
av fotodioden urladdas denna i proportion mot ljusstyrkan.
Urladdningstiden för kondensatorn C är beroende av strömmen
genom kondensatorn och kommer efter genomförd kompensering
endast vara beroende av precisionen hos kondensatorn C och
fotodioden PD. Eftersom kondensatorn C utgör ett passivt
element kan variationerna mellan kondensatorer i. olika
sensorelement göras liten.
I figur 2 visas en andra utföringsform av ett uppfinnings-
enligt sensorelement. Detta sensorelement skiljer sig från
det i figur 1 visade sensorelementet genom att en
kompenseringsspänning Um och en referensspänning Umf är
direkt anslutna till fotoelementet PD via en switch Sr
Detta fotoelement är kapacitivt kopplat via en kondensator
C till utläsningselektroniken, vilken i detta fall utgörs
av en komparator 3 med en àterställningsswitch 4.
Vid ett första kompenseringssteg inkopplas kompenserings-
spänningen Um, varigenom ett starttillstànd för laddning
i nod N2 sätts. Inkoppling av kompenseringsspänningen Um
sker genom att en första omkopplare 1 sluts. Efter att nod
10
15
20
25
30
504 047
6
N2 har erhållit ett starttillstånd i beroende av
kompenseringsspänningen. kan loildinformation inhämtas av
sensorelementet. Innan inläsning av bildinformationen
påbörjas, öppnas omkopplare 1 så att kompenseringsspän-
ningen Uw bortkopplas. Referensspänningen Umf inkopplas
genom att omkopplare 2 sluts samt genom att switchen S1
sluts under ett kort intervall. Spänningen i N1 ändras från
kompenseringsspänningen ikh till referensspänningen tLá.
Denna spänningsförändring kopplas med kondensatorn C till
N2. Då switchen S1 öppnas, urladdas laddningen i nod N¿ av
fotoströmmen genom fotodioden. Komparatorn 3 slàr om då
spänningen i N1 har återgått till kompenseringsspänningen
Um. Urladdningstiden påverkas endast av fotodioden PD.
I figur 3 visas en tredje utföringsform av ett sensor-
element i enlighet med uppfinningen. Det visade sensor-
elementet innefattar en komparator 3 med en àterställnings-
switch 4 och en fotodiod PD. Vid denna utföringsform
utnyttjas fotodiodens kapacitiva egenskaper, vilket gör det
möjligt att eliminera den i figur 1 visade kondensatorn C.
På samma sätt som vid den i figur 1 visade utföringsformen
utnyttjas två skilda spänningsnivåer för att åstadkomma den
eftersträvade elimineringen av offsetfel i komparatorn 3.
Vid ett första kompenseringssteg sluts àterställnings-
switchen 4 och kompenseringsspänningen Um inkopplas.
Laddningen j. nod N1 bestäms av komparatorns offset. Då
önskad laddning uppnåtts i nod. N1 bortkopplas kompen-
seringsspänningen Um och referensspänningen Ung inkopplas.
Återställningsswitchen 4 öppnas och inläsning av bild-
information möjliggörs. Laddningen i nod N1 ändras såsom
vid den i figur 1 visade utföringsformen med AQ=(Umf4Lh)Cw.
Den urladdning som åstadkoms av fotodiodens belysning blir
10
15
20
25
30
7
alltså i detta fall endast beroende av fotodiodens pre-
cision. Genom att utnyttja fotodiodens kapacitiva egenska-
per kan kondensatorn C (enligt figur 1) elimineras, vilket
kan vara värdefullt ur en ytbesparningsaspekt. Den visade
metoden för offsetkompensation ger emellertid inte en lika
fullständig offsetkompensation som vid den i figur 1 visade
utföringsformen på grund av att kapacitansen i fotodioden
inte är oberoende av spänningen över dioden.
I figur 4 visas en fjärde utföringsform av ett sensor-
element som möjliggör kompensation av offset. Det visade
sensorelement innefattar en komparator' 5 med en åter-
ställningsswitch 4a,4b, en kondensator C och en fotodiod
PD. Komparatorn skiljer sig något från den i anslutning
till figur 1 till figur 3 tidigare beskrivna komparatorn 3,
men problemet med offsetfel existerar även för denna typ av
komparatorer. Vid ett första kompenseringssteg i sensor-
elementet sluts àterställningsswitchen 4a,4b och
kompenseringsspänningen Um inkopplas. Laddningen i noderna
NI och N, bestäms av komparatorns 5 omslagspunkt.
Kompenseringsspänningen Ikh frànkopplas därefter och
referensspänningen Uæf inkopplas. Återställningsswitchen
öppnas och inläsning av bildinformation möjliggörs.
Laddningen i nod N2 ändras ned. üLá-Um)C. För att kom-
paratorns tillstànd ska ändras måste en lika stor för-
ändring ske på komparatorns andra ingång i nod NI. Denna
förändring styrs av strömmen genom fotodioden PD och
påverkas genom den visade kompenseringen ej av ett even-
tuellt offsetfel i komparatorn 5.
I figur 5 visas ytterligare en utföringsform av ett
sensorelement med lokal kompensation av offset. Vid det
10
15
20
25
30
504 047
8
visade sensorelement utnyttjas motsvarande typ av' kom-
parator 5 som vid den i figur 4 visade utföringsformen.
Sensorelement innefattar utöver komparatorn ES en åter-
ställningsswitch 6, en kondensator C och en fotodiod PD.
Ett första kompenseringssteg utförs i sensorelementet,
såsom beskrivits för tidigare utföringsformer, genom
inkoppling av en kompenseringsspänning Um. Vid ett
inläsningssteg öppnas återställningsswitchen 6 och refe-
rensspänningen Uæf inkopplas under ett kort tidsintervall.
Laddningen i nod Nländras då med ükfi-Uw)CmJ där Cm_är den
totala kapacitansen i nod N1, vilken väsentligen beror av
kapacitansen hos fotodioden PD. Urladdningstiden blir i
detta fall beroende av fotodiodens precision.
Vid det i figur 6 visade sensorelementet utnyttjas slut-
ligen en fotoresistor R, för omvandling av ljusinformation
till en elektrisk signal. Under ett kompenseringssteg sluts
en àterställningsswitch 2 och en referensspänning 'Uæf
kopplas in. Laddningen i nod N1 bestäms av komparatorns
omslagspunkt, dvs dess offset. Vid ett steg för inläsning
av bildinformation öppnas àterställningsswitchen och Umf
kopplas bort. Laddningen i nod N1 ändras i beroende av
spänningsdelningen mellan resistanserna R1 och R2. Kom-
paratorn slår om i beroende av laddningens polaritet.
De ovan beskrivna utföringsformerna utgör nâgra exempel pà
sensorelement med lokal kompensering av offset. Upp-
finningen är emellertid inte begränsad till dessa beskrivna
utföringsformer utan andra sensorelement med lokal offset-
kompensering är även möjliga inom ramen för upp-
finningstanken.
Claims (1)
10 15 20 25 504 047 PATENTKRAV Anordning för inläsning och behandling av bild- information innefattande i matrisform anordnade sensorelement, vilka är integrerat bildade pà ett substrat och vilka vardera innefattar utläsnings- elektronik (3,5) och átminstone ett fotoelement (PD,R2), vilket är inrättat att omvandla en pá foto- elementet infallande ljussignal till en elektrisk signal, kännetecknad av, -att varje sensorelement är inrättat att utföra kompensering av ett offsetfel i den i sensorelementet ingående utläsningselektroniken (3,5), -att varje sensorelement är inrättat att utföra nämnda offsetkompensering oberoende av övriga sensorelement i anordningen. Anordning enligt patentkrav 1, kännetecknad av, att nämnda sensorelement är inrättat för korrelerad dubbelsampling av ett känt och ett okänt värde. Anordning enligt något av föregående patentkrav, kännetecknad av, sensorelementet innefattar två omkopplare (1,2), vilka är inrättade att kontrollera inkoppling av två skilda referensspänningar (Um, Uæf) till sensorelementet.
Priority Applications (14)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9502063A SE504047C2 (sv) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | Anordning för inläsning och behandling av bildinformation |
PCT/SE1996/000728 WO1996041464A1 (en) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Apparatus for reading and processing image information |
IL12232296A IL122322A (en) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Apparatus for reading and processing image information |
CN96194423A CN1186584A (zh) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | 用于读取和处理图像信息的装置 |
CA002223406A CA2223406A1 (en) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Apparatus for reading and processing image information |
KR1019970708386A KR19990021911A (ko) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | 이미지 정보의 리딩및 프로세싱을 위한 장치 |
AU60206/96A AU700050B2 (en) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Apparatus for reading and processing image information |
AT96917780T ATE235777T1 (de) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Gerät zum lesen und zur bildinformationsverarbeitung |
BR9608573A BR9608573A (pt) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Dispositivo para a entrada e processamento de informa-Æo de imagem |
US08/973,726 US6313876B1 (en) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Sensor element array for reading and processing image information |
EP96917780A EP0880851B1 (en) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Apparatus for reading and processing image information |
JP9500343A JPH11506285A (ja) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | 画像情報読取処理装置 |
DE69627033T DE69627033T2 (de) | 1995-06-07 | 1996-06-03 | Gerät zum lesen und zur bildinformationsverarbeitung |
MXPA/A/1997/009441A MXPA97009441A (en) | 1995-06-07 | 1997-12-03 | Apparatus to read and process ima information |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE9502063A SE504047C2 (sv) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | Anordning för inläsning och behandling av bildinformation |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE9502063D0 SE9502063D0 (sv) | 1995-06-07 |
SE9502063L SE9502063L (sv) | 1996-10-28 |
SE504047C2 true SE504047C2 (sv) | 1996-10-28 |
Family
ID=20398531
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE9502063A SE504047C2 (sv) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | Anordning för inläsning och behandling av bildinformation |
Country Status (13)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6313876B1 (sv) |
EP (1) | EP0880851B1 (sv) |
JP (1) | JPH11506285A (sv) |
KR (1) | KR19990021911A (sv) |
CN (1) | CN1186584A (sv) |
AT (1) | ATE235777T1 (sv) |
AU (1) | AU700050B2 (sv) |
BR (1) | BR9608573A (sv) |
CA (1) | CA2223406A1 (sv) |
DE (1) | DE69627033T2 (sv) |
IL (1) | IL122322A (sv) |
SE (1) | SE504047C2 (sv) |
WO (1) | WO1996041464A1 (sv) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6532040B1 (en) * | 1998-09-09 | 2003-03-11 | Pictos Technologies, Inc. | Low-noise active-pixel sensor for imaging arrays with high speed row reset |
US6587142B1 (en) | 1998-09-09 | 2003-07-01 | Pictos Technologies, Inc. | Low-noise active-pixel sensor for imaging arrays with high speed row reset |
KR200164315Y1 (ko) * | 1999-07-12 | 2000-02-15 | 주식회사인포웨이브코리아 | 자연광을이용한문자입력장치 |
US6424375B1 (en) * | 1999-09-21 | 2002-07-23 | Pixel Devices, International | Low noise active reset readout for image sensors |
KR100355146B1 (ko) * | 2000-12-05 | 2002-10-11 | 세빛아이에스 주식회사 | 씨모스 이미지 센서 |
US8836626B2 (en) | 2011-07-15 | 2014-09-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and method for driving the same |
JP6585195B2 (ja) * | 2016-01-26 | 2019-10-02 | 富士フイルム株式会社 | 撮像装置、及び、画像データ生成方法 |
CN109167770B (zh) * | 2018-08-21 | 2021-02-09 | 北京小米移动软件有限公司 | 输出联网认证信息的方法、联网方法、装置及存储介质 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4313067A (en) | 1979-07-16 | 1982-01-26 | Miles Laboratories, Inc. | Sensor-integrator system |
JPS56159621A (en) | 1980-05-13 | 1981-12-09 | Morris Shashin Kogyo Kk | Photometric circuit |
JPH0669049B2 (ja) | 1984-08-20 | 1994-08-31 | 株式会社東芝 | Ccd出力信号処理回路 |
JPH01106677A (ja) | 1987-10-20 | 1989-04-24 | Sony Corp | 電荷転送素子の出力回路 |
US5086344A (en) | 1990-05-11 | 1992-02-04 | Eastman Kodak Company | Digital correlated double sampling circuit for sampling the output of an image sensor |
JPH04286464A (ja) * | 1991-03-15 | 1992-10-12 | Rohm Co Ltd | イメージセンサの出力回路 |
EP0529176B1 (de) | 1991-08-26 | 1995-02-22 | Gretag Imaging Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Messung kleiner Lichtmengen |
JP2965777B2 (ja) * | 1992-01-29 | 1999-10-18 | オリンパス光学工業株式会社 | 固体撮像装置 |
US5631704A (en) * | 1994-10-14 | 1997-05-20 | Lucent Technologies, Inc. | Active pixel sensor and imaging system having differential mode |
US5576763A (en) * | 1994-11-22 | 1996-11-19 | Lucent Technologies Inc. | Single-polysilicon CMOS active pixel |
US5633679A (en) * | 1995-05-19 | 1997-05-27 | Xerox Corporation | Photosensitive chip having transfer circuits which compensate for shielded test photosensors |
US6115066A (en) * | 1997-06-12 | 2000-09-05 | International Business Machines Corporation | Image sensor with direct digital correlated sampling |
-
1995
- 1995-06-07 SE SE9502063A patent/SE504047C2/sv not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-06-03 IL IL12232296A patent/IL122322A/xx not_active IP Right Cessation
- 1996-06-03 AU AU60206/96A patent/AU700050B2/en not_active Ceased
- 1996-06-03 AT AT96917780T patent/ATE235777T1/de not_active IP Right Cessation
- 1996-06-03 BR BR9608573A patent/BR9608573A/pt not_active Application Discontinuation
- 1996-06-03 KR KR1019970708386A patent/KR19990021911A/ko not_active Application Discontinuation
- 1996-06-03 EP EP96917780A patent/EP0880851B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-03 DE DE69627033T patent/DE69627033T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-06-03 WO PCT/SE1996/000728 patent/WO1996041464A1/en active IP Right Grant
- 1996-06-03 CA CA002223406A patent/CA2223406A1/en not_active Abandoned
- 1996-06-03 JP JP9500343A patent/JPH11506285A/ja active Pending
- 1996-06-03 CN CN96194423A patent/CN1186584A/zh active Pending
- 1996-06-03 US US08/973,726 patent/US6313876B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990021911A (ko) | 1999-03-25 |
JPH11506285A (ja) | 1999-06-02 |
AU6020696A (en) | 1996-12-30 |
ATE235777T1 (de) | 2003-04-15 |
IL122322A (en) | 2001-03-19 |
CN1186584A (zh) | 1998-07-01 |
IL122322A0 (en) | 1998-04-05 |
BR9608573A (pt) | 1999-08-24 |
CA2223406A1 (en) | 1996-12-19 |
DE69627033T2 (de) | 2003-10-16 |
AU700050B2 (en) | 1998-12-17 |
SE9502063L (sv) | 1996-10-28 |
DE69627033D1 (de) | 2003-04-30 |
EP0880851A1 (en) | 1998-12-02 |
US6313876B1 (en) | 2001-11-06 |
WO1996041464A1 (en) | 1996-12-19 |
SE9502063D0 (sv) | 1995-06-07 |
MX9709441A (es) | 1998-06-28 |
EP0880851B1 (en) | 2003-03-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100732140B1 (ko) | 촬상 장치 | |
US5448056A (en) | Photoelectric converting circuit having an amplification factor | |
US9258499B2 (en) | Solid-state image pickup apparatus, image pickup system, and driving method of the solid-state image pickup apparatus for converting analog signal into digital signal | |
EP1178673B1 (en) | Solid state image pickup apparatus | |
US7456885B2 (en) | Per column one-bit ADC for image sensors | |
CA2056667C (en) | Image pick-up device | |
US20070132868A1 (en) | Signal generator and method for generating signals for reducing noise in signals | |
WO1995022117A1 (en) | Auto-zero switched-capacitor integrator | |
SE504047C2 (sv) | Anordning för inläsning och behandling av bildinformation | |
US5917960A (en) | Image correlator, an image processing apparatus using the same, and a signal adder used in the image correlator | |
US20220303488A1 (en) | Image sensor and image capturing device | |
EP3871407B1 (en) | Ultra-high dynamic range cmos sensor | |
JPH04298176A (ja) | 固体撮像装置 | |
US20050062866A1 (en) | Multiplexed pixel column architecture for imagers | |
JP2719058B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
JP2002290980A (ja) | A/d変換器及びこのa/d変換器を備えた撮像装置 | |
MXPA97009441A (en) | Apparatus to read and process ima information | |
JPH1169231A (ja) | センサ出力読み出し回路 | |
EP3836400A1 (en) | Charge sensitive amplifier circuit for sensor frontend | |
JPS59168772A (ja) | 光電変換装置 | |
JPS63245183A (ja) | アナログ信号処理回路 | |
JPH05199360A (ja) | イメージセンサの信号処理回路 | |
JPS63161784A (ja) | 固体撮像素子 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |