SE466570B - Termisk detektor av det slag som omfattar en uppsaettning av diskreta detektorelement - Google Patents

Termisk detektor av det slag som omfattar en uppsaettning av diskreta detektorelement

Info

Publication number
SE466570B
SE466570B SE8702530A SE8702530A SE466570B SE 466570 B SE466570 B SE 466570B SE 8702530 A SE8702530 A SE 8702530A SE 8702530 A SE8702530 A SE 8702530A SE 466570 B SE466570 B SE 466570B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
thermal
detector
collector
area
xac
Prior art date
Application number
SE8702530A
Other languages
English (en)
Other versions
SE8702530L (sv
SE8702530D0 (sv
Inventor
D J Pedder
P Watson
R A C Bache
Original Assignee
Marconi Gec Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Marconi Gec Ltd filed Critical Marconi Gec Ltd
Publication of SE8702530D0 publication Critical patent/SE8702530D0/sv
Publication of SE8702530L publication Critical patent/SE8702530L/sv
Publication of SE466570B publication Critical patent/SE466570B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/20Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/20Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
    • G01J2005/202Arrays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/20Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
    • G01J2005/206Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices on foils

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

466 570 2 fört med både ett detektorelement av identisk storlek utan (XAC), eller en hybridsammansättning med ett detektorelement med samma storlek som XAC-enheten, under förutsättning att den termiska kapacitansen för XAC-enheten plus detektorstrukturen understiger den för ovanstående detektorelement (för båda fallen). under antagande att den termiska ledningsprocessen ej själv är begränsande.
Vid den tidigare kända strukturen (fig. 1) sker värmelednings- vägen via ett tunt metallskikt (ej visat) med hög termisk led- ningsförmåga (t.ex. ett metallskikt av Al, Cu, Ag eller Au) som är pålagt på en av de böjliga polymerfilmer 7 och 9 som uppbär detektorelementet 1, Den tidigare kända strukturen är lämpad för termiska detektorer med relativt stor steglängd och mellanprestanda, ehuru prestanda är väsentligt förbättrade jämfört med den ekvivalenta detektorn utan XAC. Emellertid medför den tidigare kända strukturen problem vid de minsta detektorsteglängderna och där största grad av termisk isole- ring mellan varandra intilliggande element och mellan detektor och omgivning (t.ex. utläsningskretsen på kiselbricka vid en termisk detektor av kiselhybridtyp) erfordras. eftersom en konflikt mellan motstående krav då uppstår mellan den termiska strålningsinsamlingen och den termiska isoleringen. Dessa problem uppstår på grund av att vid den tidigare kända struk- turen XAC-absorbatorn 3 och det termiska överföringsskiktet 5 båda är placerade på och i kontakt med polymerbärfilmen 7, som, samtidigt som den ger mekanisk helhet åt strukturen, även utgör en dominerande termisk förbindelse mellan elementen l och eventuella intilliggande värmesänke-strukturer. Graden av termisk isolering vid den tidigare kända strukturen och om- fattningen av termisk överhörning styres av det inbördes av- ståndet mellan kanterna på kollektorstrukturen 3, snarare än genom det inbördes separationsavståndet mellan kanterna hos de varandra intilliggande detektorerna l.
Uppfinningen Föreliggande uppfinning är avsedd att ge förbättrad isolering 'Y 10 15 20 25 30 a 466 570 och förbättrad uppsamlingseffektivitet, särskilt vid anord- ningar med liten steglängd, dvs. av storleksordningen 50um eller mindre.
I enlighet med föreliggande uppfinning är anordnade en termisk detektor av det slag som har en uppsättning av diskreta detek- torelement, vardera uppburet av ett gemensamt bärskikt, och där vart och ett är anordnat i termisk kontakt med en mot- svarande kollektor, vari ingår strålningsabsorberande mate- rial. samt arean för varje kollektor är större än arean för motsvarande detektorelement, och som kännetecknas av att kon- takten mellan varje kollektor och bärskiktet är begränsad till ett omrâde som ligger väsentligen inom och förskjutet i för- hållande till kollektorns kantomkrets.
För optimal uppsamlingseffektivitet föredrages att åtskillna- den kant till kant mellan varandra intilliggande kollektorer har en dimension understigande strålningens våglängd.
Kollektorn kan vara bildad av metallsvart, infrarödabsorberan- de material, t.ex. platinasvart.
Kontaktarean för varje kollektor kan vara avpassad till arean för varje motsvarande element eller alternativt ha större area.
Kort figurbeskrivning De tillhörande ritningarna visar: Fig. 1 visar en tvärsnittsvy av en termisk detektor. som har en kollektorstruktur av utsträckt area, i enlighet med en känd konstruktion.
Fig. 2 visar en tvärsnittsvy av en termisk detektor. som inne- fattar en kollektorstruktur med utsträckt area i enlighet med en konstruktion, som är modifierad i enlighet med föreliggande uppfinning. 10 15 20 25 35 466 570 4 Fig. 3(a) och (b) visar en tvärsnittsvy resp. en planvy av mellansteg vid tillverkningen av en detektor sådan som visas i fig. 4(a) och 4(b) nedan.
Pig. 4(a) och (b) visar i tvärsnitt resp. i planvy en detek- tor, konstruerad i enlighet med uppfinningen.
Fig. 5 visar i tvärsnitt en detektor i enlighet med en alter- nativ konstruktion, liggande uppfinning. likaså konstruerad i enlighet med före- Beskrivning av föredragna utföringsexempel På det att uppfinningen skall bättre förstås kommer nu ut- föringsexempel därav att beskrivas, såsom icke-begränsande exempel. med hänvisning till de ovannämnda ritningarna.
Det föreligger för närvarande intresse av att åstadkomma goda detektoregenskaper vid små steglängder (50um steglängd). som närmar sig den fundamentala gränsen för termiska detektorer.
Denna gräns bestämmes av bruset på grund av termiska fluktua- tioner i detektorn. i sin tur bestämt av den totala termiska ledningsförmågan från ett element GH samt effektiviteten n för strålningsuppsamling och -absorption. i enlighet med ut- trycket: 2 1 CRT så 1 n2 där K är Boltzmann-konstanten och T den absoluta temperaturen.
I praktiken är värdena för GH och n samvarierande. och en optimal detektorarea existerar för den bästa kombinationen av termisk isolering och uppsamlingseffektiviteten vid en konven- tionell detektorstruktur, där elementarean är samma som absor- batorarean. Man kan betrakta en termisk detektor med steg- längden 50um, sådan som den hinnmonterade uppsättningsstruk- tur som visas heldraget i fig. 4(a). Det är möjligt att visa att den optimala elementdiametern är approximativt 30um vid Ekvivalent termiskt fluktuationsbrus = 10 15 20 25 s 466 570 ett detektorelement som är 5-Bum tjockt, åtskilt från sin granne genom en 20um bred polymerbärfilm 7 av submikron- tjocklek. En dylik struktur, som beräknats ge ett GH om luv _ K"l, skulle ha en uppsamlings- och absorptionseffek- tivitet n om omkring 0,35. Eftersom den fundamentala gränsen för brusekvívalenta effekten är mera känslig för n än för GH. erfordras en förbättring av n utan minskning av GH för att uppnå den brusekvívalenta effekten av intresse vid bestämda optiska förhållanden. Genom att öka elementstorleken eller lägga till en XAC i enlighet med tidigare kända kon- struktioner och sålunda minska den reella eller effektiva elementseparationen får man snabbt en ökning av den totala termiska ledningsförmågan och försämrar den ekvivalenta brus- effekten. Någon ökning i effektivt n kan åstadkommas genom att använda en känd XAC-struktur, där detektorelementets stor- lek minskas (exempelvis till 20um diameter) under upprätt- hållande av en XAC-struktur av 30um diameter. Emellertid är det önskvärt att åstadkomma en XAC-struktur. som möjliggör, uppsamling av strålning över en area, som är större än arean för det ursprungliga detektorelement som användes ensamt eller i kombination med en tidigare känd XAC. Den nya konstruktion med utsträckt area för en XAC 3 med platinasvart, som visas i fig. 2, medför en dylik struktur.
XAC-enheten med platinasvart (PB-XAC) är en självbärande absorberande struktur 3 med låg termisk kapacitans. som sträcker sig bortom begränsningen för själva detektorelementet l och sålunda verkar som en XAC-struktur. Den väsentliga punkt som är att notera är att strukturen 3 är självbärande och vid sin omkrets är fysiskt separerad från polymerbärfilmen 7 som mekaniskt och termiskt håller ihop detektorelementen l. Sålun- da försämras ej den termiska isoleringen mellan elementen l.
Absorbatorerna 3 med platinasvart kan åstadkommas genom elektropåläggning på en guld- (eller platina-) metalliserad yta (fig. 3) ur en vattenhaltig elektrolyt innehållande klor- platinasyra och ett blysalt. som verkar så att man åstadkommer en kraftigt dunliknande, dendritisk kristalltillväxt i det 10 15 20 25 30 466 570 6 pâlagda skiktet. Därvid kan man styra elektrolytsammansättnin- gen, temperaturen, strömdensiteten och pâläggningstiden för att åstadkomma en struktur med låg densitet av dendritiskt svart, 5-7um i vertikal höjd, med en massa per enhetsarea om omkring 0,6 mg/cmz (en densitet om ~ 5 % av den teore- tiska). En dylik struktur representerar en mycket liten ter- misk massa och är en mycket effektiv bredbandig absorbator, med en effektivitet som närmar sig 100 % inom bandet 8-l4um (för en 300k svartkropp vid l km avstånd, för ett enkelt ytbe- handlat (bloomed) germaniumfönster.
Platinadendriterna, som är bildade genom en nukleations- och tillväxtprocess, är elektriskt och termiskt anslutna till det elektrolytiska elektrodskiktet 7. Platinasvart. pålagt i av- gränsade öppningar pâ en kontinuerlig guldfilm (avgränsad exempelvis genom användning av fotoresist) eller på en mönst- rad guldfilm, uppvisar signifikant kanttillväxt. Vid riktiga svartpâläggníngsförhâllanden kommer höjden vid en kant att närma sig 1,5 gånger densamma på en plan yta, och det svarta sträcker sig också utanför kanten för öppningarna med ett omfång, som är approximativt lika med dess tjocklek (elektro- lysprocessen är i stor utsträckning isotropisk till sin natur). Detta fenomen kan styras och utnyttjas för att åstad- komma en svartkropp med utsträckt area, som är väl termiskt ansluten till den area, på vilken den elektrolyserats, såsom visas i fig. 4(a) och (b).
Vid tillverkningen av denna struktur förlägges först guldareor í mönster enligt fig. 3(b) för att åstadkomma en serie av guldelektroder ll, sammanlänkade med smala remsor l3 av guld.
Ett skikt av lämpligt fotoresistmaterial pâlägges genom rota- tionsbeläggníng, samt mönstras så att det täcker de anslutande remsorna 13, under det att guldelektroderna ll lämnas fria.
Detta mönstrade polymerskikt 15 flödes-värmebehandlas för att ge en rundad “vals“-profil för att styra topografin för PB-XAC-strukturen (fig. 3(a)). Ett eventuellt andra polymer- barriärskikt 17 kan pâlâggas och avgränsas vid mitten av varje polymervall för att hindra kortslutning mellan varandra in- 10 15 20 25 35 570 tilliggande svartareor 3. PB-XAC-skiktet pålägges sedan för att ge strukturen enligt fig. 4(a). Polymerskikten borttages, och de tunna anslutningsremsorna 13 av guld nedetsas för att ge en metallremsa 13' med högre resistivitet.
Kantförlängningar vid sådana svartstrukturer om upp till lOum per kant kan uppnås genom dylika processer för accep- tabla svarttjocklekar. PB-XAC-strukturen är sålunda tillämpbar vid termiska detektorstrukturer, där elementsteget bara är en liten multipel av l0um och/eller där det inbördes gapet mellan element ligger inom intervallet 10-30um. Sålunda kan exempelvis PB-XAC-strukturer definieras på 30um kvadratiska guldelektroduppsättningar med en steglängd om 50um (elek- trodgap 20um), med en kantförlängning om 6-8um per kant, dvs. ett gap mellan varandra intilliggande PB-XAC-absorbatorer om mellan 8 och dnm. En 7um kantförlängning kan på basis av en enkel geometrisk areaberäkning förväntas absorbera nära 80 % av strålningen på en bildpunkt (jämför med 0,35 enligt vad som nämnts ovan). Mätningar på provstrukturer har visat en total reflektans om ll-12 % i bandet 8-l4nm, vilket indike- rar en absorbans som ligger nära 90 %. Detta är resultatet av att man definierar gapet mellan varandra intilliggande element så att det ligger vid eller under våglängden för infallande strålning. Sålunda kan PB-XAC-strukturen erbjuda nära 90 % absorption för bíldpunktsstrålningen vid 50um steglängd utan försämring av den termiska isoleringen.
PB-XAC-strukturen kan även kombineras med en XAC-struktur 3" i enlighet med tidigare känd konstruktionsprincip. så att man får en sammansatt XAC-struktur som ytterligare ökar det ter- miska detektorsvaret, upp till en gräns, som begränsas av den termiska belastningseffekten av det tillagda kollektor- och termiska överföringsskiktet. En dylik struktur visas i fig. 5 där det framgår att endast en del av den utsträckta arean för kollektorn 3 är frilagd från bärsklktet 7.
I

Claims (5)

10 15 20 25 Patentkrav
1. Termisk detektor av det slag som omfattar en uppsättning av diskreta detektorelement (1), där vart och ett av dessa är uppburna av ett gemensamt bärskikt (7), och vilka samtliga står i termisk kontakt med var sin kollektor (3) av strål- ningsabsorberande material, där arean för varje kollektor (3) är större än arean för motsvarande detektorelement (1), k ä n n e t e c k n a d av att kontakten mellan varje kol- lektor (3) och bärskiktet (7) är begränsad till en area, som ligger väsentligen inom och förskjuten från kollektorns (3) omkretskant.
2. Termisk detektor enligt krav 1, k ä n n e t e c k n a d av att separationen kant-till-kant mellan varandra intillig- gande kollektorer (3) är av en dimension understigande strål- ningens våglängd.
3. Termisk detektor enligt krav 1 eller 2, k ä n n e - t e c kan a d av att kollektorn (3) är bildad av ett metall- svart, infrarödabsorberande material, exempelvis platina- svart.
4. Termisk detektor i enlighet med något av krav 1-3, k ä n n e t e c k n a d av att den nämnda kollektorn (3) är gjord medelst en elektropåläggningsprocess.
5. Termisk detektor enligt krav 4, k ä n n e t e c k n a d av att den nämnda påläggningsprocessen är så utförd att be- läggningen har en dendritisk struktur med låg densitet. n»
SE8702530A 1985-09-12 1987-06-17 Termisk detektor av det slag som omfattar en uppsaettning av diskreta detektorelement SE466570B (sv)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB8522637A GB2200245B (en) 1985-09-12 1985-09-12 Thermal detector

Publications (3)

Publication Number Publication Date
SE8702530D0 SE8702530D0 (sv) 1987-06-17
SE8702530L SE8702530L (sv) 1988-08-06
SE466570B true SE466570B (sv) 1992-03-02

Family

ID=10585092

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE8702530A SE466570B (sv) 1985-09-12 1987-06-17 Termisk detektor av det slag som omfattar en uppsaettning av diskreta detektorelement

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4847500A (sv)
BE (1) BE103T1 (sv)
DE (1) DE3644883A1 (sv)
GB (1) GB2200245B (sv)
IT (1) IT1228421B (sv)
NL (1) NL8615007A (sv)
SE (1) SE466570B (sv)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8621688D0 (en) * 1986-09-09 1986-10-15 Graviner Ltd Radiation detection arrangements
GB8812955D0 (en) * 1988-06-01 1988-10-05 Emi Plc Thorn Thermal imaging
GB8829685D0 (en) * 1988-12-20 1989-02-15 Emi Plc Thorn Thermal imaging device
GB2236016A (en) * 1989-09-13 1991-03-20 Philips Electronic Associated Pyroelectric and other infrared detection devices with thin films
US5627112A (en) * 1995-11-13 1997-05-06 Rockwell International Corporation Method of making suspended microstructures
GB2335077B (en) 1998-03-04 2003-05-28 Marconi Gec Ltd Radiation detectors

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2537599C3 (de) * 1974-09-02 1980-05-08 N.V. Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven (Niederlande) Verfahren zur Herstellung einer Signalspeicherplatte
US3919555A (en) * 1974-10-17 1975-11-11 Philips Corp Direct view infra-red to visible light converter
US4005327A (en) * 1975-10-28 1977-01-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Low beam velocity retina for Schottky infrared vidicons
US4039833A (en) * 1976-08-17 1977-08-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy High density infrared detector array
US4086511A (en) * 1977-03-25 1978-04-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Millimeter imaging device
GB1554246A (en) * 1977-08-20 1979-10-17 English Electric Valve Co Ltd Thermal camera tubes
GB2028579B (en) * 1978-08-22 1982-12-22 English Electric Valve Co Ltd Target for a pyroelectric camera
US4317063A (en) * 1978-10-28 1982-02-23 Plessey Handel Und Investments Ag Pyroelectric detectors
US4290844A (en) * 1979-02-26 1981-09-22 Carson Alexiou Corporation Focal plane photo-detector mosaic array fabrication
US4360732A (en) * 1980-06-16 1982-11-23 Texas Instruments Incorporated Infrared charge transfer device (CTD) system
GB2100058B (en) * 1981-06-05 1985-03-20 Philips Electronic Associated Pyroelectric detector
US4660066A (en) * 1982-09-08 1987-04-21 Texas Instruments Incorporated Structure for packaging focal plane imagers and signal processing circuits
US4536658A (en) * 1983-01-05 1985-08-20 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Hybrid Schottky infrared focal plane array
US4593456A (en) * 1983-04-25 1986-06-10 Rockwell International Corporation Pyroelectric thermal detector array
US4570329A (en) * 1984-08-15 1986-02-18 Honeywell Inc. Apparatus and method for fabricating backside mosaic of photoconductive infrared detectors
GB2163596B (en) * 1984-08-24 1988-02-03 Philips Electronic Associated A thermal imaging device and a method of manufacturing a thermal imaging device

Also Published As

Publication number Publication date
US4847500A (en) 1989-07-11
BE103T1 (fr) 1988-08-10
IT1228421B (it) 1991-06-17
DE3644883A1 (de) 1988-11-17
SE8702530L (sv) 1988-08-06
IT8721316A0 (it) 1987-07-16
NL8615007A (nl) 1988-07-01
GB2200245B (en) 1989-09-13
SE8702530D0 (sv) 1987-06-17
GB8522637D0 (en) 1988-05-25
GB2200245A (en) 1988-07-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60317349T2 (de) Detektor für elektromagnetische strahlung mit integriertem gehäuse, der zwei überlappte detektoren enthält
JP4137196B2 (ja) 赤外線検出器及びその製造方法
US5306915A (en) Infrared detectors
EP0086928B1 (en) Imaging x-ray spectrometer
RU2383875C2 (ru) Болометрический детектор, устройство для детектирования инфракрасного излучения, использующее такой детектор, и способ производства детектора
DE69032785T2 (de) Strahlungsdetektormatrix mit strahlungsempfindlichen brücken
DE4102524C2 (de) Infrarotsensor
DE68923589T2 (de) Infrarot-Detektor.
US6046068A (en) Forming contacts on semiconductor substrates radiation detectors and imaging devices
US20140091217A1 (en) Microbolometer detector with centrally-located support structure
US4575631A (en) Infra-red detector
DE3437334A1 (de) Infrarotdetektor
GB2200246A (en) Thermal detector array
SE466570B (sv) Termisk detektor av det slag som omfattar en uppsaettning av diskreta detektorelement
DE69506921T2 (de) Infrarot-Strahlungssensor, Verfahren zu seiner Herstellung und Verwendung des Infrarot-Strahlungssensors
DE112011101492T5 (de) Pixelstruktur für Mikrobolometerdetektor
JP3859479B2 (ja) ボロメータ型赤外線検出器
DE4221037A1 (de) Thermischer Sensor mit Absorberschicht
EP0375205A2 (en) Thermal imaging device
GB2100058A (en) Pyroelectric detector
US20020158207A1 (en) Forming contacts on semiconductor substrates for radiation detectors and imaging devices
JP3175662B2 (ja) 熱型赤外線検出素子の製造方法
DD147872A1 (de) Strahlungsdetektor fuer absolutmessungen
US12002894B2 (en) Photosensor
CN113394333B (zh) 双层悬浮红外热电堆的制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
NAL Patent in force

Ref document number: 8702530-0

Format of ref document f/p: F

NUG Patent has lapsed

Ref document number: 8702530-0

Format of ref document f/p: F