SE445778B - Kompensationsanordning vid en laserinterferometer - Google Patents
Kompensationsanordning vid en laserinterferometerInfo
- Publication number
- SE445778B SE445778B SE8002604A SE8002604A SE445778B SE 445778 B SE445778 B SE 445778B SE 8002604 A SE8002604 A SE 8002604A SE 8002604 A SE8002604 A SE 8002604A SE 445778 B SE445778 B SE 445778B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- prism
- compensation device
- laser
- laser interferometer
- quantities
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- 230000002301 combined effect Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02055—Reduction or prevention of errors; Testing; Calibration
- G01B9/02062—Active error reduction, i.e. varying with time
- G01B9/02067—Active error reduction, i.e. varying with time by electronic control systems, i.e. using feedback acting on optics or light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
8002604-0 2 en detektor l0 och en lägesräknare ll erhålles således lägesförändríngar hos det rörliga objektet med fin precision.
Den ovan beskrivna laserinterferometern är av känd typ, där varje ingående komponent är känd.
Enligt föreliggande uppfinning förefinns vid referensspegeln 3 en kompensa- tionsanordning k,5 anordnad att åstadkomma en förskjutning av referensspegeln 3, i riktning från och mot stråldelarprismat 2. Kompensationsanordningen 4,5 är anordnad att förskjuta referensspegeln 3 i nämnda riktning i beroende av elektriska signaler. Genom att förskjuta referensspegeln 3 på angivet sätt kan således exempelvis en förändrad våglängd hos laserstrålen kompenseras, var- för laserinterferometern göres oberoende av våglängdsförändringar, t.ex. be- roende på meteorologiska storheter.
I figuren är en utföringsform av kompensationsanordningen angiven.
Enligt denna utföringsform är referensspegeln 3 fästad vid ett ankare Ä till- hörig en fast anordnad elektromagnet 5. De förskjutningar av referensspeglen som är aktuella är mycket små. Förskjutningar av storleken någon eller några fm är tillräckliga för att åstadkomma kompensation av våglängdsförändringar.
Ankaret 4 är därför fast inspänt i sin ena ände ha och är fritt hängande i sin andra ände hb, på vilken elektromagneten 5 är avsedd att verka. Referensspegeln 3 är fästad ungefär mitt emellan ankarets båda ändar. Ankaret utgöres av en fjädrande plåt.
Genom att avpassa strömstyrkan genom elektromagnetens 5 lindning 6 kan således ankarets andra ändes bb avstånd till elektromagneten 5 inställas, varvid refe- rensspegelns 3 avstånd från stråldelarprismat 2 inställes.
I figuren betecknar siffran 9 en elektronisk enhet av känt slag, vilken är an- ordnad att avge en utsignal på dess utgång 25 vilken motsvarar olika storheters sammanlagda påverkan på laservåglängden. Denna utsignal förstärkes sedan i en förstärkare 26 vilken matar elektromagnetens 5 lindning 6.
För det fall en våglängdskompensation beroende på de meteorologiska storheter- H8 tryck, temperatur och luftfuktighet önskas är enheten 9 anordnad att motta- ga en elektrisk signal representerande var och en av dessa storheter, på in- gångar 27,28,29. Givare 30,3l,32 för alstrande av signalerna representerande dessa storheter kan vara av lämplig känd typ, där var och en avger en elektrisk signal representerande en av storheterna. Enheten 9 innefattar ett minne och en beräkningsenhet såsom en mikrodator, icke visade, av lämplig känd typ. I minnet 8002604-0 förefinns information om hur varje meteorolngisk storhet påverkar laservåglängd- en. När givarna 30, 31,32 avger signaler till enheten 9 är denna anordnad att jämföra dessa signaler med i minnet lagrade värden för varje storhets påverkan på våglängden och därefter beräkna och avge en signal på utgången 25 represen- terande de meteorologiska storheternas sammanlagda påverkan på laservåglängden.
Signalen på utgången 25 förstärks, som ovan sagts, varefter elektromagneten 5 påverkar ankarets h och därmed referensspegelns 3 läge, varigenom en kompensa- tion erhålles.
Det är tydligt att kompensationsanordningen är ytterligt enkel och att den trots sin enkelhet medger ytterst noggranna förskjutningar av referensspegeln 3, Enhetens 9 uppbyggnad och funktion kan givetvis vara en annan än vad som ovan beskrivits för att åstadkomma en signal för påverkan av ankaret.
Enhetens 9 detaljuppbyggnad ingår inte som en del i föreliggande uppfinning, varför dess uppbyggnad inte beskrivits mer ingående.
Kompensationsanordningen kan givetvis styras av en annan typ av enhet än den med hänvisning till siffran 9 beskrivna. En sådan annan enhet kan vara anord- nad att avkänna andra storheter såsom termiska effekter på mekaniska komponen- ter eller fördröjningseffekten i elektroniska kretsar och därvid vara anordnad att på dess utgång generera en signal för förskjutning av referensspegeln 3 för kompensation av storhetens påverkan på mätnoggrannheten.
Van avser kompensatíansanordningen k,^ är denna anordnad att utföra kompensa- l. tion i beroende av en elfktrisk signa l Ett annat utförande hos denna som är fördelaktigt är att ersätta elektromag- neten 5 och dess ankare Q med en piezoelektrisk anordning av känd typ, vilken åstadkommer lägesförskjutningar av referensspegeln genom att spänning pålägges den riezoelektrisk snordningen.
Dylika modifikationer anses omfattade av föreliggande uppfinning.
Föreliggande uppfinning skall således inte anses begränsad till de ovan angiv- na utföringsformerna utan kan varieras inom dess av bifogade patentkrav an- givna ram. a-w-
Claims (3)
1. l. Kompensationsanordning vid en laserinterferometer, exempelvis för av- ståndsmätning, vilken laserinterferometer innefattar en laser (l), ett med ett rörligt objekt fast förbundet prisma (6), ett strâldelarprisma (2) och ett fast prisma (3) samt en detektor (l0), k ä n n e t e c k n a d av, att det fasta prismat (3) är fast förbundet med kompensationsanordningen, vilken inne- fattar organ (#,5) anordnade att lägesförskjuta det fasta prismat (3), i rikt- ning mot och från stråldelarprismat (2), i beroende av och medelst en till kompensationsanordningen från en enhet (9) avgiven elektrisk signal, vilken enhet (9) är anordnad att avkänna storheter, som påverkar laserljusets våg- längd och därmed laserinterferometerns noggrannhet och vilken signal represen- terar önskad kompensation för ifrågavarande storheter, företrädesvis meteorolo- gsm floflæmr.
2. Kompensationsanordning enl. krav 1, k ä n n e t e c k n a d av, att nämnda organ innefattar ett fjädrande ankare (Å), vilket är fast inspänt i sin ena ände (ka) och frit i dess andra ände (kb), på vilken sistnämnda ände en elektromagnet (5) är anordnad att verka och av att det fasta prismat (3) är fästat vid ankaret (Å) samt av, att elektromagneten (5) är anordnad att tillfö- ras nämnda elektríska signal.
3. Kompensationsanordning enl. krav 1 eller 2, avsedd att kompensera för- ändringar i våglängden hos laserljuset beroende på meteorologiska storheter, k ä n n e t e c k n a d av, att enheten (9) är anordnad att generera nämnda elektriska signal i beroende av atmosfärstryckets, temperaturens och luftfuk- tighetens påverkan på laserljusets våglängd.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8002604A SE445778B (sv) | 1980-04-03 | 1980-04-03 | Kompensationsanordning vid en laserinterferometer |
US06/248,448 US4385835A (en) | 1980-04-03 | 1981-03-27 | Compensating device |
GB8109954A GB2073414B (en) | 1980-04-03 | 1981-03-31 | Compensating device for an interferometer |
FR8106804A FR2479974B1 (fr) | 1980-04-03 | 1981-04-03 | Dispositif de compensation pour interferometre a laser |
JP5043681A JPS5710403A (en) | 1980-04-03 | 1981-04-03 | Compensator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SE8002604A SE445778B (sv) | 1980-04-03 | 1980-04-03 | Kompensationsanordning vid en laserinterferometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE8002604L SE8002604L (sv) | 1981-10-04 |
SE445778B true SE445778B (sv) | 1986-07-14 |
Family
ID=20340687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE8002604A SE445778B (sv) | 1980-04-03 | 1980-04-03 | Kompensationsanordning vid en laserinterferometer |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4385835A (sv) |
JP (1) | JPS5710403A (sv) |
FR (1) | FR2479974B1 (sv) |
GB (1) | GB2073414B (sv) |
SE (1) | SE445778B (sv) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2558598B1 (fr) * | 1984-01-20 | 1986-06-20 | Commissariat Energie Atomique | Interferometre de vitesse a sensibilite continument variable |
JPS60253945A (ja) * | 1984-05-31 | 1985-12-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 形状測定装置 |
US4884697A (en) * | 1988-06-21 | 1989-12-05 | Takacs Peter Z | Surface profiling interferometer |
US5239366A (en) * | 1992-02-12 | 1993-08-24 | Huges Aircraft Company | Compact laser probe for profilometry |
JP4032841B2 (ja) * | 2002-06-21 | 2008-01-16 | 株式会社島津製作所 | 二光束干渉計の固定鏡調整方法 |
DE102005046605A1 (de) * | 2005-09-29 | 2007-04-05 | Robert Bosch Gmbh | Interferometrische Messeinrichtung |
DE102006001732A1 (de) * | 2006-01-13 | 2007-07-19 | Robert Bosch Gmbh | Interferometrische Messvorrichtung |
US20100020331A1 (en) * | 2008-07-25 | 2010-01-28 | Micronic Laser Systems Ab | Laser interferometer systems and methods with suppressed error and pattern generators having the same |
WO2018034188A1 (ja) * | 2016-08-18 | 2018-02-22 | 日本電気株式会社 | 光測定装置および光軸調整方法 |
JP6831506B2 (ja) * | 2017-11-16 | 2021-02-17 | 日本電気株式会社 | 光測定装置及び光測定方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3520613A (en) * | 1966-11-14 | 1970-07-14 | Optomechanisms Inc | Interferometer with environmental correction computer |
US3809481A (en) * | 1972-12-01 | 1974-05-07 | Nasa | Single reflector interference spectrometer and drive system therefor |
US4053231A (en) * | 1975-12-18 | 1977-10-11 | Nasa | Interferometer mirror tilt correcting system |
-
1980
- 1980-04-03 SE SE8002604A patent/SE445778B/sv not_active IP Right Cessation
-
1981
- 1981-03-27 US US06/248,448 patent/US4385835A/en not_active Expired - Fee Related
- 1981-03-31 GB GB8109954A patent/GB2073414B/en not_active Expired
- 1981-04-03 FR FR8106804A patent/FR2479974B1/fr not_active Expired
- 1981-04-03 JP JP5043681A patent/JPS5710403A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2073414B (en) | 1984-02-15 |
US4385835A (en) | 1983-05-31 |
GB2073414A (en) | 1981-10-14 |
FR2479974B1 (fr) | 1986-08-08 |
JPS5710403A (en) | 1982-01-20 |
FR2479974A1 (fr) | 1981-10-09 |
SE8002604L (sv) | 1981-10-04 |
JPH0216442B2 (sv) | 1990-04-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SE445778B (sv) | Kompensationsanordning vid en laserinterferometer | |
JP2002374034A (ja) | 可変波長光源装置 | |
US3775617A (en) | Servo apparatus with photosensitive device and compensating circuit | |
JPS63169522A (ja) | 光学的位置センサを備えた電磁的力の補償形秤 | |
RU2528119C2 (ru) | Термоинвариантный измеритель линейного ускорения | |
US3001131A (en) | Automatic meter calibrator | |
US4938062A (en) | Barometric meter | |
Manabe et al. | Production and application of horizontal jerk sensor | |
US3237449A (en) | Force measuring device | |
US3520613A (en) | Interferometer with environmental correction computer | |
US4309103A (en) | Device for contact-free thickness or interval measurement | |
US4730683A (en) | Electromagnetic load-compensation weighing apparatus including temperature compensation means | |
JPS59231421A (ja) | ドリフト補償手段を備えた電子自動平衡秤 | |
JPS6147371B2 (sv) | ||
JP2502571B2 (ja) | 変位発生用アクチユエ−タの変位検出装置 | |
US1564933A (en) | Temperature-compensated electrical measuring instrument | |
USRE26100E (en) | Cahn electrical balance | |
US2898543A (en) | Transmitter potentiometer | |
JPS5937426A (ja) | 電子天びん | |
SU1296868A1 (ru) | Измерительный преобразователь давлени | |
US11187593B2 (en) | Current-based temperature measurement devices and methods | |
JPH0124597Y2 (sv) | ||
JPS6139948Y2 (sv) | ||
US1245956A (en) | Electrical measuring apparatus. | |
JP3210222B2 (ja) | 温度測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NUG | Patent has lapsed |
Ref document number: 8002604-0 Effective date: 19921108 Format of ref document f/p: F |