SE439067B - Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometer - Google Patents

Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometer

Info

Publication number
SE439067B
SE439067B SE7902405A SE7902405A SE439067B SE 439067 B SE439067 B SE 439067B SE 7902405 A SE7902405 A SE 7902405A SE 7902405 A SE7902405 A SE 7902405A SE 439067 B SE439067 B SE 439067B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
crystal
axis
pulley
detector
belt
Prior art date
Application number
SE7902405A
Other languages
English (en)
Other versions
SE7902405L (sv
Inventor
W Schinkel
C Versluijs
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Publication of SE7902405L publication Critical patent/SE7902405L/sv
Publication of SE439067B publication Critical patent/SE439067B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G01N23/2076Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

ieoznos-s De två remskivorna är sålunda glappfritt sammankopplade, varigenom en vridning av kristallens axel en viss vinkel medför att den andra remskivan, tillsammans med den därtill kopplade detektorarmen, vrides en tvâ gånger så stor vinkel. Den glappfria kopplingen är av ett mycket enkelt och kompakt ut- förande.
För att möjliggöra relativ lägesinställning av kristallen och detektorn är nämnda styrrullar enligt ett ytterligare föredraget utföringsexempel vridbart lagrade i ett lagringsblock som är snedställbart omkring en axel som är belägen i ett plan som löper genom kristallens axel och bildar rät vinkel med planet genom styrrullarnas båda axlar.
Genom samtidig förskjutning av de två styrrullarna, varvid den ena för- skjutes i riktning mot kristallens axel och den andra i riktning bort därifrån, kan kristallen vridas utan förskjutning av detektorn.
Vridningen av kristallens axel kan åstadkommas exempelvis med hjälp av en elektrisk stegmotor, som är anordnad att driva en snäckskruv som samverkar med ett snäckhjul på kristallens axel. Antalet steg som utföres av motorn utnyttjas då som ett mått på vridningsvinkeln av kristallens axel. Eftersom ett visst spel finns mellan snäckskruv och snäckhjul medger detta sätt att mäta vrid- ningsvinkeln hos kristallens axel ej någon särskilt hög noggrannhet. Speciellt i en mekanism enligt uppfinningen, där glappet i transmissionen mellan kristal- lens axel och detektorarmen är reducerat till noll, är det väsentligt att de- tektera även läget av kristallens axel med största möjliga noggrannhet. För att uppnå detta är ett ytterligare föredraget utföringsexempel på mekanismen enligt uppfinningen kännetecknat av att en rem eller tråd är anordnad att löpa kring en ytterligare remskiva som är fast monterad på kristallens axel, varvid nämnda rem eller tråd är fast förbunden med nämnda remskiva samt anordnad att löpa över ett styrhjul och kopplad till ett mäthuvud eller en linjal, varvid huvudet respektive linjalen är anordnade att samverka med en stationär linjal respek- tive ett stationärt mäthuvud.
Vridningsvinkeln för kristallens axel omvandlas sålunda utan glapp till en förflyttning av mäthuvudet eller den till remmen eller träden kopplade linja- len, varigenom möjliggöres mätning av nämnda förskjutning med hjälp av linjalen respektive mäthuvudet, och förskjutningen utgör mått på vridningsvinkeln för axeln. g Uppfinningen kommer att beskrivas närmare i det följande under hänvisning till ritningen, där: fig 1 visar en perspektivisk explosionsvy av en del av en röntgen- i 3 7902405-5 spektrometer; fig 2 visar en frontalvy av transmissionsmekanismen i fig 1.
Hänvisningsbeteckningen 1 i fig 1 anger en kristall som är monterad på en vrid- bar axel 2. Hänvisningsbeteckningen 3 anger en detektor som är monterad på en arm 4.
Vid sin från detektorn 3 vända ände är armen 4 kopplad till en remskiva 5, vilken är vridbart lagrad på axeln 2. En remskiva 6 är fast monterad på axeln 2. Axeln 2 uppbär dessutom ett snäckhjul som är anordnat att samverka med en snäckskruv 8, vilken är kopplad till en elektrisk motor 9. Röntgenkällan (ej visad) emitterar röntgenstrålar som infaller genom en ingångskanal 10 på kristallen 2 via ett objekt. Dessa strålar avlänkas mot detektorn 3 från kristallen 1. Under mätförloppet vrides kristallen 1 en viss vinkel. För att säkerställa att de reflekterade röntgenstrålarna hela tiden in- faller på detektorn 3 måste denna vridas i samma riktning som kristallen men dubbelt så stor vridningsvinkel. För att uppnå detta är remskivorna 5 och 6 för detektorarmen 4 respektive kristallens axel 2 kopplade inbördes via remmar eller trådar 11 och 12.
Vid 13 är remmen 11 fastkopplad till remskivan 6 och därifrån förd över en styrrulle 14, medan dess andra ände är fast förenad med remskivan 5 vid 15. Vid 13 är också remmen 12 fast förenad med remskivan 6 och därifrån anordnad att löpa över en andra styrrulle 16, medan dess andra ände är fast förenad med remskivan 5 vid 15. Remskivan 5 har radien r och remskivan 6 har radien 2r. Under vridning av axeln 2 en vinkel 6 genom motorn 9, snäckskruven 8 och snäckhjulet 7, kommer även remskivan 6 att vridas en vinkel 9 eftersom denna är fast monterad på axeln 2.
Detta medför en bestämd förskjutning av punkten 13 en sträcka lika med 2r . 9 .
Eftersom punkten 13 är fast förbunden med punkten 15 på remskivan 5 via remmarna 11 och 12 så kommer även punkten 15 att förskjutas samma sträcka 2r . Eftersom rem- skivans 5 radie endast är lika med r så kommer emellertid remskivan 5 att vridas en vinkel 2 Ö . Det önskade vridningsförhållandet mellan kristallen och detektorn uppnås sålunda.
För att möjliggöra lägesinställning av remskivorna 5 och 6 relativt varandra är styrrullarna 14 och 16 (se fig 2) vridbart lagrade i ett lagerblock 17, vilket kan snedställas kring en svängtapp 18. På ena sidan påverkas lagringsblocket 17 av en tryckfjäder 19 och på andra sidan av en inställningsskruv 20 som anpressar mot blocket. Inställningsskruven 20 kan utnyttjas till viss snedställning av lagrings- blocket 17 omkring vridningspunkten 18. Till följd härav kan exempelvis styrrullen 16 lyftas något och styrrullen 14 sänkas något, vilket, vid fasthållande av detektorrem- skivan 5, resulterar i en förskjutning av punkten 13 åt höger i fig 2 och därigenom en vridning av kristallens remskiva 6.
En mycket enkel, glappfri koppling mellan kristallen och detektorn har därigenom uppnåtts och även en möjlighet till inställning av kristallen samt möjlighet till relativ inställning av kristallen och detektorn.
En remskiva 21 är också fast monterad på axeln 2. En rem 22 är anordnad att -7902405-5 4 löpa över denna remskiva, varvid remmen är fast förenad med remskivan. Remmen 22 är dessutom anordnad att löpa över ett styrhjul 23. Remmen 22 uppbär ett mäthuvud 24, vilket är anordnat att samverka med en graderad linjal 25. Vridningsvinkeln för axeln 2 omvandlas sålunda glappfritt till en förskjutning av mäthuvudet 24, varigenom möjliggöres noggrann uppmätning av förskjutningen på känt sätt med hjälp av linjalen.
Istället för att koppla mäthuvudet till remmen och att anordna linjalen statio- närt är det som alternativ möjligt att koppla linjalen till remmen och att anordna mäthuvudet stationärt.

Claims (3)

79o24os-5 Patentkrav.
1. Mekanism för variering av iäget me11an en detektor (3) och en mätkristaii i förhå11ande ti11 varandra och företrädesvis avsedd för användning i en rönt- genspektrometer, varvid kristalien (1) är anordnad på en vridbar krista11axe1 (2) och detektorn (3) är anordnad på en arm (4) som är anbringad att kunna un- dergâ en cirkeirörelse kring kristaiïens axe1 (2), varvid kristaiiens axe) (2) och detektorarmen (4) är så koppiade att en vridning av kristaiiens axe) (2) en vinkeï 9 ätföijes av en vridning av detektorarmen (4) en vinkeï 2 9, k ä n n e- t e c k n a d av att på kristaiiens axei (2) är anordnad en första remskiva (6) med radien r, att en andra remskiva (5) som uppbär detektorarmen (4) och som har radien 2r är vridbart iagrad på krista11ens axe) (2), och att mekanismen dessutom innefattar två styrru11ar (14, 16), varvid en rem e11er tråd (11, 12) är anordnad att Iöpa över var och en av styrruiiarna och varvid ena änden av remmen är fast förenad med den första remskivan (6), medan dess andra ände är fast förenad med den andra remskivan (5).
2. Mekanism eniigt patentkravet 1, k ä n n e t e c k n a d av att styrrui- iarna (14, 16) är vridbart iagrade i ett 1agringsb1ock (17) och att iagrings- bïocket är snedstäïïbart med avseende på en axe) (18) som är beïägen i ett pïan som sträcker sig genom kristaïlens axe] (2) och biidar rät vinkeï med pianet genom de tvâ styrru11arnas ax1ar.
3. Mekanism eniigt patentkravet 1 e11er 2, k ä n n e t e c k n a d av att en rem e11er tråd (22) är anordnad att ïöpa runt en ytterïigare remskiva (21) som är fast monterad pâ krista11ens axe1 (2) , varvid nämnda rem e11er tråd (22) är fast förenad med remskivan (21) samt anordnad att ïöpa över ett styrhjui (23) och koppiad ti11 ett mäthuvud (24) e11er en mät1inja1, varvid mäthuvudet res- pektive mät1inja1en samverkar med en stationär mätiinjai (25) respektive ett stationärt mäthuvud.
SE7902405A 1978-03-21 1979-03-19 Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometer SE439067B (sv)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL7803026A NL7803026A (nl) 1978-03-21 1978-03-21 Instelmechanisme.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE7902405L SE7902405L (sv) 1979-09-22
SE439067B true SE439067B (sv) 1985-05-28

Family

ID=19830531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE7902405A SE439067B (sv) 1978-03-21 1979-03-19 Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometer

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4236072A (sv)
JP (1) JPS54130983A (sv)
CA (1) CA1135877A (sv)
CH (1) CH640057A5 (sv)
DE (1) DE2908173A1 (sv)
FR (1) FR2420755A1 (sv)
GB (1) GB2017470B (sv)
NL (1) NL7803026A (sv)
SE (1) SE439067B (sv)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3125803A1 (de) * 1981-06-30 1983-01-13 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Kristall-roentgen-sequenzspektrometer
NL8300420A (nl) * 1983-02-04 1984-09-03 Philips Nv Roentgen analyse apparaat.
US4752945A (en) * 1985-11-04 1988-06-21 North American Philips Corp. Double crystal X-ray spectrometer
GB2198920B (en) * 1986-12-18 1990-11-14 Univ Moskovsk Apparatus for x-ray studies of crystalline matter
NL8702475A (nl) * 1987-10-16 1989-05-16 Philips Nv Roentgen analyse apparaat.
US4959848A (en) * 1987-12-16 1990-09-25 Axic Inc. Apparatus for the measurement of the thickness and concentration of elements in thin films by means of X-ray analysis
JP3525188B2 (ja) * 2001-06-06 2004-05-10 理学電機工業株式会社 蛍光x線分析装置
ITMI20020097A1 (it) * 2002-01-21 2003-07-21 Consorzio Pisa Ricerche Diffrattometro e metodo per svolgere analisi diffrattrometriche
US7310410B2 (en) * 2004-07-28 2007-12-18 General Electric Co. Single-leaf X-ray collimator

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1219647A (en) * 1967-06-19 1971-01-20 Siemens Ag Arrangement for use in a fully focussing x-ray spectro meter

Also Published As

Publication number Publication date
NL7803026A (nl) 1979-09-25
CA1135877A (en) 1982-11-16
FR2420755A1 (fr) 1979-10-19
US4236072A (en) 1980-11-25
DE2908173A1 (de) 1979-09-27
CH640057A5 (de) 1983-12-15
FR2420755B1 (sv) 1984-01-13
JPS54130983A (en) 1979-10-11
GB2017470B (en) 1982-05-26
SE7902405L (sv) 1979-09-22
GB2017470A (en) 1979-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SE439067B (sv) Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometer
US2587451A (en) Slit control for spectroscopic apparatus
US3566111A (en) Apparatus for varying the detector slit width in fully focusing x-ray spectrometers
EP0096317B1 (en) Grating monochromator
US5504576A (en) Monochromator
EP0120526A2 (en) Sine bar mechanism and monochromator and spectrophotometer including such a sine bar mechanism
US2670648A (en) Mount for dispersing means
GB2182786A (en) Microtome having specimen holder movable in two directions
US3628015A (en) Scanning mechanism for use in an x-ray spectrometer
US4488051A (en) Apparatus for sensing linear and rotational position between a screw element and a threaded member
DE3518156C1 (de) Derivativ-Spektrometer
US4560276A (en) Diffraction grating mounting device for scanning monochromator
US3498720A (en) Concave grating ultraviolet vacuum spectrometer
JP2951687B2 (ja) エキザフス装置
US3594084A (en) Monochromator apparatus having improved grating rotation means
JP3098806B2 (ja) X線分光装置およびexafs測定装置
US3472596A (en) Double monochromator
US3116415A (en) Mechanical motion and spectrographic device including it
EP0547695A1 (en) X-ray analysis apparatus and scanning unit suitable for use in such an apparatus
US4885760A (en) X-ray analysis apparatus
RU1804614C (ru) Рентгеновский спектрометр
EP1939595B1 (en) Apparatus for measuring specular reflectance of a sample
GB2084758A (en) Optical slit apparatus
JPS5838845A (ja) 彎曲結晶型x線分光器
SU370080A1 (ru) Прибор для построения упругих кривых

Legal Events

Date Code Title Description
NAV Patent application has lapsed

Ref document number: 7902405-5