SE439067B - Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometer - Google Patents
Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometerInfo
- Publication number
- SE439067B SE439067B SE7902405A SE7902405A SE439067B SE 439067 B SE439067 B SE 439067B SE 7902405 A SE7902405 A SE 7902405A SE 7902405 A SE7902405 A SE 7902405A SE 439067 B SE439067 B SE 439067B
- Authority
- SE
- Sweden
- Prior art keywords
- crystal
- axis
- pulley
- detector
- belt
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
- G01N23/2076—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions for spectrometry, i.e. using an analysing crystal, e.g. for measuring X-ray fluorescence spectrum of a sample with wavelength-dispersion, i.e. WDXFS
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
ieoznos-s
De två remskivorna är sålunda glappfritt sammankopplade, varigenom en
vridning av kristallens axel en viss vinkel medför att den andra remskivan,
tillsammans med den därtill kopplade detektorarmen, vrides en tvâ gånger så
stor vinkel. Den glappfria kopplingen är av ett mycket enkelt och kompakt ut-
förande.
För att möjliggöra relativ lägesinställning av kristallen och detektorn är
nämnda styrrullar enligt ett ytterligare föredraget utföringsexempel vridbart
lagrade i ett lagringsblock som är snedställbart omkring en axel som är belägen
i ett plan som löper genom kristallens axel och bildar rät vinkel med planet
genom styrrullarnas båda axlar.
Genom samtidig förskjutning av de två styrrullarna, varvid den ena för-
skjutes i riktning mot kristallens axel och den andra i riktning bort därifrån,
kan kristallen vridas utan förskjutning av detektorn.
Vridningen av kristallens axel kan åstadkommas exempelvis med hjälp av en
elektrisk stegmotor, som är anordnad att driva en snäckskruv som samverkar med
ett snäckhjul på kristallens axel. Antalet steg som utföres av motorn utnyttjas
då som ett mått på vridningsvinkeln av kristallens axel. Eftersom ett visst
spel finns mellan snäckskruv och snäckhjul medger detta sätt att mäta vrid-
ningsvinkeln hos kristallens axel ej någon särskilt hög noggrannhet. Speciellt
i en mekanism enligt uppfinningen, där glappet i transmissionen mellan kristal-
lens axel och detektorarmen är reducerat till noll, är det väsentligt att de-
tektera även läget av kristallens axel med största möjliga noggrannhet. För att
uppnå detta är ett ytterligare föredraget utföringsexempel på mekanismen enligt
uppfinningen kännetecknat av att en rem eller tråd är anordnad att löpa kring
en ytterligare remskiva som är fast monterad på kristallens axel, varvid nämnda
rem eller tråd är fast förbunden med nämnda remskiva samt anordnad att löpa
över ett styrhjul och kopplad till ett mäthuvud eller en linjal, varvid huvudet
respektive linjalen är anordnade att samverka med en stationär linjal respek-
tive ett stationärt mäthuvud.
Vridningsvinkeln för kristallens axel omvandlas sålunda utan glapp till en
förflyttning av mäthuvudet eller den till remmen eller träden kopplade linja-
len, varigenom möjliggöres mätning av nämnda förskjutning med hjälp av linjalen
respektive mäthuvudet, och förskjutningen utgör mått på vridningsvinkeln för
axeln. g
Uppfinningen kommer att beskrivas närmare i det följande under hänvisning
till ritningen, där: fig 1 visar en perspektivisk explosionsvy av en del av en
röntgen- i
3 7902405-5
spektrometer; fig 2 visar en frontalvy av transmissionsmekanismen i fig 1.
Hänvisningsbeteckningen 1 i fig 1 anger en kristall som är monterad på en vrid-
bar axel 2. Hänvisningsbeteckningen 3 anger en detektor som är monterad på en arm 4.
Vid sin från detektorn 3 vända ände är armen 4 kopplad till en remskiva 5, vilken är
vridbart lagrad på axeln 2. En remskiva 6 är fast monterad på axeln 2. Axeln 2 uppbär
dessutom ett snäckhjul som är anordnat att samverka med en snäckskruv 8, vilken är
kopplad till en elektrisk motor 9. Röntgenkällan (ej visad) emitterar röntgenstrålar
som infaller genom en ingångskanal 10 på kristallen 2 via ett objekt. Dessa strålar
avlänkas mot detektorn 3 från kristallen 1. Under mätförloppet vrides kristallen 1 en
viss vinkel. För att säkerställa att de reflekterade röntgenstrålarna hela tiden in-
faller på detektorn 3 måste denna vridas i samma riktning som kristallen men dubbelt
så stor vridningsvinkel. För att uppnå detta är remskivorna 5 och 6 för detektorarmen
4 respektive kristallens axel 2 kopplade inbördes via remmar eller trådar 11 och 12.
Vid 13 är remmen 11 fastkopplad till remskivan 6 och därifrån förd över en styrrulle
14, medan dess andra ände är fast förenad med remskivan 5 vid 15. Vid 13 är också
remmen 12 fast förenad med remskivan 6 och därifrån anordnad att löpa över en andra
styrrulle 16, medan dess andra ände är fast förenad med remskivan 5 vid 15. Remskivan
5 har radien r och remskivan 6 har radien 2r. Under vridning av axeln 2 en vinkel 6
genom motorn 9, snäckskruven 8 och snäckhjulet 7, kommer även remskivan 6 att vridas
en vinkel 9 eftersom denna är fast monterad på axeln 2.
Detta medför en bestämd förskjutning av punkten 13 en sträcka lika med 2r . 9 .
Eftersom punkten 13 är fast förbunden med punkten 15 på remskivan 5 via remmarna 11
och 12 så kommer även punkten 15 att förskjutas samma sträcka 2r . Eftersom rem-
skivans 5 radie endast är lika med r så kommer emellertid remskivan 5 att vridas en
vinkel 2 Ö . Det önskade vridningsförhållandet mellan kristallen och detektorn uppnås
sålunda.
För att möjliggöra lägesinställning av remskivorna 5 och 6 relativt varandra är
styrrullarna 14 och 16 (se fig 2) vridbart lagrade i ett lagerblock 17, vilket kan
snedställas kring en svängtapp 18. På ena sidan påverkas lagringsblocket 17 av en
tryckfjäder 19 och på andra sidan av en inställningsskruv 20 som anpressar mot
blocket. Inställningsskruven 20 kan utnyttjas till viss snedställning av lagrings-
blocket 17 omkring vridningspunkten 18. Till följd härav kan exempelvis styrrullen 16
lyftas något och styrrullen 14 sänkas något, vilket, vid fasthållande av detektorrem-
skivan 5, resulterar i en förskjutning av punkten 13 åt höger i fig 2 och därigenom
en vridning av kristallens remskiva 6.
En mycket enkel, glappfri koppling mellan kristallen och detektorn har därigenom
uppnåtts och även en möjlighet till inställning av kristallen samt möjlighet till
relativ inställning av kristallen och detektorn.
En remskiva 21 är också fast monterad på axeln 2. En rem 22 är anordnad att
-7902405-5 4
löpa över denna remskiva, varvid remmen är fast förenad med remskivan. Remmen 22 är
dessutom anordnad att löpa över ett styrhjul 23. Remmen 22 uppbär ett mäthuvud 24,
vilket är anordnat att samverka med en graderad linjal 25. Vridningsvinkeln för axeln
2 omvandlas sålunda glappfritt till en förskjutning av mäthuvudet 24, varigenom
möjliggöres noggrann uppmätning av förskjutningen på känt sätt med hjälp av linjalen.
Istället för att koppla mäthuvudet till remmen och att anordna linjalen statio-
närt är det som alternativ möjligt att koppla linjalen till remmen och att anordna
mäthuvudet stationärt.
Claims (3)
1. Mekanism för variering av iäget me11an en detektor (3) och en mätkristaii i förhå11ande ti11 varandra och företrädesvis avsedd för användning i en rönt- genspektrometer, varvid kristalien (1) är anordnad på en vridbar krista11axe1 (2) och detektorn (3) är anordnad på en arm (4) som är anbringad att kunna un- dergâ en cirkeirörelse kring kristaiïens axe1 (2), varvid kristaiiens axe) (2) och detektorarmen (4) är så koppiade att en vridning av kristaiiens axe) (2) en vinkeï 9 ätföijes av en vridning av detektorarmen (4) en vinkeï 2 9, k ä n n e- t e c k n a d av att på kristaiiens axei (2) är anordnad en första remskiva (6) med radien r, att en andra remskiva (5) som uppbär detektorarmen (4) och som har radien 2r är vridbart iagrad på krista11ens axe) (2), och att mekanismen dessutom innefattar två styrru11ar (14, 16), varvid en rem e11er tråd (11, 12) är anordnad att Iöpa över var och en av styrruiiarna och varvid ena änden av remmen är fast förenad med den första remskivan (6), medan dess andra ände är fast förenad med den andra remskivan (5).
2. Mekanism eniigt patentkravet 1, k ä n n e t e c k n a d av att styrrui- iarna (14, 16) är vridbart iagrade i ett 1agringsb1ock (17) och att iagrings- bïocket är snedstäïïbart med avseende på en axe) (18) som är beïägen i ett pïan som sträcker sig genom kristaïlens axe] (2) och biidar rät vinkeï med pianet genom de tvâ styrru11arnas ax1ar.
3. Mekanism eniigt patentkravet 1 e11er 2, k ä n n e t e c k n a d av att en rem e11er tråd (22) är anordnad att ïöpa runt en ytterïigare remskiva (21) som är fast monterad pâ krista11ens axe1 (2) , varvid nämnda rem e11er tråd (22) är fast förenad med remskivan (21) samt anordnad att ïöpa över ett styrhjui (23) och koppiad ti11 ett mäthuvud (24) e11er en mät1inja1, varvid mäthuvudet res- pektive mät1inja1en samverkar med en stationär mätiinjai (25) respektive ett stationärt mäthuvud.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL7803026A NL7803026A (nl) | 1978-03-21 | 1978-03-21 | Instelmechanisme. |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SE7902405L SE7902405L (sv) | 1979-09-22 |
SE439067B true SE439067B (sv) | 1985-05-28 |
Family
ID=19830531
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SE7902405A SE439067B (sv) | 1978-03-21 | 1979-03-19 | Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometer |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4236072A (sv) |
JP (1) | JPS54130983A (sv) |
CA (1) | CA1135877A (sv) |
CH (1) | CH640057A5 (sv) |
DE (1) | DE2908173A1 (sv) |
FR (1) | FR2420755A1 (sv) |
GB (1) | GB2017470B (sv) |
NL (1) | NL7803026A (sv) |
SE (1) | SE439067B (sv) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3125803A1 (de) * | 1981-06-30 | 1983-01-13 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Kristall-roentgen-sequenzspektrometer |
NL8300420A (nl) * | 1983-02-04 | 1984-09-03 | Philips Nv | Roentgen analyse apparaat. |
US4752945A (en) * | 1985-11-04 | 1988-06-21 | North American Philips Corp. | Double crystal X-ray spectrometer |
GB2198920B (en) * | 1986-12-18 | 1990-11-14 | Univ Moskovsk | Apparatus for x-ray studies of crystalline matter |
NL8702475A (nl) * | 1987-10-16 | 1989-05-16 | Philips Nv | Roentgen analyse apparaat. |
US4959848A (en) * | 1987-12-16 | 1990-09-25 | Axic Inc. | Apparatus for the measurement of the thickness and concentration of elements in thin films by means of X-ray analysis |
JP3525188B2 (ja) * | 2001-06-06 | 2004-05-10 | 理学電機工業株式会社 | 蛍光x線分析装置 |
ITMI20020097A1 (it) * | 2002-01-21 | 2003-07-21 | Consorzio Pisa Ricerche | Diffrattometro e metodo per svolgere analisi diffrattrometriche |
US7310410B2 (en) * | 2004-07-28 | 2007-12-18 | General Electric Co. | Single-leaf X-ray collimator |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1219647A (en) * | 1967-06-19 | 1971-01-20 | Siemens Ag | Arrangement for use in a fully focussing x-ray spectro meter |
-
1978
- 1978-03-21 NL NL7803026A patent/NL7803026A/xx not_active Application Discontinuation
-
1979
- 1979-03-02 DE DE19792908173 patent/DE2908173A1/de not_active Ceased
- 1979-03-08 US US06/018,494 patent/US4236072A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-03-12 CA CA000323255A patent/CA1135877A/en not_active Expired
- 1979-03-16 CH CH251879A patent/CH640057A5/de not_active IP Right Cessation
- 1979-03-16 GB GB7909417A patent/GB2017470B/en not_active Expired
- 1979-03-19 SE SE7902405A patent/SE439067B/sv not_active Application Discontinuation
- 1979-03-20 JP JP3316179A patent/JPS54130983A/ja active Pending
- 1979-03-21 FR FR7907169A patent/FR2420755A1/fr active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL7803026A (nl) | 1979-09-25 |
CA1135877A (en) | 1982-11-16 |
FR2420755A1 (fr) | 1979-10-19 |
US4236072A (en) | 1980-11-25 |
DE2908173A1 (de) | 1979-09-27 |
CH640057A5 (de) | 1983-12-15 |
FR2420755B1 (sv) | 1984-01-13 |
JPS54130983A (en) | 1979-10-11 |
GB2017470B (en) | 1982-05-26 |
SE7902405L (sv) | 1979-09-22 |
GB2017470A (en) | 1979-10-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SE439067B (sv) | Mekanism for variering av leget mellan en detektor och en metkristall i forhallande till varandra och foretredesvis avsedd for anvendning i en rontgenspektrometer | |
US2587451A (en) | Slit control for spectroscopic apparatus | |
US3566111A (en) | Apparatus for varying the detector slit width in fully focusing x-ray spectrometers | |
EP0096317B1 (en) | Grating monochromator | |
US5504576A (en) | Monochromator | |
EP0120526A2 (en) | Sine bar mechanism and monochromator and spectrophotometer including such a sine bar mechanism | |
US2670648A (en) | Mount for dispersing means | |
GB2182786A (en) | Microtome having specimen holder movable in two directions | |
US3628015A (en) | Scanning mechanism for use in an x-ray spectrometer | |
US4488051A (en) | Apparatus for sensing linear and rotational position between a screw element and a threaded member | |
DE3518156C1 (de) | Derivativ-Spektrometer | |
US4560276A (en) | Diffraction grating mounting device for scanning monochromator | |
US3498720A (en) | Concave grating ultraviolet vacuum spectrometer | |
JP2951687B2 (ja) | エキザフス装置 | |
US3594084A (en) | Monochromator apparatus having improved grating rotation means | |
JP3098806B2 (ja) | X線分光装置およびexafs測定装置 | |
US3472596A (en) | Double monochromator | |
US3116415A (en) | Mechanical motion and spectrographic device including it | |
EP0547695A1 (en) | X-ray analysis apparatus and scanning unit suitable for use in such an apparatus | |
US4885760A (en) | X-ray analysis apparatus | |
RU1804614C (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
EP1939595B1 (en) | Apparatus for measuring specular reflectance of a sample | |
GB2084758A (en) | Optical slit apparatus | |
JPS5838845A (ja) | 彎曲結晶型x線分光器 | |
SU370080A1 (ru) | Прибор для построения упругих кривых |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
NAV | Patent application has lapsed |
Ref document number: 7902405-5 |