RU92015997A - Способ дефектоскопии высококлассных поверхностей - Google Patents

Способ дефектоскопии высококлассных поверхностей

Info

Publication number
RU92015997A
RU92015997A RU92015997/25A RU92015997A RU92015997A RU 92015997 A RU92015997 A RU 92015997A RU 92015997/25 A RU92015997/25 A RU 92015997/25A RU 92015997 A RU92015997 A RU 92015997A RU 92015997 A RU92015997 A RU 92015997A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
products
flaw detection
liquid crystal
optical
defects
Prior art date
Application number
RU92015997/25A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2069353C1 (ru
Inventor
Н.Н. Сапрыкина
Т.А. Сыромятникова
Original Assignee
Институт проблем машиноведения РАН
Filing date
Publication date
Application filed by Институт проблем машиноведения РАН filed Critical Институт проблем машиноведения РАН
Priority to RU92015997A priority Critical patent/RU2069353C1/ru
Priority claimed from RU92015997A external-priority patent/RU2069353C1/ru
Publication of RU92015997A publication Critical patent/RU92015997A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2069353C1 publication Critical patent/RU2069353C1/ru

Links

Claims (1)

  1. Способ дефектоскопии высококлассных поверхностей с помощью жидких кристаллов относится к методам дефектоскопии, применяемым в микроэлектронной, оптико-механической и оборонной промышленности для контроля качества высококлассных поверхностей прозрачных и непрозрачных материалов, включая оптические, монокристаллические и металлические поверхности. Изобретение обеспечивает создание простого, технологичного, универсального и неразрушающего способа контроля, с помощью которого можно своевременно выбраковывать изделия на промежуточных стадиях трудоемкого и дорогостоящего технологического процесса, что позволит сократить затраты на их изготовление за счет возврата изделий на повторную обработку, а также способствует повышению качества конечной продукции. Сущность способа: исследуемую поверхность активируют в высокочастотной плазме дугового разряда по безкатодному способу в атмосфере аргона при режимах, не допускающих распыления материала исследуемой поверхности. Сразу после активации на поверхность наносят слой жидкого кристалла толщиной 1 мкм, защищенный покровным стеклом, и формируют в свое планарную текстуру. Процесс активации гарантирует хорошую смачиваемость поверхности жидким кристаллом, что является необходимым условием образования планарной текстуры. При наблюдении исследуемой поверхности в поляризованном проходящем свете или в отраженном свете визуализируются невидимые при обычных оптических наблюдениях дефекты механической обработки, а также дефекты полиблочности.
RU92015997A 1992-12-28 1992-12-28 Способ дефектоскопии поверхностей RU2069353C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU92015997A RU2069353C1 (ru) 1992-12-28 1992-12-28 Способ дефектоскопии поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU92015997A RU2069353C1 (ru) 1992-12-28 1992-12-28 Способ дефектоскопии поверхностей

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU92015997A true RU92015997A (ru) 1995-07-20
RU2069353C1 RU2069353C1 (ru) 1996-11-20

Family

ID=20135080

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU92015997A RU2069353C1 (ru) 1992-12-28 1992-12-28 Способ дефектоскопии поверхностей

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2069353C1 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2560112C1 (ru) * 2014-05-14 2015-08-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем машиноведения Российской академии наук (ИПМаш РАН) Способ дефектоскопии металлических изделий при их поверхностной обработке
RU2578124C2 (ru) * 2014-08-06 2016-03-20 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова" (МГУ) Способ визуализации областей деформации, скрытых под поверхностью твердого тела
RU2629682C1 (ru) * 2016-06-23 2017-08-31 Общество с ограниченной ответственностью "ТД РусАвиаХим" Жидкость для очистки контролируемой поверхности от избытка пенетранта при капиллярном контроле люминесцентным методом
CN115774024B (zh) * 2022-11-23 2024-04-09 合肥工业大学 含表面织构的轴类件的过盈配合拆卸损伤评价方法及装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Johnson et al. On the shape and size of the fracture zones on glass fracture surfaces
US4401477A (en) Laser shock processing
BR9611887A (pt) Processo para bombardear lítio e para produzir um alvo de bombardeamento alvo e conjunto
RU92015997A (ru) Способ дефектоскопии высококлассных поверхностей
US5450240A (en) Device and method for light beam splitting for dual sensor flame detector
Arakawa et al. Crack veolcity and acceleration effects on dynamic stress intensity factor in polymers
US4614634A (en) Process for the production of plastic films having improved optical properties
Toth et al. Excimer laser ablation of molten metals as followed by ultrafast photography
US3658631A (en) Transparent non-wettable surface
US3744920A (en) Detection system
RU2069353C1 (ru) Способ дефектоскопии поверхностей
Bregar et al. Optoacoustic analysis of the laser-cleaning process
Bourne a et al. Shock-induced interfacial failure in glass laminates
JPS6032653B2 (ja) セルロ−スアセテ−トブチレ−ト又はセルロ−スプロピオネ−ト基材の防曇処理方法
US2765652A (en) Flaw detection
Takahashi et al. Dual-focus high-speed photography and its application to fracture and impact studies
JPS5622657A (en) Treatment of glass surface
Reichel et al. Tailoring the Nucleation and Growth of Silver Nanoparticles by Sputtering Deposition under Acoustic Wave Activation. Assessment of Plasma Conditions and 2D Patterning Phenomena
Klocek Infrared Optical Materials: Where Do We Stand?
Elliott et al. The microscopic examination of glass surfaces
Shi et al. Mechanical and optical properties of oxide thin films deposited by pulsed laser reactive evaporation
SU1691719A1 (ru) Способ вы влени аустенитного зерна
US4480917A (en) Float glass ribbon monitor enhancement method and apparatus
Iwase et al. 2Pb4-7 Effect of the liquid crystal layer thickness on the optical characteristics of an ultrasound liquid crystal lens
Aratani et al. Holographic interferometric observation of float glass plate fractured by shock tube method