RU2810624C1 - Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике - Google Patents
Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике Download PDFInfo
- Publication number
- RU2810624C1 RU2810624C1 RU2023114039A RU2023114039A RU2810624C1 RU 2810624 C1 RU2810624 C1 RU 2810624C1 RU 2023114039 A RU2023114039 A RU 2023114039A RU 2023114039 A RU2023114039 A RU 2023114039A RU 2810624 C1 RU2810624 C1 RU 2810624C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- probes
- contact
- cavity
- satellite container
- wire leads
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 66
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910000906 Bronze Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010974 bronze Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N copper tin Chemical compound [Cu].[Sn] KUNSUQLRTQLHQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
Images
Abstract
Изобретение относится к средствам контроля электрических параметров бескорпусных интегральных микросхем с гибкими проволочными выводами, помещенных в тару-спутники, предназначенные для тестирования, транспортировки и хранения. Технический результат - увеличение площади контакта зондов с проволочными выводами тестируемой интегральной микросхемы и упрощение конструкции устройства. Технический результат достигается тем, что зонды имеют цилиндрическую форму с плоской перпендикулярной продольной оси контактирующей поверхностью на одном торце и буртиком в средней части. Упругие элементы выдвижения зондов представляют собой цилиндрические пружины сжатия, нанизанные на зонды с противоположных контактирующим поверхностям концов, а направляющие для зондов представляют собой пары круглых соосных отверстий в примыкающей к таре-спутнику и противоположной ей стенках полости. Каждый контактный зонд с легким ходом вставлен в соответствующую пару отверстий таким образом, что нанизанная на него пружина и буртик располагаются внутри полости, причем пружина торцами упирается в буртик и в несоприкасающуюся с тарой-спутником стенку полости. 2 ил.
Description
Изобретение относится к средствам контроля электрических параметров бескорпусных интегральных микросхем с гибкими проволочными выводами, помещенных в тару-спутники, применяемые для тестирования, транспортировки и хранения.
Известны контактные устройство, применяемые для контроля микросхем в таре-спутниках, см., например, патент США №3409861, НПК 339/174, МПК H05K 7/10, опубликованный 5 ноября 1968 г. [1].
Такое решение обеспечивает высокую надежность и качество соединений измерительных цепей с жесткими выводами микросхем, но не применимо для гибких выводов. Оно предусматривает выполнение контактных зондов из упругого металла с изогнутым пружинящим участком в средней части и плоским концевым участком для контактирования с выводом микросхемы. Выводы занимают не закрываемые крышкой пазы в основании тары-спутника. При переворачивании тары-спутника основанием вверх во время его установки на контактное устройство гибкие проволочные выводы могут выпасть из открытых участков пазов, что не позволит к ним подсоединиться, а то и приведет к их повреждению.
Этот недостаток отсутствует у контактного устройства, описанного в авторском свидетельстве СССР №934577, МПК H05K 1/18, опубликованном 7 июня 1982 г. [2]. Оно приспособлено для совместного использования с тарой-спутником, крышка которого полностью закрывает пазы с размещенными в них проволочными выводами микросхемы, а для подключения к выводам крышка имеет круглые контактные отверстия над пазами.
По технической сущности данное устройство наиболее близко к заявляемому изобретению.
Контактное устройство - наиболее близкий аналог содержит контактные зонды в виде плоских пружин с упругой петлей в средней части, держатель зондов из изоляционного материала с пазами для зондов и полостями для размещения упругих петель зондов, снабжено направляющими втулками, выступающими над поверхностью держателя зондов, в каждой из которых размещена контактирующая часть зонда, торец которой выполнен с дугообразной выемкой.
Главный недостаток устройства - аналога происходит от использования направляющих втулок с внешним диаметром как у контактных отверстий в крышке тары-спутника. Ширина размещенных во втулках контактирующих частей зондов может оказаться существенно меньше ширины пазов в основании тары-спутника для проволочных выводов и при их отклонении от центров пазов контакты могут не состояться или их качество ухудшится. Использование направляющих втулок приводит еще и к усложнению конструкции держателя зондов также как и наличие у зондов упругих петель, приводящее к необходимости размещения зондов и их петель в отдельных пазах и полостях для предотвращения возможности замыканий соседних зондов при изгибе от надавливания на их контактирующие части.
Технический результат изобретения заключается в увеличении площади контакта зондов с проволочными выводами тестируемой интегральной микросхемы и упрощении конструкции устройства.
Технический результат достигается тем, что в контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике, содержащее контактные зонды и держатель зондов из изоляционного материала с направляющими для зондов и полостью для размещения упругих элементов выдвижения зондов, внесены отличия, состоящие в том, что зонды имеют цилиндрическую форму с плоской перпендикулярной продольной оси контактирующей поверхностью на одном торце и буртиком в средней части, упругие элементы выдвижения зондов представляют собой цилиндрические пружины сжатия, нанизанные на зонды с противоположных контактирующим поверхностям концов, а направляющие для зондов представляют собой пары круглых соосных отверстий в примыкающей к таре-спутнику и противоположной ей стенках полости, каждый контактный зонд с легким ходом вставлен в соответствующую пару отверстий таким образом, что нанизанная на него пружина и буртик располагаются внутри полости, причем пружина торцами упирается в буртик и в несоприкасающуюся с тарой-спутником стенку полости.
Указанное выполнение контактного устройства для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике позволяет упростить конструкцию держателя зондов за счет выполнения направляющих зондов в виде простых отверстий в стенках общей для всех зондов полости для размещения упругих элементов их выдвижения. Для повышения площади контакта зондов с проволочными выводами микросхемы они имеют контактирующие поверхности, занимающие большую часть площади контактных отверстий в таре-спутнике.
Отличительными признаками изобретения является выполнение контактных зондов и направляющих для них, упругих элементов выдвижения зондов и полости для их размещения внутри держателя зондов.
Изобретение поясняют чертежи. Фиг. 1 с изображением контактного устройства с устанавливаемым на него тарой-спутником УП4.170.051, содержащим 14-выводную тестируемую бескорпусную интегральную микросхему. Фиг. 2 представляет вид на устройство сверху.
Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике содержит контактные зонды 1 и держатель зондов из изоляционного материала, изображенный на чертежах состоящим из двух деталей, корпуса 2 и крышки 3. Каждый контактный зонд 1 имеет цилиндрическую форму с плоской перпендикулярной продольной оси контактирующей поверхностью 4 на одном торце и буртиком 5 в средней части. Дно корпуса 2 и крышка 3 держателя зондов имеют круглые отверстия 6 и 7, образующие соосные пары, служащие направляющими для зондов 1, легко движущихся в них вдоль осей, перпендикулярных плоскости наружной поверхности крышки 3. Полость 8 в корпусе 2 предназначена для размещения упругих элементов выдвижения зондов в виде цилиндрических пружин 9 сжатия, нанизанных на зонды 1 таким образом, что каждая пружина 9 торцами упирается в буртик бив дно корпус 2 держателя зондов.
Тара-спутник выполнен из изоляционного материала, он состоит из основания 10 и крышки 11, имеющей контактные отверстия 12, сопряженные с зондами 1 и пазы 13 для направляющих штырей 14, установленных на держателе зондов со стороны крышки 3. Штыри 14 служат для позиционирования основания 10 тары-спутника, обеспечивающего совмещение контактных отверстий 12 в крышке 11 с соответствующими зондами 1, диаметр контактирующей поверхности которых целесообразно сделать несколько меньше, чем у отверстий 12. В центре основания 10 тары-спутника расположена выемка 15 для размещения бескорпусной микросхемы 16. Гибкие выводы 17 микросхемы 16, изготовленные из тонкой золотой проволоки, укладываются в пазы 18 на основании 10 тары-спутника. Пазы 18 образованы выступами 19 в форме отрезков дуг концентрических колец, возвышающимися над внутренней поверхностью основания 10.
Крышка 3 держателя зондов крепится к его основанию 2 винтами 20 с потайными головками, утопленными заподлицо с наружной поверхностью крышки 3.
Контактное устройство работает следующим образом.
Оно закреплено, а контактные зонды 1 электрически подсоединены к измерительной аппаратуре. Тару-спутник с заключенной в нем бескорпусной микросхемой 16 опускают крышкой 11 вниз по направляющим штырям 14, зонды 1 входят в отверстия 12 и в конечном положении контактирующие поверхности 4 прижимают проволочные выводы 17 к основанию 10. После проведения электрических измерений тару-спутник снимают и заменяют другим.
При практическом выполнении контактного устройства установлено, что лучшим материалом для токопроводящих контактных зондов является бериллиевая бронза марки БрБ2 (ГОСТ 18175-78), а для пружин - проволока из того же материала диаметром 0,2 мм. Возможно также применение стальных пружин. Для обеспечения качества контактов зондов с проволочными выводами микросхемы и надежности паяных соединений зондов с проводниками связей с измерительной аппаратурой целесообразно их покрытие золотом или серебром.
Для случая применения тары-спутника типа УП4.170.051 для 14-выводной микросхемы оптимальное усилие давления каждого зонда с контактирующей поверхностью диаметром 1,3 мм на золотой проволочный вывод диаметром 30 мкм экспериментально определено равным примерно 40 Г при ходе зонда 0,8 мм. Это усилие регулируется подбором числа витков пружины и степени ее сжатия в исходном положении.
Следует заметить, что диаметр контактных отверстий в крышке тары-спутника УП4.170.051 равен 1,8 мм и уменьшение относительно него на 0,5 мм значения диаметра контактных зондов было необходимо для компенсации неточности совмещения отверстий с зондами при позиционировании тары-спутника.
Таким образом, использование предложенного технического решения позволит улучшить качество контактов зондов с проволочными выводами тестируемой микросхемы и уменьшить количество сложных в изготовлении деталей в конструкции контактного устройства.
Claims (1)
- Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике, содержащее контактные зонды и держатель зондов из изоляционного материала с направляющими для зондов и полостью для размещения упругих элементов выдвижения зондов, отличающееся тем, что зонды имеют цилиндрическую форму с плоской перпендикулярной продольной оси контактирующей поверхностью на одном торце и буртиком в средней части, упругие элементы выдвижения зондов представляют собой цилиндрические пружины сжатия, нанизанные на зонды с противоположных контактирующим поверхностям концов, а направляющие для зондов представляют собой пары круглых соосных отверстий в примыкающей к таре-спутнику и противоположной ей стенках полости, каждый контактный зонд с легким ходом вставлен в соответствующую пару отверстий таким образом, что нанизанная на него пружина и буртик располагаются внутри полости, причем пружина торцами упирается в буртик и в несоприкасающуюся с тарой-спутником стенку полости.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2810624C1 true RU2810624C1 (ru) | 2023-12-28 |
Family
ID=
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3409861A (en) * | 1967-09-28 | 1968-11-05 | Barnes Corp | Integrated circuit carrier |
US3454154A (en) * | 1968-05-07 | 1969-07-08 | Us Air Force | Integrated circuit carrier |
SU934577A1 (ru) * | 1980-10-04 | 1982-06-07 | Предприятие П/Я А-5263 | Контактное устройство |
SU1166199A1 (ru) * | 1983-04-26 | 1985-07-07 | Предприятие П/Я Г-4149 | Устройство дл перемещени и контактировани интегральных схем в климатической камере |
US4591053A (en) * | 1984-07-06 | 1986-05-27 | Gibson-Egan Company | Integrated circuit carrier |
SU1713131A1 (ru) * | 1990-01-16 | 1992-02-15 | Научно-исследовательский институт молекулярной электроники | Контактное устройство |
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3409861A (en) * | 1967-09-28 | 1968-11-05 | Barnes Corp | Integrated circuit carrier |
US3454154A (en) * | 1968-05-07 | 1969-07-08 | Us Air Force | Integrated circuit carrier |
SU934577A1 (ru) * | 1980-10-04 | 1982-06-07 | Предприятие П/Я А-5263 | Контактное устройство |
SU1166199A1 (ru) * | 1983-04-26 | 1985-07-07 | Предприятие П/Я Г-4149 | Устройство дл перемещени и контактировани интегральных схем в климатической камере |
US4591053A (en) * | 1984-07-06 | 1986-05-27 | Gibson-Egan Company | Integrated circuit carrier |
SU1713131A1 (ru) * | 1990-01-16 | 1992-02-15 | Научно-исследовательский институт молекулярной электроники | Контактное устройство |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN110088632B (zh) | 探测器构造 | |
KR101439343B1 (ko) | 포고핀용 탐침부재 | |
KR101930866B1 (ko) | 반도체 디바이스 테스트용 콘택트 및 소켓장치 | |
KR100854267B1 (ko) | 포고핀의 제조방법과, 이를 이용한 테스트 소켓 | |
KR100950790B1 (ko) | 프로브 카드 | |
CN110720045B (zh) | 用于测试半导体器件的导体及测试插座装置 | |
JP4921344B2 (ja) | 検査ソケット | |
JP2008070146A (ja) | 検査用ソケット | |
KR20020035465A (ko) | 전자 패키지를 분리 가능하게 장착하는 소켓 | |
US20200141980A1 (en) | Test device | |
KR102589960B1 (ko) | 전기적 접속 장치 | |
KR101236312B1 (ko) | 반도체 검사용 프로브 | |
KR102271503B1 (ko) | 신호 전송 커넥터 | |
JP2004177400A (ja) | プローブのインターフェース装置 | |
KR20180094627A (ko) | 테스트 핀 및 이를 포함하는 테스트 장치 | |
US7049838B2 (en) | Semiconductor device tester with slanted contact ends | |
RU2810624C1 (ru) | Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике | |
US20210278438A1 (en) | Testing Apparatus Incorporating Electrical Connector | |
CN109839522B (zh) | 探针卡装置及其信号转接模块 | |
KR20180010935A (ko) | 평판 접이식 연결 핀 | |
KR102038968B1 (ko) | 반도체 디바이스 검사용 인서트, 베이스 및 테스트 소켓 | |
KR101961281B1 (ko) | 양방향 도전성 모듈 | |
KR101662951B1 (ko) | 푸쉬 플레이트가 있는 프로브 카드 | |
KR100715269B1 (ko) | 동축 접촉 프로브 | |
KR200318492Y1 (ko) | 칩 검사용 소켓장치 |