RU2810624C1 - Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике - Google Patents

Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике Download PDF

Info

Publication number
RU2810624C1
RU2810624C1 RU2023114039A RU2023114039A RU2810624C1 RU 2810624 C1 RU2810624 C1 RU 2810624C1 RU 2023114039 A RU2023114039 A RU 2023114039A RU 2023114039 A RU2023114039 A RU 2023114039A RU 2810624 C1 RU2810624 C1 RU 2810624C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
probes
contact
cavity
satellite container
wire leads
Prior art date
Application number
RU2023114039A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Михайлович Игнатьев
Анатолий Александрович Топтун
Original Assignee
Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники"
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" filed Critical Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники"
Application granted granted Critical
Publication of RU2810624C1 publication Critical patent/RU2810624C1/ru

Links

Images

Abstract

Изобретение относится к средствам контроля электрических параметров бескорпусных интегральных микросхем с гибкими проволочными выводами, помещенных в тару-спутники, предназначенные для тестирования, транспортировки и хранения. Технический результат - увеличение площади контакта зондов с проволочными выводами тестируемой интегральной микросхемы и упрощение конструкции устройства. Технический результат достигается тем, что зонды имеют цилиндрическую форму с плоской перпендикулярной продольной оси контактирующей поверхностью на одном торце и буртиком в средней части. Упругие элементы выдвижения зондов представляют собой цилиндрические пружины сжатия, нанизанные на зонды с противоположных контактирующим поверхностям концов, а направляющие для зондов представляют собой пары круглых соосных отверстий в примыкающей к таре-спутнику и противоположной ей стенках полости. Каждый контактный зонд с легким ходом вставлен в соответствующую пару отверстий таким образом, что нанизанная на него пружина и буртик располагаются внутри полости, причем пружина торцами упирается в буртик и в несоприкасающуюся с тарой-спутником стенку полости. 2 ил.

Description

Изобретение относится к средствам контроля электрических параметров бескорпусных интегральных микросхем с гибкими проволочными выводами, помещенных в тару-спутники, применяемые для тестирования, транспортировки и хранения.
Известны контактные устройство, применяемые для контроля микросхем в таре-спутниках, см., например, патент США №3409861, НПК 339/174, МПК H05K 7/10, опубликованный 5 ноября 1968 г. [1].
Такое решение обеспечивает высокую надежность и качество соединений измерительных цепей с жесткими выводами микросхем, но не применимо для гибких выводов. Оно предусматривает выполнение контактных зондов из упругого металла с изогнутым пружинящим участком в средней части и плоским концевым участком для контактирования с выводом микросхемы. Выводы занимают не закрываемые крышкой пазы в основании тары-спутника. При переворачивании тары-спутника основанием вверх во время его установки на контактное устройство гибкие проволочные выводы могут выпасть из открытых участков пазов, что не позволит к ним подсоединиться, а то и приведет к их повреждению.
Этот недостаток отсутствует у контактного устройства, описанного в авторском свидетельстве СССР №934577, МПК H05K 1/18, опубликованном 7 июня 1982 г. [2]. Оно приспособлено для совместного использования с тарой-спутником, крышка которого полностью закрывает пазы с размещенными в них проволочными выводами микросхемы, а для подключения к выводам крышка имеет круглые контактные отверстия над пазами.
По технической сущности данное устройство наиболее близко к заявляемому изобретению.
Контактное устройство - наиболее близкий аналог содержит контактные зонды в виде плоских пружин с упругой петлей в средней части, держатель зондов из изоляционного материала с пазами для зондов и полостями для размещения упругих петель зондов, снабжено направляющими втулками, выступающими над поверхностью держателя зондов, в каждой из которых размещена контактирующая часть зонда, торец которой выполнен с дугообразной выемкой.
Главный недостаток устройства - аналога происходит от использования направляющих втулок с внешним диаметром как у контактных отверстий в крышке тары-спутника. Ширина размещенных во втулках контактирующих частей зондов может оказаться существенно меньше ширины пазов в основании тары-спутника для проволочных выводов и при их отклонении от центров пазов контакты могут не состояться или их качество ухудшится. Использование направляющих втулок приводит еще и к усложнению конструкции держателя зондов также как и наличие у зондов упругих петель, приводящее к необходимости размещения зондов и их петель в отдельных пазах и полостях для предотвращения возможности замыканий соседних зондов при изгибе от надавливания на их контактирующие части.
Технический результат изобретения заключается в увеличении площади контакта зондов с проволочными выводами тестируемой интегральной микросхемы и упрощении конструкции устройства.
Технический результат достигается тем, что в контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике, содержащее контактные зонды и держатель зондов из изоляционного материала с направляющими для зондов и полостью для размещения упругих элементов выдвижения зондов, внесены отличия, состоящие в том, что зонды имеют цилиндрическую форму с плоской перпендикулярной продольной оси контактирующей поверхностью на одном торце и буртиком в средней части, упругие элементы выдвижения зондов представляют собой цилиндрические пружины сжатия, нанизанные на зонды с противоположных контактирующим поверхностям концов, а направляющие для зондов представляют собой пары круглых соосных отверстий в примыкающей к таре-спутнику и противоположной ей стенках полости, каждый контактный зонд с легким ходом вставлен в соответствующую пару отверстий таким образом, что нанизанная на него пружина и буртик располагаются внутри полости, причем пружина торцами упирается в буртик и в несоприкасающуюся с тарой-спутником стенку полости.
Указанное выполнение контактного устройства для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике позволяет упростить конструкцию держателя зондов за счет выполнения направляющих зондов в виде простых отверстий в стенках общей для всех зондов полости для размещения упругих элементов их выдвижения. Для повышения площади контакта зондов с проволочными выводами микросхемы они имеют контактирующие поверхности, занимающие большую часть площади контактных отверстий в таре-спутнике.
Отличительными признаками изобретения является выполнение контактных зондов и направляющих для них, упругих элементов выдвижения зондов и полости для их размещения внутри держателя зондов.
Изобретение поясняют чертежи. Фиг. 1 с изображением контактного устройства с устанавливаемым на него тарой-спутником УП4.170.051, содержащим 14-выводную тестируемую бескорпусную интегральную микросхему. Фиг. 2 представляет вид на устройство сверху.
Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике содержит контактные зонды 1 и держатель зондов из изоляционного материала, изображенный на чертежах состоящим из двух деталей, корпуса 2 и крышки 3. Каждый контактный зонд 1 имеет цилиндрическую форму с плоской перпендикулярной продольной оси контактирующей поверхностью 4 на одном торце и буртиком 5 в средней части. Дно корпуса 2 и крышка 3 держателя зондов имеют круглые отверстия 6 и 7, образующие соосные пары, служащие направляющими для зондов 1, легко движущихся в них вдоль осей, перпендикулярных плоскости наружной поверхности крышки 3. Полость 8 в корпусе 2 предназначена для размещения упругих элементов выдвижения зондов в виде цилиндрических пружин 9 сжатия, нанизанных на зонды 1 таким образом, что каждая пружина 9 торцами упирается в буртик бив дно корпус 2 держателя зондов.
Тара-спутник выполнен из изоляционного материала, он состоит из основания 10 и крышки 11, имеющей контактные отверстия 12, сопряженные с зондами 1 и пазы 13 для направляющих штырей 14, установленных на держателе зондов со стороны крышки 3. Штыри 14 служат для позиционирования основания 10 тары-спутника, обеспечивающего совмещение контактных отверстий 12 в крышке 11 с соответствующими зондами 1, диаметр контактирующей поверхности которых целесообразно сделать несколько меньше, чем у отверстий 12. В центре основания 10 тары-спутника расположена выемка 15 для размещения бескорпусной микросхемы 16. Гибкие выводы 17 микросхемы 16, изготовленные из тонкой золотой проволоки, укладываются в пазы 18 на основании 10 тары-спутника. Пазы 18 образованы выступами 19 в форме отрезков дуг концентрических колец, возвышающимися над внутренней поверхностью основания 10.
Крышка 3 держателя зондов крепится к его основанию 2 винтами 20 с потайными головками, утопленными заподлицо с наружной поверхностью крышки 3.
Контактное устройство работает следующим образом.
Оно закреплено, а контактные зонды 1 электрически подсоединены к измерительной аппаратуре. Тару-спутник с заключенной в нем бескорпусной микросхемой 16 опускают крышкой 11 вниз по направляющим штырям 14, зонды 1 входят в отверстия 12 и в конечном положении контактирующие поверхности 4 прижимают проволочные выводы 17 к основанию 10. После проведения электрических измерений тару-спутник снимают и заменяют другим.
При практическом выполнении контактного устройства установлено, что лучшим материалом для токопроводящих контактных зондов является бериллиевая бронза марки БрБ2 (ГОСТ 18175-78), а для пружин - проволока из того же материала диаметром 0,2 мм. Возможно также применение стальных пружин. Для обеспечения качества контактов зондов с проволочными выводами микросхемы и надежности паяных соединений зондов с проводниками связей с измерительной аппаратурой целесообразно их покрытие золотом или серебром.
Для случая применения тары-спутника типа УП4.170.051 для 14-выводной микросхемы оптимальное усилие давления каждого зонда с контактирующей поверхностью диаметром 1,3 мм на золотой проволочный вывод диаметром 30 мкм экспериментально определено равным примерно 40 Г при ходе зонда 0,8 мм. Это усилие регулируется подбором числа витков пружины и степени ее сжатия в исходном положении.
Следует заметить, что диаметр контактных отверстий в крышке тары-спутника УП4.170.051 равен 1,8 мм и уменьшение относительно него на 0,5 мм значения диаметра контактных зондов было необходимо для компенсации неточности совмещения отверстий с зондами при позиционировании тары-спутника.
Таким образом, использование предложенного технического решения позволит улучшить качество контактов зондов с проволочными выводами тестируемой микросхемы и уменьшить количество сложных в изготовлении деталей в конструкции контактного устройства.

Claims (1)

  1. Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике, содержащее контактные зонды и держатель зондов из изоляционного материала с направляющими для зондов и полостью для размещения упругих элементов выдвижения зондов, отличающееся тем, что зонды имеют цилиндрическую форму с плоской перпендикулярной продольной оси контактирующей поверхностью на одном торце и буртиком в средней части, упругие элементы выдвижения зондов представляют собой цилиндрические пружины сжатия, нанизанные на зонды с противоположных контактирующим поверхностям концов, а направляющие для зондов представляют собой пары круглых соосных отверстий в примыкающей к таре-спутнику и противоположной ей стенках полости, каждый контактный зонд с легким ходом вставлен в соответствующую пару отверстий таким образом, что нанизанная на него пружина и буртик располагаются внутри полости, причем пружина торцами упирается в буртик и в несоприкасающуюся с тарой-спутником стенку полости.
RU2023114039A 2023-05-30 Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике RU2810624C1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2810624C1 true RU2810624C1 (ru) 2023-12-28

Family

ID=

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3409861A (en) * 1967-09-28 1968-11-05 Barnes Corp Integrated circuit carrier
US3454154A (en) * 1968-05-07 1969-07-08 Us Air Force Integrated circuit carrier
SU934577A1 (ru) * 1980-10-04 1982-06-07 Предприятие П/Я А-5263 Контактное устройство
SU1166199A1 (ru) * 1983-04-26 1985-07-07 Предприятие П/Я Г-4149 Устройство дл перемещени и контактировани интегральных схем в климатической камере
US4591053A (en) * 1984-07-06 1986-05-27 Gibson-Egan Company Integrated circuit carrier
SU1713131A1 (ru) * 1990-01-16 1992-02-15 Научно-исследовательский институт молекулярной электроники Контактное устройство

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3409861A (en) * 1967-09-28 1968-11-05 Barnes Corp Integrated circuit carrier
US3454154A (en) * 1968-05-07 1969-07-08 Us Air Force Integrated circuit carrier
SU934577A1 (ru) * 1980-10-04 1982-06-07 Предприятие П/Я А-5263 Контактное устройство
SU1166199A1 (ru) * 1983-04-26 1985-07-07 Предприятие П/Я Г-4149 Устройство дл перемещени и контактировани интегральных схем в климатической камере
US4591053A (en) * 1984-07-06 1986-05-27 Gibson-Egan Company Integrated circuit carrier
SU1713131A1 (ru) * 1990-01-16 1992-02-15 Научно-исследовательский институт молекулярной электроники Контактное устройство

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110088632B (zh) 探测器构造
KR101439343B1 (ko) 포고핀용 탐침부재
KR101930866B1 (ko) 반도체 디바이스 테스트용 콘택트 및 소켓장치
KR100854267B1 (ko) 포고핀의 제조방법과, 이를 이용한 테스트 소켓
KR100950790B1 (ko) 프로브 카드
CN110720045B (zh) 用于测试半导体器件的导体及测试插座装置
JP4921344B2 (ja) 検査ソケット
JP2008070146A (ja) 検査用ソケット
KR20020035465A (ko) 전자 패키지를 분리 가능하게 장착하는 소켓
US20200141980A1 (en) Test device
KR102589960B1 (ko) 전기적 접속 장치
KR101236312B1 (ko) 반도체 검사용 프로브
KR102271503B1 (ko) 신호 전송 커넥터
JP2004177400A (ja) プローブのインターフェース装置
KR20180094627A (ko) 테스트 핀 및 이를 포함하는 테스트 장치
US7049838B2 (en) Semiconductor device tester with slanted contact ends
RU2810624C1 (ru) Контактное устройство для тестирования бескорпусной интегральной микросхемы с гибкими проволочными выводами в таре-спутнике
US20210278438A1 (en) Testing Apparatus Incorporating Electrical Connector
CN109839522B (zh) 探针卡装置及其信号转接模块
KR20180010935A (ko) 평판 접이식 연결 핀
KR102038968B1 (ko) 반도체 디바이스 검사용 인서트, 베이스 및 테스트 소켓
KR101961281B1 (ko) 양방향 도전성 모듈
KR101662951B1 (ko) 푸쉬 플레이트가 있는 프로브 카드
KR100715269B1 (ko) 동축 접촉 프로브
KR200318492Y1 (ko) 칩 검사용 소켓장치