RU2704330C1 - Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча - Google Patents

Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча Download PDF

Info

Publication number
RU2704330C1
RU2704330C1 RU2018142370A RU2018142370A RU2704330C1 RU 2704330 C1 RU2704330 C1 RU 2704330C1 RU 2018142370 A RU2018142370 A RU 2018142370A RU 2018142370 A RU2018142370 A RU 2018142370A RU 2704330 C1 RU2704330 C1 RU 2704330C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
thin
photocathode
anode
film
phosphor
Prior art date
Application number
RU2018142370A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Анатольевич Асеев
Борис Николаевич Миронов
Игорь Николаевич Нестерук
Евгений Артурович Рябов
Сергей Васильевич Чекалин
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт спектроскопии Российской академии наук (ИСАН)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт спектроскопии Российской академии наук (ИСАН) filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт спектроскопии Российской академии наук (ИСАН)
Priority to RU2018142370A priority Critical patent/RU2704330C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2704330C1 publication Critical patent/RU2704330C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области лазерной техники и касается фотоэмиссионного профилометра лазерного луча. Профилометр включает в себя вакуумную колбу, тонкопленочный фотокатод сферической формы, анод, источник напряжения, создающий разность потенциалов между тонкопленочным фотокатодом и анодом, люминофор и позиционно-чувствительный детектор. Между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и люминофором размещен дефлектор с электрическим полем. Люминофор и позиционно-чувствительный детектор смещены относительно оси лазерного луча так, чтобы излучение лазера не попадало на люминофор и позиционно-чувствительный детектор, которые установлены нормально к пучку фотоэлектронов. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к измерительной технике в области лазерной физики. Основное применение - измерение профиля остросфокусированных высокоинтенсивных лазерных лучей.
В настоящее время известны профилометры лазерных лучей низкой интенсивности в узком спектральном диапазоне на основе CCD и CMOS камер, пространственное разрешение которых ограничено размером пикселя CCD матрицы, порядка 10 мкм.
В US 8,686,372 описано решение для измерения профиля лазеров с высокой интенсивностью луча. Для регистрации излучения используется детектор с вращающейся штриховой диафрагмой для регистрации профиля луча. В данном решении точность измерения профиля луча ограничена вращающейся штриховой диафрагмой, что существенно снижает точность измерения остросфокусированных лазерных лучей.
В US 4,916,319 показано решение для повышения точности измерения для ультрафиолетового лазерного излучения. Регистрация излучения осуществляется 2D детектором через флуоресцентную пластину. Особенность данного решения состоит в подборе материала флуоресцентной пластины с целью ослабления лазерного излучения и увеличения линейности преобразования. Однако, часть излучения проходит через флуоресцентную пластину, что влияет на точность измерения профиля излучения, также, разрешение ограничено датчиком регистрации, а интенсивность излучения люминофором.
Наиболее близким решением является способ измерения профиля лазерного луча на основе принципа фотоэлектронной проекционной микроскопии, продемонстрированного для металлического фотокатода в форме острия с радиусом кривизны несколько сот микрон в работе «Микроскопия фотоионизационных процессов» (Квантовая электроника. 2013. Т. 43. В. 4. С. 308. рис. 5). Данный способ позволяет существенно расширить спектральный диапазон и увеличить пространственное разрешение при измерении профиля остросфокусированных лазерных лучей высокой энергии в лазерном импульсе. Данное решение принято за прототип.
Задача настоящего изобретения повысить точность измерения профиля остросфокусированного лазерного луча. Данная цель достигается за счет устранения влияния на измерения лазерного излучения, прошедшего сквозь тонкопленочный фотокатод сферической формы и падающего на позиционно-чувствительный детектор в соответствии с п. 1 формулы изобретения (фиг. 1). Данная задача решается путем введения в вакуумную колбу 1 между тонкопленочным фотокатодом 2 сферической формы и позиционно-чувствительным детектором 4 дефлектора с электрическим полем 5. Такая геометрия позволяет избежать попадания прошедшего сквозь тонкопленочный фотокатод сферической формы лазерного излучения на люминофор 3 и позиционно-чувствительный детектор 4, установленные нормально к отклоненному пучку фотоэлектронов 7.
Также, в соответствии с п. 2 формулы изобретения между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и дефлектором с электрическим полем установлен анод 8, выполненный в виде металлической сетки сферической формы, причем центры сфер, относящихся к тонкопленочному фотокатоду сферической формы и аноду, совмещены. Данное решение обеспечивает большее пространственное увеличение в процессе измерения. А также позволяет уменьшить искажение силовых линий электрического поля, транспортирующих фотоэлектронный пучок.
В соответствии с п. 3 формулы изобретения анод 8 выполнен из графена, что обеспечивает более высокое прохождение электронов и, что позволяет повысить чувствительность регистрации.
В соответствии с п. 4 формулы изобретения реализован другой вариант фотоэмиссионного профилометра лазерного луча, заключающийся в том, что между тонкопленочным фотокатодом 2 сферической формы и люминофором 3 установлены последовательно анод 9 в виде диафрагмы с отверстием, дефлектор с электрическим полем 5 и магнитная оптика 10. Магнитная оптика, люминофор и позиционно-чувствительный детектор установлены нормально к отклоненному пучку фотоэлектронов 7 и смещены относительно входного лазерного луча 6, так, чтобы лазерный луч не попадал на люминофор и позиционно-чувствительный детектор. Анод с отверстием позволяет пропустить больший поток фотоэлектронов, а пространственное увеличение обеспечивает магнитная оптика. Данное решение позволяет увеличить чувствительность измерения и скорректировать аберрационные искажения соответствующим исполнением магнитной оптики при высоком увеличении и, таким образом, увеличить точность измерения профиля лазерного луча.
На фиг. 1 изображен фотоэмиссионный профилометр лазерного луча, реализованный на основе эмиссионного проекционного микроскопа.
На фиг. 2 изображен фотоэмиссионный профилометр лазерного луча, реализованный на основе эмиссионного электронного микроскопа.
Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча в соответствии с п. 1 формулы изобретения реализован в виде вакуумной колбы 1, выполненной из кварца (фиг. 1) у входного окна которой, внутри колбы, расположен тонкопленочный фотокатод сферической формы 2. Внутри колбы у выходного окна расположен люминофор 3, а с наружной стороны выходного окна позиционно-чувствительный детектор 4. Между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и люминофором расположен дефлектор с электрическим полем 5 так чтобы пучок фотоэлектронов 7 проходил через него. Выходное окно с люминофором и позиционно-чувствительный детектор смещены относительного входного лазерного луча так, чтобы на них попадал только пучок фотоэлектронов, смещенный дефлектором с электрическим полем. Анод в виде металлической сетки сферической формы 8 расположен между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и дефлектором с электрическим полем, а источник напряжения подключен к клеммам U1 и U2 (на рисунке не показан), причем центры сфер, соответствующих тонкопленочного фотокатода сферической формы и анода, совмещены.
Работает данное устройство следующим образом: входной лазерный луч падает на тонкопленочный фотокатод сферической формы и выбивает из него фотоэлектроны; фотоэлектронный пучок ускоряется в расходящемся электрическом поле, отклоняется дефлектором с электрическим полем и падает на люминофор; люминофор преобразовывает падающий фотоэлектронный пучок в фотоны люминесценции, которые регистрируются позиционно-чувствительным детектором. Пространственное увеличение изображения профиля лазерного луча достигается за счет эффекта проекционного эмиссионного микроскопа в расходящемся электрическом поле между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и анодом.
В соответствии с п. 4 формулы изобретения фотоэмиссионный профилометр лазерного луча реализован в виде вакуумной колбы 1, выполненной из кварца (фиг. 2) у входного окна которой, внутри колбы, расположен тонкопленочный фотокатод сферической формы 2, за которым расположен анод с отверстием 9, между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и анодом к клеммам U1 и U2 подключен источник напряжения (на рисунке не показан). По ходу фотоэлектронного пучка 7 за анодом установлен дефлектор с электрическим полем 5, за которым, нормально к отклоненному пучку электронов, установлены последовательно несколько магнитных линз (магнитная оптика 10), люминофор 3 (внутри колбы) и позиционно-чувствительный детектор 4 с внешней стороны выходного окна. Отклонение пучка фотоэлектронов 7 и смещенное положение люминофора и позиционно-чувствительного детектора исключает попадание прошедшего сквозь тонкопленочный фотокатод сферической формы излучения на люминофор и позиционно-чувствительный детектор.
Согласно п. 4 устройство работает следующим образом: входной лазерный луч падает на тонкопленочный фотокатод сферической формы и выбивает из него фотоэлектроны, ускоренный пучок которых электрическим полем между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и анодом отклоняется дефлектором с электрическим полем, увеличивается магнитной оптикой и попадает на люминофор. Фотоны, излучаемые за люминофором, регистрируются позиционно-чувствительным детектором.

Claims (4)

1. Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча, включающий вакуумную колбу, тонкопленочный фотокатод сферической формы, анод, источник напряжения, создающий разность потенциалов между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и анодом (клеммы U1 и U2), люминофор и позиционно-чувствительный детектор, отличающийся тем, что между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и люминофором размещен дефлектор с электрическим полем, кроме того, люминофор и позиционно-чувствительный детектор смещены относительно оси лазерного луча так, чтобы излучение лазера не попадало на люминофор и позиционно-чувствительный детектор, которые установлены нормально к пучку фотоэлектронов.
2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что анод установлен между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и дефлектором с электрическим полем и выполнен в виде металлической сетки сферической формы, причем центры радиусов тонкопленочного фотокатода сферической формы и анода совмещены.
3. Устройство по п. 2, отличающееся тем, что анод выполнен из графена.
4. Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча, включающий вакуумную колбу, тонкопленочный фотокатод сферической формы, анод, источник напряжения, создающий разность потенциалов между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и анодом (клеммы U1 и U2), люминофор и позиционно-чувствительный детектор, отличающийся тем, что между тонкопленочным фотокатодом сферической формы и люминофором размещены последовательно анод с отверстием, дефлектор с электрическим полем и магнитная оптика, кроме того, магнитная оптика, люминофор и позиционно-чувствительный детектор смещены относительно оси лазерного луча так, чтобы луч лазера не попадал на люминофор и позиционно-чувствительный детектор, которые установлены нормально к пучку фотоэлектронов.
RU2018142370A 2018-11-30 2018-11-30 Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча RU2704330C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018142370A RU2704330C1 (ru) 2018-11-30 2018-11-30 Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2018142370A RU2704330C1 (ru) 2018-11-30 2018-11-30 Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2704330C1 true RU2704330C1 (ru) 2019-10-28

Family

ID=68500451

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018142370A RU2704330C1 (ru) 2018-11-30 2018-11-30 Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2704330C1 (ru)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1309118A1 (ru) * 1985-08-16 1987-05-07 Предприятие П/Я Г-4126 Способ определени распределени плотности мощности в сечении пучка излучени
US4916319A (en) * 1988-04-22 1990-04-10 Tauton Technologies, Inc. Beam intensity profilometer
US5362959A (en) * 1991-01-30 1994-11-08 European Economic Community (Eec) Ultrarapid camera for visulaizing the intensity profile of a laser

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1309118A1 (ru) * 1985-08-16 1987-05-07 Предприятие П/Я Г-4126 Способ определени распределени плотности мощности в сечении пучка излучени
US4916319A (en) * 1988-04-22 1990-04-10 Tauton Technologies, Inc. Beam intensity profilometer
US5362959A (en) * 1991-01-30 1994-11-08 European Economic Community (Eec) Ultrarapid camera for visulaizing the intensity profile of a laser

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
С.А. Асеев и др. "Микроскопия фотоионизационных процессов", КВАНТОВАЯ ЭЛЕКТРОНИКА, т. 43. No 4, 2013 г., стр. 308-312. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6012191B2 (ja) 荷電粒子顕微鏡に用いられる検出方法
US4255661A (en) Electrostatic emission lens
TWI646568B (zh) 高解析度高量子效率之電子轟擊之電荷耦合裝置或互補金氧半導體成像感測器
JP2023110072A (ja) 走査型電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡の2次電子検出方法
RU2704330C1 (ru) Фотоэмиссионный профилометр лазерного луча
JP6084902B2 (ja) 検出器および荷電粒子線装置
US20170162364A1 (en) Detecting charged particles
US10770262B1 (en) Apparatus, method and system for imaging and utilization of SEM charged particles
US5266809A (en) Imaging electron-optical apparatus
JP2019175861A (ja) 収差補正およびイオンダメージ軽減のためのイメージインテンシファイア管設計
US20070051879A1 (en) Image Intensifier Device and Method
JP6401600B2 (ja) ストリーク管及びそれを含むストリーク装置
US9613781B2 (en) Scanning electron microscope
US3345514A (en) Television camera combined with an electron microscope and having a plurality of cathodoconductive targets
JP6640531B2 (ja) 電子が持つエネルギーの計測装置と計測方法
JP6690949B2 (ja) 走査型電子顕微鏡
JP6228870B2 (ja) 検出器および荷電粒子線装置
US9076629B2 (en) Particle detection system
Carlini et al. PROPOSAL FOR A PHOTON DETECTOR WITH PICOSECOND TIME RESOLUTION
JP3765781B2 (ja) X線顕微鏡の像調整装置と像調整方法
WO2001084590A2 (en) Method and apparatus for imaging a specimen using indirect in-column detection of secondary electrons in a microcolumn
JP2016126955A (ja) 電子検出装置および走査電子顕微鏡
JP2007073529A (ja) イメージインテンシファイア装置および方法
KR20150051543A (ko) 전자현미경
JP2001135266A (ja) 荷電粒子制御電極および荷電粒子ビーム装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20201201