RU2556315C2 - Способ измерения теплового импеданса светодиодов - Google Patents

Способ измерения теплового импеданса светодиодов Download PDF

Info

Publication number
RU2556315C2
RU2556315C2 RU2013101864/28A RU2013101864A RU2556315C2 RU 2556315 C2 RU2556315 C2 RU 2556315C2 RU 2013101864/28 A RU2013101864/28 A RU 2013101864/28A RU 2013101864 A RU2013101864 A RU 2013101864A RU 2556315 C2 RU2556315 C2 RU 2556315C2
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
heating
led
pulses
thermal impedance
light diode
Prior art date
Application number
RU2013101864/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2013101864A (ru
Inventor
Вячеслав Андреевич Сергеев
Виталий Иванович Смирнов
Original Assignee
Общество с ограниченной ответственностью "Малое инновационное предприятие "Уникальные системы и технологии"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Общество с ограниченной ответственностью "Малое инновационное предприятие "Уникальные системы и технологии" filed Critical Общество с ограниченной ответственностью "Малое инновационное предприятие "Уникальные системы и технологии"
Priority to RU2013101864/28A priority Critical patent/RU2556315C2/ru
Publication of RU2013101864A publication Critical patent/RU2013101864A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2556315C2 publication Critical patent/RU2556315C2/ru

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Изобретение относится к технике измерения теплофизических параметров полупроводниковых изделий и может быть использовано на выходном и входном контроле качества изготовления светодиодов. Способ состоит в том, что через светодиод пропускают последовательность импульсов греющего тока постоянной амплитуды, широтно-импульсно модулированную по гармоническому закону с глубиной модуляции а, в промежутках между импульсами греющего тока через светодиод пропускают начальный ток, по результатам измерения напряжения на светодиоде во время действия импульсов греющего тока и в промежутках между ними определяют амплитуду первой гармоники мощности Pm1(Ω), потребляемой светодиодом, и амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра
Figure 00000022
с известным отрицательным температурным коэффициентом КТ - прямого напряжения на p-n переходе светодиода при протекании через него начального тока и сдвиг фазы между ними φ(Ω) на частоте модуляции греющей мощности, измеряют среднюю за время разогрева мощность
Figure 00000023
оптического излучения светодиода и модуль теплового импеданса находят по формуле
Figure 00000024
а фаза φTM) теплового импеданса светодиода равна сдвинутой на 180° разности фаз между первой гармоникой температурочувствительного параметра и первой гармоникой мощности. Технический результат заключается в повышении точности измерения модуля теплового импеданса светодиодов. 2 ил.

Description

Изобретение относится к технике измерения теплофизических параметров полупроводниковых изделий и может быть использовано на выходном и входном контроле качества изготовления светодиодов.
Известен способ измерения теплового сопротивления полупроводниковых диодов, заключающийся в том, что на контролируемый диод подают импульсы греющей мощности фиксированной длительности и амплитуды, а в промежутках между импульсами измеряют изменение температурочувствительного параметра, например прямого напряжения UТЧП диода при пропускании через него малого измерительного тока (ГОСТ 19656, 18-84. Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления).
Недостатком способа является низкая точность, обусловленная большой погрешностью измерения импульсного напряжения UТЧП(t) из-за влияния переходных тепловых и электрических процессов при переключении полупроводникового диода из режима разогрева в режим измерения (Викулин И.М., Стафеев В.И. Физика полупроводниковых приборов. - М.: Сов. радио, 1980. С.51).
Наиболее близким по технической сущности к заявленному изобретению (прототипом) является способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов (см. Патент №2402783 РФ. Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов, Б.И. №30, 2010 г.), состоящий в том, что через диод в прямом направлении пропускают последовательность импульсов греющего тока, длительность τи которых изменяется по гармоническому закону
τ и = τ 0 ( 1 + a sin Ω t ) ( 1 )
Figure 00000001
где τ0 - средняя длительность импульсов; a - коэффициент модуляции; Ω - частота модуляции, а в промежутках между импульсами греющего тока через диод пропускают малый прямой ток. Период следования Tсл и амплитуду Iгр импульсов греющего тока поддерживают постоянными, по результатам измерения напряжения на диоде во время действия импульсов греющего тока и в промежутках между ними определяют амплитуду первой гармоники греющей мощности Pm1(Ω) и амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра U ˜ m 1 Т П ( Ω )
Figure 00000002
- прямого напряжения на p-n переходе при протекании через него начального тока и сдвиг фазы между ними φ(Ω) на частоте модуляции греющей мощности, и по измеренным значениям определяют тепловой импеданс полупроводникового диода на частоте модуляции греющей мощности по формуле:
Z ( Ω ) = | Z T ( Ω ) | e j ϕ ( Ω ) = U ˜ m 1 Т П ( Ω ) K T P m l ( Ω ) e j ϕ ( Ω ) . ( 2 )
Figure 00000003
KT - температурный коэффициент прямого напряжения диода при протекании через него постоянного начального тока, φ(Ω) - фаза теплового импеданса, равная сдвигу фаз между температурой и греющей мощностью.
Недостатком прототипа является то, что при его применении для измерения теплового импеданса светодиодов появляется значительная погрешность, обусловленная тем, что часть электрической мощности, потребляемой светодиодом, излучается во внешнюю среду в виде оптического излучения, в результате на нагрев светодиода идет не вся электрическая мощность. Таким образом, известный способ дает существенно заниженные значения модуля теплового импеданса. У современных светодиодов внешний квантовый выход может достигать десятков процентов, при этом конкретное значение квантовой эффективности имеет значительный разброс от образца к образцу.
Технический результат - повышение точности измерения модуля теплового импеданса светодиодов.
Технический результат достигается тем, что через светодиод пропускают последовательность импульсов греющего тока Iгр, в промежутках между импульсами греющего тока через диод пропускают малый постоянный начальный ток, по результатам измерения напряжения на диоде во время действия импульсов греющего тока и в промежутках между ними определяют амплитуду первой гармоники мощности Pml(Ω), потребляемой светодиодом, и амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра U ˜ m 1 Т П ( Ω )
Figure 00000004
с известным отрицательным температурным коэффициентом КТ - прямого напряжения на p-n переходе светодиода при протекании через него малого постоянного начального тока и сдвиг фазы между ними φ(Ω) на частоте модуляции греющей мощности, дополнительно измеряют среднюю мощность W ¯ о п т
Figure 00000005
оптического излучения светодиода и модуль теплового импеданса находят по формуле
| Z T ( Ω ) | = U ˜ m l Т П ( Ω ) K T ( P m l ( Ω ) a W ¯ о п т ) , ( 3 )
Figure 00000006
а фаза φTM) теплового импеданса светодиода будет равна сдвинутой на 180° разности фаз между первой гармоникой температурочувствительного параметра и первой гармоникой мощности.
Повышение точности измерения модуля теплового импеданса светодиода достигается за счет того, что из первой гармоники электрической мощности, потребляемой светодиодом, вычитается первая гармоника мощности Wlonm(Ω) оптического излучения на частоте модуляции, которая при гармоническом законе ШИМ модуляции с глубиной a определяется по формуле W l o n m ( Ω ) = a W ¯ о п т
Figure 00000007
и которая не идет на нагреве структуры СИД, и, таким образом более точно определяется мощность, затрачиваемая на разогрев светодиода.
Предлагаемый вариант способа может быть реализован с помощью устройства, структурная схема которого показана на фиг.1.
Устройство содержит контакты 1 для подключения контролируемого светодиода, источник 2 постоянного начального тока Iнач, генератор греющих импульсов тока 3, устройство управления 4, управляемые аналого-цифровые преобразователи 5 и 6, измеритель оптической мощности 7 с цифровым выходом и вычислитель 8.
Устройство работает следующим образом. После установки светодиода в контактную колодку 1 напротив входного отверстия измерителя оптической мощности 7 через него пропускают постоянный начальный ток Iнач от источника 2. Генератор импульсов 3 по сигналу устройства управления 4 начинает вырабатывать последовательность греющих импульсов тока заданной амплитуды Im и постоянной частоты fсл (фиг.2а), которые подаются в контролируемый светодиод. Моменты времени tk=kTсл начала k-го импульса и его длительность τuku0(1+acosΩtk) определяются управляющими импульсами UУ1 (фиг.2б) и UУ2 (фиг.2в) устройства управления. Через некоторое время, превышающее три постоянных времени переход-корпус светодиода, в светодиоде установится регулярный режим и температура p-n перехода светодиода будет пульсировать относительно некоторого квазистационарного значения T ˜ n ( t )
Figure 00000008
(фиг.2г), изменяющегося по гармоническому закону. Изменения прямого напряжения Um(t) светодиода показаны на (фиг.2д). Прямое напряжение светодиода подается на входы аналого-цифровых преобразователей 5 и 6. АЦП 5 преобразует в цифровой код прямое напряжение светодиода Um(t) во время протекания греющих импульсов тока в моменты времени t k i m 1 = t k + Δ t o m 1
Figure 00000009
, определяемые управляющими импульсами U-У3 (фиг.2е) устройства управления 4, где ΔTtom1, некоторое фиксированное время задержки запуска первого АЦП. Цифровые отсчеты прямого напряжения светодиода Um(k) передаются в оперативную память вычислителя 8, где формируется массив значений прямого напряжения диода {Um(k)}. Второй АЦП 6 преобразует в цифровой код температурочувствительный параметр - прямое напряжение светодиода U m Т П
Figure 00000010
во время паузы между греющими импульсами тока при протекании начального тока Iнач в моменты времени t k o m 1 = t k + τ u k + Δ t o m 2
Figure 00000011
, определяемые управляющими импульсами UУ4 (фиг.2ж) устройства управления, где Δtom2 - некоторое фиксированное время задержки запуска второго АЦП. Цифровые отсчеты U m Т П ( k )
Figure 00000012
передаются в оперативную память вычислителя 8, где формируется массив значений температурочувствительного параметра { U m Т П ( k ) }
Figure 00000013
. Значение W ¯ о п т
Figure 00000014
средней оптической мощности (фиг.2з) с выхода измерителя оптической мощности 7 по сигналу устройства управления передается в вычислитель 8 за несколько тактов до окончания измерения.
Вычислитель 8 вычисляет значения импульсной мощности для каждого k-го греющего импульса тока путем умножения Um(t) на значение амплитуды греющих импульсов тока Im:Pm(k)=Im·Um(k) и формирует массив значений импульсной мощности {(Pm(k)}. По массивам данных {Pm(k} и U m Т П ( k )
Figure 00000015
методом дискретного преобразования Фурье вычислитель 8 определяет амплитуду и фазу гармоник греющей мощности Pm1 и φP температурочувствительного параметра U m 1 Т П
Figure 00000016
и φT далее вычисляет модуль и фазу теплового импеданса полупроводникового диода по формулам:
| Z T ( Ω ) | = U ˜ m l Т П ( Ω ) K T ( P m l ( Ω ) a W ¯ о п т ) ; ( 4 а )
Figure 00000017
ϕ = ϕ T ϕ P . ( 4 б )
Figure 00000018
Для повышения точности преобразование измеряемых величин осуществляется в течение нескольких (3-5) периодов модуляции греющей мощности и получают N=(3÷5)ТМ/Tсл цифровых отсчетов измеряемых величин.

Claims (1)

  1. Способ измерения теплового импеданса переход-корпус светодиодов, состоящий в том, что через светодиод пропускают последовательность импульсов греющего тока постоянной амплитуды, широтно-импульсно модулированную по гармоническому закону с глубиной модуляции а, в промежутках между импульсами греющего тока через светодиод пропускают начальный ток, по результатам измерения напряжения на светодиоде во время действия импульсов греющего тока и в промежутках между ними определяют амплитуду первой гармоники мощности Pml(Ω), потребляемой светодиодом, и амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра
    Figure 00000019
    с известным отрицательным температурным коэффициентом КТ - прямого напряжения на p-n переходе светодиода при протекании через него начального тока и сдвиг фазы между ними φ(Ω) на частоте модуляции греющей мощности, измеряют среднюю за время разогрева мощность
    Figure 00000020
    оптического излучения светодиода и модуль теплового импеданса находят по формуле
    Figure 00000021

    а фаза φTM) теплового импеданса светодиода равна сдвинутой на 180° разности фаз между первой гармоникой температурочувствительного параметра и первой гармоникой мощности.
RU2013101864/28A 2013-01-15 2013-01-15 Способ измерения теплового импеданса светодиодов RU2556315C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013101864/28A RU2556315C2 (ru) 2013-01-15 2013-01-15 Способ измерения теплового импеданса светодиодов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013101864/28A RU2556315C2 (ru) 2013-01-15 2013-01-15 Способ измерения теплового импеданса светодиодов

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2013101864A RU2013101864A (ru) 2014-07-20
RU2556315C2 true RU2556315C2 (ru) 2015-07-10

Family

ID=51215403

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013101864/28A RU2556315C2 (ru) 2013-01-15 2013-01-15 Способ измерения теплового импеданса светодиодов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2556315C2 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2624406C1 (ru) * 2016-03-29 2017-07-03 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук Способ измерения теплового импеданса светодиодов
RU2772930C1 (ru) * 2021-08-06 2022-05-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус светодиода

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3253221A (en) * 1962-02-07 1966-05-24 Rca Corp Method of measuring the thermal resistance of a semiconductor device by providing a stabilized temperature difference between the case and a pn junction therein and thereafter obtaining measurements of a temperature sensitive parameter
EP0558429A1 (fr) * 1992-02-26 1993-09-01 PECHINEY RECHERCHE (Groupement d'Intérêt Economique géré par l'ordonnance no. 67-821 du 23 Septembre 1967) Méthode de mesure simultanée de la résistivité électrique et de la conductivité thermique
RU2178893C1 (ru) * 2001-03-13 2002-01-27 Ульяновский государственный технический университет Способ определения теплового сопротивления переход-корпус полупроводниковых диодов
RU2300115C1 (ru) * 2006-02-02 2007-05-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мордовский государственный университет им. Н.П. Огарева" Способ определения теплового сопротивления переход - корпус силовых полупроводниковых приборов в корпусном исполнении
RU2402783C1 (ru) * 2009-08-04 2010-10-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3253221A (en) * 1962-02-07 1966-05-24 Rca Corp Method of measuring the thermal resistance of a semiconductor device by providing a stabilized temperature difference between the case and a pn junction therein and thereafter obtaining measurements of a temperature sensitive parameter
EP0558429A1 (fr) * 1992-02-26 1993-09-01 PECHINEY RECHERCHE (Groupement d'Intérêt Economique géré par l'ordonnance no. 67-821 du 23 Septembre 1967) Méthode de mesure simultanée de la résistivité électrique et de la conductivité thermique
RU2178893C1 (ru) * 2001-03-13 2002-01-27 Ульяновский государственный технический университет Способ определения теплового сопротивления переход-корпус полупроводниковых диодов
RU2300115C1 (ru) * 2006-02-02 2007-05-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мордовский государственный университет им. Н.П. Огарева" Способ определения теплового сопротивления переход - корпус силовых полупроводниковых приборов в корпусном исполнении
RU2402783C1 (ru) * 2009-08-04 2010-10-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2624406C1 (ru) * 2016-03-29 2017-07-03 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук Способ измерения теплового импеданса светодиодов
RU2772930C1 (ru) * 2021-08-06 2022-05-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус светодиода

Also Published As

Publication number Publication date
RU2013101864A (ru) 2014-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2402783C1 (ru) Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов
CN104020405A (zh) 一种脉冲式功率型led电压-电流-结温特性测试装置
RU2516609C2 (ru) Способ определения теплового сопротивления переход-корпус транзисторов с полевым управлением
RU2724148C1 (ru) Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус силовых полупроводниковых приборов
Davidson et al. Measurement and characterization technique for real-time die temperature prediction of MOSFET-based power electronics
RU2556315C2 (ru) Способ измерения теплового импеданса светодиодов
RU2463618C1 (ru) Способ определения теплового импеданса кмоп цифровых интегральных микросхем
RU2624406C1 (ru) Способ измерения теплового импеданса светодиодов
RU2529761C1 (ru) Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус полупроводникового прибора и устройство для его осуществления
RU2523731C1 (ru) Способ и устройство для измерения переходных тепловых характеристик светоизлучающих диодов
RU2613481C1 (ru) Способ измерения переходной тепловой характеристики цифровых интегральных схем
RU2507526C1 (ru) Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов с использованием полигармонической модуляции греющей мощности
CN110446910A (zh) 多晶片温度控制装置及用于控制多晶片功率模块的温度的方法
RU2504793C1 (ru) Способ определения теплового импеданса цифровых кмоп интегральных микросхем
CN104076265A (zh) 一种快速测量半导体器件电学参数温度变化系数的方法和装置
Jayawardena et al. Methods for estimating junction temperature of AC LEDs
RU2639989C2 (ru) Способ измерения переходной тепловой характеристики полупроводниковых изделий
RU2178893C1 (ru) Способ определения теплового сопротивления переход-корпус полупроводниковых диодов
RU126145U1 (ru) Измеритель заряда восстановления
RU2327177C1 (ru) Способ определения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем
RU2548925C1 (ru) Способ измерения последовательного сопротивления базы полупроводникового диода
RU2685769C1 (ru) Способ определения переходного теплового сопротивления кристалл-корпус и теплового сопротивления кристалл-корпус в состоянии теплового равновесия транзисторов с полевым управлением
RU2697028C2 (ru) Способ измерения переходной тепловой характеристики цифровых интегральных схем
RU2565859C1 (ru) Способ измерения теплового сопротивления компонентов наноэлектроники с использованием широтно-импульсной модуляции греющей мощности
RU2545322C1 (ru) Устройство для измерения температуры

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20170116