RU2556315C2 - Способ измерения теплового импеданса светодиодов - Google Patents
Способ измерения теплового импеданса светодиодов Download PDFInfo
- Publication number
- RU2556315C2 RU2556315C2 RU2013101864/28A RU2013101864A RU2556315C2 RU 2556315 C2 RU2556315 C2 RU 2556315C2 RU 2013101864/28 A RU2013101864/28 A RU 2013101864/28A RU 2013101864 A RU2013101864 A RU 2013101864A RU 2556315 C2 RU2556315 C2 RU 2556315C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- heating
- led
- pulses
- thermal impedance
- light diode
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Изобретение относится к технике измерения теплофизических параметров полупроводниковых изделий и может быть использовано на выходном и входном контроле качества изготовления светодиодов. Способ состоит в том, что через светодиод пропускают последовательность импульсов греющего тока постоянной амплитуды, широтно-импульсно модулированную по гармоническому закону с глубиной модуляции а, в промежутках между импульсами греющего тока через светодиод пропускают начальный ток, по результатам измерения напряжения на светодиоде во время действия импульсов греющего тока и в промежутках между ними определяют амплитуду первой гармоники мощности Pm1(Ω), потребляемой светодиодом, и амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра с известным отрицательным температурным коэффициентом КТ - прямого напряжения на p-n переходе светодиода при протекании через него начального тока и сдвиг фазы между ними φ(Ω) на частоте модуляции греющей мощности, измеряют среднюю за время разогрева мощность оптического излучения светодиода и модуль теплового импеданса находят по формуле а фаза φT(ΩM) теплового импеданса светодиода равна сдвинутой на 180° разности фаз между первой гармоникой температурочувствительного параметра и первой гармоникой мощности. Технический результат заключается в повышении точности измерения модуля теплового импеданса светодиодов. 2 ил.
Description
Изобретение относится к технике измерения теплофизических параметров полупроводниковых изделий и может быть использовано на выходном и входном контроле качества изготовления светодиодов.
Известен способ измерения теплового сопротивления полупроводниковых диодов, заключающийся в том, что на контролируемый диод подают импульсы греющей мощности фиксированной длительности и амплитуды, а в промежутках между импульсами измеряют изменение температурочувствительного параметра, например прямого напряжения UТЧП диода при пропускании через него малого измерительного тока (ГОСТ 19656, 18-84. Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления).
Недостатком способа является низкая точность, обусловленная большой погрешностью измерения импульсного напряжения UТЧП(t) из-за влияния переходных тепловых и электрических процессов при переключении полупроводникового диода из режима разогрева в режим измерения (Викулин И.М., Стафеев В.И. Физика полупроводниковых приборов. - М.: Сов. радио, 1980. С.51).
Наиболее близким по технической сущности к заявленному изобретению (прототипом) является способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов (см. Патент №2402783 РФ. Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов, Б.И. №30, 2010 г.), состоящий в том, что через диод в прямом направлении пропускают последовательность импульсов греющего тока, длительность τи которых изменяется по гармоническому закону
где τ0 - средняя длительность импульсов; a - коэффициент модуляции; Ω - частота модуляции, а в промежутках между импульсами греющего тока через диод пропускают малый прямой ток. Период следования Tсл и амплитуду Iгр импульсов греющего тока поддерживают постоянными, по результатам измерения напряжения на диоде во время действия импульсов греющего тока и в промежутках между ними определяют амплитуду первой гармоники греющей мощности Pm1(Ω) и амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра
- прямого напряжения на p-n переходе при протекании через него начального тока и сдвиг фазы между ними φ(Ω) на частоте модуляции греющей мощности, и по измеренным значениям определяют тепловой импеданс полупроводникового диода на частоте модуляции греющей мощности по формуле:
KT - температурный коэффициент прямого напряжения диода при протекании через него постоянного начального тока, φ(Ω) - фаза теплового импеданса, равная сдвигу фаз между температурой и греющей мощностью.
Недостатком прототипа является то, что при его применении для измерения теплового импеданса светодиодов появляется значительная погрешность, обусловленная тем, что часть электрической мощности, потребляемой светодиодом, излучается во внешнюю среду в виде оптического излучения, в результате на нагрев светодиода идет не вся электрическая мощность. Таким образом, известный способ дает существенно заниженные значения модуля теплового импеданса. У современных светодиодов внешний квантовый выход может достигать десятков процентов, при этом конкретное значение квантовой эффективности имеет значительный разброс от образца к образцу.
Технический результат - повышение точности измерения модуля теплового импеданса светодиодов.
Технический результат достигается тем, что через светодиод пропускают последовательность импульсов греющего тока Iгр, в промежутках между импульсами греющего тока через диод пропускают малый постоянный начальный ток, по результатам измерения напряжения на диоде во время действия импульсов греющего тока и в промежутках между ними определяют амплитуду первой гармоники мощности Pml(Ω), потребляемой светодиодом, и амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра
с известным отрицательным температурным коэффициентом КТ - прямого напряжения на p-n переходе светодиода при протекании через него малого постоянного начального тока и сдвиг фазы между ними φ(Ω) на частоте модуляции греющей мощности, дополнительно измеряют среднюю мощность
оптического излучения светодиода и модуль теплового импеданса находят по формуле
а фаза φT(ΩM) теплового импеданса светодиода будет равна сдвинутой на 180° разности фаз между первой гармоникой температурочувствительного параметра и первой гармоникой мощности.
Повышение точности измерения модуля теплового импеданса светодиода достигается за счет того, что из первой гармоники электрической мощности, потребляемой светодиодом, вычитается первая гармоника мощности Wlonm(Ω) оптического излучения на частоте модуляции, которая при гармоническом законе ШИМ модуляции с глубиной a определяется по формуле
и которая не идет на нагреве структуры СИД, и, таким образом более точно определяется мощность, затрачиваемая на разогрев светодиода.
Предлагаемый вариант способа может быть реализован с помощью устройства, структурная схема которого показана на фиг.1.
Устройство содержит контакты 1 для подключения контролируемого светодиода, источник 2 постоянного начального тока Iнач, генератор греющих импульсов тока 3, устройство управления 4, управляемые аналого-цифровые преобразователи 5 и 6, измеритель оптической мощности 7 с цифровым выходом и вычислитель 8.
Устройство работает следующим образом. После установки светодиода в контактную колодку 1 напротив входного отверстия измерителя оптической мощности 7 через него пропускают постоянный начальный ток Iнач от источника 2. Генератор импульсов 3 по сигналу устройства управления 4 начинает вырабатывать последовательность греющих импульсов тока заданной амплитуды Im и постоянной частоты fсл (фиг.2а), которые подаются в контролируемый светодиод. Моменты времени tk=kTсл начала k-го импульса и его длительность τuk-τu0(1+acosΩtk) определяются управляющими импульсами UУ1 (фиг.2б) и UУ2 (фиг.2в) устройства управления. Через некоторое время, превышающее три постоянных времени переход-корпус светодиода, в светодиоде установится регулярный режим и температура p-n перехода светодиода будет пульсировать относительно некоторого квазистационарного значения
(фиг.2г), изменяющегося по гармоническому закону. Изменения прямого напряжения Um(t) светодиода показаны на (фиг.2д). Прямое напряжение светодиода подается на входы аналого-цифровых преобразователей 5 и 6. АЦП 5 преобразует в цифровой код прямое напряжение светодиода Um(t) во время протекания греющих импульсов тока в моменты времени
, определяемые управляющими импульсами U-У3 (фиг.2е) устройства управления 4, где ΔTtom1, некоторое фиксированное время задержки запуска первого АЦП. Цифровые отсчеты прямого напряжения светодиода Um(k) передаются в оперативную память вычислителя 8, где формируется массив значений прямого напряжения диода {Um(k)}. Второй АЦП 6 преобразует в цифровой код температурочувствительный параметр - прямое напряжение светодиода
во время паузы между греющими импульсами тока при протекании начального тока Iнач в моменты времени
, определяемые управляющими импульсами UУ4 (фиг.2ж) устройства управления, где Δtom2 - некоторое фиксированное время задержки запуска второго АЦП. Цифровые отсчеты
передаются в оперативную память вычислителя 8, где формируется массив значений температурочувствительного параметра
. Значение
средней оптической мощности (фиг.2з) с выхода измерителя оптической мощности 7 по сигналу устройства управления передается в вычислитель 8 за несколько тактов до окончания измерения.
Вычислитель 8 вычисляет значения импульсной мощности для каждого k-го греющего импульса тока путем умножения Um(t) на значение амплитуды греющих импульсов тока Im:Pm(k)=Im·Um(k) и формирует массив значений импульсной мощности {(Pm(k)}. По массивам данных {Pm(k} и
методом дискретного преобразования Фурье вычислитель 8 определяет амплитуду и фазу гармоник греющей мощности Pm1 и φP температурочувствительного параметра
и φT далее вычисляет модуль и фазу теплового импеданса полупроводникового диода по формулам:
Для повышения точности преобразование измеряемых величин осуществляется в течение нескольких (3-5) периодов модуляции греющей мощности и получают N=(3÷5)ТМ/Tсл цифровых отсчетов измеряемых величин.
Claims (1)
- Способ измерения теплового импеданса переход-корпус светодиодов, состоящий в том, что через светодиод пропускают последовательность импульсов греющего тока постоянной амплитуды, широтно-импульсно модулированную по гармоническому закону с глубиной модуляции а, в промежутках между импульсами греющего тока через светодиод пропускают начальный ток, по результатам измерения напряжения на светодиоде во время действия импульсов греющего тока и в промежутках между ними определяют амплитуду первой гармоники мощности Pml(Ω), потребляемой светодиодом, и амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра с известным отрицательным температурным коэффициентом КТ - прямого напряжения на p-n переходе светодиода при протекании через него начального тока и сдвиг фазы между ними φ(Ω) на частоте модуляции греющей мощности, измеряют среднюю за время разогрева мощность оптического излучения светодиода и модуль теплового импеданса находят по формуле
а фаза φT(ΩM) теплового импеданса светодиода равна сдвинутой на 180° разности фаз между первой гармоникой температурочувствительного параметра и первой гармоникой мощности.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2013101864/28A RU2556315C2 (ru) | 2013-01-15 | 2013-01-15 | Способ измерения теплового импеданса светодиодов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2013101864/28A RU2556315C2 (ru) | 2013-01-15 | 2013-01-15 | Способ измерения теплового импеданса светодиодов |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2013101864A RU2013101864A (ru) | 2014-07-20 |
RU2556315C2 true RU2556315C2 (ru) | 2015-07-10 |
Family
ID=51215403
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2013101864/28A RU2556315C2 (ru) | 2013-01-15 | 2013-01-15 | Способ измерения теплового импеданса светодиодов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2556315C2 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2624406C1 (ru) * | 2016-03-29 | 2017-07-03 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук | Способ измерения теплового импеданса светодиодов |
RU2772930C1 (ru) * | 2021-08-06 | 2022-05-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук | Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус светодиода |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3253221A (en) * | 1962-02-07 | 1966-05-24 | Rca Corp | Method of measuring the thermal resistance of a semiconductor device by providing a stabilized temperature difference between the case and a pn junction therein and thereafter obtaining measurements of a temperature sensitive parameter |
EP0558429A1 (fr) * | 1992-02-26 | 1993-09-01 | PECHINEY RECHERCHE (Groupement d'Intérêt Economique géré par l'ordonnance no. 67-821 du 23 Septembre 1967) | Méthode de mesure simultanée de la résistivité électrique et de la conductivité thermique |
RU2178893C1 (ru) * | 2001-03-13 | 2002-01-27 | Ульяновский государственный технический университет | Способ определения теплового сопротивления переход-корпус полупроводниковых диодов |
RU2300115C1 (ru) * | 2006-02-02 | 2007-05-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мордовский государственный университет им. Н.П. Огарева" | Способ определения теплового сопротивления переход - корпус силовых полупроводниковых приборов в корпусном исполнении |
RU2402783C1 (ru) * | 2009-08-04 | 2010-10-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" | Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов |
-
2013
- 2013-01-15 RU RU2013101864/28A patent/RU2556315C2/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3253221A (en) * | 1962-02-07 | 1966-05-24 | Rca Corp | Method of measuring the thermal resistance of a semiconductor device by providing a stabilized temperature difference between the case and a pn junction therein and thereafter obtaining measurements of a temperature sensitive parameter |
EP0558429A1 (fr) * | 1992-02-26 | 1993-09-01 | PECHINEY RECHERCHE (Groupement d'Intérêt Economique géré par l'ordonnance no. 67-821 du 23 Septembre 1967) | Méthode de mesure simultanée de la résistivité électrique et de la conductivité thermique |
RU2178893C1 (ru) * | 2001-03-13 | 2002-01-27 | Ульяновский государственный технический университет | Способ определения теплового сопротивления переход-корпус полупроводниковых диодов |
RU2300115C1 (ru) * | 2006-02-02 | 2007-05-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Мордовский государственный университет им. Н.П. Огарева" | Способ определения теплового сопротивления переход - корпус силовых полупроводниковых приборов в корпусном исполнении |
RU2402783C1 (ru) * | 2009-08-04 | 2010-10-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ульяновский государственный технический университет" | Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2624406C1 (ru) * | 2016-03-29 | 2017-07-03 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук | Способ измерения теплового импеданса светодиодов |
RU2772930C1 (ru) * | 2021-08-06 | 2022-05-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук | Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус светодиода |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2013101864A (ru) | 2014-07-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2402783C1 (ru) | Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов | |
CN104020405A (zh) | 一种脉冲式功率型led电压-电流-结温特性测试装置 | |
RU2516609C2 (ru) | Способ определения теплового сопротивления переход-корпус транзисторов с полевым управлением | |
RU2724148C1 (ru) | Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус силовых полупроводниковых приборов | |
Davidson et al. | Measurement and characterization technique for real-time die temperature prediction of MOSFET-based power electronics | |
RU2556315C2 (ru) | Способ измерения теплового импеданса светодиодов | |
RU2463618C1 (ru) | Способ определения теплового импеданса кмоп цифровых интегральных микросхем | |
RU2624406C1 (ru) | Способ измерения теплового импеданса светодиодов | |
RU2529761C1 (ru) | Способ измерения теплового сопротивления переход-корпус полупроводникового прибора и устройство для его осуществления | |
RU2523731C1 (ru) | Способ и устройство для измерения переходных тепловых характеристик светоизлучающих диодов | |
RU2613481C1 (ru) | Способ измерения переходной тепловой характеристики цифровых интегральных схем | |
RU2507526C1 (ru) | Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов с использованием полигармонической модуляции греющей мощности | |
CN110446910A (zh) | 多晶片温度控制装置及用于控制多晶片功率模块的温度的方法 | |
RU2504793C1 (ru) | Способ определения теплового импеданса цифровых кмоп интегральных микросхем | |
CN104076265A (zh) | 一种快速测量半导体器件电学参数温度变化系数的方法和装置 | |
Jayawardena et al. | Methods for estimating junction temperature of AC LEDs | |
RU2639989C2 (ru) | Способ измерения переходной тепловой характеристики полупроводниковых изделий | |
RU2178893C1 (ru) | Способ определения теплового сопротивления переход-корпус полупроводниковых диодов | |
RU126145U1 (ru) | Измеритель заряда восстановления | |
RU2327177C1 (ru) | Способ определения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем | |
RU2548925C1 (ru) | Способ измерения последовательного сопротивления базы полупроводникового диода | |
RU2685769C1 (ru) | Способ определения переходного теплового сопротивления кристалл-корпус и теплового сопротивления кристалл-корпус в состоянии теплового равновесия транзисторов с полевым управлением | |
RU2697028C2 (ru) | Способ измерения переходной тепловой характеристики цифровых интегральных схем | |
RU2565859C1 (ru) | Способ измерения теплового сопротивления компонентов наноэлектроники с использованием широтно-импульсной модуляции греющей мощности | |
RU2545322C1 (ru) | Устройство для измерения температуры |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20170116 |