RU220896U1 - Device for measuring resistor characteristics - Google Patents
Device for measuring resistor characteristics Download PDFInfo
- Publication number
- RU220896U1 RU220896U1 RU2023100657U RU2023100657U RU220896U1 RU 220896 U1 RU220896 U1 RU 220896U1 RU 2023100657 U RU2023100657 U RU 2023100657U RU 2023100657 U RU2023100657 U RU 2023100657U RU 220896 U1 RU220896 U1 RU 220896U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- resistor
- conductor
- lead conductor
- width
- parameters
- Prior art date
Links
Abstract
Полезная модель относится к радиоэлектронной технике и может быть использована при разработке устройств СВЧ-электроники. Устройство включает диэлектрическую подложку с ячейкой прямоугольной формы для размещения резистора и два параллельных проводника. Один подводящий проводник состоит из двух частей и обеспечивает контакт выводов резистора с измерительными приборами. Другой, дополнительный, выполнен шириной и длиной, равными ширине и длине подводящего проводника, и предназначен для оценки паразитного влияния подводящего проводника на измеряемые характеристики резистора. Технический результат - повышение точности измерений характеристик резистора путем учета влияния характеристик подводящего проводника на измеряемые параметры резистора. 1 ил. The utility model relates to radio-electronic engineering and can be used in the development of microwave electronics devices. The device includes a dielectric substrate with a rectangular cell to accommodate a resistor and two parallel conductors. One lead conductor consists of two parts and ensures contact of the resistor terminals with the measuring instruments. The other, additional, is made with a width and length equal to the width and length of the lead conductor, and is intended to evaluate the parasitic effect of the lead conductor on the measured characteristics of the resistor. The technical result is to increase the accuracy of measurements of resistor characteristics by taking into account the influence of the characteristics of the supply conductor on the measured parameters of the resistor. 1 ill.
Description
Полезная модель относится к радиоэлектронной технике и может быть использована при разработке устройств СВЧ-электроники.The utility model relates to radio-electronic engineering and can be used in the development of microwave electronics devices.
Резисторы в виду несовершенства производственного процесса имеют помимо основных паразитные характеристики, величина которых зависит от частоты. Например, паразитная индуктивность выводов резистора.Resistors, due to imperfections in the production process, have, in addition to the main ones, parasitic characteristics, the magnitude of which depends on the frequency. For example, the parasitic inductance of the resistor terminals.
Известна плата для контроля пленочных резисторов, содержащая диэлектрическую подложку с пленочными резистивными элементами прямоугольной формы, контактные площадки и проводник, контактирующий с резистивными элементами, выполненными в виде ячеек (описание к SU 1 686 961 А1, МПК H01C 7/00 (1995.01), заявка: 4470107/21, 08.08.1988, опубликовано 20.02.1995).A known board for monitoring film resistors contains a dielectric substrate with rectangular film resistive elements, contact pads and a conductor in contact with resistive elements made in the form of cells (description to SU 1 686 961 A1, IPC H01C 7/00 (1995.01), application : 4470107/21, 08/08/1988, published 02/20/1995).
Известная конструкция платы позволяет проводить контроль однородности и точности напыления пленочного резистора путем измерения потерь СВЧ-сигнала, рассеиваемого резистивными ячейками. По величине отклонения измеренного значения от расчетного оценивается неоднородность пленочного резистора на поле платы и величина удельного поверхностного сопротивления и потери рассеиваемого СВЧ-сигнала. Сравнение измеренного значения с расчетным не обеспечивает точность измерений. Кроме того, известное устройство не позволяет производить измерение характеристик резистора, не имеющего разъемов для подключения к измерительному устройству.The known design of the board makes it possible to control the uniformity and accuracy of deposition of a film resistor by measuring the losses of the microwave signal scattered by resistive cells. Based on the deviation of the measured value from the calculated value, the inhomogeneity of the film resistor on the board field and the value of the specific surface resistance and loss of the scattered microwave signal are estimated. Comparing the measured value with the calculated value does not ensure the accuracy of the measurements. In addition, the known device does not allow measuring the characteristics of a resistor that does not have connectors for connection to a measuring device.
Задача полезной модели - создание устройства для измерения параметров рассеивания (S-параметров) резистора, не имеющего разъемов для подключения к измерительному прибору.The purpose of the utility model is to create a device for measuring the dissipation parameters (S-parameters) of a resistor that does not have connectors for connecting to a measuring device.
Технический результат - повышение точности измерений характеристик резистора.The technical result is to increase the accuracy of measurements of resistor characteristics.
Технический результат достигается тем, что в устройстве для измерения параметров рассеивания (S-параметров) резистора, не имеющего разъемов для подключения к измерительному прибору, включающем диэлектрическую подложку, на фронтальной поверхности которой размещена плата с углублением в виде прямоугольной ячейки, соответствующей форме и размерам резистора, которая обеспечивает контакт выводов резистора с подводящим проводником, на подложке установлен дополнительный проводник, расположенный параллельно подводящему проводнику, ширина и длина которого равна ширине и длине двух частей подводящего проводника контактирующего с резистором, при этом оба проводника снабжены одинаковыми коаксиальными разъемами с возможностью подключения к векторному анализатору цепей.The technical result is achieved by the fact that in the device for measuring the dissipation parameters (S-parameters) of a resistor that does not have connectors for connection to a measuring device, including a dielectric substrate, on the front surface of which there is a board with a recess in the form of a rectangular cell corresponding to the shape and dimensions of the resistor , which ensures contact of the resistor terminals with the supply conductor, an additional conductor is installed on the substrate, located parallel to the supply conductor, the width and length of which is equal to the width and length of the two parts of the supply conductor in contact with the resistor, while both conductors are equipped with the same coaxial connectors with the ability to connect to the vector network analyzer.
На фиг. 1 изображена - 3D-модель устройства для измерения характеристик резистора; In fig. 1 shows a 3D model of a device for measuring resistor characteristics;
на фиг. 2 - 3D-модель измеряемого резистора; in fig. 2 - 3D model of the measured resistor;
на фиг. 3 - 3D-модель устройства с установленным в нее резистором.in fig. 3 - 3D model of the device with a resistor installed in it.
Устройство для измерения характеристик резистора включает твердую прямоугольную пластину 1, на фронтальной поверхности которой размещена плата 2, выполнено углубление в виде прямоугольной ячейки 3, соответствующей форме и размерам резистора, и два параллельных проводника 4, 5, обеспечивающие через разъемы 6 и коаксиальные кабели подключение устройства к векторному анализатору цепей (не показаны). Коаксиальные разъемы 6 все одинаковые. Подводящий проводник 4 состоит из двух частей, обеспечивающих контакт с выводами резистора.The device for measuring the characteristics of a resistor includes a solid rectangular plate 1, on the front surface of which a board 2 is placed, a recess is made in the form of a rectangular cell 3 corresponding to the shape and size of the resistor, and two parallel conductors 4, 5, providing connection of the device through connectors 6 and coaxial cables to a vector network analyzer (not shown). The coaxial connectors 6 are all the same. Lead conductor 4 consists of two parts that provide contact with the resistor terminals.
Для измерения характеристик резистор (фиг. 2) устанавливают в ячейку 3, располагая его выводы 7 на частях подводящего проводника 4.To measure the characteristics, a resistor (Fig. 2) is installed in cell 3, placing its terminals 7 on parts of the supply conductor 4.
Устройство подключают при помощи коаксиальных кабелей к векторному анализатору цепей, оператором производятся соответствующие настройки на анализаторе, затем осуществляется экспорт S-параметров в один из распространенных форматов, использующихся при моделировании.The device is connected using coaxial cables to a vector network analyzer, the operator makes the appropriate settings on the analyzer, and then the S-parameters are exported to one of the common formats used in modeling.
Подводящий проводник 4 и коаксиальные разъемы 6 оказывают паразитное влияние на характеристики резистора в процессе измерения и влияют на точность измерений.Lead conductor 4 and coaxial connectors 6 have a parasitic effect on the characteristics of the resistor during the measurement process and affect the accuracy of measurements.
Для оценки их паразитного влияния на результат измерения осуществляется измерение S-параметров второго проводника 5. Проводник 5 конструктивно выполнен аналогично проводнику 4, т.е. так, что его ширина равна ширине проводника 4, а длина равна сумме длин его двух частей. После измерения имеем S-параметры (№1) проводника 4 с резистором и S-параметры (№2) проводника 5. При помощи математического аппарата (Mathlab) производим вычитание параметров №2 из параметров №1 и получаем S-параметры резистора без погрешностей, вызванных паразитным влиянием подводящего проводника и разъемов.To assess their parasitic influence on the measurement result, the S-parameters of the second conductor 5 are measured. Conductor 5 is structurally similar to conductor 4, i.e. so that its width is equal to the width of conductor 4, and its length is equal to the sum of the lengths of its two parts. After the measurement, we have the S-parameters (No. 1) of conductor 4 with a resistor and the S-parameters (No. 2) of conductor 5. Using a mathematical tool (Mathlab), we subtract parameters No. 2 from parameters No. 1 and obtain the S-parameters of the resistor without errors, caused by the parasitic influence of the supply conductor and connectors.
Таким образом, заявленное устройство позволяет повысить точность измерения характеристик резистора за счет учета погрешности в измерениях из-за паразитного влияния проводников и разъемов в цепи на результат измерений.Thus, the claimed device makes it possible to increase the accuracy of measuring resistor characteristics by taking into account the measurement error due to the parasitic influence of conductors and connectors in the circuit on the measurement result.
Claims (1)
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU220896U1 true RU220896U1 (en) | 2023-10-10 |
Family
ID=
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1686961A1 (en) * | 1988-08-08 | 1995-02-20 | А.И. Хренова | Test plate for measuring value of evaporated resistors |
| RU2548064C1 (en) * | 2014-01-27 | 2015-04-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева", НГТУ | Method to measure dielectric permeability of materials and device for its realisation |
| CN105510648A (en) * | 2016-01-14 | 2016-04-20 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | High-isolation microwave test fixture for ultrahigh-power GaN microwave devices |
| CN106383251A (en) * | 2016-11-30 | 2017-02-08 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | Broadband big power test clamp |
| RU178673U1 (en) * | 2017-07-17 | 2018-04-17 | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "Брянский государственный технический университет" | Diode Capacitance Measurement Device |
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1686961A1 (en) * | 1988-08-08 | 1995-02-20 | А.И. Хренова | Test plate for measuring value of evaporated resistors |
| RU2548064C1 (en) * | 2014-01-27 | 2015-04-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Нижегородский государственный технический университет им. Р.Е. Алексеева", НГТУ | Method to measure dielectric permeability of materials and device for its realisation |
| CN105510648A (en) * | 2016-01-14 | 2016-04-20 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | High-isolation microwave test fixture for ultrahigh-power GaN microwave devices |
| CN106383251A (en) * | 2016-11-30 | 2017-02-08 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | Broadband big power test clamp |
| RU178673U1 (en) * | 2017-07-17 | 2018-04-17 | ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "Брянский государственный технический университет" | Diode Capacitance Measurement Device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6472885B1 (en) | Method and apparatus for measuring and characterizing the frequency dependent electrical properties of dielectric materials | |
| US7865319B1 (en) | Fixture de-embedding method and system for removing test fixture characteristics when calibrating measurement systems | |
| US7532014B2 (en) | LRL vector calibration to the end of the probe needles for non-standard probe cards for ATE RF testers | |
| CN109239480B (en) | Transmission line, scattering parameter testing system and method | |
| CN112684253A (en) | Non-contact load impedance test system and working method thereof | |
| CN103809100B (en) | Wafer Auto-Test System | |
| CN107345986A (en) | A kind of impedance detecting method of De- embedding mode | |
| Hsu et al. | Delta-L methodology for efficient PCB trace loss characterization | |
| US7375534B2 (en) | Method and apparatus for measuring high-frequency electrical characteristics of electronic device, and method for calibrating apparatus for measuring high-frequency electrical characteristics | |
| US7643957B2 (en) | Bisect de-embedding for network analyzer measurement | |
| CN109633273B (en) | Open-hole load impedance test system and method | |
| RU220896U1 (en) | Device for measuring resistor characteristics | |
| WO2023092921A1 (en) | Apparatus and method for measuring performance of finished product of aircraft wiring harness on the basis of de-embedding technology | |
| CN111781479B (en) | On-wafer calibration piece model establishing method | |
| WO2017049903A1 (en) | Transistor simulation system and method | |
| US3212000A (en) | Methods of determining semiconductor thickness and resistivity by loss in a transmission line | |
| CN108333416B (en) | Device for precisely measuring high-frequency micro-current | |
| TWI495882B (en) | Method for measuring pcb radiated emission | |
| JP3912428B2 (en) | Method and apparatus for measuring high-frequency electrical characteristics of electronic components, and calibration method for high-frequency electrical characteristics measuring apparatus | |
| KR101897522B1 (en) | Internal Resistance Measuring Device | |
| Galatro et al. | Towards commercially available quartz calibration substrates | |
| Chou | The reference impedance in 2X-thru calibration, and its estimation for high conductor-loss transmission lines | |
| Degraeuwe et al. | Measurement set-up for high-frequency characterization of planar contact devices | |
| TWI499781B (en) | A probe module | |
| TWI805069B (en) | High-frequency component test device and method thereof |