RU178673U1 - Diode Capacitance Measurement Device - Google Patents

Diode Capacitance Measurement Device Download PDF

Info

Publication number
RU178673U1
RU178673U1 RU2017125581U RU2017125581U RU178673U1 RU 178673 U1 RU178673 U1 RU 178673U1 RU 2017125581 U RU2017125581 U RU 2017125581U RU 2017125581 U RU2017125581 U RU 2017125581U RU 178673 U1 RU178673 U1 RU 178673U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
capacitance
cable
source
diode
capacitor
Prior art date
Application number
RU2017125581U
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Виталий Федорович Зотин
Алексей Николаевич Школин
Александр Юрьевич Дракин
Original Assignee
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "Брянский государственный технический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "Брянский государственный технический университет" filed Critical ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "Брянский государственный технический университет"
Priority to RU2017125581U priority Critical patent/RU178673U1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU178673U1 publication Critical patent/RU178673U1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices

Abstract

Полезная модель относится к области электронной техники, в частности к контролю параметров диодов и силовых полупроводниковых модулей, содержащих диоды.Устройство содержит источник постоянного напряжения смещения 1, источник синусоидального напряжения заданной частоты (например, 1 МГц) со стабилизированной амплитудой 2, широкополосный операционный усилитель 3 (например, ОРА656), эталонный конденсатор 4, разделительный конденсатор 5, дроссель 6, резистор 7, отрезки (участки) коаксиального кабеля 8 и 9, измеритель амплитуды выходного напряжения операционного усилителя 10 и испытуемый диод 11.Коаксиальные кабели 8 и 9 обеспечивают заданную дистанцию и защищают измерительную цепь от электромагнитных помех. Дроссель 6 и резистор 7 обеспечивают протекание постоянного тока смещения.Работает устройство следующим образом. Синусоидальное напряжение источника 2 создает ток, проходящий по конденсатору 5 достаточно большой емкости, кабелю 8, испытуемому диоду 11, кабелю 9, конденсатору 4 и усилителю 3. При этом операционный усилитель поддерживает потенциал инвертирующего входа и жилы кабеля 9 близким к нулю, так что емкость кабеля 9 на величину этого тока практически не влияет.Емкость кабеля 8 зашунтирована весьма малым выходным сопротивлением источника 2 и также не влияет на величину тока. Таким образом, амплитуда выходного напряжения усилителя 3 пропорциональна произведению амплитуды напряжения источника 2 и емкости диода и обратно пропорциональна емкости эталонного конденсатора 4.Использование предлагаемого технического решения позволяет добиться высокой точности измерения емкости за счет снижения влияния измерительной линии, соединяющей измеритель с испытуемым диодом. 1 ил.The utility model relates to the field of electronic engineering, in particular, to controlling the parameters of diodes and power semiconductor modules containing diodes. The device contains a constant bias voltage source 1, a sine wave voltage source of a given frequency (for example, 1 MHz) with a stabilized amplitude of 2, a broadband operational amplifier 3 (for example, ОРА656), reference capacitor 4, isolation capacitor 5, inductor 6, resistor 7, pieces (sections) of coaxial cable 8 and 9, output voltage amplitude meter operational amplifier 10 and diode test 11.Koaksialnye cables 8 and 9 provide a predetermined distance and protect the measuring circuit against electromagnetic interference. The inductor 6 and resistor 7 provide a constant current bias. The device operates as follows. The sinusoidal voltage of source 2 creates a current passing through a capacitor 5 of sufficiently large capacity, cable 8, test diode 11, cable 9, capacitor 4, and amplifier 3. In this case, the operational amplifier maintains the potential of the inverting input and core of cable 9 close to zero, so that the capacitance cable 9 practically does not affect the magnitude of this current. The capacitance of cable 8 is shunted by the very low output impedance of source 2 and also does not affect the magnitude of the current. Thus, the amplitude of the output voltage of the amplifier 3 is proportional to the product of the voltage amplitude of the source 2 and the diode capacitance and is inversely proportional to the capacitance of the reference capacitor 4. Using the proposed technical solution allows to achieve high accuracy of measuring capacitance by reducing the influence of the measuring line connecting the meter to the diode under test. 1 ill.

Description

Полезная модель относится к области электронной техники, в частности к контролю параметров диодов и силовых полупроводниковых модулей, содержащих диоды.The utility model relates to the field of electronic engineering, in particular to the control of the parameters of diodes and power semiconductor modules containing diodes.

Известна схема измерения емкости диодов методом емкостно-омического делителя (ГОСТ 18986.4-73), которая содержит источник постоянного напряжения смещения, источник синусоидального напряжения заданной частоты, разделительный конденсатор, испытуемый диод и резистор как активное плечо емкостно-омического делителя.A known scheme for measuring the capacitance of diodes by the method of capacitive-ohmic divider (GOST 18986.4-73), which contains a constant bias voltage source, a sinusoidal voltage source of a given frequency, an isolation capacitor, a diode under test and a resistor as an active arm of the capacitive-ohmic divider.

Недостатком данной схемы по ГОСТ 18986.4-73 является то, что при измерении емкости диодов является значительная погрешность при измерении емкости на дистанции, что требуется, например, при автоматизированном контроле параметров диодов, входящих в состав модулей. На частоте измерения 1 МГц и более получение достоверного результата невозможно из-за влияния емкости присоединительных проводников, электромагнитных помех и др. факторов.The disadvantage of this scheme in accordance with GOST 18986.4-73 is that when measuring the capacitance of diodes there is a significant error in measuring capacitance at a distance, which is required, for example, in the automated control of the parameters of diodes included in the modules. At a measurement frequency of 1 MHz or more, obtaining a reliable result is impossible due to the influence of the capacitance of the connecting conductors, electromagnetic interference, and other factors.

Также известна схема измерения емкости (патент US 5844412A «Board test apparatus and method for fast capacitance measurement)), класс G01R 27/26), которая содержит генератор испытательного напряжения и измеритель операционного усилителя, в цепь обратной связи которого с помощью двух проводников с щупами подключена измеряемая емкость.Also known is a capacitance measuring circuit (patent US 5844412A "Board test apparatus and method for fast capacitance measurement)), class G01R 27/26), which contains a test voltage generator and an operational amplifier meter, in the feedback circuit of which using two conductors with probes connected measured capacitance.

Недостатком данной схемы является то, что при выполнении измерения емкости не учитывается погрешность измерительных проводников и щупов, подключенных к ним.The disadvantage of this scheme is that when performing capacitance measurements, the error of the measuring conductors and probes connected to them is not taken into account.

Задача полезной модели является повышение точности измерения емкости за счет снижения влияния измерительной линии, соединяющей измеритель с испытуемым диодом.The objective of the utility model is to increase the accuracy of measuring capacitance by reducing the influence of the measuring line connecting the meter to the diode under test.

Поставленная задача достигается тем, что устройство измерения емкости диодов содержит источник постоянного напряжения смещения, источник синусоидального напряжения заданной частоты со стабилизированной амплитудой, эталонный и разделительный конденсаторы, дроссель и резистор, отличается тем, что применен широкополосный операционный усилитель, у которого неинвертирующий вход подключен к общему проводу, инвертирующий вход подключен к жиле участка измерительного коаксиального кабеля и поддерживает ее потенциал близким к нулю, в цепи обратной связи включен эталонный конденсатор, а выход операционного усилителя подключен к измерителю амплитуды напряжения, обеспечивающего измерение емкости диодов.This object is achieved in that the device for measuring the capacitance of the diodes contains a source of constant bias voltage, a source of a sinusoidal voltage of a given frequency with a stabilized amplitude, a reference and isolation capacitors, a choke and a resistor, characterized in that a broadband operational amplifier is used, in which the non-inverting input is connected to a common the wire, the inverting input is connected to the core of the measuring coaxial cable section and maintains its potential close to zero in the circuit connection of inverse included reference capacitor, and the output of the operational amplifier is connected to the measuring voltage amplitude provides a measurement of capacitance diodes.

На рисунке представлена схема измерения емкости диода.The figure shows the diode capacitance measurement circuit.

Устройство содержит источник постоянного напряжения смещения 1, источник синусоидального напряжения заданной частоты (например, 1 МГц) со стабилизированной амплитудой 2, широкополосный операционный усилитель 3 (например, ОРА656), эталонный конденсатор 4, разделительный конденсатор 5, дроссель 6, резистор 7, участки коаксиального кабеля 8 и 9, измеритель амплитуды выходного напряжения операционного усилителя 10 и испытуемый диод 11.The device contains a constant bias voltage source 1, a sinusoidal voltage source of a given frequency (for example, 1 MHz) with a stabilized amplitude 2, a broadband operational amplifier 3 (for example, OPA656), a reference capacitor 4, an isolation capacitor 5, a choke 6, a resistor 7, coaxial sections cable 8 and 9, the amplitude meter of the output voltage of the operational amplifier 10 and the test diode 11.

Коаксиальные кабели 8 и 9 обеспечивают заданную дистанцию и защищают измерительную цепь от электромагнитных помех. Дроссель 6 и резистор 7 обеспечивают протекание постоянного тока смещения.Coaxial cables 8 and 9 provide a given distance and protect the measuring circuit from electromagnetic interference. Inductor 6 and resistor 7 provide a constant current bias.

Работает устройство следующим образом. Синусоидальное напряжение источника 2 создает ток, проходящий по конденсатору 5 достаточно большой емкости, кабелю 8, испытуемому диоду 11, кабелю 9, конденсатору 4 и усилителю 3. При этом операционный усилитель поддерживает потенциал инвертирующего входа и жилы кабеля 9 близким к нулю, так что емкость кабеля 9 на величину этого тока практически не влияет.The device operates as follows. The sinusoidal voltage of source 2 creates a current passing through a capacitor 5 of sufficiently large capacity, cable 8, test diode 11, cable 9, capacitor 4, and amplifier 3. In this case, the operational amplifier maintains the potential of the inverting input and core of cable 9 close to zero, so that the capacitance cable 9 practically does not affect the magnitude of this current.

Емкость кабеля 8 зангунтирована весьма малым выходным сопротивлением источника 2 и также не влияет на величину тока. Таким образом, амплитуда выходного напряжения усилителя 3 пропорциональна произведению амплитуды напряжения источника 2 и емкости диода и обратно пропорциональна емкости эталонного конденсатора 4.The capacity of the cable 8 is dangled with a very small output impedance of the source 2 and also does not affect the current value. Thus, the amplitude of the output voltage of the amplifier 3 is proportional to the product of the amplitude of the voltage of the source 2 and the capacitance of the diode and inversely proportional to the capacitance of the reference capacitor 4.

Таким образом, обеспечивается измерение емкости диодов на дистанции с высокой точностью.Thus, the measurement of the capacitance of the diodes at a distance with high accuracy.

Для пояснения принципа работы устройства приводится рисунок с его схемой.To explain the principle of operation of the device, a drawing with its diagram is given.

Предлагаемое устройство применено в блоке измерения емкости в составе автоматизированного тестера для испытания силовых модулей.The proposed device is used in the unit for measuring capacitance as part of an automated tester for testing power modules.

Claims (1)

Устройство измерения емкости диодов содержит источник постоянного напряжения смещения, источник синусоидального напряжения заданной частоты со стабилизированной амплитудой, эталонный и разделительный конденсаторы, дроссель и резистор, отличающееся тем, что применен широкополосный операционный усилитель, у которого неинвертирующий вход подключен к общему проводу, инвертирующий вход подключен к жиле участка измерительного коаксиального кабеля и поддерживает ее потенциал близким к нулю, в цепи обратной связи включен эталонный конденсатор, а выход операционного усилителя подключен к измерителю амплитуды напряжения, обеспечивающего измерение емкости диодов.The diode capacitance measuring device comprises a constant bias source, a sine voltage source of a given frequency with a stabilized amplitude, a reference and isolation capacitors, a choke and a resistor, characterized in that a broadband operational amplifier is used, in which the non-inverting input is connected to a common wire, the inverting input is connected to the core of the measuring coaxial cable section and maintains its potential close to zero, a reference cone is included in the feedback circuit Sator, and the output of the operational amplifier is connected to the measuring voltage amplitude provides a measurement of capacitance diodes.
RU2017125581U 2017-07-17 2017-07-17 Diode Capacitance Measurement Device RU178673U1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017125581U RU178673U1 (en) 2017-07-17 2017-07-17 Diode Capacitance Measurement Device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017125581U RU178673U1 (en) 2017-07-17 2017-07-17 Diode Capacitance Measurement Device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU178673U1 true RU178673U1 (en) 2018-04-17

Family

ID=61974727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017125581U RU178673U1 (en) 2017-07-17 2017-07-17 Diode Capacitance Measurement Device

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU178673U1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113589129A (en) * 2021-08-18 2021-11-02 金华高等研究院 Measuring device and measuring method for C-V curve of avalanche photodiode
RU220896U1 (en) * 2023-01-11 2023-10-10 Акционерное общество "Воронежский научно-исследовательский институт "Вега" (АО "ВНИИ "Вега") Device for measuring resistor characteristics

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5844412A (en) * 1996-12-19 1998-12-01 Teradyne, Inc. Board test apparatus and method for fast capacitance measurement
US6788074B2 (en) * 2002-06-21 2004-09-07 Texas Instruments Incorporated System and method for using a capacitance measurement to monitor the manufacture of a semiconductor
SU1840125A1 (en) * 1969-05-23 2006-06-27 Государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт "Кулон" Arrangement for measuring effective dynamic capacity of gann diodes
RU172271U1 (en) * 2016-11-18 2017-07-03 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Восточный федеральный университет имени М.К.Аммосова" Installation for dynamic measurement of current-voltage characteristics of tunnel diodes

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1840125A1 (en) * 1969-05-23 2006-06-27 Государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт "Кулон" Arrangement for measuring effective dynamic capacity of gann diodes
US5844412A (en) * 1996-12-19 1998-12-01 Teradyne, Inc. Board test apparatus and method for fast capacitance measurement
US6788074B2 (en) * 2002-06-21 2004-09-07 Texas Instruments Incorporated System and method for using a capacitance measurement to monitor the manufacture of a semiconductor
RU172271U1 (en) * 2016-11-18 2017-07-03 Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Восточный федеральный университет имени М.К.Аммосова" Installation for dynamic measurement of current-voltage characteristics of tunnel diodes

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113589129A (en) * 2021-08-18 2021-11-02 金华高等研究院 Measuring device and measuring method for C-V curve of avalanche photodiode
CN113589129B (en) * 2021-08-18 2022-06-21 金华高等研究院 Measuring device and measuring method for C-V curve of avalanche photodiode
RU220896U1 (en) * 2023-01-11 2023-10-10 Акционерное общество "Воронежский научно-исследовательский институт "Вега" (АО "ВНИИ "Вега") Device for measuring resistor characteristics

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102353843B (en) Frequency sweeping test method for measuring power frequency ground resistance of grounding device and test instrument for frequency sweeping test method
Cataliotti et al. Metrological performances of voltage and current instrument transformers in harmonics measurements
CN204142943U (en) Transient earth voltage sensor sensitivity check device
Cataliotti et al. Characterization and error compensation of a Rogowski coil in the presence of harmonics
Rathnayaka et al. On-line impedance monitoring of transformer based on inductive coupling approach
Shenil et al. Development of a nonintrusive true-RMS AC voltage measurement probe
RU178673U1 (en) Diode Capacitance Measurement Device
CN109541516B (en) Voltage transformer broadband error measurement method
Zhu et al. Software for control and calibration of an inductive shunt on-line impedance analyzer
Zhao et al. Testing and modelling of voltage transformer for high order harmonic measurement
Crotti et al. Calibration of MV voltage instrument transformer in a wide frequency range
Morsalin et al. A comparative study of dielectric dissipation factor measurement under very low and power frequencies
Hemmati et al. Evaluation of unshielded Rogowski coil for measuring partial discharge signals
Waldi et al. Rogowski coil sensor in the digitization process to detect partial discharge
CN105974278B (en) Oil clearance telegram in reply holds accelerated test method under low frequency mixed excitation based on Sine-Fitting
Chen et al. Reference system for current sensor calibrations at power frequency and for wideband frequencies
CN106199285B (en) Capacitance characteristic measuring equipment and method under any alternating current carrier
Gómez-Luna et al. Experimentally obtaining on-line FRA in transformers by injecting controlled pulses: Obtención experimental de FRA on-line en transformadores mediante la inyección de pulsos controlados
CN104133118A (en) Calibration method for measurement of magnetic core loss
Tomlain et al. Experimental verification of the fully-digital high voltage fpga-based diagnostic equipment
Merev et al. Implementation and Analysis of a Reference Partial Discharge Measurement System
Zhu et al. A wide bandwidth, on-line impedance measurement method for power systems, based On PLC techniques
Rathnayaka et al. Inductively coupled on‐line impedance measurement for condition monitoring of electrical equipment
JP7011730B2 (en) Load impedance tester and measurement method
Tan et al. A method for in-situ measurement of grid impedance and load impedance at 2 k–150 kHz

Legal Events

Date Code Title Description
MM9K Utility model has become invalid (non-payment of fees)

Effective date: 20180316