RU2130604C1 - Device for x-ray/fluorescent analysis - Google Patents

Device for x-ray/fluorescent analysis Download PDF

Info

Publication number
RU2130604C1
RU2130604C1 RU97104992A RU97104992A RU2130604C1 RU 2130604 C1 RU2130604 C1 RU 2130604C1 RU 97104992 A RU97104992 A RU 97104992A RU 97104992 A RU97104992 A RU 97104992A RU 2130604 C1 RU2130604 C1 RU 2130604C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
detector
radiation
sample
sample holder
slit
Prior art date
Application number
RU97104992A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU97104992A (en
Inventor
Б.Ж. Жалсараев
Original Assignee
Геологический институт СО РАН
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Геологический институт СО РАН filed Critical Геологический институт СО РАН
Priority to RU97104992A priority Critical patent/RU2130604C1/en
Application granted granted Critical
Publication of RU97104992A publication Critical patent/RU97104992A/en
Publication of RU2130604C1 publication Critical patent/RU2130604C1/en

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

FIELD: X-ray/fluorescent analysis of substances. SUBSTANCE: invention relates to X-ray polarization spectrometers. Device has X-ray radiation source, scatterer-polarizer in the form of sphere, sample holder, detector with collimator and recording equipment. Source and detector are located in diametrically opposite points of sphere. Partition with through slit whose axis passes through source is placed between scatterer-polarizer and sample holder. Slit is meant to let radiation of scatterer-polarizer pass to sample holder. Sample holder can position sample on circumference of section of sphere with plane passing through detector perpendicular to slit axis. In this case slit axis passes through point of section diametrically opposite to detector. Collimator of detector is aimed at sample holder and can include one or several plane-parallel channels. Given X-ray polarization spectrometer with spherical scatterer-polarizer makes it possible to decrease detection thresholds and to expand range of simultaneously detected substances thanks to more effective suppression of background scattered from radiation sample (higher degree of polarization of radiation). Background under analytical peaks and loading of detector with radiation scattered from sample reduce by one order as compared with spectrometers with direct excitation of characteristic radiation. EFFECT: decreased detection thresholds and expanded range of substances detected simultaneously. 1 cl, 1 dwg

Description

Изобретение относится к устройствам для анализа элементного состава веществ рентгенофлуоресцентным методом. The invention relates to devices for analyzing the elemental composition of substances by X-ray fluorescence method.

Известны устройства для рентгенофлуоресцентного анализа - поляризационные рентгеновские спектрометры, содержащие источник излучения, рассеиватель-поляризатор, держатель образца, детектор и расположенные между ними три коллиматора со взаимно перпендикулярными осями [1]. Known devices for x-ray fluorescence analysis - polarization x-ray spectrometers containing a radiation source, a diffuser-polarizer, a sample holder, a detector and three collimators located between them with mutually perpendicular axes [1].

Рентгеновское излучение линейно поляризуется при рассеянии на 90o. В направлении, перпендикулярном плоскости первого рассеяния, сечение рассеяния стремится к нулю. При размещении детектора под этим направлением фон рассеянного от образца излучения резко снижается. Степень подавления фона тем выше, чем жестче коллимированы пучки.X-ray radiation is linearly polarized by scattering at 90 o . In the direction perpendicular to the plane of the first scattering, the scattering cross section tends to zero. When the detector is placed under this direction, the background of the radiation scattered from the sample decreases sharply. The degree of background suppression is the higher, the harder the collimated beams.

Однако жесткая коллимация трех пучков в известном устройстве резко снижает светосилу. However, the hard collimation of three beams in a known device sharply reduces the aperture ratio.

Известно также устройство для рентгенофлуоресцентного анализа с поляризатором в виде полого цилиндра, в котором источник и держатель образца расположены в диаметрально противоположных точках цилиндра [2]. Also known is a device for X-ray fluorescence analysis with a polarizer in the form of a hollow cylinder, in which the source and sample holder are located at diametrically opposite points of the cylinder [2].

Однако малая поперечная апертура пучка также ограничивает светосилу этого устройства. However, the small transverse aperture of the beam also limits the aperture ratio of this device.

Наиболее близким аналогом заявляемого устройства является устройство для рентгенофлуоресцентного анализа, содержащее источник гамма- или рентгеновского излучения, рассеиватель - поляризатор в виде части сферы, держатель образца анализируемого вещества, защитный экран, расположенный между источником и держателем образца, детектор излучения с коллиматором, направленным на держатель образца, регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, внутри сферы помещены одна или несколько перегородок, плоскости которых перпендикулярны одной и той же плоскости большого круга сферы и имеют с его окружностью общую точку пересечения, где размещен источник излучения, а в диаметрально противоположной точке этой окружности - детектор излучения, причем в рассеивателе вдоль указанной окружности выполнена сквозная щель для размещения на ней держателя образца, а в перегородках также выполнены сквозные щели для пропускания излучения от образца на детектор через отверстие в коллиматоре [3]. The closest analogue of the claimed device is a device for x-ray fluorescence analysis containing a gamma or X-ray source, a diffuser-polarizer in the form of a sphere, a sample holder of the analyte, a protective screen located between the source and sample holder, a radiation detector with a collimator directed at the holder sample recording equipment, the input of which is connected to the output of the detector, one or more partitions are placed inside the sphere, the planes of which do not are perpendicular to the same plane of the large circle of the sphere and have a common intersection point with its circle where the radiation source is located, and a radiation detector at the diametrically opposite point of this circle, and a through slot is made in the diffuser along the specified circle to place the sample holder on it, and in the partitions, through slots were also made for transmitting radiation from the sample to the detector through an opening in the collimator [3].

Недостатком данного устройства является повышенный фон из-за попадания на образец квантов, рассеянных под большими углами к плоскости перегородок из ближних к образцу зон рассеивателя, из-за изменения радиуса сечений рассеивателя между перегородками (приводящего к уменьшению степени поляризации), а также из-за попадания на образец излучения перегородок. The disadvantage of this device is the increased background due to the ingress of quanta scattered at large angles to the plane of the partitions from the areas of the diffuser adjacent to the sample, due to changes in the radius of the cross sections of the diffuser between the partitions (leading to a decrease in the degree of polarization), as well as hit on a sample of radiation of partitions.

Целью настоящего изобретения является снижение порога обнаружения элементов. The aim of the present invention is to reduce the detection threshold of elements.

Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для рентгенофлуоресцентного анализа, содержащем источник гамма- или рентгеновского излучения, держатель образца анализируемого вещества, детектор излучения с коллиматором, направленным на образец, регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, рассеиватель-поляризатор в виде части сферы, в диаметрально противоположных точках которой размещены источник и детектор, а также перегородку со сквозной щелью, ось которой проходит через источник, перегородка размещена между рассеивателем и держателем образца с возможностью пропуска излучения рассеивателя на образец через ее щель, держатель образца выполнен с возможностью установки образца на окружности сечения сферы плоскостью, проходящей через детектор перпендикулярно оси щели. This goal is achieved by the fact that in the device for x-ray fluorescence analysis containing a source of gamma or X-ray radiation, a sample holder of the analyte, a radiation detector with a collimator aimed at the sample recording equipment, the input of which is connected to the output of the detector, the diffuser-polarizer in the form of a part sphere, at diametrically opposite points of which the source and the detector are located, as well as a partition with a through slit, the axis of which passes through the source, the partition is placed between the scatterer and the specimen holder skippable radiation diffuser on the sample through its slit, a sample holder adapted to be mounted on a circumferential cross section of the sample sphere by a plane passing through the detector perpendicular to the slit axis.

Кооллиматор детектора может быть выполнен с одним или несколькими плоскопараллельными каналами, плоскости которых перпендикулярны оси щели перегородки. The detector collimator can be made with one or more plane-parallel channels, the planes of which are perpendicular to the axis of the slit of the partition.

На фиг. 1 приведена схема устройства: а) разрез C-C перпендикулярно оси щели; б) разрез по оси щели перегородки. In FIG. 1 shows a diagram of the device: a) section C-C perpendicular to the axis of the slit; b) a cut along the axis of the septum slit.

Устройство содержит источник 1 излучения и рассеиватель - поляризатор 2 в виде сферы радиуса R1 (фиг. 1). В точке F1 сферы расположен источник (фокус рентгеновской трубки), а в диаметрально противоположной точке F2 сферы - детектор 3.The device contains a radiation source 1 and a diffuser - polarizer 2 in the form of a sphere of radius R 1 (Fig. 1). At the point F 1 of the sphere there is a source (focus of the X-ray tube), and at the diametrically opposite point F 2 of the sphere is the detector 3.

Держатель 4 образца выполнен с возможностью установки образца 5 на окружности радиуса R2 сечения сферы плоскостью, проходящей через детектор (держатель образца показан в виде изогнутой подставки только на фиг. 1а). Между рассеивателем и держателем образца расположена перегородка 6 с щелью, ось которой проходит через источник. Упомянутая плоскость сечения, проходящая через детектор, перпендикулярна оси F1F3 щели.The sample holder 4 is made with the possibility of mounting the sample 5 on a circle of radius R 2 of the sphere section with a plane passing through the detector (the sample holder is shown as a curved stand only in Fig. 1a). Between the diffuser and the sample holder is a partition 6 with a slit, the axis of which passes through the source. Said section plane passing through the detector is perpendicular to the axis F 1 F 3 of the slit.

Коллиматор 7 детектора направлен на держатель образца. Этот коллиматор может быть выполнен с одним или несколькими плоскопараллельными каналами типа коллиматора Соллера, плоскости которых перпендикулярны оси щели. The collimator 7 of the detector is directed to the sample holder. This collimator can be made with one or more plane-parallel channels such as the Soller collimator, the planes of which are perpendicular to the axis of the slit.

К выходу детектора 3 соединен вход регистрирующей аппаратуры 8. Между источником и другими частями устройства может быть размещен экран 9 с отверстием для формирования первичного пучка. Перегородка служит и защитной стенкой между камерами рассеивателя и держателя образца. Устройство в целом размещается в защитной камере. To the output of the detector 3 is connected the input of the recording equipment 8. Between the source and other parts of the device can be placed a screen 9 with a hole for the formation of the primary beam. The partition also serves as a protective wall between the chambers of the diffuser and the sample holder. The device as a whole is housed in a protective chamber.

Материал рассеивателя, размеры узлов и другие детали зависят от конкретных условий. Так, можно использовать рассеиватели из веществ с малыми атомными номерами - поляризаторы Баркла или же вторичные мишени с энергией излучения выше порога возбуждения элементов. The material of the diffuser, the dimensions of the assemblies and other details depend on the specific conditions. So, you can use scatterers of substances with small atomic numbers - Barkle polarizers or secondary targets with radiation energy above the threshold of excitation of elements.

Точка F3 пересечения оси щели с плоскостью сечения лежит на сфере, так как опирающиеся на диаметр F1F2 отрезки F2F3 и F1F3 образуют прямой угол, вписанный в сферу. При этом точки F3 и F2 окружности сечения диаметрально противоположны (в противном случае плоскость сечения была бы перпендикулярна оси щели F1F3). Кроме того, рассматриваемая окружность сечения ( с радиусом R2) является геометрическим местом точек, диаметра противоположных источнику в сечениях сферы плоскостями, проходящими через ось щели (так, в горизонтальной плоскости источнику диаметрально противоположна точка В).The point F 3 of the intersection of the axis of the slit with the section plane lies on the sphere, since the segments F 2 F 3 and F 1 F 3 based on the diameter F 1 F 2 form a right angle inscribed in the sphere. In this case, the points F 3 and F 2 of the circumference of the section are diametrically opposite (otherwise, the plane of the section would be perpendicular to the axis of the slit F 1 F 3 ). In addition, the considered circumference of the section (with radius R 2 ) is the geometrical location of points of diameter opposite to the source in the sections of the sphere by planes passing through the axis of the slit (for example, point B is diametrically opposite to the source in the horizontal plane).

Устройство работает следующим образом. The device operates as follows.

Излучение источника 1 попадает на рассеиватель 2 и рассеивается во все стороны. Часть рассеянного излучения проходит через щель и попадает в зону упомянутой окружности радиуса R2. Так как в любой плоскости рассеяния, проходящей через ось щели, точки окружности радиуса R2 диаметрально противоположны источнику, то в зоне этой окружности на образец 5 попадает поляризованное излучение, угол первичного рассеяния которого равен или близок к 90o. Например, рассеянное из точки А в точку В излучение поляризовано, так как угол рассеяния F1AB равен 90o как вписанный угол, опирающийся на диаметр F1B рассматриваемого сечения сферы (фиг. 1б). Поляризованное излучение не может попасть в детектор 3 после рассеяния на образце 5, поскольку угол такого рассеяния был бы также близок к 90o: проекция этого угла на плоскость окружности радиуса R2 вписан в эту окружность и опирается на ее диаметр F2F3. В то же время характеристическое излучение образца 5 свободно попадает на детектор 3 через отверстие (каналы) коллиматора 7. Такая же ситуация наблюдается при однократном рассеянии первичного излучения в других точках рассеивателя и попадании вторичного излучения на окружность радиуса R2. В остальном устройство работает так же, как аналоги.The radiation from the source 1 enters the diffuser 2 and is scattered in all directions. Part of the scattered radiation passes through the gap and falls into the zone of the mentioned circle of radius R 2 . Since in any scattering plane passing through the axis of the slit, the points of a circle of radius R 2 are diametrically opposite to the source, in the zone of this circle polarized radiation is incident on sample 5, the primary scattering angle of which is equal to or close to 90 ° . For example, the radiation scattered from point A to point B is polarized, because the scattering angle F 1 AB is 90 o as an inscribed angle based on the diameter F 1 B of the considered section of the sphere (Fig. 1b). Polarized radiation cannot get into detector 3 after scattering on sample 5, since the angle of such scattering would also be close to 90 o : the projection of this angle onto a plane of a circle of radius R 2 is inscribed in this circle and is based on its diameter F 2 F 3 . At the same time, the characteristic radiation of sample 5 freely enters the detector 3 through the hole (channels) of the collimator 7. The same situation is observed when the primary radiation is scattered once at other points of the scatterer and the secondary radiation hits the circle of radius R 2 . Otherwise, the device works the same way as its counterparts.

Поляризационный спектрометр с предлагаемой рентгенооптической схемой реализован с рассеивателями из графита и алюминия, изготовленными в виде части кольца со сферической поверхностью радиуса R1 58 мм, высотой H 34 мм и толщиной t 6 мм. Источник излучения - рентгеновская трубка с анодом из вольфрама. Использовали полупроводниковый детектор типа БДРК-1-25 с энергетическим разрешением 270 эВ. Апертура α первичного пучка в плоскости рассеяния достигает 60 - 70o, поперечная апертура β - 50 - 60o. Образец помещали в изогнутую по радиусу R2 27 мм рамку, покрытую тонкой пленкой с обеих сторон, и устанавливали на держатель образца. Напряду с изогнутыми образцами анализировали и плоские образцы. Однако в последнем случае поверхность образца отклоняется от окружности и приходится уменьшать поперечную апертуру пучков.A polarizing spectrometer with the proposed X-ray optical scheme is implemented with diffusers made of graphite and aluminum, made as part of a ring with a spherical surface of radius R 1 58 mm, height H 34 mm and thickness t 6 mm. The radiation source is an x-ray tube with a tungsten anode. Used a semiconductor detector type BDRK-1-25 with an energy resolution of 270 eV. The aperture α of the primary beam in the scattering plane reaches 60 - 70 o , the transverse aperture β - 50 - 60 o . The sample was placed in a frame curved along the radius R 2 27 mm, covered with a thin film on both sides, and mounted on the sample holder. Along with bent samples, flat samples were also analyzed. However, in the latter case, the surface of the sample deviates from the circle and it is necessary to reduce the transverse aperture of the beams.

В таблице приведены результаты измерений порога обнаружения на базовом объекте и на предлагаемом устройстве. The table shows the measurement results of the detection threshold at the base object and on the proposed device.

Опыты проведены при анодном напряжении 70 кВ, токе анода 30 мА и времени измерения 20 мин с геологическим образцом, содержащим 7,9 ppm серебра. Из таблицы видно, что площадь пика в предлагаемом устройстве в 1,8 раз больше, а фон меньше в 3 раза, что привело к снижению порога обнаружения в 3,6 раз. The experiments were carried out at an anode voltage of 70 kV, anode current of 30 mA and a measurement time of 20 min with a geological sample containing 7.9 ppm silver. The table shows that the peak area in the proposed device is 1.8 times larger and the background is less than 3 times, which led to a decrease in the detection threshold by 3.6 times.

Снижение фона связано с тем, что отклонение плоскостей рассеяния от плоскости, проходящий через ось щели, меньше 5 - 7o, тогда как в базовом объекте с одной перегородкой разброс плоскостей рассеяния существенно больше. Кроме того, устранено попадание вторичного излучения перегородок на образец и уменьшено влияние изменения радиуса сечений рассеивателя.The decrease in background is due to the fact that the deviation of the scattering planes from the plane passing through the axis of the slit is less than 5 - 7 o , while in the base object with one partition, the scatter of the scattering planes is much larger. In addition, the secondary radiation of partitions on the sample was eliminated and the influence of changes in the radius of the cross sections of the diffuser was reduced.

Увеличение светосилы связано с тем, что образец в целом расположен ближе к детектору. Уменьшение, например, в 2 раза радиуса окружности, на которой размещается образец, приводит к увеличению телесного угла, охватываемого детектором, в 4 раза. Степень подавления фона в предлагаемом устройстве увеличивается (а светосила и загрузка уменьшается) при уменьшении ширины щели перегородки и ширина отверстия или каналов коллиматора детектора. Такая регулировка упрощает оптимизацию условий измерения (увеличение контрастности или увеличение скорости счета). The increase in luminosity is due to the fact that the sample as a whole is closer to the detector. For example, a 2-fold decrease in the radius of the circle on which the sample is placed leads to a 4-fold increase in the solid angle covered by the detector. The degree of background suppression in the proposed device increases (and the aperture and load decreases) with a decrease in the width of the slit of the partition and the width of the holes or channels of the collimator of the detector. This adjustment makes it easier to optimize the measurement conditions (increase contrast or increase count rate).

Снижение порогов обнаружения расширяет возможности одновременного анализа широкого круга элементов. Результаты могут быть улучшены при использовании более современного детектора с высоким энергетическим разрешением. Lowering detection thresholds expands the ability to simultaneously analyze a wide range of elements. Results can be improved by using a more advanced high energy resolution detector.

Источники информации
1. The use of polarized x-rays for improved detection limits in energy dispersive x-ray spectrometry. Ryon R.W. - Adv. in X-ray Anal., 1982, V.25, p.63-74.
Sources of information
1. The use of polarized x-rays for improved detection limits in energy dispersive x-ray spectrometry. Ryon RW - Adv. in X-ray Anal., 1982, V.25, p. 63-74.

2. Improved X-ray fluoresсence capabilities by excitation with high inrensity polarized X-rays. Ryon R.W.,Zahrt J.D.- Adv. in X-ray Anal., 1979, V.22, p.453-460. 2. Improved X-ray fluoresence capabilities by excitation with high inrensity polarized X-rays. Ryon R.W., Zahrt J.D. - Adv. in X-ray Anal., 1979, V.22, p. 453-460.

3. Авторское свидетельство СССР N 1179180, Q 01 N 23/223, 1985. 3. Copyright certificate of the USSR N 1179180, Q 01 N 23/223, 1985.

Claims (2)

1. Устройство для рентгенофлуоресцентного анализа, содержащее источник гамма- или рентгеновского излучения, держатель образца, детектор излучения с коллиматором, направленным на образец, регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, рассеиватель-поляризатор в виде части сферы, в диаметрально противоположных точках которой размещены источник и детектор, а также перегородку со сквозной щелью, ось которой проходит через источник, отличающееся тем, что перегородка размещена между рассеивателем и держателем образца с возможностью пропуска излучения рассеивателя на образец через ее щель, держатель образца выполнен с возможностью установки образца на окружности сечения сферы плоскостью, проходящей через детектор перпендикулярно оси щели. 1. Device for x-ray fluorescence analysis, containing a gamma or X-ray source, a sample holder, a radiation detector with a collimator directed at the sample, recording equipment, the input of which is connected to the detector output, a diffuser-polarizer in the form of a part of a sphere at diametrically opposite points of which a source and a detector are placed, as well as a partition with a through slot, the axis of which passes through the source, characterized in that the partition is placed between the diffuser and the sample holder with the possibility of passing radiation of the diffuser onto the sample through its slit, the sample holder is configured to mount the sample on the circumference of the sphere section with a plane passing through the detector perpendicular to the axis of the slit. 2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что коллиматор детектора выполнен с одним или несколькими плоскопараллельными каналами, перпендикулярными оси щели. 2. The device according to claim 1, characterized in that the collimator of the detector is made with one or more plane-parallel channels perpendicular to the axis of the slit.
RU97104992A 1997-03-27 1997-03-27 Device for x-ray/fluorescent analysis RU2130604C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97104992A RU2130604C1 (en) 1997-03-27 1997-03-27 Device for x-ray/fluorescent analysis

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU97104992A RU2130604C1 (en) 1997-03-27 1997-03-27 Device for x-ray/fluorescent analysis

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU97104992A RU97104992A (en) 1999-05-20
RU2130604C1 true RU2130604C1 (en) 1999-05-20

Family

ID=20191376

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU97104992A RU2130604C1 (en) 1997-03-27 1997-03-27 Device for x-ray/fluorescent analysis

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2130604C1 (en)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2489708C2 (en) * 2011-08-05 2013-08-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН ) Device for x-ray fluorescence analysis of substance
RU2490617C2 (en) * 2011-08-05 2013-08-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Device for x-ray fluorescence analysis of substance
RU2494382C1 (en) * 2012-04-06 2013-09-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Energy-dispersive polarisation x-ray spectrometer
RU2494381C1 (en) * 2012-04-06 2013-09-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Polarisation spectrometer
RU2494380C1 (en) * 2012-03-30 2013-09-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Polarisation x-ray spectrometer
RU2542642C1 (en) * 2013-10-11 2015-02-20 Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг РФ) Apparatus for underwater x-ray fluorescence analysis
RU2611726C1 (en) * 2015-12-11 2017-02-28 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) X-ray spectrometer
RU2611713C1 (en) * 2015-11-10 2017-02-28 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) X-ray analyzer
RU2612051C1 (en) * 2015-11-10 2017-03-02 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Heavy element analyzer
RU2614318C1 (en) * 2015-11-12 2017-03-24 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) X-ray analyzer of gold and heavy elements
RU2615711C1 (en) * 2015-12-11 2017-04-07 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Multichannel x-ray analyzer

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2489708C2 (en) * 2011-08-05 2013-08-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН ) Device for x-ray fluorescence analysis of substance
RU2490617C2 (en) * 2011-08-05 2013-08-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Device for x-ray fluorescence analysis of substance
RU2494380C1 (en) * 2012-03-30 2013-09-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Polarisation x-ray spectrometer
RU2494382C1 (en) * 2012-04-06 2013-09-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Energy-dispersive polarisation x-ray spectrometer
RU2494381C1 (en) * 2012-04-06 2013-09-27 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Polarisation spectrometer
RU2542642C1 (en) * 2013-10-11 2015-02-20 Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг РФ) Apparatus for underwater x-ray fluorescence analysis
RU2611713C1 (en) * 2015-11-10 2017-02-28 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) X-ray analyzer
RU2612051C1 (en) * 2015-11-10 2017-03-02 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Heavy element analyzer
RU2614318C1 (en) * 2015-11-12 2017-03-24 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) X-ray analyzer of gold and heavy elements
RU2611726C1 (en) * 2015-12-11 2017-02-28 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) X-ray spectrometer
RU2615711C1 (en) * 2015-12-11 2017-04-07 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) Multichannel x-ray analyzer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2397481C1 (en) X-ray spectrometre
RU2130604C1 (en) Device for x-ray/fluorescent analysis
WO2018211664A1 (en) X-ray spectrometer
US3663812A (en) X-ray spectrographic means having fixed analyzing and detecting means
US6442236B1 (en) X-ray analysis
US4417355A (en) X-Ray fluorescence spectrometer
SU1045094A1 (en) Device for substance x-ray fluorescent analysis
Coote et al. A rapid method of obsidian characterisation by inelastic scattering of protons
US3889113A (en) Radioisotope-excited, energy-dispersive x-ray fluorescence apparatus
US3963922A (en) X-ray fluorescence device
JP4715345B2 (en) X-ray analyzer
JP2002189004A (en) X-ray analyzer
US6487269B2 (en) Apparatus for analysing a sample
Parrish Advances in X-ray diffractometry of clay minerals
US6285736B1 (en) Method for X-ray micro-diffraction measurement and X-ray micro-diffraction apparatus
Atou et al. A high resolution laboratory‐based high pressure x‐ray diffraction system
JP3755034B2 (en) Total reflection X-ray fluorescence analysis method and apparatus
Jenkins et al. Instrumental factors in the detection of low concentrations by X-ray fluorescence spectrometry
Jaklevic et al. Quantitative X-ray fluorescence analysis using monochromatic synchrotron radiation
RU2494382C1 (en) Energy-dispersive polarisation x-ray spectrometer
SU1179180A1 (en) Apparatus for x-ray fluorescent analysis of substance composition
Jaklevic et al. Recent results using synchrotron radiation for energy‐dispersive x‐ray fluorescence analysis
Bernasconi et al. Total Reflection X‐Ray Fluorescence Analysis Under Various Experimental Conditions
JPH11108861A (en) Fluorescent x-ray analyzer and fluorescent x-ray detector
RU2072515C1 (en) Multichannel x-ray element composition analyzer