RU2397481C1 - X-ray spectrometre - Google Patents
X-ray spectrometre Download PDFInfo
- Publication number
- RU2397481C1 RU2397481C1 RU2009128389/28A RU2009128389A RU2397481C1 RU 2397481 C1 RU2397481 C1 RU 2397481C1 RU 2009128389/28 A RU2009128389/28 A RU 2009128389/28A RU 2009128389 A RU2009128389 A RU 2009128389A RU 2397481 C1 RU2397481 C1 RU 2397481C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- sample
- detector
- samples
- radiation
- target
- Prior art date
Links
Images
Abstract
Description
Предлагаемое изобретение относится к энергодисперсионным поляризационным рентгеновским спектрометрам для рентгенофлуоресцентного анализа (РФА) веществ.The present invention relates to energy dispersive polarization x-ray spectrometers for x-ray fluorescence analysis (XRF) of substances.
Известен энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр с трехмерной (3D) оптикой, который содержит источник излучения, вторичные и поляризационные мишени, размещенные на устройстве смены мишеней, держатель образца, детектор и расположенные между ними три коллиматора с взаимно перпендикулярными осями. (Брошюра Epsilon 5 EDXRF Spectrometer. Almedo, Netherlands, 2003. www.panalytical.ru).Known energy dispersive polarization X-ray spectrometer with three-dimensional (3D) optics, which contains a radiation source, secondary and polarization targets located on the device for changing targets, a sample holder, a detector and three collimators located between them with mutually perpendicular axes. (Epsilon 5 EDXRF Spectrometer Brochure. Almedo, Netherlands, 2003. www.panalytical.ru).
Однако в спектрометре с ортогональными пучками размеры мишени и апертуры пучков малы. С увеличением расходимости ω любого из пучков уменьшается поляризация и увеличивается фон рассеянного от образца излучения, так как сечение рассеяния растет пропорционально sin2ω.However, in a spectrometer with orthogonal beams, the dimensions of the target and the aperture of the beams are small. With an increase in the divergence ω of any of the beams, the polarization decreases and the background of the radiation scattered from the sample increases, since the scattering cross section increases in proportion to sin 2 ω.
За прототип принят поляризационный рентгеновский спектрометр, содержащий источник гамма или рентгеновского излучения, держатель образца, детектор излучения с коллиматором, направленным на образец, регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора. Спектрометр содержит также рассеиватель-поляризатор в виде части сферы, в диаметрально противоположных точках которой размещены источник и детектор, перегородку со сквозной щелью, ось которой проходит через источник, причем перегородка размещена между рассеивателем и держателем образца с возможностью пропуска излучения рассеивателя на образец через ее щель. Держатель образца выполнен с возможностью установки образца на окружности сечения сферы плоскостью, проходящей через детектор перпендикулярно оси щели (Б.Ж.Жалсараев. Патент RU 2130604, G01N 23/223, 1999). Спектрометр размещен в защитной камере со шлюзом для загрузки образцов.The prototype is a polarizing X-ray spectrometer containing a gamma or X-ray source, a sample holder, a radiation detector with a collimator directed at the sample, recording equipment, the input of which is connected to the output of the detector. The spectrometer also contains a diffuser-polarizer in the form of a part of a sphere, at the diametrically opposite points of which the source and the detector are located, a partition with a through slit, the axis of which passes through the source, and the partition is placed between the diffuser and the sample holder with the possibility of passing radiation of the diffuser to the sample through its slot . The sample holder is made with the possibility of installing the sample on the circumference of the sphere with a plane passing through the detector perpendicular to the axis of the slit (B.Zh. Zhalsaraev. Patent RU 2130604, G01N 23/223, 1999). The spectrometer is placed in a protective chamber with a gateway for loading samples.
В спектрометре излучение рассеивается на прямые углы, опирающиеся на диаметры окружностей в сечениях сферы, и поляризуется при этом. Сечение рассеяния стремится к нулю вдоль электрического вектора излучения, и фон снижается на порядок по сравнению со спектрометрами без поляризации излучения. Светосила повышена по сравнению с аналогами за счет большой поверхности мишени и больших апертур пучков в плоскостях рассеяния и поперек оси щели. Анализируется одновременно более 30 элементов с порогами определения 0,5-2 г/т вплоть до бария.In the spectrometer, the radiation is scattered at right angles, based on the diameters of the circles in the sections of the sphere, and is polarized. The scattering cross section tends to zero along the electric radiation vector, and the background decreases by an order of magnitude compared to spectrometers without polarization of radiation. The aperture ratio is increased in comparison with analogues due to the large target surface and large apertures of the beams in the scattering planes and across the axis of the gap. More than 30 elements are simultaneously analyzed with determination thresholds of 0.5-2 g / t up to barium.
В РФА регистрируемая интенсивность излучения элементов зависит не только от концентрации, но и от поглощающих свойства образцов. В случае проб широкопеременного состава необходимо определять коэффициенты поглощения излучения.In X-ray powder diffraction, the recorded radiation intensity of elements depends not only on the concentration, but also on the absorbing properties of the samples. In the case of samples of broadly variable composition, it is necessary to determine the absorption coefficients of radiation.
Однако возможности прямого измерения коэффициентов поглощения без применения дополнительного детектора или источника излучения на аналоге и прототипе ограничены, что сужает функциональные возможности спектрометра. Для облучения образцов «на просвет» потребуется перестройка с доступом вовнутрь защитного корпуса.However, the possibilities of direct measurement of absorption coefficients without the use of an additional detector or radiation source on the analogue and prototype are limited, which narrows the functionality of the spectrometer. To irradiate the samples “in the light”, restructuring with access to the inside of the protective housing will be required.
Технический результат настоящего изобретения заключается в расширении функциональных возможностей спектрометра. В частности, ставится цель обеспечить возможность прямого измерения коэффициентов поглощения материала образца, абсорбционного анализа и анализа с вторичной и поляризационной мишенью, с поглощающими, селективными и дифференциальными фильтрами, с оперативной сменой режимов работы и без использования дополнительного детектора или источника излучения.The technical result of the present invention is to expand the functionality of the spectrometer. In particular, the goal is to provide the ability to directly measure the absorption coefficients of the sample material, absorption analysis and analysis with a secondary and polarization target, with absorbing, selective and differential filters, with operational change of operating modes and without the use of an additional detector or radiation source.
Рассеиватели-поляризаторы и вторичные мишени можно обозначить общепринятым названием вторичные мишени.Diffusers-polarizers and secondary targets can be designated by the common name secondary targets.
Указанный технический результат достигается тем, что в рентгеновском спектрометре, размещенном в защитной камере и содержащем источник гамма или рентгеновского излучения, держатель образца, детектор излучения с коллиматором, направленным на образец, регистрирующую аппаратуру, вход которой соединен с выходом детектора, вторичные мишени в виде части сферы, в диаметрально противоположных точках которой размещены источник и детектор, перегородку со сквозной щелью, ось которой проходит через источник, причем перегородка размещена между вторичной мишенью и держателем образца с возможностью пропуска излучения вторичной мишени на образец через ее щель, держатель образца выполнен с возможностью установки образца на окружности сечения сферы плоскостью, проходящей через детектор перпендикулярно оси щели, согласно изобретению, введены основное и дополнительное устройства смены проб и устройство смены мишеней, причем на основном устройстве смены проб размешен набор держателей образцов, дополнительное устройство смены проб также снабжено держателями образцов и предназначено для просвечивания проб излучением мишени, установленной на основном устройстве смены проб, кроме того, введен дополнительный коллиматор между устройствами смены проб.The specified technical result is achieved in that in an X-ray spectrometer placed in a protective chamber and containing a gamma or X-ray source, a sample holder, a radiation detector with a collimator directed at the sample, recording equipment, the input of which is connected to the detector output, secondary targets in the form of sphere, at diametrically opposite points of which the source and detector are located, a partition with a through slit, the axis of which passes through the source, and the partition is located between with an original target and a sample holder with the possibility of passing radiation of the secondary target onto the sample through its slit, the sample holder is configured to install the sample on the circumference of the sphere section with a plane passing through the detector perpendicular to the axis of the slit, according to the invention, the main and additional sample changers and a change device are introduced targets, moreover, on the main sample changer a set of sample holders is placed, the additional sample changer is also equipped with sample holders for samples of the radiographic irradiation target, is installed on the main unit shifts samples also introduced additional collimator between sample changer devices.
Кроме того, защитная камера снабжена общим шлюзом для загрузки образцов, мишеней и фильтров на устройства смены проб.In addition, the protective chamber is equipped with a common gateway for loading samples, targets, and filters onto sample changers.
На фиг.1 приведена рентгенооптическая схема спектрометра, а на фиг.2 - вид спектрометра в разрезе перпендикулярно перегородке с щелью.Figure 1 shows the x-ray optical diagram of the spectrometer, and figure 2 is a view of the spectrometer in section perpendicular to the partition with a slit.
Рентгеновский спектрометр содержит источник 1 первичного излучения, вторичную мишень 2 в виде части сферы, перегородку 3 с щелью и детектор 4 (фиг.1 и 2). Источник 1 и детектор 4 расположены в диаметрально противоположных точках F1 и F2 сферы с радиусом R1 на уровне центра сферы. Ось щели проходит через источник 1 и пересекает сферу в точке F3. На фокальной окружности с радиусом R2 (в вертикальном сечении сферы через детектор перпендикулярно оси щели) точка F3 диаметрально противоположна детектору 4. В нижней зоне фокальной окружности расположен образец 5.X-ray spectrometer contains a primary radiation source 1, a secondary target 2 as a part of a sphere, a
В любом сечении сферы, проходящем через ось щели (в плоскостях рассеяния), точки фокальной окружности диаметрально противоположны точке F1 (источнику 1). Попавшие на фокальную окружность кванты поляризованы, а их электрические векторы, перпендикулярные плоскости первого рассеяния, сфокусированы к детектору 4.In any section of the sphere passing through the axis of the slit (in the scattering planes), the points of the focal circle are diametrically opposite to the point F 1 (source 1). The quanta that hit the focal circle are polarized, and their electric vectors, perpendicular to the plane of the first scattering, are focused to detector 4.
У образцов с плоской поверхностью, например жидкости в кювете, с фокальной окружностью совпадает только центральная часть (фиг.1). Поэтому предпочтительно использовать образцы с вогнутой рабочей поверхностью. На фиг.2 показан образец 5, запрессованный в ободок.For samples with a flat surface, for example, a liquid in a cuvette, only the central part coincides with the focal circle (Fig. 1). Therefore, it is preferable to use samples with a concave working surface. Figure 2 shows a
Перед детектором расположен коллиматор 6. К выходу детектора присоединен вход регистрирующей аппаратуры 7. Экран 8 защищает детектор от прямого и рассеянного излучения.A collimator 6 is located in front of the detector. The input of the recording equipment 7 is connected to the detector output. Screen 8 protects the detector from direct and scattered radiation.
Основное 9 и дополнительное 10 многопозиционные устройства смены проб (турели) выполнены в виде горизонтальных дисков с отдельными приводами. На основном нижнем устройстве 9 держатели образца 5 выполнены в виде отверстий. Держатели 11 на дополнительном верхнем устройстве 10 предназначены для установки поперек пучка фильтров, проб исследуемого вещества и образцов сравнения толщиной до миллиметра.The main 9 and additional 10 multi-position sample changers (turrets) are made in the form of horizontal disks with separate drives. On the main lower device 9, the
Защитная герметичная камера 12 снабжена общим шлюзом 13 в виде отверстия с крышкой для загрузки образцов, мишеней и фильтров на устройства 9 и 10. Защитная камера 12 выполнена с возможностью откачки воздуха и заполнения гелием.The protective sealed chamber 12 is equipped with a common gateway 13 in the form of an opening with a lid for loading samples, targets and filters onto devices 9 and 10. The protective chamber 12 is configured to pump air and fill with helium.
Под позицией облучения образца 5 размещен поддон 14 с полостью. Размеры полости и выбраны так, чтобы с детектора не просматривались участки стенок, на которые может попасть прошедшее через образец излучение вторичной мишени.Under the irradiation position of
При введении дополнительного устройства 10 коллиматор 6 укорочен, а для сохранения эффективности коллимации между устройствами 9 и 10 размещен дополнительный коллиматор 15.With the introduction of the additional device 10, the collimator 6 is shortened, and to maintain the collimation efficiency between the devices 9 and 10 an additional collimator 15 is placed.
На устройстве 16 (турели) смены мишеней с вертикальной осью вращения расположены узлы 17 вторичных мишеней, содержащие мишень 2 и перегородку 3. На устройстве 16 размещается 4 узла вторичных мишеней.On the device 16 (turrets) change targets with a vertical axis of rotation are nodes 17 of the secondary targets, containing the target 2 and the
Включение перегородки в состав узла 17 дает возможность установить разную ширину щелей и фильтры вторичного излучения без введения отдельной турели для их смены.The inclusion of partitions in the composition of the node 17 makes it possible to establish different widths of the slots and secondary radiation filters without introducing a separate turret for changing them.
В качестве поляризаторов можно использовать B4C, Al2O3, в качестве вторичных мишеней - Y, Ag и другие. Предусматривается набор фильтров и образцов сравнения и набор мишеней для установки на основное устройство 9 смены проб.B 4 C, Al 2 O 3 can be used as polarizers, Y, Ag and others as secondary targets. A set of filters and comparison samples and a set of targets for installation on the main device 9 of the sample change are provided.
Рентгеновский спектрометр работает следующим образом. При РФА образцы 5 облучают вторичным излучением мишени 2 и по интенсивности рассеянного и характеристического излучения судят о содержании элементов. Однако функциональные возможности спектрометра расширены, и обеспечена оперативность изменения режимов работы (не требуется перестройка с доступом в защитную камеру).X-ray spectrometer works as follows. In XPA,
Режимы работы и функциональные возможности спектрометра:Operating modes and functionality of the spectrometer:
1. Многоэлементный анализ на 40 и более элементов без откачки воздуха из камеры в образцах, установленных на устройстве 9 смены проб. Анализ можно провести в несколько приемов с поляризатором и с разными вторичными мишенями 2. При этом на дополнительное устройство 10 при необходимости можно установить фильтры.1. Multielement analysis of 40 or more elements without pumping air from the chamber in the samples installed on the device 9 sample change. The analysis can be carried out in several steps with a polarizer and with different secondary targets 2. In this case, filters can be installed on an additional device 10, if necessary.
2. Анализ легких элементов в сплавленных пробах на устройстве 9 в вакууме с поляризатором из B4C или вторичной мишенью.2. Analysis of light elements in fused samples on device 9 in vacuum with a polarizer from B 4 C or a secondary target.
3. Косвенное определение коэффициентов поглощения в геометрии сражения. Образец на устройстве 9 облучается излучением вторичной мишени. Коэффициент поглощения образца определяют по графику зависимости этого коэффициента от интенсивности неупруго рассеянного излучения в фиксированных условиях.3. Indirect determination of absorption coefficients in battle geometry. The sample on the device 9 is irradiated by radiation from a secondary target. The absorption coefficient of the sample is determined from the graph of the dependence of this coefficient on the intensity of inelastically scattered radiation under fixed conditions.
4. Прямое определение коэффициентов поглощения. Пробы и образец сравнения заданной поверхностной плотности ставят на дополнительное устройство 10 и просвечивают излучением одно- или многоэлементной мишени, установленной на устройство 9, и определяют массовый коэффициент поглощения µ(Е). Энергию Е излучения можно менять путем смены вторичной мишени 2 или мишени на устройстве 9. Поляризация обеспечивает высокую контрастность.4. Direct determination of absorption coefficients. Samples and a comparison sample of a given surface density are placed on an additional device 10 and translucent by radiation of a single or multi-element target mounted on the device 9, and the mass absorption coefficient μ (E) is determined. The radiation energy E can be changed by changing the secondary target 2 or the target on the device 9. Polarization provides high contrast.
5. Определение толщины проб или изделий, установленных на устройстве 10, по степени ослабления излучения.5. Determination of the thickness of samples or products installed on the device 10, by the degree of attenuation of radiation.
6. Абсорбционный рентгеновский анализ. Образец на устройстве 10 просвечивают поочередно излучением мишеней с энергиями выше и ниже скачка поглощения определяемого элемента. Мишени установлены на устройстве 9. По ослаблению излучения трех разных энергии определяют концентрацию (Кохов Е.Д и Воронов Б.Ф. А.с. SU 393654 G01N 23/06, 1973).6. Absorption x-ray analysis. The sample on the device 10 is alternately illuminated by radiation of targets with energies above and below the absorption jump of the element being determined. Targets are installed on device 9. The concentration is determined by attenuating the radiation of three different energies (Kokhov E.D. and Voronov B.F.A.s. SU 393654 G01N 23/06, 1973).
7. Анализ с селективным фильтром. Например, определению золота по Lβ-линии часто мешает Кβ-линия мышьяка. Образец на устройстве 9 облучается излучением вторичной мишени из иттрия. На устройстве 10 установлен селективный фильтр из платины с L3-краем между Lβ-линией золота и Кβ-линией мышьяка. Контрастность повышается за счет поглощения линии мышьяка селективным фильтром (Веригин А.А. Энергодисперсионный рентгеноспектральный анализ. - Томск: Изд-во Том. ун-та, 2005. с.51-90, с.165-173).7. Analysis with a selective filter. For example, the K β -line of arsenic often interferes with the determination of gold by the L β -line. The sample on the device 9 is irradiated by radiation from a secondary target from yttrium. A selective platinum filter with an L 3 edge between the L β gold line and the K β line of arsenic is mounted on device 10. Contrast is increased due to absorption of the arsenic line by a selective filter (Verigin A.A. Energy-dispersive X-ray spectral analysis. - Tomsk: Publishing house Tom. Un., 2005. p. 51-90, p. 165-173).
8. Анализ с дифференциальными фильтрами. На устройство 10 ставят два сбалансированных фильтра с краями поглощения выше и ниже энергии линии определяемого элемента. О концентрации элемента в образце на устройстве 9 судят по разнице интенсивностей аналитической линии в двух измерениях.8. Analysis with differential filters. Two balanced filters with absorption edges above and below the line energy of the element being determined are placed on the device 10. The concentration of the element in the sample on the device 9 is judged by the difference in the intensities of the analytical line in two dimensions.
Приведенные режимы работы не требуют использования дополнительных источников излучения и детекторов. Смена образцов, мишеней и фильтров производится вращением устройств 9, 10 и 16.The given operating modes do not require the use of additional radiation sources and detectors. The change of samples, targets and filters is carried out by rotating devices 9, 10 and 16.
Непрерывный спектр поляризованного вторичного излучения можно преобразовать в квазимонохроматический спектр с широким пиком при установке фильтра на щели перегородки в узле 17. Это позволяет повысить контрастность аналитических пиков в части спектра излучения образца.The continuous spectrum of polarized secondary radiation can be converted into a quasimonochromatic spectrum with a wide peak when the filter is installed on the slit of the septum in node 17. This can increase the contrast of analytical peaks in the spectrum of the radiation spectrum of the sample.
Перегрузку детектора излучением легких элементов в пробах с большим содержанием этих элементов можно снизить установкой фильтра - поглотителя в держатель 11 на устройстве 10.The detector overload by radiation of light elements in samples with a high content of these elements can be reduced by installing a filter - absorber in the holder 11 on the device 10.
Измерения проводятся в фиксированных оптимальных условиях, которые можно найти опытным путем при отладке методик.Measurements are carried out in fixed optimal conditions, which can be found empirically when debugging techniques.
Устройства 9, 10 и 16 снабжены датчиками положения, фиксаторами и приводами. Предусмотрена работа в ручном и в автоматическом режиме под управлением компьютера.Devices 9, 10 and 16 are equipped with position sensors, latches and actuators. Manual and automatic operation under computer control is provided.
Необходимость приготовления однородных образцов толщиной в десятки микрон усложняет и может ограничить прямое определение коэффициентов поглощения в диапазоне энергии ниже 2-3 кэВ. Подготовка проб толщиной порядка 1 мм и менее для определения коэффициента поглощения жесткого излучения не представляет особой сложности.The need to prepare homogeneous samples with a thickness of tens of microns complicates and may limit the direct determination of the absorption coefficients in the energy range below 2-3 keV. Sample preparation with a thickness of the order of 1 mm or less to determine the absorption coefficient of hard radiation is not particularly difficult.
Просвечивание может дать ценную информацию в сложных случаях анализа проб широкопеременного состава.Transillumination can provide valuable information in complex cases of analysis of samples of a widely variable composition.
Основную часть анализов можно выполнить без прямого или косвенного определения коэффициентов поглощения. При этом расчет концентраций производится известными способами, например по способу стандарта - фона, по способу фундаментальных параметров и т.д.Most of the analyzes can be performed without directly or indirectly determining the absorption coefficients. In this case, the concentration calculation is carried out by known methods, for example, by the method of the standard — background, by the method of fundamental parameters, etc.
В спектрометре используется в качестве источника излучения рентгеновская трубка с анодом из вольфрама с боковым окном. Максимальное напряжение между анодом и катодом 75 кВ, мощность трубки 3 кВт. Можно использовать рентгеновскую трубку меньшей мощности.The spectrometer uses an x-ray tube with a tungsten anode with a side window as a radiation source. The maximum voltage between the anode and cathode is 75 kV, the tube power is 3 kW. A lower power x-ray tube may be used.
Используется Si(Li)-детектор, охлаждаемый жидким азотом. Площадь детектора 30 мм2, толщина 3 мм, энергетическое разрешение 130 эВ для энергии 5,9 кэВ. Фланец детектора наклонен вниз под углом 45°, что исключает просыпку частиц пробы на детектор. Окно из бериллия толщиной 8 мкм позволяет анализировать в вакууме элементы от натрия и выше.A Si (Li) detector is used, cooled by liquid nitrogen. The detector area is 30 mm 2 , the thickness is 3 mm, and the energy resolution is 130 eV for an energy of 5.9 keV. The detector flange is inclined downward at an angle of 45 °, which eliminates the spillage of sample particles onto the detector. A window of beryllium with a thickness of 8 μm allows you to analyze elements from sodium and above in a vacuum.
Вторичные мишени изготовлены в виде части кольца по сфере радиуса R1 60 мм. Радиус фокальной окружности R2 выбран равным 30 мм. Высота мишени без корпуса 40 мм, длина (вдоль щели) 65 мм. Диаметр полости поддона 60 мм, глубина 40 мм. Отверстие коллиматора 15 выполнено в виде эллипса размерами 14×5 мм.Secondary targets are made as part of a ring along a sphere of radius R 1 60 mm. The radius of the focal circle R 2 selected equal to 30 mm The height of the target without the body is 40 mm, the length (along the slit) is 65 mm. The diameter of the cavity of the pallet is 60 mm, the depth is 40 mm. The hole of the collimator 15 is made in the form of an ellipse with dimensions of 14 × 5 mm.
Раствор первичного пучка достигает 40° в плоскостях рассеяния и 36° в поперечной плоскости. Отклонения углов рассеяния от 90° зависят от размеров отверстий коллиматоров и щели перегородки, от их соотношений с радиусами сферы и фокальной окружности и не превышают 10°.The solution of the primary beam reaches 40 ° in the scattering planes and 36 ° in the transverse plane. Deviations of the scattering angles from 90 ° depend on the size of the holes of the collimators and the slit of the partition, on their ratios with the radii of the sphere and focal circle, and do not exceed 10 °.
На устройстве 9 в виде диска диаметром 240 мм размешается 12 образцов в кюветах диаметром 40 мм. Размер анализируемой зоны порядка 26×8 мм.On the device 9 in the form of a disk with a diameter of 240 mm, 12 samples are placed in cuvettes with a diameter of 40 mm. The size of the analyzed zone is about 26 × 8 mm.
Рабочая поверхность насыпной, прессованной или сплавленной пробы формируется сферически выпуклым пуансоном. Тонкие образцы вогнуты по цилиндру с радиусом 30 мм. Устройство 10 с диаметром 140 мм вмещает 15 держателей для образцов диаметром 12 мм и толщиной до 1 мм. Образцы или фильтры фиксируются в держателях под углом 45°.The working surface of a bulk, pressed or fused sample is formed by a spherically convex punch. Thin specimens are concave along a cylinder with a radius of 30 mm. The device 10 with a diameter of 140 mm holds 15 sample holders with a diameter of 12 mm and a thickness of up to 1 mm. Samples or filters are fixed in holders at an angle of 45 °.
Предлагаемый спектрометр может быть использован в различных отраслях науки и промышленности. Пределы обнаружения на уровне г/т и менее по большому числу элементов позволяют исследовать большие массивы геологических и экологических проб. Возможность одновременного анализа большого числа элементов за минуты, оперативная смена режимов работы и образцов, автоматизация измерений и расчета концентрации обеспечивает производительность в десятки тысяч проб в год. РФА выполняется, в основном, без применения кислот, газов, дорогостоящих реагентов и является одним из самых оперативных и дешевых видов анализа.The proposed spectrometer can be used in various fields of science and industry. The detection limits at g / t and less for a large number of elements allow us to study large arrays of geological and environmental samples. The ability to simultaneously analyze a large number of elements in minutes, quickly change operating modes and samples, automate measurements and calculate concentration provides a productivity of tens of thousands of samples per year. X-ray powder diffraction is carried out mainly without the use of acids, gases, expensive reagents and is one of the most efficient and cheapest types of analysis.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2009128389/28A RU2397481C1 (en) | 2009-07-22 | 2009-07-22 | X-ray spectrometre |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2009128389/28A RU2397481C1 (en) | 2009-07-22 | 2009-07-22 | X-ray spectrometre |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2397481C1 true RU2397481C1 (en) | 2010-08-20 |
Family
ID=46305594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2009128389/28A RU2397481C1 (en) | 2009-07-22 | 2009-07-22 | X-ray spectrometre |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2397481C1 (en) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2489708C2 (en) * | 2011-08-05 | 2013-08-10 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН ) | Device for x-ray fluorescence analysis of substance |
| RU2490617C2 (en) * | 2011-08-05 | 2013-08-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Device for x-ray fluorescence analysis of substance |
| RU2494380C1 (en) * | 2012-03-30 | 2013-09-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Polarisation x-ray spectrometer |
| RU2494381C1 (en) * | 2012-04-06 | 2013-09-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Polarisation spectrometer |
| RU2494382C1 (en) * | 2012-04-06 | 2013-09-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Energy-dispersive polarisation x-ray spectrometer |
| RU2542642C1 (en) * | 2013-10-11 | 2015-02-20 | Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг РФ) | Apparatus for underwater x-ray fluorescence analysis |
| RU2611726C1 (en) * | 2015-12-11 | 2017-02-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | X-ray spectrometer |
| RU2611713C1 (en) * | 2015-11-10 | 2017-02-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | X-ray analyzer |
| RU2612051C1 (en) * | 2015-11-10 | 2017-03-02 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Heavy element analyzer |
| RU2614318C1 (en) * | 2015-11-12 | 2017-03-24 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | X-ray analyzer of gold and heavy elements |
| RU2615711C1 (en) * | 2015-12-11 | 2017-04-07 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Multichannel x-ray analyzer |
| RU182076U1 (en) * | 2018-05-21 | 2018-08-07 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Белгородский государственный национальный исследовательский университет" (НИУ "БелГУ") | X-ray fluorescence wire scanner of profiles of beams of ionizing radiation |
-
2009
- 2009-07-22 RU RU2009128389/28A patent/RU2397481C1/en active IP Right Revival
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2489708C2 (en) * | 2011-08-05 | 2013-08-10 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН ) | Device for x-ray fluorescence analysis of substance |
| RU2490617C2 (en) * | 2011-08-05 | 2013-08-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Device for x-ray fluorescence analysis of substance |
| RU2494380C1 (en) * | 2012-03-30 | 2013-09-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Polarisation x-ray spectrometer |
| RU2494381C1 (en) * | 2012-04-06 | 2013-09-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Polarisation spectrometer |
| RU2494382C1 (en) * | 2012-04-06 | 2013-09-27 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Energy-dispersive polarisation x-ray spectrometer |
| RU2542642C1 (en) * | 2013-10-11 | 2015-02-20 | Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг РФ) | Apparatus for underwater x-ray fluorescence analysis |
| RU2611713C1 (en) * | 2015-11-10 | 2017-02-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | X-ray analyzer |
| RU2612051C1 (en) * | 2015-11-10 | 2017-03-02 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Heavy element analyzer |
| RU2614318C1 (en) * | 2015-11-12 | 2017-03-24 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | X-ray analyzer of gold and heavy elements |
| RU2611726C1 (en) * | 2015-12-11 | 2017-02-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | X-ray spectrometer |
| RU2615711C1 (en) * | 2015-12-11 | 2017-04-07 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН) | Multichannel x-ray analyzer |
| RU182076U1 (en) * | 2018-05-21 | 2018-08-07 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Белгородский государственный национальный исследовательский университет" (НИУ "БелГУ") | X-ray fluorescence wire scanner of profiles of beams of ionizing radiation |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2397481C1 (en) | X-ray spectrometre | |
| US7206375B2 (en) | Method and apparatus for implement XANES analysis | |
| Szlachetko et al. | Wavelength-dispersive spectrometer for X-ray microfluorescence analysis at the X-ray microscopy beamline ID21 (ESRF) | |
| JP5280057B2 (en) | X-ray diffraction equipment for X-ray scattering | |
| JP5702368B2 (en) | How to identify substances in containers | |
| WO2018211664A1 (en) | X-ray spectrometer | |
| US7972062B2 (en) | Optical positioner design in X-ray analyzer for coaxial micro-viewing and analysis | |
| JPWO2020202730A1 (en) | X-ray analyzer | |
| KR100990592B1 (en) | Diffractometer and method for diffraction analysis | |
| RU137951U1 (en) | DEVICE FOR X-RAY MICROANALYSIS | |
| KR20160067527A (en) | Apparatus and method for fine pattern measuring Micro-XRF | |
| US11815480B2 (en) | X-ray fluorescence analyzer and a method for performing an x-ray fluorescence analysis | |
| RU2130604C1 (en) | Device for x-ray/fluorescent analysis | |
| Claes et al. | Comparison of Grazing Emission XRF with Total Reflection XRF and Other X‐Ray Emission Techniques | |
| JP2007017350A (en) | X-ray analyzer | |
| Yiming et al. | An investigation of X-ray fluorescence analysis with an X-ray focusing system (X-ray lens) | |
| US6285736B1 (en) | Method for X-ray micro-diffraction measurement and X-ray micro-diffraction apparatus | |
| US3005098A (en) | X-ray emission analysis | |
| JP5684032B2 (en) | Charged particle beam analyzer and analysis method | |
| Engström | X-ray methods in histochemistry | |
| RU87257U1 (en) | X-RAY FLUORESCENT ENERGY DISPERSION ANALYZER | |
| JP2014196925A (en) | Fluorescent x-ray analyzer, and depth direction analysis method used for the same | |
| CN109459458A (en) | Fluorescent x-ray analyzer and fluorescent x-ray analysis method | |
| RU2490617C2 (en) | Device for x-ray fluorescence analysis of substance | |
| RU2489708C2 (en) | Device for x-ray fluorescence analysis of substance |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20140723 |
|
| NF4A | Reinstatement of patent |
Effective date: 20150710 |