RU2088057C1 - Многослойная гибридная интегральная схема свч и квч диапазонов - Google Patents

Многослойная гибридная интегральная схема свч и квч диапазонов Download PDF

Info

Publication number
RU2088057C1
RU2088057C1 SU5056249A RU2088057C1 RU 2088057 C1 RU2088057 C1 RU 2088057C1 SU 5056249 A SU5056249 A SU 5056249A RU 2088057 C1 RU2088057 C1 RU 2088057C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
recesses
semiconductor devices
board
microwave
circuit
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
В.А. Иовдальский
В.Н. Буданов
А.А. Яшин
В.В. Кандлин
Original Assignee
Государственное научно-производственное предприятие "Исток"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное научно-производственное предприятие "Исток" filed Critical Государственное научно-производственное предприятие "Исток"
Priority to SU5056249 priority Critical patent/RU2088057C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2088057C1 publication Critical patent/RU2088057C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

Использование: электронная техника. Сущность изобретения: в многослойной плате, состоящей из отдельных подложек с рисунком проводников, выполняются углубления в подложках, прилегающих к тем, на которых установлены навесные бескорпусные полупроводниковые приборы. Последние размещаются в углублениях определенным образом. 2 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к полупроводниковой микроэлектронике, в частности, к многослойным гибридным интегральным схемам ВЧ, СВЧ и КВЧ-диапазонов.
Известен объемный высокочастотный интегральный модуль, представляющий собой объемную многослойную гибридную интегральную схему, содержащую пакет жестких диэлектрических микрополосковых плат [1] Возможность размещения бескорпусных полупроводниковых приборов в данной конструкции обеспечивается изготовлением сквозных отверстий в прокладках из пенообразного диэлектрика, располагаемого между жесткими диэлектрическими платами объемной интегральной схемы и расположением полупроводниковых приборов в этих отверстиях.
Недостатком данной конструкции является недостаточно высокие массогабаритные и электрические характеристики, обусловленные необходимостью установки прокладок из пенообразного диэлектрика.
Наиболее близким техническим решением является объемный интегральный высокочастотный модуль, представляющий собой многослойную гибридную интегральную схему, содержащую пакет жестких диэлектрических плат, закрепленных в металлических рамках [2] Возможность установки бескорпусных полупроводниковых приборов обеспечивается тем, что через слой платы выполнены более длинными и в образовавшемся пространстве через слой могут быть установлены бескорпусные полупроводниковые приборы.
Недостатками данной конструкции являются низкие массогабаритные и электрические характеристики, обусловленные невозможностью размещения кристаллов полупроводниковых приборов в каждом слое, длинными коммутационными связями и необходимостью применения металлических оправок для закрепления каждой платы.
Целью изобретения является улучшение электрических и массогабаритных характеристик многослойных гибридных интегральных схем и улучшение условий теплоотвода от навесных бескорпусных полупроводниковых приборов.
Поставленная цель достигается тем, что в известной многослойной гибридной интегральной схеме СВЧ и КВЧ диапазонов, содержащей пакет из твердых диэлектрических плат, имеющих топологический рисунок металлизации, навесные бескорпусные полупроводниковые приборы и соединения контактных площадок полупроводниковых приборов с топологическим рисунком металлизации, на обратной стороне прилегающей (вышерасположенной или нижерасположенной) в пакете платы выполнены углубления, в которых расположены навесные бескорпусные полупроводниковые приборы, установленные лицевой стороной к плате, причем глубина углублений обеспечивает зазор между кристаллами и дном углублений, превышающий 1 мкм, расстояние от боковых поверхностей навесных бескорпусных полупроводниковых приборов до боковых стенок углублений равно 1-500 мкм, а расстояние между платами в пакете 1-150 мкм.
Углубления в плате могут быть металлизированы, топологический рисунок металлизации платы с углублениями нанесен на обе стороны платы и соединен через металлизацию углублений и металлизированные отверстия, выполненные в дне углублений, а пространство между навесными бескорпусными приборами и стенками и дном углублений заполнены теплопроводящим материалом.
Выполнение в платах, прилежащих к тем, на которых установлены навесные бескорпусные полупроводниковые приборы, углублений и размещение навесных приборов в этих углублениях обеспечивает:
во-первых, уменьшение длины коммутационных проводников в составе плат, а следовательно, улучшение электрических характеристик, увеличение быстродействия;
во-вторых, возможность размещения кристаллов навесных полупроводниковых приборов в объеме прилегающих плат, а следовательно, улучшение массогабаритных характеристик;
в-третьих, ограничение пространства вокруг кристаллов и заполнение его теплопроводящим материалом, и, следовательно, улучшение условий теплоотвода.
Навесные приборы установлены лицевыми сторонами к плате на шариковых, столбиковых или балочных выводах.
Ограничение зазора между кристаллом навесного прибора и дном углубления снизу определено необходимостью отсутствия контакта. При соприкосновении кристалла и дна углубления в прилежащей плате могут возникнуть напряжения, приводящие к разрушению конструкции.
Ограничение расстояния от боковых поверхностей навесного бескорпусного полупроводникового прибора до боковых стенок углубления снизу определено необходимостью отсутствия контакта, так как при контакте могут возникнуть напряжения, приводящие к разрушению конструкции, а ограничение сверху определено плохой теплопроводностью воздушной прослойки вокруг навесного прибора.
Ограничение расстояния между платами снизу определено минимальной толщиной металлизационного рисунка платы, а сверху ухудшением емкостной связи между платами.
На фиг. 1 изображен разрез многослойной гибридной интегральной схемы СВЧ и КВЧ диапазонов, где: твердая диэлектрическая плата 1; топологический рисунок металлизации 2; навесные бескорпусные полупроводниковые приборы 3; соединения 4; контактные площадки навесных полупроводниковых приборов 5; углубление в прилегающей плате 6; лицевая сторона навесных бескорпусных полупроводниковых приборов 7; зазор между кристаллом и дном углубления 8; расстояние от боковых поверхностей навесного бескорпусного полупроводникового прибора до боковых стенок углубления 9.
На фиг. 2 изображен разрез фрагмента многослойной гибридной интегральной схемы СВЧ и КВЧ диапазонов, где: металлизированное углубление в плате 10; металлизированные отверстия 11; теплопроводящий материал 12.
Пример.
Многослойная гибридная интегральная схема СВЧ и КВЧ диапазонов, содержащая пакет скрепленных между собой твердых диэлектрических плат 1, например, поликоровых или сапфировых, толщиной 0,5 мм (или 1,0 мм), с топологическим рисунком металлизации 2, например, представляющую собой систему металлов из Ti (0,04 мкм) Pd (0,2 мкм) Au (3 мкм). В схеме имеются навесные бескорпусные полупроводниковые приборы 3, например, транзисторы 3П325А-5 (размером 0,5х0,5х0,15 мм), диоды 3А 137 А-5 (размером 0,4х0,4х0,15 мм) и т.д. Соединения 4, например, в виде золотых выступов высотой 20 мкм на навесных бескорпусных полупроводниковых приборах 3, соединяют контактные площадки 4 полупроводниковых приборов 3 и топологического рисунка металлизации 2. В платах 1, прилежащих к тем, на которых установлены навесные приборы, выполнены углубления, например, 0,9х0,9х0,25, в случае транзисторов 3П 325 А-5 и 0,8х0,8х0,25 в случае диодов 3А 1374А-5. Расстояние между платами в пакете 15 мкм.
Углубления в плате могут иметь металлизацию, например, представляющую собой систему металлов (Rd+Ni)0,15мкм-Cu3мкм-Ni0,6мкм-Au2мкм. Топологический рисунок металлизации на плате, имеющей углубления, может быть расположен на обеих сторонах платы. А соединение топологического рисунка на обеих сторонах платы может осуществляться через металлизацию углублений и металлизированные отверстия, выполненные в дне углублений. Металлизация отверстий может иметь, например, такую же систему металлов, как и углубления. Пространство между навесными бескорпусными полупроводниковыми приборами и стенками углублений может быть заполнено теплопроводящим материалом, например, припоем ПОС-61. (tпл= 190oC) в случае, если требуется электрическое соединение кристалла с металлизацией углублений, или, например, компаундом ЭТК-21 (содержащим в качестве наполнителя нитрид бора) в случае, если требуется изоляция кристалла от металлизации углублений.
Устройство работает следующим образом.
В зависимости от функционального назначения гибридной интегральной схемы СВЧ сигнал подают на вход схемы, реализующей, преимущественно, многофункциональные устройства типа диаграммообразующих матриц с большими индексами MхN чисел входных и выходных каналов, наращенных фильтрами, усилителями, элементами контроля сигналов и т.п. до качества автономного блока, либо приемо-передающего модуля.
В объемной структуре, образованной многослойной платой, пространственно скомпонованной пленочными и навесными элементами, послойно разделенными диэлектрическими слоями, выполняется обработка высокочастотного сигнала: усиление, генерирование, преобразование, фильтрация, детектирование и т.п.
Обработка сигналов и передача их с одного пространственного уровня на другой уровень по вертикали является совмещенной; при этом функции передачи и согласования могут выполнять объемные распределенные емкостные переходы или межплатные соединения через металлизированные отверстия, а затем обработанный СВЧ сигнал выводится из схемы. Тепло, выделяемое кристаллами навесных бескорпусных полупроводниковых приборов, рассеивается по объему многослойной (объемной) платы и отводится за счет тепловых контактов углублений, заполненных теплопроводящим материалом, а также торцевых поверхностей многослойной платы с системой охлаждения, например, охлаждаемым корпусом или тепловой трубой, встроенной в объем многослойной платы.
Таким образом, предложенная конструкция многослойной гибридной интегральной схемы позволит, по сравнению с прототипом:
во-первых, улучшить электрические характеристики схемы, уменьшить паразитные индуктивности и увеличить быстродействие, за счет уменьшения длины коммутационных проводников в составе плат;
во-вторых, одновременно улучшить массогабаритные характеристики за счет размещения кристаллов навесных полупроводниковых приборов в объеме прилегающих плат в пакете;
в-третьих, улучшить условия теплоотвода от кристаллов навесных полупроводниковых приборов за счет ограничения пространства вокруг кристаллов и заполнения этого пространства теплопроводящим материалом, а также возможности более равномерного распределения тепловыделяющих кристаллов по объему многослойной платы.
Источники информации
1. Положительное решение по заявке N 4475187/24-21(124847) от 11.08.88, кл. H 05 K 7/02 (а.с. N 1679664, публ. 1991).
2. Положительное решение по заявке N 4608672/24-21 (162513) от 24.11.88, кл. H 05 K 7/02. (а.с. N 1700789, публ. 1991).

Claims (3)

1. Многослойная гибридная интегральная схема СВЧ- и КВЧ-диапазонов, содержащая пакет из твердых диэлектрических плат, имеющих топологический рисунок металлизации, навесные бескорпусные приборы и соединения контактных площадок полупроводниковых приборов с топологическим рисунком металлизации, отличающаяся тем, что на обратной стороне, прилегающей вышерасположенной или нижерасположенной в пакете платы, по отношению к плате внутри пакета, на которой устанавливаются бескорпусные полупроводниковые приборы, выполнены углубления, в которых расположены навесные бескорпусные полупроводниковые приборы, установленные лицевой стороной к плате, причем глубина углубления обеспечивает зазор между кристаллами и дном углублений, превышающий 1 мкм, расстояние от боковых поверхностей навесных бескорпусных полупроводниковых приборов до боковых стенок углублений равно 1 500 мкм, а расстояние между платами в пакете 1 150 мкм.
2. Схема СВЧ- и КВЧ-диапазонов по п.1, отличающаяся тем, что углубления в плате металлизированы, топологический рисунок металлизации платы с углублениями нанесен на обе стороны платы и соединен через металлизацию углублений и металлизированные отверстия, выполненные в дне углублений.
3. Схема СВЧ- и КВЧ-диапазонов по п.1 или 2, отличающаяся тем, что пространство между навесными бескорпусными полупроводниковыми приборами и стенками углублений заполнено теплопроводящим материалом.
SU5056249 1992-07-27 1992-07-27 Многослойная гибридная интегральная схема свч и квч диапазонов RU2088057C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5056249 RU2088057C1 (ru) 1992-07-27 1992-07-27 Многослойная гибридная интегральная схема свч и квч диапазонов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5056249 RU2088057C1 (ru) 1992-07-27 1992-07-27 Многослойная гибридная интегральная схема свч и квч диапазонов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2088057C1 true RU2088057C1 (ru) 1997-08-20

Family

ID=21610360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU5056249 RU2088057C1 (ru) 1992-07-27 1992-07-27 Многослойная гибридная интегральная схема свч и квч диапазонов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2088057C1 (ru)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000035258A1 (en) * 1998-12-08 2000-06-15 Alexandr Ivanovich Taran Multilayered switching plate
RU2499374C2 (ru) * 2012-01-24 2013-11-20 Общество с ограниченной ответственностью "Тегас Электрик" Плата печатная
RU2639315C2 (ru) * 2012-07-12 2017-12-21 ЛЭЙБИНЕЛ, ЭлЭлСи Компоновка шин нагрузки и способ ее производства

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. Авторское свидетельство СССР N 1667571, кл. H 01 L 23/10, 1989. 2. Авторское свидетельство СССР N 1700789, кл. H 05 K 7/02, 1988. *

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000035258A1 (en) * 1998-12-08 2000-06-15 Alexandr Ivanovich Taran Multilayered switching plate
RU2499374C2 (ru) * 2012-01-24 2013-11-20 Общество с ограниченной ответственностью "Тегас Электрик" Плата печатная
RU2639315C2 (ru) * 2012-07-12 2017-12-21 ЛЭЙБИНЕЛ, ЭлЭлСи Компоновка шин нагрузки и способ ее производства
US9997895B2 (en) 2012-07-12 2018-06-12 Labinal, Llc Load buss assembly and method of manufacturing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3973402B2 (ja) 高周波回路モジュール
US5689600A (en) Electronic circuit structure
US9117835B2 (en) Highly integrated miniature radio frequency module
KR101657622B1 (ko) 전자기 간섭 인클로저를 갖는 무선 주파수 멀티-칩 집적 회로 패키지 및 패키지를 제조하기 위한 방법
US5717249A (en) RF power amplifying circuit device
US9621196B2 (en) High-frequency module and microwave transceiver
RU2088057C1 (ru) Многослойная гибридная интегральная схема свч и квч диапазонов
JP3515854B2 (ja) 高周波電力増幅回路装置
JP2571029B2 (ja) マイクロ波集積回路
RU2489770C1 (ru) Гибридная интегральная схема свч
JPS634712B2 (ru)
JPS6250981B2 (ru)
RU2148874C1 (ru) Многослойная гибридная интегральная схема свч и квч диапазонов
JP2004071772A (ja) 高周波パッケージ
RU2071646C1 (ru) Многослойная гибридная интегральная схема свч
EP4312471A1 (en) Component carrier with signal conductive element and shielding conductive structure
JP2000183488A (ja) ハイブリッドモジュール
KR100339016B1 (ko) 유리기판을이용한극초단파대역의멀티칩패키지
JPH09181212A (ja) モジュール素子用のコラム
WO2024022699A1 (en) Component carrier with signal conductive element and shielding conductive structure
US20230044122A1 (en) Component Carrier and Method of Manufacturing a Component Carrier
EP4060808A1 (en) Component carrier with embedded high-frequency component and integrated waveguide for wireless communication
JP2001053508A (ja) 高周波回路部品の実装構造
JP2004319905A (ja) 高周波集積回路パッケージ及び電子装置
JP3818008B2 (ja) 多層配線基板