RU2042295C1 - Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов - Google Patents

Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов Download PDF

Info

Publication number
RU2042295C1
RU2042295C1 SU5020985A RU2042295C1 RU 2042295 C1 RU2042295 C1 RU 2042295C1 SU 5020985 A SU5020985 A SU 5020985A RU 2042295 C1 RU2042295 C1 RU 2042295C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
conveyor
semiconductor devices
sorting
ics
elements
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
П.И. Куперштох
Г.П. Урусова
В.И. Макаров
Original Assignee
Научно-производственное предприятие "Восток"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-производственное предприятие "Восток" filed Critical Научно-производственное предприятие "Восток"
Priority to SU5020985 priority Critical patent/RU2042295C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2042295C1 publication Critical patent/RU2042295C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Изобретение относится к устройствам для контроля и сортировки электронных деталей, в частности полупроводниковых приборов. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей, повышение надежности в работе. Цель достигается тем, что механизм загрузки снабжен средством сортировки полупроводниковых приборов, контактным механизмом и приемником годных и бракованных приборов, а ячейки транспортера установлены попарно и выполнены в виде расположенных параллельно в одной плоскости направляющих, напротив которых размещена крышка с образованием каналов для приборов, в донной части которых установлены плечи рычагов-упоров, закрепленных на крышке. 5 ил.

Description

Изобретение относится к испытаниям микросхем.
Известно устройство для автоматизированного контроля и сортировки электронных деталей, в частности ИС.
Устройство разработано применительно к пенальной технологии, имеет блок контроля с одним входным отверстием для проверяемых ИС и двумя выходными отверстиями для годных и брака, накопитель для пустых пеналов, накопитель для заполненных пеналов, два захвата для манипуляции пустыми и заполненными пеналами. Недостатком данного устройства является сложная кинематическая схема, невысокая производительность из-за последовательности работы захватов при установке на позицию, загрузке, выгрузке, возвращении в исходное положение.
Известно также устройство для подготовки ИС к монтажу, содержащее механизм загрузки, механизм для вырубки ИС, контактный механизм, совмещенный с механизмом рихтовки выводов, и механизм сортировки ИС по электрическим параметрам.
Недостатком данного устройства является разнотипность устройства загрузки-выгрузки, затрудненный доступ к контактирующему, контактирование за счет деформации выводов ИС, закрытая конструкция ячейки.
Наиболее близким техническим решением, выбранным в качестве прототипа, является устройство для контроля и сортировки электронных деталей, в частности ИС. Устройство содержит входной и выходной бункеры, каждый из которых имеет по меньшей мере один канал для приема подводимых ИС и выдачи их на выход. Между входным и выходными бункерами расположена испытательная головка, с которой контактируют контролируемые ИС. Транспортировка ИС к испытательной головке и от нее осуществляется принудительно.
Недостатками данного устройства являются наличие единой позиции подачи и выдачи ИС, снижающее производительность, сложное гpейфеpное устройство для перегрузки ИС, наличие нескольких механизмов для выдачи ИС, карусель, поворотное устройство, трение ИС о диск при перемещении несущих элементов цепи и карусели.
Целью изобретения является расширение функциональных возможностей, повышение надежности в работе.
Цель достигается тем, что устройство снабжено камерой тепла, выполненной в виде замкнутого объема, внутри которого непрерывно движется транспортер, состоящий из спаренных ячеек П-образной формы с подпружиненными рычагами, позволяющими увеличить емкость камеры, вести автоматическую загрузку ИС в контактирующее устройство. Наряду с испытанием при нормальной температуре вести его при повышенной температуре.
Сравнительный анализ с прототипом показывают, что заявляемое устройство отличается наличием новых элементов: ячеек П-образной формы с подпружиненными рычагами. Таким образом, заявляемое устройство соответствует критерию "новизна".
Сравнение заявляемого решения с другими техническими решениями показывает, что применение транспортеров для переноса ИС известно. Однако использование в них ячейки с подпружиненными рычагами позволяет автоматизировать выгрузку ИС в контактирующее устройство в закрытом объеме.
Таким образом, новое сочетание признаков придает устройству новые свойства, с помощью которых достигается положительный эффект, что позволяет сделать вывод о соответствии заявляемого решения критерию "существенные отличия".
На фиг. 1 изображено предлагаемое устройство, общий вид; на фиг. 2 ячейка цепи; на фиг. 3 разрез А-А на фиг. 2; на фиг. 4 устройство в разрезе; на фиг. 5 разрез Б-Б на фиг. 2.
Устройство для контроля и сортировки ИС выполнено в виде самостоятельных механизмов загрузки 1, контактирования 2, сортировки 3, камеры 4 тепла, транспортера 5 разгрузки, механизмов 6, 7 выгрузки, бункера 8 для брака, смонтированных на поворотной, шарнирно опертой на каркас раме, позволяющей менять угол наклона направляющей. Перемещение ИС с позиции на позицию осуществляется под собственным весом по наклонной направляющей, а внутри камеры тепла и в транспортере разбраковки принудительно.
Устройство предназначено для контроля ИС 9 с двухрядным расположением выводов и работает с плоскими металлическими кассетами.
Кассета 10 с ИС загружается в механизм 1 загрузки, имеющий автоматическое перемещение на шаг справа налево. ИС поштучно выдаются на механизм 2 контактирования, откуда после измерения годные поступают в камеру 4 тепла, а брак механизмом 3 сортировки сбрасывается в бункер 11.
В камере тепла годные ИС попадают в ячейку 12 тpанспоpтеpа 13.
Транспортер выполнен в виде цепи из ячеек 12 П-образной формы. ИС, скользя между направляющей 14 и крышкой 15, останавливается на рычаге 16, удерживаемом в закрытом состоянии пружиной 17. После цикла тепловой обработки ячейка с ИС подходит к контактирующему устройству 18 и останавливается. Контроль за перемещением ИС внутри камеры осуществляется посредством световодов 19. ИС по направляющей 20 поступает в ячейку транспортера 5 разгрузки, имеющего конструкцию ячейки, аналогичную транспортеру 13. Из транспортера 5 ИС в соответствии с программой выгружаются в кассеты соответствующей группы и в бункер 8 для брака. Открытие ячеек на позициях выгрузки осуществляется электромагнитами. Механизмы загрузки 1, выгрузки 6, 7 по конструкции однотипны.
Преимуществами данного устройства является одновременное испытание ИС при нормальной и повышенной температурах, оригинальная конструкция ячейки, однотипность конструкции механизмов загрузки, выгрузки, транспортеров.

Claims (1)

  1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КЛИМАТИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ, содержащее механизм загрузки, рабочую камеру, в которой расположены шаговый транспортер с ячейками для полупроводниковых приборов, контактный механизм, транспортер подачи приборов по группам и механизм выгрузки, отличающееся тем, что механизм загрузки снабжен средством сортировки полупроводниковых приборов, контактным узлом и приемником годных и бракованных приборов, а ячейки транспортера установлены попарно и выполнены в виде расположенных параллельно одна другой в одной плоскости направляющих, напротив которых размещена крышка с образованием каналов для приборов, в донной части которых установлены плечи рычагов-упоров, закрепленных на крышке.
SU5020985 1991-07-01 1991-07-01 Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов RU2042295C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5020985 RU2042295C1 (ru) 1991-07-01 1991-07-01 Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU5020985 RU2042295C1 (ru) 1991-07-01 1991-07-01 Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2042295C1 true RU2042295C1 (ru) 1995-08-20

Family

ID=21593813

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU5020985 RU2042295C1 (ru) 1991-07-01 1991-07-01 Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2042295C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2479889C1 (ru) * 2011-10-21 2013-04-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО НИИПМ) Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР N 1018550, кл. H 01L 21/68, 1981. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2479889C1 (ru) * 2011-10-21 2013-04-20 Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО НИИПМ) Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101421102B1 (ko) 전자부품 시험장치
US7973259B2 (en) System for testing and sorting electronic components
US9586760B2 (en) Electronic component transfer shuttle
US6066822A (en) Semiconductor device testing apparatus and semiconductor device testing system having a plurality of semiconductor device testing apparatus
KR101133188B1 (ko) 소자소팅장치 및 그 방법
CN108593946B (zh) 在线化验室
US9069010B2 (en) Pitch changing apparatus, electronic device handling apparatus, and electronic device testing apparatus
CN108761211A (zh) 一种钽电容的后道生产检测工艺及生产线
CN113899875A (zh) 煤质智能化验系统
RU2042295C1 (ru) Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов
KR102249305B1 (ko) 전자부품 테스트 핸들러
CN110802036B (zh) 一种弹簧全自动外径分选机
CN114273268A (zh) 测试设备及方法
CN114919926A (zh) 一种试剂条自动输送检测机构
CN217141308U (zh) 一种电子元件自动测试分选机
CN211027126U (zh) 一种弹簧全自动外径分选机
KR0143333B1 (ko) 반도체 소자검사기의 로더,언로더
CN219324478U (zh) 上料系统及芯片测试分选机
CN220455339U (zh) 一种反应杯进杯机构
CN217688013U (zh) 一种用于钒合金的采样装置
KR102132562B1 (ko) 몰딩용 타블렛 공급장치
KR102227346B1 (ko) 전자부품 테스트 핸들러
KR102305417B1 (ko) 트레이 이송 장치 및 이를 포함하는 전자부품 테스트 핸들러
CN217043562U (zh) 一种电子元件平移式测试分选机
SU1008932A1 (ru) Устройство дл перемещени спутников-носителей, преимущественно в установках дл разбраковки конденсаторов по электрическим параметрам