RU2479889C1 - Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов - Google Patents

Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов Download PDF

Info

Publication number
RU2479889C1
RU2479889C1 RU2011142681/28A RU2011142681A RU2479889C1 RU 2479889 C1 RU2479889 C1 RU 2479889C1 RU 2011142681/28 A RU2011142681/28 A RU 2011142681/28A RU 2011142681 A RU2011142681 A RU 2011142681A RU 2479889 C1 RU2479889 C1 RU 2479889C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
drive
receiving
rigidly connected
trays
devices
Prior art date
Application number
RU2011142681/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Гаврилович Махаев
Александр Егорович Богатиков
Original Assignee
Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО НИИПМ)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО НИИПМ) filed Critical Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт полупроводникового машиностроения" (ОАО НИИПМ)
Priority to RU2011142681/28A priority Critical patent/RU2479889C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2479889C1 publication Critical patent/RU2479889C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

Изобретение относится к контрольно-испытательному оборудованию изделий электронной техники. В устройстве для климатических испытаний полупроводниковых приборов накопитель с неподвижной винтовой направляющей, установленной внутри транспортирующего приводного ротора с продольными направляющими в виде лотков с поперечными пазами для загрузки и выгрузки приборов, дополнительно снабжен вертикальной направляющей приборов на выходе приемного канала в виде плоского кольца с поддерживающими сегментами, закрепленными на его внутренней образующей и размещенными между кромками приемных пазов соседних лотков с образованием кольцевой поверхности, и гибкой ленты, подпружиненной концами относительно приемного канала и охватывающей приемные пазы лотков и поддерживающие сегменты. Размещен накопитель на опорных стойках, установленных на плите, консольно закрепленной на корпусе камеры. Опорная стойка, установленная на свободном конце плиты, жестко связана с приемным каналом, который дополнительно жестко связан с направляющим лотком узла загрузки. Последний выполнен с возможностью продольного перемещения. Другая опорная стойка выполнена регулируемой по высоте и с возможностью поворота вокруг своей оси. Узел контактирования жестко соединен с корпусом камеры, а его приемный лоток жестко соединен с плитой накопителя со стороны закрепленного конца. Изобретение обеспечивает универсальность работы устройства при переходах с низкотемпературных рабочих режимов на высокотемпературные и наоборот, снижение механического повреждения приборов и не производительных затрат в процессе эксплуатации. 2 з.п. ф-лы, 7 ил.

Description

Изобретение относится к контрольно-испытательному оборудованию изделий электронной техники и может быть использовано для измерения внешним измерителем электрических параметров микросхем в спутниках-носителях при положительных и отрицательных температурах.
Известно устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов, включающее проходную камеру, узлы загрузки, выгрузки, контактирования и сортировки. В проходной камере размещены нагреватель и накопитель. Накопитель содержит транспортирующий ротор с продольными направляющими в виде лотков для полупроводниковых приборов и неподвижную винтовую направляющую, установленную внутри ротора. На входе и выходе винтовой направляющей продольные направляющие ротора имеют соответственно входное и выходное окна в виде поперечных приемных пазов (описание к патенту RU 1572342, МПК 6 H01L 21/66, опубликовано 20.10.1995).
Известное устройство позволяет проводить испытания только при высокотемпературных режимах, что ограничивает его функциональные возможности в части использования для проведения испытаний в низкотемпературных условиях.
Кроме того, конструкция накопителя в известном устройстве не исключает возможности заклинивания и выпадения приборов при прохождении ими первой половины витка винтовой направляющей. Это является причиной не только механического повреждения приборов, но и снижения производительности установки.
Задача изобретения - усовершенствование устройства для климатических испытаний полупроводниковых приборов, улучшение его эксплуатационных возможностей.
Технический результат изобретения - универсальность работы устройства при переходах с низкотемпературных рабочих режимов на высокотемпературные и наоборот, снижение механического повреждения приборов и не производительных затрат в процессе эксплуатации.
Технический результат достигается тем, что в устройстве для климатических испытаний полупроводниковых приборов, включающем проходную камеру с приемным каналом перед узлом загрузки, размещенный в ней накопитель с неподвижной винтовой направляющей, установленной внутри транспортирующего приводного ротора с продольными направляющими в виде лотков с поперечными пазами для загрузки и выгрузки приборов, узел контактирования с приемным лотком приборов из накопителя и механизм сортировки, накопитель дополнительно снабжен вертикальной направляющей приборов на выходе приемного канала в виде плоского кольца с поддерживающими сегментами, закрепленными на его внутренней образующей и размещенными между кромками приемных пазов соседних лотков с образованием кольцевой поверхности, и гибкой ленты, подпружиненной концами относительно приемного канала и охватывающей приемные пазы лотков и поддерживающие сегменты, а размещен накопитель на опорных стойках, установленных на плите, консольно закрепленной на корпусе камеры, причем одна опорная стойка, установленная на свободном конце плиты, жестко связана с приемным каналом, который дополнительно жестко связан с направляющим лотком узла загрузки, выполненным с возможностью продольного перемещения, другая опорная стойка выполнена регулируемой по высоте и с возможностью поворота вокруг своей оси, при этом узел контактирования жестко соединен с корпусом камеры, а его приемный лоток жестко соединен с плитой накопителя со стороны закрепленного конца. При этом камера выполнена бескаркасной, а отверстия в ее корпусе для приводного вала, приемного и выгрузного каналов вала снабжены герметичными уплотнениями с плавающими заслонками.
Привод вала ротора выполнен в виде ременной передачи с пассиком и размещен на внешней стенке камеры.
На фиг.1 изображен продольный разрез устройства; на фиг.2 - поперечный разрез устройства; на фиг.3-вид А-А фиг.1; на фиг.4 - вид А-А при подаче прибора в накопитель; на фиг.5 - поперечное сечение регулируемой опоры, вид Б-Б фиг.1; на фиг 6 - плоское кольцо с поддерживающими сегментами; на фиг.7 - вид А-А фиг.6.
Устройство содержит теплоизолированную бескаркасную проходную камеру 1, в которой размещен накопитель, состоящий из транспортирующего ротора 2 с продольными направляющими в виде лотков 3 с поперечными пазами для загрузки и выгрузки полупроводниковых приборов 4. Лотки 3 закреплены на ступицах 5, установленных на оси 6 неподвижной винтовой направляющей 7, размещенной внутри продольных направляющих ротора 2.
Накопитель на входе снабжен вертикальной направляющей приборов в виде плоского кольца 8 с поддерживающими сегментами 9. Плоское кольцо 8 размещено в вертикальной плоскости. Поддерживающие сегменты 9 закреплены на внутренней образующей кольца 8 и размещены между кромками приемных пазов 10 соседних лотков 3 с образованием кольцевой поверхности. Приемные пазы 10 лотков 3 и поддерживающие сегменты 9 охвачены гибкой лентой 11, подпружиненной концами относительно приемного канала.
Накопитель установлен на плите 12 на опорных стойках 13 и 14. Плита 12 консольно закреплена в корпусе камеры 1, что обеспечивает возможность перемещения ее свободному концу и накопителю в результате теплового воздействия.
К опорной стойке 14 закреплен приемный канал 16 для загрузки полупроводниковых приборов 4 в накопитель. Канал 16 своим верхним концом дополнительно жестко прикреплен к узлу загрузки 17, который содержит механизм 18 поштучной подачи приборов 4 и лоток 19 для подачи приборов 4 через канал 16 в приемный паз 10 направляющих ротора 2.
Жесткая связь приемного канала 16 с опорой 14 обеспечивают надежность загрузки приборов 4 в накопитель. Возможность для перемещения накопителя от закрепленного конца плиты 12 при тепловом расширении или сжатии позволяет точно и постоянно поддерживать механическую связь между входом приборов 4 в накопитель из узла загрузки 17 через лоток 19 и канал 16 и выходом приборов 4 из камеры 1.
Конструкция опоры 13 за счет вращения регулировочного винта 40 позволяет с высокой точностью произвести настройку по высоте опоры 13 относительно передней опоры 14 по общей для двух опор продольной оси винтовой направляющей 7, что, в свою очередь, обеспечивает легкость вращения ротора 2 накопителя. Контргайка 42 обеспечивает фиксацию настройки опоры 13 по высоте.
На выходе винтовой направляющей 7 лотки 3 имеют выходное окно 20 для подачи приборов 4 к узлу контактирования 21, включающему каретку 22 и привод 23. Узел контактирования 21 ориентирован относительно выходного окна 20 накопителя и жестко соединен с закрепленным концом плиты 12 и корпусом камеры 1, оставаясь неподвижным при тепловом расширении или сжатии. Конструкция и принцип действия узла контактирования 21 и каретки 22 описаны в устройстве для подключения интегральных схем в спутниках (описание к патенту на полезную модель RU 78029).
Под узлом контактирования 21 размещен механизм сортировки, содержащий канал 24 и отсекатели 25 для подачи испытанных приборов в пеналы 26.
Выход приборов 4 к узлу контактирования 21 в механизм сортировки осуществляется через выходной канал 27.
В камере 1 установлены также спиральный нагреватель 28, тангенциальный вентилятор 29 с рабочим колесом 30, отражатель 31 и испаритель 32 для подачи хладагента в камеру 1. Длина нагревателя 28, длина рабочего колеса 30, отражателя 31 и испарителя 32 равны длине транспортирующего ротора 2.
Конструкция камеры 1 имеет бескаркасный тип и содержит вводы и выводы 33 с герметичными уплотнениями с плавающими заслонками 34 для приемного канала 16 и выходного канала 27 соответственно, а также ввод 35 с герметичным уплотнением с плавающей втулкой 36 для приводного вала 15 накопителя.
Плавающие заслонки обеспечивают компенсацию температурных изменений размеров накопителя относительно корпуса камеры 1, также компенсацию до нескольких миллиметров неточностей изготовления бескаркасного корпуса камеры 1 при общей сборке.
Привод 37 вала ротора размещен на внешней стенке камеры 1 и выполнен в виде ременной передачи с пассиком 38 круглого сечения и ведомым шкивом 39, размещенным на приводном валу 15.
Использование пассика круглого сечения позволяет компенсировать неточности изготовления внутренней обшивки камеры 1 относительно внешней, а также предотвращает возможность механического повреждения приборов 4 в случае их заклинивания относительно продольных направляющих ротора и витков неподвижной винтовой направляющей 7 в накопителе.
Опорная стойка 13 содержит регулирующий винт 40 и вилку-держатель 41, установленную в паз оси 6 верхним концом и в центральное отверстие винта 40 своим нижним концом, а также фиксирующую контргайку 42. Регулировочный винт 40 позволяет с высокой точностью производить настройку по высоте опорной стойки 13 относительно опорной стойки 14 по общей для двух опор продольной оси винтовой направляющей 7. Это, в свою очередь, обеспечивает легкость вращения ротора 2 накопителя. Контргайка 42 обеспечивает фиксацию настройки опоры 13 по высоте.
Узел загрузки 17 закреплен на корпусе камеры 1 на кронштейне 43, установленном в направляющий паз основания 44, и имеет возможность продольного перемещения по пазу (не показан) при тепловом сжатии или расширении накопителя за счет продольного перемещения незакрепленного конца плиты 12 вместе с опорной стойкой 14. Это повышает надежность загрузки приборов 4 в накопитель и их выгрузки из камеры 1, обеспечивая универсальность работы всего устройства при переходах с низкотемпературных рабочих режимов на высокотемпературные и наоборот.
Устройство работает следующим образом.
В узел загрузки 17 устанавливают пенал с приборами 4 в спутниках, которые механизмом поштучной выдачи 18 подаются в лоток 19 и далее в приемный канал 16. Загрузка приборов 4 осуществляется до заполнения приемного канала 16, при этом образовавшийся столб загрузки из спутников с приборами обеспечивает значительную герметизацию входа в камеру 1 и за счет воздействующей массы верхних приборов на нижний прибор 4 облегчает загрузку приборов в накопитель.
После загрузки последнего прибора 4 в столб загрузки ротор 2 накопителя поворачивается на шаг и стенки лотков 3 ротора 2 перемещают прибор 4 по неподвижной винтовой направляющей 7 с позиции загрузки, освобождая ее под следующий прибор.
Через канал 16 приборы по одному поступают в приемные пазы 10 лотков 3 продольных направляющих ротора 2. При движении в приемный паз прибор вертикальной стенкой контактирует с поверхностью плоского кольца 8, сохраняя вертикальное положение, а горизонтальной стенкой опирается на поддерживающий сегмент 9 и плавно перемещается по нему до приемного паза 10. Попадая в паз 10, нижняя часть спутника прибора 4 фиксируется между двумя соседними витками неподвижной винтовой направляющей 7, а верхняя часть продольными стенками лотка 3.
При дальнейшем повороте ротора 2 очередной сверху стоящий спутник с прибором 4 из столба загрузки перемещается на поддерживающий сегмент 9, и после окончания скольжения по сегменту 9 по мере окончания шага вращения ротора 2 прибор 4 загружается в приемный паз 10 очередного лотка 3.
При прохождении первой половины заходного витка винтовой направляющей 7 подпружиненная лента 11 обеспечивает поддержание и легкое прижатие к цилиндрической части винтовой направляющей 7 приборов 4, предотвращая их выпадение из приемных пазов 10 и заклинивание между витками винтовой направляющей 7 и верхней стенкой лотка 3. Пройдя всю винтовую направляющую 7, прибор выходит на позицию выгрузки.
На всем своем пути в накопителе прибор 4 равномерно обдувается потоком воздуха заданной температуры. Вращение ротора 2 накопителя позволяет менять положение прибора 4 относительно направления потока теплоносителя, что значительно улучшает равномерность и увеличивает скорость достижения прибором заданной температуры. Отсутствие застойных зон объясняется малым объемом камеры 1 и замкнутостью траектории движения теплового потока. Эти особенности позволяют устройству быстро выходить на рабочий режим, расходуя минимальное количество энергии.
На позиции выгрузки прибор 4 попадает в выходное окно 20, откуда поступает в направляющую узла контактирования 21, и далее в подвижную каретку 22. Каретка 22 подает прибор 4 в спутнике на контакты узла 21. После контактирования каретка 22 совершает обратное движение, выгружая измеренный прибор 4 и возвращаясь на прием очередного прибора. Выгруженный из узла контактирования 21, прибор 4 поступает в канал 24 механизма сортировки, где по команде от измерительного устройства (не показано) срабатывает, перекрывая канал, отсекатель 25 той группы сортировки, к которой относится прибор. Поймав прибор 4, отсекатель 25 загружает его в пенал 26, освобождая канал 24 для следующих приборов.

Claims (3)

1. Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов, включающее проходную камеру с приемным каналом перед узлом загрузки, размещенный в ней накопитель с неподвижной винтовой направляющей, установленной внутри транспортирующего приводного ротора с продольными направляющими в виде лотков с поперечными пазами для загрузки и выгрузки приборов, узел контактирования с приемным лотком приборов из накопителя и механизм сортировки, отличающееся тем, что накопитель дополнительно снабжен вертикальной направляющей приборов на выходе приемного канала в виде плоского кольца с поддерживающими сегментами, закрепленными на его внутренней образующей и размещенными между кромками приемных пазов соседних лотков с образованием кольцевой поверхности, и гибкой ленты, подпружиненной концами относительно приемного канала и охватывающей приемные пазы лотков и поддерживающие сегменты, а накопитель размещен на опорных стойках, установленных на плите, консольно закрепленной на корпусе камеры, причем одна опорная стойка, установленная на свободном конце плиты, жестко связана с приемным каналом, который дополнительно жестко связан с направляющим лотком узла загрузки, выполненным с возможностью продольного перемещения, другая опорная стойка выполнена регулируемой по высоте и с возможностью поворота вокруг своей оси, при этом узел контактирования жестко соединен с корпусом камеры, а его приемный лоток жестко соединен с плитой накопителя со стороны закрепленного конца.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что камера выполнена бескаркасной, а отверстия в ее корпусе для приводного вала, приемного и выгрузного каналов вала снабжены герметичными уплотнениями с плавающими заслонками.
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что привод вала ротора выполнен в виде ременной передачи с пассиком и размещен на внешней стенке камеры.
RU2011142681/28A 2011-10-21 2011-10-21 Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов RU2479889C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011142681/28A RU2479889C1 (ru) 2011-10-21 2011-10-21 Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2011142681/28A RU2479889C1 (ru) 2011-10-21 2011-10-21 Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2479889C1 true RU2479889C1 (ru) 2013-04-20

Family

ID=49152811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2011142681/28A RU2479889C1 (ru) 2011-10-21 2011-10-21 Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2479889C1 (ru)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU565339A1 (ru) * 1975-07-07 1977-07-15 Предприятие П/Я Р-6707 Проходна камера дл климатических испытаний полупроводниковых приборов
SU747518A1 (ru) * 1978-04-11 1980-07-15 Предприятие П/Я Р-6702 Камера дл климатических испытаний
SU1018550A1 (ru) * 1981-10-05 1991-02-15 Предприятие П/Я Р-6707 Устройство дл климатических испытаний полупроводниковых приборов
SU1654789A1 (ru) * 1989-03-06 1991-06-07 Предприятие П/Я Р-6707 Устройство дл климатических испытаний изделий электронной техники
RU2042295C1 (ru) * 1991-07-01 1995-08-20 Научно-производственное предприятие "Восток" Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов
RU1572342C (ru) * 1987-04-15 1995-10-20 Махаев Владимир Гаврилович Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов
JP2000260838A (ja) * 1999-03-10 2000-09-22 Orion Mach Co Ltd 電子部品用環境試験装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU565339A1 (ru) * 1975-07-07 1977-07-15 Предприятие П/Я Р-6707 Проходна камера дл климатических испытаний полупроводниковых приборов
SU747518A1 (ru) * 1978-04-11 1980-07-15 Предприятие П/Я Р-6702 Камера дл климатических испытаний
SU1018550A1 (ru) * 1981-10-05 1991-02-15 Предприятие П/Я Р-6707 Устройство дл климатических испытаний полупроводниковых приборов
RU1572342C (ru) * 1987-04-15 1995-10-20 Махаев Владимир Гаврилович Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов
SU1654789A1 (ru) * 1989-03-06 1991-06-07 Предприятие П/Я Р-6707 Устройство дл климатических испытаний изделий электронной техники
RU2042295C1 (ru) * 1991-07-01 1995-08-20 Научно-производственное предприятие "Восток" Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов
JP2000260838A (ja) * 1999-03-10 2000-09-22 Orion Mach Co Ltd 電子部品用環境試験装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN208225844U (zh) 自动化晶圆测试装置
US10510574B2 (en) Prober
CN106895677B (zh) 一种盘类零件的烘干装置
RU2479889C1 (ru) Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов
WO2023245970A1 (zh) 一种非稳态墙体传热特性测试装置
JP2015144155A (ja) プローバ
KR101312006B1 (ko) 반도체 소자의 고온 테스트를 위한 챔버
JP6379253B2 (ja) プローバ
KR102120714B1 (ko) 반도체소자 테스트용 핸들러
CN106840956A (zh) 冷热双腔蒸发残渣测定仪
CN215813109U (zh) 老化测试柜
CN104406887B (zh) 一种食用油检测装置
CN110440731A (zh) 一种新型螺纹自动检测平台
CN213843074U (zh) 一种检测精度高的高低温检测仪
CN214583968U (zh) 一种功率型led光源器件积分球光学测试装置
RU1572342C (ru) Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов
CN212723135U (zh) 一种电子产品元件老化测试装置
CN207280167U (zh) 一种用于四通阀氦检和综合测试的真空干燥机构
US11094568B2 (en) Processing apparatus, abnormality detection method, and storage medium
CN103162870B (zh) 空气浴温度检定校准系统
ES2401336T3 (es) Dispositivo y procedimiento para la generación de nieve de dióxido de carbono
CN206891893U (zh) 冷热双腔蒸发残渣测定仪
RU2426087C1 (ru) Стенд для высотных испытаний двухконтурных турбореактивных двигателей
CN114774883B (zh) 一种紧凑型雾化辅助cvd薄膜制备装置
CN105944974B (zh) 热敏电阻成品空气介质中高精度的测量装置

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20151022