RU2019143417A - Оптические устройства для калибровки и для анализа качества остекления и способы для этого - Google Patents

Оптические устройства для калибровки и для анализа качества остекления и способы для этого Download PDF

Info

Publication number
RU2019143417A
RU2019143417A RU2019143417A RU2019143417A RU2019143417A RU 2019143417 A RU2019143417 A RU 2019143417A RU 2019143417 A RU2019143417 A RU 2019143417A RU 2019143417 A RU2019143417 A RU 2019143417A RU 2019143417 A RU2019143417 A RU 2019143417A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
optical
glazing
line
calibration
quality
Prior art date
Application number
RU2019143417A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2019143417A3 (ru
Inventor
Ромен Декурселль
Оливье ДЮМУЛЕН
Тео РЫБАРЧИК
Original Assignee
Сэн-Гобэн Гласс Франс
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сэн-Гобэн Гласс Франс filed Critical Сэн-Гобэн Гласс Франс
Publication of RU2019143417A publication Critical patent/RU2019143417A/ru
Publication of RU2019143417A3 publication Critical patent/RU2019143417A3/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B23/00—Re-forming shaped glass
    • C03B23/02—Re-forming glass sheets
    • C03B23/023—Re-forming glass sheets by bending
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B27/00—Tempering or quenching glass products
    • C03B27/04—Tempering or quenching glass products using gas
    • C03B27/0417—Controlling or regulating for flat or bent glass sheets
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B35/00—Transporting of glass products during their manufacture, e.g. hot glass lenses, prisms
    • C03B35/14—Transporting hot glass sheets or ribbons, e.g. by heat-resistant conveyor belts or bands
    • C03B35/16—Transporting hot glass sheets or ribbons, e.g. by heat-resistant conveyor belts or bands by roller conveyors
    • C03B35/163—Drive means, clutches, gearing or drive speed control means
    • C03B35/164—Drive means, clutches, gearing or drive speed control means electric or electronicsystems therefor, e.g. for automatic control
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • G01B11/168—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge by means of polarisation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00—Measuring force or stress, in general
    • G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
    • G01L1/241—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet by photoelastic stress analysis
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L5/00—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes
    • G01L5/16—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force
    • G01L5/161—Apparatus for, or methods of, measuring force, work, mechanical power, or torque, specially adapted for specific purposes for measuring several components of force using variations in ohmic resistance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
    • G01M11/336—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face by measuring polarization mode dispersion [PMD]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21—Polarisation-affecting properties
    • G01N21/23—Bi-refringence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2225/00—Transporting hot glass sheets during their manufacture
    • C03B2225/02—Means for positioning, aligning or orientating the sheets during their travel, e.g. stops
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B25/00—Annealing glass products
    • C03B25/04—Annealing glass products in a continuous way
    • C03B25/06—Annealing glass products in a continuous way with horizontal displacement of the glass products
    • C03B25/08—Annealing glass products in a continuous way with horizontal displacement of the glass products of glass sheets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21—Polarisation-affecting properties
    • G01N2021/216—Polarisation-affecting properties using circular polarised light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Claims (39)

1. Оптическое устройство (1000, 1001, 1002), характеризующееся тем, что оно содержит первый полярископ, включающий в себя в этом порядке, в оптическом совмещении вдоль оптической оси (Z):
первый источник (1) света, предпочтительно полихроматический, с данным спектром, размещенный ортогонально оптической оси и выдающий световой пучок;
первый круговой поляризатор (2), поляризующий в первом направлении вращения плоскости поляризации, размещенный ортогонально оптической оси и включающий в себя первый линейный поляризатор, после которого размещена первая четвертьволновая пластина; и
первый анализатор (2), представляющий собой круговой поляризатор, поляризующий во втором направлении вращения плоскости поляризации, противоположном первому направлению вращения, размещенный ортогонально оптической оси и включающий в себя вторую четвертьволновую пластину, после которой размещен второй линейный поляризатор;
тем, что оптическое устройство содержит после первого анализатора и в упомянутом оптическом совмещении первый цифровой датчик (6, 6'), размещенный ортогонально оптической оси, и первый объектив (5, 5'), размещенный ортогонально оптической оси и задающий фокальную плоскость, причем упомянутый первый объектив расположен обращенным к первому цифровому датчику, между первым анализатором и первым цифровым датчиком;
тем, что оптическое устройство содержит размещенный ортогонально оптической оси, между первым поляризатором и первым анализатором и в упомянутом оптическом совмещении, калиброванный первый генератор (3) оптической задержки для создания оптических задержек в диапазоне AB со значением A предпочтительно в пределах от 0 нм до 100 нм и с разностью B–A, предпочтительно равной по меньшей мере 100 нм, причем первый генератор оптической задержки находится в упомянутой фокальной плоскости;
тем, что первый цифровой датчик включает в себя набор первых фотодетекторов (6, 6'), чувствительных к спектру первого источника света и имеющих данный спектральный отклик, причем один или более первых фотодетекторов, называемых калибровочными фотодетекторами, расположены обращенными к первому генератору оптической задержки, причем каждый первый калибровочный фотодетектор принимает последовательно для каждой из упомянутых оптических задержек в упомянутом диапазоне AB световую энергию, выдаваемую из светового пучка, выходящего из первого анализатора, причем первый цифровой датчик затем формирует так называемые калибровочные цифровые изображения для упомянутых оптических задержек в упомянутом диапазоне AB, причем каждое калибровочное цифровое изображение формируется из одного или более пикселов с одним или более опорных каналов Ck, представляющих спектральный отклик одного или более первых калибровочных фотодетекторов;
и тем, что оптическое устройство дополнительно содержит первый блок цифровой обработки всех калибровочных цифровых изображений, причем упомянутый первый блок обработки формирует калибровочную базу данных, содержащую для каждой оптической задержки в диапазоне AB численные значения Ik для каждого из опорных каналов Ck, причем Ik представляют световые энергии, уловленные одним или более первыми калибровочными фотодетекторами.
2. Оптическое устройство (1000, 1001, 1002) по п. 1, характеризующееся тем, что калиброванный первый генератор оптической задержки включает в себя оптическую систему из двулучепреломляющего материала, выбранного из следующего:
набор калиброванных статических оптических плоских волновых пластин, являющихся взаимозаменяемыми, причем каждая пластина вставляется последовательно в оптическое устройство; или
система (3), такая как, в частности, компенсатор Бабине–Солейля, включающий в себя первую и вторую клиновидные пластины из двулучепреломляющего материала, причем вторая пластина является поступательно перемещаемой относительно статической первой пластины, причем компенсатор, в частности, задается посредством апертуры (31), центрируемой на оптической оси, причем апертура полностью освещается первым источником света, апертура находится в упомянутой фокальной плоскости, а один или более первых калибровочных фотодетекторов обращены к апертуре.
3. Оптическое устройство (1000, 1001, 1002) по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что изменение оптической задержки является автоматизированным и, в частности, управляемым компьютером, причем первый генератор (3) оптической задержки, в частности, представляет собой снабженный двигателем и, в частности, управляемый компьютером компенсатор, такой как компенсатор Бабине–Солейля, и имеет возможность автоматически постепенно увеличивать оптические задержки в диапазоне AB, в частности, с шагом приращения P0 самое большее 0,5 нм и даже самое большее 0,3 нм, в частности, между 15 и 25 нм и даже между 0 и 25 нм, либо тем, что изменение статической оптической плоской волновой пластины является автоматизированным, например, с помощью автоматизированной системы на основе поворотной площадки или поступательно перемещаемого типа.
4. Оптическое устройство (1000, 1001, 1002) по одному из пп. 2 или 3, характеризующееся тем, что апертура (31) компенсатора является круговой с диаметром O1, или апертура компенсатора имеет эквивалентный диаметр O1 диаметра или эквивалентный диаметр самое большее 30 мм, центр апертуры вписывается в центральный диск с диаметром O1/2, и один или более используемых первых калибровочных фотодетекторов полностью обращены к упомянутому центральному диску с диаметром или эквивалентным диаметром самое большее 25 мм и даже самое большее 10 мм и еще лучше по меньшей мере 5 мм.
5. Оптическое устройство (1000, 1001, 1002) по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что опорные каналы Ck содержат или даже представляют собой три канала, красный, зеленый и синий, называемые RGB–каналами.
6. Оптическое устройство (1000, 1001, 1002) по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что первый генератор оптической задержки включает в себя входную область (31), которая освещается световым пучком и которая задает область калибровки диаметра или эквивалентного диаметра самое большее 30 мм и предпочтительно в диапазоне от 5 мм до 25 мм.
7. Оптическое устройство (1000, 1001, 1002) по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что оптическая ось (Z) является вертикальной, и первый полярископ, первый цифровой датчик (6), объектив (5) и первый генератор оптической задержки находятся на линии нагрева и закалки, после закалочной системы, причем остекление не движется через зону калибровки и еще лучше останавливается, а линия включает в себя транспортер, предпочтительно горизонтальный, для транспортировки остеклений вдоль оси Y транспортировки, причем линия необязательно представляет собой гибочно–закалочную линию, причем первый полярископ, первый цифровой датчик, объектив (5) и первый генератор оптической задержки находятся после гибочной системы.
8. Оптическое устройство (1000, 1001) по предшествующему пункту, характеризующееся тем, что транспортер (8) включает в себя два ролика, которые расположены на расстоянии межроликового пространства, первый источник света находится под зоной транспортировки, находится между двумя роликами и/или под двумя роликами, причем упомянутый первый источник света необязательно находится на источникодержателе, который расположен на расстоянии от земли, и первый цифровой датчик является линейным и расположен на расстоянии и находится выше двух роликов.
9. Оптическое устройство (1000, 1001) по одному из пп. 7 и 8, характеризующееся тем, что транспортер включает в себя два ролика, расположенных на расстоянии межроликового пространства, и первый генератор оптической задержки прикреплен на монтажном держателе (7) к двум роликам, причем упомянутый монтажный держатель имеет отверстие, обращенное к области калибровки первого генератора оптической задержки, которая представляет собой входную область, освещаемую световым пучком.
10. Оптическое устройство (1000, 1001) по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что первый цифровой датчик (6) является линейным.
11. Оптическое устройство (1000, 1001, 1002) по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что первый источник света, в частности, неорганические светоизлучающие диоды (1) или один или более органических светоизлучающих диодов, образует линейную светящуюся ленту, и, в частности, поперечные области светящейся ленты закрываются маской, при этом центральная область освещает первый генератор оптической задержки.
12. Оптическое устройство (1002) по одному из пп. 1–8, характеризующееся тем, что первый цифровой датчик является датчиком с матрицей, причем первые фотодетекторы размещены в этой матрице.
13. Оптическое устройство (1002) по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что оно включает в себя первое коллимирующее средство после первого источника (1') света и до первого генератора оптической задержки, и даже предпочтительно до первого поляризатора (2), и тем, что первый объектив (5') является телецентрическим.
14. Оптическое устройство (1000, 1002) по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что оно включает в себя расположенную между первым генератором оптической задержки и линейным первым датчиком, до первого анализатора, калиброванную оптическую волновую пластину (4) с задержкой A'0, выбранной в зоне, в которой взаимосвязь между значением Ik и оптической задержкой является практически линейной для по меньшей мере одного из опорных каналов Ck.
15. Оптическое устройство по одному из предшествующих пунктов, характеризующееся тем, что первый источник света является управляемым компьютером, и/или первые фотодетекторы являются управляемыми компьютером.
16. Устройство (2001, 2002, 2003) для анализа качества остекления, включающее в себя первый полярископ (1, 2, 2'), в частности, калибруемый, предпочтительно посредством калиброванного генератора (3) оптической задержки, первый цифровой датчик (6, 6'), в частности калибруемый, предпочтительно посредством калиброванного первого генератора (3) оптической задержки, первый объектив (5, 5') и упомянутую калибровочную базу данных оптического устройства, охарактеризованного в одном из предшествующих пунктов, в частности, устройство для анализа качества не включает в себя ни калиброванный первый генератор (3) оптической задержки, ни фактически монтажный держатель калиброванного первого генератора (3) оптической задержки, характеризующееся тем, что, в частности при работе, остекление (100) находится между первым поляризатором (2) и первым анализатором (2'), оптическая ось является перпендикулярной плоскости, тангенциальной к поверхности остекления на освещаемом участке поверхности, и характеризующееся тем, что каждый первый фотодетектор упомянутого набора способен принимать световую энергию в спектре первого источника света, выдаваемую из светового пучка, выходящего из первого анализатора, первый цифровой датчик затем формирует цифровые изображения, называемые цифровыми изображениями для анализа качества, причем каждое цифровое изображение для анализа качества формируется из одного или более пикселов с упомянутым(и) опорным(и) каналом(ами) Ck, которые представляют спектральный отклик первых фотодетекторов, и тем, что оно дополнительно содержит блок цифровой обработки всех цифровых изображений для анализа качества и всех изображений необязательного второго цифрового датчика, обращенного к упомянутому освещаемому участку поверхности, формирующий карту оптических задержек по отношению к упомянутому освещаемому участку поверхности посредством калибровочной базы данных.
17. Устройство для анализа качества остекления по предшествующему пункту на устройство для анализа, характеризующееся тем, что оно содержит процессор, который на основе карты определяет один или более показателей, которые предпочтительно основаны на математическом или статистическом анализе.
18. Устройство для анализа качества остекления по одному из предшествующих пунктов на устройство для анализа, характеризующееся тем, что оптическая ось (Z) предпочтительно является вертикальной, и первый полярископ и первый цифровой датчик находятся на линии нагрева и закалки, после закалочной системы, причем линия включает в себя транспортер, предпочтительно горизонтальный, для транспортировки остеклений вдоль оси Y транспортировки, причем производственная линия необязательно является линией нагрева, гибки и закалки, первый полярископ и первый цифровой датчик находятся после гибочной системы, и тем, что первый цифровой датчик является линейным, а первые фотодетекторы располагаются в ряд.
19. Устройство для анализа качества остекления по предшествующему пункту на устройство для анализа, характеризующееся тем, что оно включает в себя детектор присутствия остекления до первого источника света, в частности, чтобы инициировать первое получение во время to и/или предпочтительно выдавать индикатор мгновенной скорости V двух роликов, обрамляющих первый источник света.
20. Устройство (2003) для анализа качества остекления по любому из пунктов 16 и 17 на устройство для анализа, характеризующееся тем, что остекление предпочтительно является статическим, горизонтальным или вертикальным, и тем, что первый цифровой датчик является датчиком с матрицей, причем первые фотодетекторы размещены в матрице.
21. Линия нагрева и закалки, включающая в себя транспортер, предпочтительно горизонтальный, для транспортировки остеклений вдоль оси Y транспортировки, причем линия необязательно представляет собой гибочно–закалочную линию и включает в себя после закалочной системы оптическое устройство по одному из пп. 1–15, причем остекление не движется через зону калибровки и еще лучше останавливается, и в случае гибки первый полярископ, первый цифровой датчик, объектив (5) и первый генератор оптической задержки находятся после гибочной системы.
22. Линия нагрева и закалки по предшествующему пункту, характеризующаяся тем, что транспортер (8) включает в себя два ролика, расположенные на расстоянии межроликового пространства, первый источник света находится под зоной транспортировки, находится между двумя роликами и/или под двумя роликами, причем упомянутый первый источник света необязательно находится на источникодержателе, который расположен на расстоянии от земли, и первый цифровой датчик является линейным и расположен на расстоянии от и выше двух роликов.
23. Линия нагрева и закалки по одному из пп. 21 и 22, характеризующаяся тем, что транспортер включает в себя два ролика, расположенных на расстоянии межроликового пространства, и первый генератор оптической задержки прикреплен на монтажном держателе (7) к двум роликам, причем упомянутый монтажный держатель имеет отверстие, обращенное к области калибровки первого генератора оптической задержки, которая представляет собой входную область, освещаемую световым пучком.
24. Линия нагрева и закалки, которая включает в себя транспортер, предпочтительно горизонтальный, для транспортировки остеклений вдоль оси Y транспортировки, причем линия необязательно представляет собой гибочно–закалочную линию и включает в себя после закалочной системы устройство для анализа качества по одному из пп. 16–20, причем оптическая ось (Z) предпочтительно является вертикальной, характеризующаяся тем, что первый цифровой датчик является линейным, первые фотодетекторы расположены в ряд, и, необязательно, в частности, производственная линия является линией нагрева, гибки и закалки, первый полярископ и первый цифровой датчик находятся после гибочной системы, и, в частности при работе, остекление (100) находится между первым поляризатором (2) и первым анализатором (2').
25. Линия нагрева и закалки по предшествующему пункту, характеризующаяся тем, что она включает в себя детектор присутствия остекления до первого источника света, в частности, чтобы инициировать первое получение во время to и/или предпочтительно выдавать индикатор мгновенной скорости V двух роликов, обрамляющих первый источник света.
26. Способ изготовления остекления, содержащий, последовательно, формирование остекления, нагрев и закалку или гибку–закалку с последующим анализом качества остекления (100) с использованием устройства для анализа по любому из пп. 16–20, предпочтительно на линии нагрева и закалки, причем упомянутому анализу качества предпочтительно предшествует калибровка первого цифрового датчика и первого полярископа, составляющих часть оптического устройства по одному из пп. 1–15, посредством введения оптической задержки, варьируемой в диапазоне AB, предпочтительно автоматически, в первый полярископ с использованием калиброванного первого генератора оптической задержки, предпочтительно автоматизированного, причем упомянутую калибровку предпочтительно выполняют на линии во время остановки.
27. Способ изготовления остекления по предшествующему пункту, характеризующийся тем, что анализ качества остекления выполняется на линии нагрева и закалки и приводит к предупреждению или к прекращению изготовления и/или нагрева, и/или линии, и/или к формированию обратной связи по параметрам нагревательного и/или закалочного устройства.
28. Способ калибровки первого цифрового датчика и первого полярископа, составляющих часть оптического устройства по одному из пп. 1–15, посредством введения оптической задержки, варьируемой в диапазоне AB, предпочтительно автоматически, в первый полярископ с использованием калиброванного первого генератора оптической задержки, предпочтительно автоматизированного.
29. Способ анализа качества остекления, реализуемый после способа калибровки по предшествующему пункту, причем упомянутый анализ качества основан на устройстве для анализа качества по одному из пунктов на устройство для анализа качества, причем остекление (100) находится между первым поляризатором (2) и первым анализатором (2'), оптическая ось, в частности, является перпендикулярной плоскости, тангенциальной к поверхности остекления на освещаемом участке поверхности, причем упомянутый анализ качества предпочтительно выполняют на линии нагрева и закалки во время остановки, причем устройство для анализа качества расположено после закалки.
30. Способ анализа качества остекления по предшествующему пункту, характеризующийся тем, что его выполняют на линии нагрева и закалки после закалки, причем остекление является перемещаемым и, в частности, поступательно движется по транспортеру линии.
RU2019143417A 2017-05-31 2018-05-31 Оптические устройства для калибровки и для анализа качества остекления и способы для этого RU2019143417A (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1754799A FR3067111B1 (fr) 2017-05-31 2017-05-31 Dispositifs optiques pour l'analyse qualite d'un vitrage.
FR1754799 2017-05-31
PCT/FR2018/051250 WO2018220328A1 (fr) 2017-05-31 2018-05-31 Calibration des dispositifs optiques pour l'analyse de qualite d'un vitrage et procedes associes

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2019143417A true RU2019143417A (ru) 2021-07-01
RU2019143417A3 RU2019143417A3 (ru) 2021-11-26

Family

ID=59859198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019143417A RU2019143417A (ru) 2017-05-31 2018-05-31 Оптические устройства для калибровки и для анализа качества остекления и способы для этого

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20200088651A1 (ru)
EP (1) EP3631419A1 (ru)
KR (1) KR20200012915A (ru)
CN (1) CN109564156A (ru)
FR (1) FR3067111B1 (ru)
RU (1) RU2019143417A (ru)
WO (1) WO2018220328A1 (ru)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3077386B1 (fr) 2018-01-31 2020-02-21 Saint-Gobain Glass France Simulation de la fleur de trempe d'un assemblage vitre
US20200049619A1 (en) * 2018-08-08 2020-02-13 GM Global Technology Operations LLC Polarized light filter vision system to detect level of temper in glass
ES2955582T3 (es) * 2019-04-11 2023-12-04 Saint Gobain Método para determinar la sensibilidad de un panel de vidrio a la formación de marcas de enfriamiento rápido
FR3096462A1 (fr) 2019-05-24 2020-11-27 Saint-Gobain Glass France procédé d’évaluation de la qualité visuelle d’un vitrage constitué par une feuille de verre renforcée thermiquement ou comprenant au moins une telle feuille de verre
CN110501352A (zh) * 2019-09-27 2019-11-26 中国建筑科学研究院有限公司 一种钢化玻璃幕墙杂质和缺陷现场检测系统及方法
CN110596123A (zh) * 2019-09-27 2019-12-20 北京奥博泰科技有限公司 一种现场检测钢化玻璃幕墙杂质和缺陷的装置及方法
FI128985B (fi) * 2019-10-22 2021-04-30 Glaston Finland Oy Menetelmä ja laite lasilevyjen lämpökäsittelyprosessin ohjaamiseksi
EP4092571A1 (en) 2021-05-20 2022-11-23 Saint-Gobain Glass France Method to classify quench patterns of heat-treated coated mineral glasses and predict the optical visibility thereof
CN114353703A (zh) * 2022-01-07 2022-04-15 长春希达电子技术有限公司 侧向光方式led屏幕拼接平整度简易测量方法及装置
EP4328570A1 (en) 2022-08-25 2024-02-28 Saint-Gobain Glass France Method to classify quench patterns of insulating glazing units and predict the optical visibility thereof
CN116046819B (zh) * 2023-04-03 2023-06-06 四川中科高能科技发展有限责任公司 一种基于辐照可用物品从而实现可用物品色泽识别方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE506286C2 (sv) * 1996-05-09 1997-12-01 Ifunga Test Equipment Bv Anordning för mätning av dubbelbrytning i en optisk databärare
CN100541149C (zh) * 2001-10-16 2009-09-16 海因兹仪器公司 双折射测量系统的精度校准
BRPI1006401B1 (pt) * 2009-03-19 2019-10-01 Koninklijke Philips N.V. Dispositivo de barbear adaptado para a detecção e o corte de um fio de pêlo perto de uma superfície da pele de uma parte do corpo humano ou de uma parte do corpo animal
BE1019378A3 (fr) 2010-06-17 2012-06-05 Agc Glass Europe Analyse des marques de trempe.
CN102053050B (zh) * 2010-12-07 2013-03-06 上海理工大学 用ccd或cmos为光电探测器件的粒度对中测量方法
US8264675B1 (en) * 2011-05-12 2012-09-11 Georgia Tech Research Corporation Polariscope stress measurement tool and method of use
CN105849321B (zh) * 2013-12-28 2019-04-12 胜高股份有限公司 石英玻璃坩埚及其应变测定装置

Also Published As

Publication number Publication date
RU2019143417A3 (ru) 2021-11-26
US20200088651A1 (en) 2020-03-19
KR20200012915A (ko) 2020-02-05
FR3067111A1 (fr) 2018-12-07
WO2018220328A1 (fr) 2018-12-06
EP3631419A1 (fr) 2020-04-08
CN109564156A (zh) 2019-04-02
FR3067111B1 (fr) 2019-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2019143417A (ru) Оптические устройства для калибровки и для анализа качества остекления и способы для этого
US10060858B2 (en) Device and method for measuring distortion defects in a manufactured float glass strip
US20180120220A1 (en) Measurement device and measurement method for thin film provided with transparent substrate
CN102121902B (zh) 一种在线拉曼光谱仪校正装置及其校正方法
CN103940744B (zh) 小型水果可见/近红外光谱动态在线采集装置
CN107084927B (zh) 基板色度检测方法及装置
US20150377722A1 (en) Stress detection device for light-transmissive structure and stress detection method for the same
US20050143483A1 (en) Apparatus and method for measuring cured state of reaction curable resin
CN106918309A (zh) 电光晶体通光面法线与z轴偏离角的测量装置及其测量方法
CN103575400A (zh) 偏振测量方法、偏振测量装置、偏振测量系统及光配向照射装置
CN211061152U (zh) 一种集成视场、调制传递函数和对中测量的镜头检测设备
US10352874B2 (en) Method and device for verifying the transmittance of a flat glass substrate
CN103792070B (zh) 半导体激光阵列光学特性检测装置
US10557796B2 (en) Method and device for determining the transmittance of a flat glass substrate
RU2642169C2 (ru) Способ и устройство для контроля над шинами или соответствующими полуфабрикатами в производственной линии
CN203849162U (zh) 一种小型水果可见/近红外光谱动态在线采集装置
WO2020162410A1 (ja) プラスチック光ファイバのコア径計測方法およびそれに用いるプラスチック光ファイバのコア径計測装置
CN112539697B (zh) 一种发光装置及其光斑调整方法、检测设备
WO2021130757A1 (en) Combined ocd and photoreflectance method and system
CN115135976A (zh) 精确拉曼光谱法
KR20220022510A (ko) 디스플레이 장치의 제조 방법
TWI470210B (zh) 顯示裝置之光學層件之缺陷檢測方法
JP2013501244A (ja) ガラス基板の不均一度測定システム及び方法
KR102257311B1 (ko) 분광 측정 장치의 측정 헤드 정렬 장치
KR20140088789A (ko) 광학 필름 검사 장치