RU2019116242A - Способ неразрушающего контроля детали турбомашины - Google Patents

Способ неразрушающего контроля детали турбомашины Download PDF

Info

Publication number
RU2019116242A
RU2019116242A RU2019116242A RU2019116242A RU2019116242A RU 2019116242 A RU2019116242 A RU 2019116242A RU 2019116242 A RU2019116242 A RU 2019116242A RU 2019116242 A RU2019116242 A RU 2019116242A RU 2019116242 A RU2019116242 A RU 2019116242A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
grain
diffraction
crystallographic
predetermined threshold
spatial orientation
Prior art date
Application number
RU2019116242A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2741744C2 (ru
RU2019116242A3 (ru
Inventor
Клемен РЕМАША
Эдвар РОМЕРО
Алексиан АРНО
Энри ПРУДОН
Тибольт ЭРБЛАН
Original Assignee
Сафран
Сафран Эйркрафт Энджинз
Сентр Националь Де Ля Решерш Сентифик
"Ассосиасьён Пур Ля Решерш Э Ле Девелопмон Дэ Мэтод Э Просесюс Индустриэль" - А.Р.М.И.Н.Е.С.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Сафран, Сафран Эйркрафт Энджинз, Сентр Националь Де Ля Решерш Сентифик, "Ассосиасьён Пур Ля Решерш Э Ле Девелопмон Дэ Мэтод Э Просесюс Индустриэль" - А.Р.М.И.Н.Е.С. filed Critical Сафран
Publication of RU2019116242A publication Critical patent/RU2019116242A/ru
Publication of RU2019116242A3 publication Critical patent/RU2019116242A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2741744C2 publication Critical patent/RU2741744C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/2055—Analysing diffraction patterns
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N2203/0058—Kind of property studied
    • G01N2203/006—Crack, flaws, fracture or rupture
    • G01N2203/0062—Crack or flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/05—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
    • G01N2223/056—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection diffraction
    • G01N2223/0566—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection diffraction analysing diffraction pattern
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/40—Imaging
    • G01N2223/426—Imaging image comparing, unknown with known substance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/604—Specific applications or type of materials monocrystal
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028—Material parameters
    • G01N2291/0289—Internal structure, e.g. defects, grain size, texture

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Claims (21)

1. Способ контроля ориентации кристаллов по меньшей мере одного кристаллографического зерна детали турбомашины, включающий в себя этапы:
a) пропускание пучка электромагнитного излучения через элементарный объем детали и запись дифракционной информации об электромагнитном излучении, проходящем через деталь;
b) повторение этапа а) для заданной области детали;
c) определение пространственной ориентации кристаллов каждого из упомянутых элементарных объемов и выявление наличия по меньшей мере одного первого кристаллографического зерна, для которого элементарные объемы ориентированы в соответствии с одной и той же кристаллографической ориентацией;
d) вычисление угловой разницы между пространственной ориентацией кристаллов упомянутого первого зерна и заранее заданным направлением относительно детали и сравнение ее с первым заранее заданным пороговым значением; и
e) определение состояния использования детали.
2. Способ по п. 1, который дополнительно включает в себя следующие этапы:
i. идентификация в заданной области наличия по меньшей мере первого и второго различимого кристаллографического зерна из дифракционной информации;
ii. определение пространственной ориентации упомянутого второго зерна детали из дифракционной информации;
iii. вычисление углового отклонения между пространственной ориентацией упомянутого второго зерна и упомянутого заранее заданного направления детали и сравнение его с первым заранее заданным пороговым значением;
iv. вычисление угловой разницы между пространственной ориентацией упомянутого первого зерна и пространственной ориентацией упомянутого второго зерна и сравнение ее со вторым заранее заданным пороговым значением;
v. определение состояния использования детали на этапах d), iii) и iv).
3. Способ по п. 1 или 2, в котором первое заранее заданное пороговое значение составляет от приблизительно -15° до приблизительно 15°.
4. Способ по одному из пп. 1-3, в котором второе заранее заданное пороговое значение составляет от приблизительно -12° до приблизительно 12°.
5. Способ по одному из пп. 1-4, в котором определение состояния использования приводит к отбраковке детали, если одно из отклонений больше, чем заранее заданный порог, с которым оно сравнивается.
6. Способ по одному из пп. 1-5, в котором идентификацию наличия зерна осуществляют путем сравнения дифракционного изображения излучения, которое проходит через деталь, с базой данных, содержащей эталонные дифракционные изображения, соответствующие известным ориентациям зерен в детали, предпочтительно того же типа, что и анализируемая деталь, или путем сравнения положения пиков на дифракционном изображении с известными эталонными положениями пиков, содержащимися в базе данных.
7. Способ по п. 6, в котором эталонные дифракционные изображения представляют собой дифракционные изображения, полученные экспериментальным путем на реальных деталях или на деталях, смоделированных в цифровом виде с кристаллографической точки зрения.
8. Способ по одному из пп. 1-7, в котором дифракционная информация состоит из дифракционного изображения, полученного от пучка, дифрагированного через деталь.
9. Способ по одному из предыдущих пунктов, в котором деталь представляет собой лопатку турбины, причем заранее заданное направление относительно детали, представляет собой продольное направление, проходящее между основанием и вершиной лопатки.
10. Способ по одному из предыдущих пунктов, в котором пучок электромагнитного излучения представляет собой пучок рентгеновских лучей.
11. Способ по одному из пп. 1-10, в котором проводят идентификацию всех кристаллографических зерен заданной области детали, причем заданная область детали, возможно, соответствует всей детали.
RU2019116242A 2016-11-28 2017-11-28 Способ неразрушающего контроля детали турбомашины RU2741744C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR1661602 2016-11-28
FR1661602A FR3059424B1 (fr) 2016-11-28 2016-11-28 Procede de controle non destructif d'une piece de turbomachine
PCT/FR2017/053277 WO2018096302A1 (fr) 2016-11-28 2017-11-28 Procédé de contrôle non destructif d'une pièce de turbomachine

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2019116242A true RU2019116242A (ru) 2020-12-28
RU2019116242A3 RU2019116242A3 (ru) 2020-12-28
RU2741744C2 RU2741744C2 (ru) 2021-01-28

Family

ID=58645131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019116242A RU2741744C2 (ru) 2016-11-28 2017-11-28 Способ неразрушающего контроля детали турбомашины

Country Status (8)

Country Link
US (1) US10996180B2 (ru)
EP (1) EP3545286B1 (ru)
JP (1) JP7203730B2 (ru)
CN (1) CN110192103A (ru)
CA (1) CA3044925A1 (ru)
FR (1) FR3059424B1 (ru)
RU (1) RU2741744C2 (ru)
WO (1) WO2018096302A1 (ru)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB201910587D0 (en) * 2019-07-24 2019-09-04 Rolls Royce Plc Defining parameters for scan of single crystal structure
GB202014235D0 (en) * 2020-09-10 2020-10-28 Rolls Royce Plc System and method of measuring grain orientations
FR3130981A1 (fr) * 2021-12-17 2023-06-23 Safran Ensemble d’étalonnage pour un dispositif d’analyse cristallographique

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3494709A (en) * 1965-05-27 1970-02-10 United Aircraft Corp Single crystal metallic part
DE3439471A1 (de) * 1984-10-27 1986-04-30 MTU Motoren- und Turbinen-Union München GmbH, 8000 München Verfahren und vorrichtung zum pruefen einkristalliner gegenstaende
JP3402603B2 (ja) * 1986-03-27 2003-05-06 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 単結晶製品を製造するための改善された低角粒界耐性を有するニッケル基―超合金
DE3830233A1 (de) * 1988-09-06 1990-03-15 Mtu Muenchen Gmbh Vorrichtung zur bestimmung der kristallstruktur
JPH05312736A (ja) * 1992-05-13 1993-11-22 Rigaku Corp Ｘ線単結晶方位測定装置及び測定方法
JPH09210926A (ja) * 1996-01-31 1997-08-15 Mitsubishi Heavy Ind Ltd １方向凝固翼の結晶方位測定方法
US6005913A (en) 1996-04-01 1999-12-21 Siemens Westinghouse Power Corporation System and method for using X-ray diffraction to detect subsurface crystallographic structure
CA2544464A1 (en) * 2006-04-21 2007-10-21 United Technologies Corporation Ultrasonic determination of crystal grain orientation systems and methods for determining the velocity of ultrasonic surface skimming longitudinal waves on various materials
US7978821B1 (en) * 2008-02-15 2011-07-12 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Laue crystallographic orientation mapping system
CN101435784B (zh) * 2008-10-14 2012-01-18 重庆大学 涡轮叶片ct检测装置及其检测方法
US8130908B2 (en) * 2009-02-23 2012-03-06 X-Ray Optical Systems, Inc. X-ray diffraction apparatus and technique for measuring grain orientation using x-ray focusing optic
US8477905B2 (en) * 2009-03-20 2013-07-02 Proto Manufacturing Ltd. Non-destructive testing systems and methods
RU2427826C1 (ru) * 2010-05-11 2011-08-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" (ФГУП "ВИАМ") Способ определения остаточных напряжений в изделиях из монокристаллических материалов рентгеновским методом
US8605858B2 (en) 2011-06-27 2013-12-10 Honeywell International Inc. Methods and systems for inspecting structures for crystallographic imperfections
RU2488099C1 (ru) * 2011-12-29 2013-07-20 Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Сатурн" Способ рентгеноструктурного контроля детали
US20140270072A1 (en) * 2013-03-13 2014-09-18 Robert L. McCormick Grain size inspection of a gas turbine component by x-ray refraction
US9939393B2 (en) * 2015-09-28 2018-04-10 United Technologies Corporation Detection of crystallographic properties in aerospace components

Also Published As

Publication number Publication date
FR3059424A1 (fr) 2018-06-01
BR112019010824A2 (pt) 2019-10-01
CN110192103A (zh) 2019-08-30
WO2018096302A1 (fr) 2018-05-31
US10996180B2 (en) 2021-05-04
RU2741744C2 (ru) 2021-01-28
JP7203730B2 (ja) 2023-01-13
JP2019536042A (ja) 2019-12-12
RU2019116242A3 (ru) 2020-12-28
EP3545286B1 (fr) 2023-11-08
CA3044925A1 (fr) 2018-05-31
US20200386695A1 (en) 2020-12-10
FR3059424B1 (fr) 2018-11-09
EP3545286A1 (fr) 2019-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2019116242A (ru) Способ неразрушающего контроля детали турбомашины
Kromanis et al. A multiple camera position approach for accurate displacement measurement using computer vision
US7239263B1 (en) Platform shake compensation method in synthetic aperture processing system
Ginn et al. TakeTwo: an indexing algorithm suited to still images with known crystal parameters
MX361122B (es) Aparato de difracción de rayos x y método de medición de difracción de rayos x.
RU2016109942A (ru) Способ и устройство для проверки ценных документов на наличие нерегулярностей
JP2020119447A5 (ru)
EP2980603A1 (en) Two step pruning in a phd filter
EP2980605A1 (en) Updating intensities in a phd filter based on a sensor track id
JP6966716B2 (ja) レーダ画像解析システム
KR102126838B1 (ko) 선박의 운동성능 예측 시스템 및 방법, 동 방법을 컴퓨터에서 실행하기 위한 컴퓨터 프로그램이 기록된, 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
WO2020202259A1 (ja) 合成開口レーダの画像処理装置及び画像処理方法
Antova Registration process of laser scan data in the field of deformation monitoring
US20200225175A1 (en) Analyzing system
EA201992033A1 (ru) Способ комбинированной метрологии для вычисления расстояния, положений по крену и тангажу и относительных ориентаций между двумя интересующими подводными точками
EP2980602B1 (en) Adjusting weight of intensity in a phd filter based on sensor track id
US10126256B2 (en) Method and arrangement for identifying crystalline phases, a corresponding computer program, and a corresponding computer-readable storage medium
EP3019857B1 (en) X-ray diffraction-based defective pixel correction method using an active pixel array sensor
TW201931466A (zh) 資料處理裝置、資料處理方法及程式
Pyka Comparison of quality of metric photos relative orientation in Micmac and PhotoScan
US11996000B2 (en) Apparatus and method for inspecting navigation safety facilities by using flight vehicle
US20220335735A1 (en) Method and apparatus for determining object location
JP6934221B2 (ja) 点群データの分割方法、及び点群データの分割装置
US20220309378A1 (en) Analysis device, analysis method, and analysis program
Iancu et al. About the effectiveness of several dissimilarity estimators used in damage assessment