RU2018130989A - Системы и способы для калибровки оптического датчика расстояния - Google Patents

Системы и способы для калибровки оптического датчика расстояния Download PDF

Info

Publication number
RU2018130989A
RU2018130989A RU2018130989A RU2018130989A RU2018130989A RU 2018130989 A RU2018130989 A RU 2018130989A RU 2018130989 A RU2018130989 A RU 2018130989A RU 2018130989 A RU2018130989 A RU 2018130989A RU 2018130989 A RU2018130989 A RU 2018130989A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sensing
optical system
pixel
lens
calibration
Prior art date
Application number
RU2018130989A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2018130989A3 (ru
RU2742228C2 (ru
Inventor
Ангус ПАКАЛА
Марк ФРИХТЛ
Original Assignee
Аустер, Инк.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Аустер, Инк. filed Critical Аустер, Инк.
Publication of RU2018130989A publication Critical patent/RU2018130989A/ru
Publication of RU2018130989A3 publication Critical patent/RU2018130989A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2742228C2 publication Critical patent/RU2742228C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/0295—Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/0252—Constructional arrangements for compensating for fluctuations caused by, e.g. temperature, or using cooling or temperature stabilization of parts of the device; Controlling the atmosphere inside a photometer; Purge systems, cleaning devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06—Systems determining position data of a target
    • G01S17/08—Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06—Systems determining position data of a target
    • G01S17/42—Simultaneous measurement of distance and other co-ordinates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/88—Lidar systems specially adapted for specific applications
    • G01S17/89—Lidar systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4816—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of receivers alone
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497—Means for monitoring or calibrating
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144—Devices controlled by radiation
    • H01L27/146—Imager structures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
    • G01J2001/086—Calibrating drift correction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G01J2001/4413—Type
    • G01J2001/442—Single-photon detection or photon counting
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/44—Electric circuits
    • G01J2001/444—Compensating; Calibrating, e.g. dark current, temperature drift, noise reduction or baseline correction; Adjusting
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
    • G01S7/4814—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of transmitters alone
    • G01S7/4815—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements of transmitters alone using multiple transmitters

Claims (38)

1. Оптическая система, содержащая приемный модуль, содержащий объемную принимающую линзу, апертурный слой, включающий в себя множество воспринимающих апертур, линзовый слой, включающий в себя множество воспринимающих линз, и пиксельный слой, включающий в себя множество воспринимающих пикселов, причем апертурный слой, линзовый слой и пиксельный слой выполнены с возможностью образования множества воспринимающих схем, причем каждая воспринимающая схема в множестве воспринимающих схем определяет дискретное, неперекрывающееся поле зрения за пределами порогового расстояния в области, внешней по отношению к упомянутой оптической системе, и включает в себя воспринимающую апертуру из множества воспринимающих апертур, воспринимающую линзу из множества воспринимающих линз и воспринимающий пиксел из множества воспринимающих пикселов.
2. Оптическая система по п. 1, в которой каждый воспринимающий пиксел выполнен с возможностью выдачи сигнала или последовательности сигналов, соответствующих числу измерений фотонов, падающих на воспринимающий пиксел в течение единственного периода выборки, и причем система дополнительно содержит процессор и компьютерно-читаемый носитель данных, причем процессор выполнен с возможностью выполнения команд, хранимых на компьютерно-читаемом носителе данных, для преобразования чисел измерений падающих фотонов и информации о синхронизации фотонов с известными положениями полей зрения для каждого воспринимающего пиксела в виртуальное трехмерное изображение области, внешней по отношению к системе.
3. Оптическая система по п. 1, причем система выполнена с возможностью функционирования в качестве статического датчика изображения, который собирает двумерные и трехмерные данные о расстоянии пространства или объема в области, внешней по отношению к системе.
4. Оптическая система по п. 1, причем система выполнена с возможностью функционирования в качестве датчика изображения, который, при повороте вокруг оси, параллельной столбцу воспринимающих апертур, собирает трехмерные данные о расстоянии объема, занимаемого системой.
5. Оптическая система по любому из пп. 1-4, в которой воспринимающий пиксел в каждой воспринимающей схеме содержит множество однофотонных лавинных диодных детекторов (SPAD).
6. Оптическая система по любому из пп. 1-5, причем оптическая система дополнительно содержит излучающий модуль, содержащий объемную пропускающую линзу и источник освещения, и причем источник освещения содержит множество излучателей, причем каждый излучатель в множестве излучателей выполнен с возможностью проецирования дискретного луча освещения на рабочей длине волны через объемную пропускающую линзу в область, внешнюю по отношению к оптической системе, и причем каждая воспринимающая схема дополнительно содержит оптический фильтр, расположенный между объемной принимающей линзой и воспринимающим пикселом, причем оптический фильтр выполнен с возможностью пропускания диапазона длин волн света, включающего в себя рабочую длину волны, и блокирования света за пределами этого диапазона.
7. Оптическая система по п. 6, в которой источник освещения содержит множество лазеров.
8. Оптическая система по п. 7, в которой множество лазеров изготовлено на единственном кристалле и демонстрирует по существу подобные характеристики выходных длин волн как функцию температуры.
9. Оптическая система по п. 7, в которой множество лазеров расположено в массиве, характеризующемся шаговым расстоянием излучателей, по существу идентичным шаговому расстоянию воспринимающих апертур.
10. Оптическая система по п. 6, в которой источник освещения содержит монолитный массив поверхностно-излучающих лазеров с вертикальным внешним резонатором (vertical external cavity surface emitting laser, VECSEL) в качестве оптических излучателей.
11. Оптическая система по любому из пп. 6-10, в которой объемная принимающая линза и объемная пропускающая линза расположены в одной плоскости и поперечно смещены друг относительно друга.
12. Оптическая система по п. 11, дополнительно содержащая датчик температуры, термически соединенный с источником освещения.
13. Оптическая система по любому из пп. 6-12, дополнительно содержащая регулятор, функционально соединенный с источником освещения и выполненный с возможностью модифицирования параметра источника освещения.
14. Оптическая система по п. 13, в которой регулятор содержит регулятор температуры, выполненный с возможностью модифицирования температуры источника освещения.
15. Оптическая система по п. 13, в которой
приемный модуль дополнительно содержит калибровочный канал, включающий в себя калибровочную апертуру из апертурного слоя, калибровочную линзу, выровненную с калибровочной апертурой, калибровочный пиксел, по существу выровненный с калибровочной линзой, и оптический фильтр;
источник освещения выполнен с возможностью проецирования первой части света в область перед оптической системой и проецирования второй части света на калибровочный пиксел в калибровочном канале; и
регулятор выполнен с возможностью модифицирования температуры множества излучателей на основе мощности света, детектируемой калибровочным пикселом в калибровочном канале.
16. Оптическая система для выполнения измерений расстояния, причем оптическая система содержит
излучающий модуль, содержащий объемную пропускающую линзу и источник освещения, и, причем, источник освещения содержит множество лазеров, причем каждый лазер в упомянутом множестве лазеров выполнен с возможностью проецирования дискретного луча освещения на рабочей длине волны через объемную пропускающую линзу в область, внешнюю по отношению к упомянутой оптической системе; и
приемный модуль, содержащий объемную принимающую линзу, апертурный слой, включающий в себя множество воспринимающих апертур, линзовый слой, включающий в себя множество воспринимающих линз, пиксельный слой, включающий в себя множество воспринимающих пикселов, и слой оптического фильтра, расположенный между объемной принимающей линзой и множеством воспринимающих пикселов, причем слой оптического фильтра выполнен с возможностью пропускания диапазона длин волн света, включающего в себя рабочую длину волны и блокирования света за пределами этого диапазона;
причем апертурный слой, линзовый слой, слой фильтра и пиксельный слой выполнены с возможностью образования множества воспринимающих схем, причем каждая воспринимающая схема в множестве воспринимающих схем определяет дискретное, неперекрывающееся поле зрения за пределами порогового расстояния в области, внешней по отношению к упомянутой оптической системе, и включает в себя воспринимающую апертуру из множества воспринимающих апертур, воспринимающую линзу из множества воспринимающих линз, оптический фильтр из слоя фильтра, и воспринимающий пиксел из множества воспринимающих пикселов.
17. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по п. 16, дополнительно содержащая регулятор температуры, функционально соединенный с источником освещения и выполненный с возможностью модифицирования температуры источника освещения.
18. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по п. 17, в которой
приемный модуль дополнительно содержит калибровочный канал, включающий в себя калибровочную апертуру из апертурного слоя, калибровочную линзу, выровненную с калибровочной апертурой, калибровочный пиксел, по существу выровненный с калибровочной линзой, и оптический фильтр из слоя фильтра;
источник освещения выполнен с возможностью проецирования первой части света в область перед оптической системой и проецирования второй части света на калибровочный пиксел в калибровочном канале; и
регулятор температуры выполнен с возможностью модифицирования температуры множества лазеров на основе мощности света, детектируемой калибровочным пикселом в калибровочном канале.
19. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по любому из пп. 16-18, в которой каждый воспринимающий пиксел выполнен с возможностью выдачи сигнала или последовательности сигналов, соответствующих числу измерений фотонов, падающих на воспринимающий пиксел в течение единственного периода выборки, и причем система дополнительно содержит процессор и компьютерно-читаемый носитель данных, причем процессор выполнен с возможностью выполнения команд, хранимых на компьютерно-читаемом носителе данных, для преобразования чисел измерений падающих фотонов и информации о синхронизации фотонов с известными положениями полей зрения для каждого воспринимающего пиксела в виртуальное трехмерное изображение области, внешней по отношению к системе.
20. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по п. 19, в которой множество лазеров изготовлено на единственном кристалле и демонстрирует по существу подобные характеристики выходных длин волн как функцию температуры.
21. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по любому из пп. 16-20, в которой воспринимающий пиксел в каждой воспринимающей схеме содержит множество однофотонных лавинных диодных детекторов (SPAD), и источник освещения содержит монолитный массив поверхностно-излучающих лазеров с вертикальным внешним резонатором (vertical external cavity surface emitting laser, VECSEL) в качестве оптических излучателей.
22. Оптическая система для выполнения измерений расстояния, причем оптическая система содержит
приемный модуль, содержащий объемную принимающую линзу, апертурный слой, включающий в себя множество апертур, линзовый слой, включающий в себя множество линз, пиксельный слой, включающий в себя множество пикселов, и слой оптического фильтра, расположенный между объемной принимающей линзой и пиксельным слоем, причем приемный модуль дополнительно включает в себя множество воспринимающих схем и по меньшей мере один калибровочный канал, причем каждая воспринимающая схема в множестве воспринимающих схем и упомянутый по меньшей мере один калибровочный канал включают в себя апертуру из множества апертур, линзу из множества линз, фильтр из слоя фильтра и пиксел из множества пикселов; и
излучающий модуль, содержащий объемную пропускающую линзу и источник освещения, содержащий множество оптических излучателей, выполненных с возможностью выдачи света на рабочей длине волны как функции некоторого параметра, проецирования первой части света через объемную пропускающую линзу в область перед упомянутой оптической системой и проецирования второй части света на пиксел в упомянутом по меньшей мере одном калибровочном канале; и
регулятор, выполненный с возможностью модифицирования параметра множества оптических излучателей на основе мощности света, детектируемой пикселом в калибровочном канале.
23. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по п. 22, в которой регулятор содержит регулятор температуры, выполненный с возможностью модифицирования температуры источника освещения на основе мощности света, детектируемой пикселом в упомянутом по меньшей мере одном калибровочном канале.
24. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по п. 22, в которой регулятор модифицирует рабочий цикл источника освещения.
25. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по п. 22, в которой, для каждой воспринимающей схемы в множестве воспринимающих схем, линза в воспринимающей схеме выровнена с апертурой в воспринимающей схеме, и пиксел в воспринимающей схеме по существу выровнен с линзой в воспринимающей схеме; и в которой каждая воспринимающая схема в множестве воспринимающих схем определяет дискретное, неперекрывающееся поле зрения за пределами порогового расстояния в области, внешней по отношению к оптической системе.
26. Оптическая система для выполнения измерений расстояния по любому из пп. 22-25, дополнительно содержащая оптический обводной канал, продолжающийся от источника освещения к пикселу в упомянутом по меньшей мере одном калибровочном канале.
RU2018130989A 2016-01-29 2017-01-30 Системы и способы для калибровки оптического датчика расстояния RU2742228C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201662289004P 2016-01-29 2016-01-29
US62/289,004 2016-01-29
PCT/US2017/015683 WO2017132691A1 (en) 2016-01-29 2017-01-30 Systems and methods for calibrating an optical distance sensor

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2018130989A true RU2018130989A (ru) 2020-03-02
RU2018130989A3 RU2018130989A3 (ru) 2020-04-27
RU2742228C2 RU2742228C2 (ru) 2021-02-03

Family

ID=59386511

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018130989A RU2742228C2 (ru) 2016-01-29 2017-01-30 Системы и способы для калибровки оптического датчика расстояния

Country Status (16)

Country Link
US (2) US9989406B2 (ru)
EP (1) EP3408677A4 (ru)
JP (1) JP6763971B2 (ru)
KR (1) KR20190016482A (ru)
CN (1) CN108780113B (ru)
AU (1) AU2017212835B2 (ru)
BR (1) BR112018015441A2 (ru)
CA (1) CA3013065A1 (ru)
IL (1) IL260833B (ru)
MX (1) MX2018009265A (ru)
MY (1) MY190572A (ru)
RU (1) RU2742228C2 (ru)
SG (1) SG11201806442YA (ru)
UA (1) UA124098C2 (ru)
WO (1) WO2017132691A1 (ru)
ZA (1) ZA201805645B (ru)

Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9992477B2 (en) 2015-09-24 2018-06-05 Ouster, Inc. Optical system for collecting distance information within a field
US10063849B2 (en) 2015-09-24 2018-08-28 Ouster, Inc. Optical system for collecting distance information within a field
AU2017212835B2 (en) 2016-01-29 2019-03-14 Ouster, Inc. Systems and methods for calibrating an optical distance sensor
US10761195B2 (en) 2016-04-22 2020-09-01 OPSYS Tech Ltd. Multi-wavelength LIDAR system
KR20230074300A (ko) 2016-08-24 2023-05-26 아우스터, 인크. 필드 내에서 거리 정보를 수집하기 위한 광학 시스템
US10557921B2 (en) * 2017-01-23 2020-02-11 Microsoft Technology Licensing, Llc Active brightness-based strategy for invalidating pixels in time-of-flight depth-sensing
DE102017101945A1 (de) * 2017-02-01 2018-08-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Messanordnung mit einem optischen Sender und einem optischen Empfänger
JP6741613B2 (ja) * 2017-03-07 2020-08-19 株式会社日立製作所 放射線撮像装置
US11016178B2 (en) 2017-03-13 2021-05-25 OPSYS Tech Ltd. Eye-safe scanning LIDAR system
KR102449093B1 (ko) * 2017-03-24 2022-09-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102657365B1 (ko) 2017-05-15 2024-04-17 아우스터, 인크. 휘도 향상된 광학 이미징 송신기
CN110832349B (zh) 2017-05-15 2023-10-10 奥斯特公司 全景彩色lidar系统和用于lidar系统的方法
CA3068943A1 (en) 2017-07-05 2019-01-10 Ouster, Inc. Light ranging device with electronically scanned emitter array and synchronized sensor array
KR102435970B1 (ko) 2017-07-28 2022-08-25 옵시스 테크 엘티디 작은 각도 발산을 갖는 vcsel 어레이 lidar 송신기
WO2019055771A1 (en) * 2017-09-14 2019-03-21 Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona COMPACT SPECTROMETER DEVICES, METHODS AND APPLICATIONS
JP7388720B2 (ja) 2017-11-15 2023-11-29 オプシス テック リミテッド ノイズ適応ソリッドステートｌｉｄａｒシステム
US11353556B2 (en) 2017-12-07 2022-06-07 Ouster, Inc. Light ranging device with a multi-element bulk lens system
WO2019195054A1 (en) 2018-04-01 2019-10-10 OPSYS Tech Ltd. Noise adaptive solid-state lidar system
CN110346551A (zh) * 2018-04-04 2019-10-18 南京东纳生物科技有限公司 一种荧光免疫层析定量分析仪检测校准卡及其检测方法
US10760957B2 (en) 2018-08-09 2020-09-01 Ouster, Inc. Bulk optics for a scanning array
US10739189B2 (en) 2018-08-09 2020-08-11 Ouster, Inc. Multispectral ranging/imaging sensor arrays and systems
US20200182974A1 (en) * 2018-12-08 2020-06-11 Magik Eye Inc. Vertical cavity surface emitting laser-based projector
US10852434B1 (en) * 2018-12-11 2020-12-01 Facebook Technologies, Llc Depth camera assembly using fringe interferometery via multiple wavelengths
US11947038B2 (en) 2018-12-21 2024-04-02 Continental Automotive Systems, Inc. Wavelength adaptive narrow band optical filter for a LIDAR system
JP2022526998A (ja) 2019-04-09 2022-05-27 オプシス テック リミテッド レーザ制御を伴うソリッドステートｌｉｄａｒ送光機
US11555891B2 (en) 2019-05-21 2023-01-17 Northrop Grumman Systems Corporation Methods for large angle field of view scanning LIDAR with no movable parts
US11448732B2 (en) 2019-05-21 2022-09-20 Northrop Grumman Systems Corporation Frequency modulated scanning LIDAR with 360 degrees field of view
US11531111B2 (en) 2019-05-21 2022-12-20 Northrop Grumman Systems Corporation 360 degrees field of view scanning lidar with no movable parts
EP3977159A4 (en) 2019-05-30 2023-03-01 Opsys Tech Ltd. EYE-SAFE LONG-RANGE LIDAR SYSTEM WITH ACTUATOR
CN113924506A (zh) 2019-06-10 2022-01-11 欧普赛斯技术有限公司 眼睛安全的长范围固态lidar系统
EP3816657B1 (en) * 2019-10-29 2024-04-24 Hexagon Technology Center GmbH Multi-beam measuring device for 3d scanning of an environment having seamlessly stacked reception modules
CN111077510B (zh) * 2019-12-16 2022-12-02 上海禾赛科技有限公司 一种激光雷达的接收端和激光雷达
CN113472995B (zh) * 2020-03-31 2022-12-06 深圳市安思疆科技有限公司 一种基于spad传感器接收模组的动态自动对焦系统及方法
US11695911B2 (en) 2020-04-27 2023-07-04 Ouster, Inc. Stereoscopic image capturing systems
WO2021235778A1 (ko) 2020-05-22 2021-11-25 주식회사 에스오에스랩 라이다 장치
US11579265B2 (en) 2020-08-19 2023-02-14 Continental Autonomous Mobility US, LLC Lidar system with crosstalk reduction comprising a power supply circuit layer stacked between an avalanche-type diode layer and a read-out circuit layer
EP3992596A1 (en) * 2020-10-30 2022-05-04 Ricoh Company, Ltd. Optical element, optical device, distance measurement apparatus, and mobile object
EP4314880A1 (en) * 2021-03-26 2024-02-07 Sony Semiconductor Solutions Corporation Time-of-flight imaging system and method
EP4141477A1 (en) * 2021-08-24 2023-03-01 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement Imaging lidar apparatus and methods for operation in day-light conditions
CN117109776B (zh) * 2023-10-24 2024-01-19 成都明夷电子科技有限公司 一种光模块单点温度校准方法

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3426868A1 (de) * 1984-07-20 1986-01-30 LITEF Litton Technische Werke der Hellige GmbH, 7800 Freiburg Verfahren und einrichtung zur drehratenauslesung mittels eines passiven optischen resonators
US4744667A (en) * 1986-02-11 1988-05-17 University Of Massachusetts Microspectrofluorimeter
NL9100248A (nl) * 1991-02-13 1992-09-01 Philips & Du Pont Optical Inrichting voor het meten van de reflectie en/of transmissie van een voorwerp.
US5188286A (en) * 1991-12-18 1993-02-23 International Business Machines Corporation Thermoelectric piezoelectric temperature control
JP2919267B2 (ja) * 1994-05-26 1999-07-12 松下電工株式会社 形状検出方法およびその装置
US6043873A (en) * 1997-01-10 2000-03-28 Advanced Optical Technologies, Llc Position tracking system
JPH09331107A (ja) * 1996-06-11 1997-12-22 Canon Inc 波長可変光源及びその波長制御方法及び波長多重通信ネットワーク
US7091462B2 (en) * 2002-08-26 2006-08-15 Jds Uniphase Corporation Transmitter with laser monitoring and wavelength stabilization circuit
WO2005017489A2 (en) * 2003-07-11 2005-02-24 Svt Associates, Inc. Film mapping system
WO2006116637A2 (en) * 2005-04-27 2006-11-02 Massachusetts Institute Of Technology Raman spectroscopy for non-invasive glucose measurements
WO2008072167A1 (en) * 2006-12-12 2008-06-19 Koninklijke Philips Electronics N.V. Sample concentration detector with temperature compensation
US7683962B2 (en) * 2007-03-09 2010-03-23 Eastman Kodak Company Camera using multiple lenses and image sensors in a rangefinder configuration to provide a range map
JP2010128122A (ja) * 2008-11-27 2010-06-10 Olympus Corp 撮像装置
US7876456B2 (en) * 2009-05-11 2011-01-25 Mitutoyo Corporation Intensity compensation for interchangeable chromatic point sensor components
US8285133B2 (en) * 2010-12-03 2012-10-09 Research In Motion Limited Dynamic lighting control in hybrid camera-projector device
DE102011052802B4 (de) * 2011-08-18 2014-03-13 Sick Ag 3D-Kamera und Verfahren zur Überwachung eines Raumbereichs
JP2013181912A (ja) * 2012-03-02 2013-09-12 Seiko Epson Corp 成分分析装置
CN103234527B (zh) * 2013-04-07 2015-06-24 南京理工大学 多光谱光场相机的成像方法
US20150260830A1 (en) * 2013-07-12 2015-09-17 Princeton Optronics Inc. 2-D Planar VCSEL Source for 3-D Imaging
US8836922B1 (en) * 2013-08-20 2014-09-16 Google Inc. Devices and methods for a rotating LIDAR platform with a shared transmit/receive path
US20150124094A1 (en) * 2013-11-05 2015-05-07 Delphi Technologies, Inc. Multiple imager vehicle optical sensor system
JP6292533B2 (ja) * 2013-12-06 2018-03-14 株式会社リコー 物体検出装置及びセンシング装置
JP2015137987A (ja) * 2014-01-24 2015-07-30 アズビル株式会社 距離センサおよび距離計測方法
SG11201606510XA (en) * 2014-03-14 2016-09-29 Heptagon Micro Optics Pte Ltd Optoelectronic modules operable to recognize spurious reflections and to compensate for errors caused by spurious reflections
CN106233123B (zh) * 2014-04-22 2019-08-13 夏普株式会社 光学传感器系统、光学气体传感器系统、微粒传感器系统、发光装置及图像打印装置
US20170026588A1 (en) * 2014-05-01 2017-01-26 Rebellion Photonics, Inc. Dual-band divided-aperture infra-red spectral imaging system
US10709365B2 (en) * 2014-08-21 2020-07-14 I. R. Med Ltd. System and method for noninvasive analysis of subcutaneous tissue
JP2016092146A (ja) * 2014-10-31 2016-05-23 セイコーエプソン株式会社 量子干渉装置、原子発振器、電子機器および移動体
US9330464B1 (en) * 2014-12-12 2016-05-03 Microsoft Technology Licensing, Llc Depth camera feedback
US10063849B2 (en) 2015-09-24 2018-08-28 Ouster, Inc. Optical system for collecting distance information within a field
US9992477B2 (en) 2015-09-24 2018-06-05 Ouster, Inc. Optical system for collecting distance information within a field
AU2017212835B2 (en) 2016-01-29 2019-03-14 Ouster, Inc. Systems and methods for calibrating an optical distance sensor

Also Published As

Publication number Publication date
MY190572A (en) 2022-04-27
RU2018130989A3 (ru) 2020-04-27
RU2742228C2 (ru) 2021-02-03
SG11201806442YA (en) 2018-08-30
JP2019504331A (ja) 2019-02-14
AU2017212835A1 (en) 2018-09-06
US10557750B2 (en) 2020-02-11
UA124098C2 (uk) 2021-07-21
IL260833B (en) 2022-06-01
BR112018015441A2 (pt) 2018-12-18
AU2017212835B2 (en) 2019-03-14
CA3013065A1 (en) 2017-08-03
CN108780113B (zh) 2022-07-29
CN108780113A (zh) 2018-11-09
KR20190016482A (ko) 2019-02-18
US20180209841A1 (en) 2018-07-26
JP6763971B2 (ja) 2020-09-30
EP3408677A1 (en) 2018-12-05
WO2017132691A1 (en) 2017-08-03
EP3408677A4 (en) 2019-10-09
MX2018009265A (es) 2019-05-13
ZA201805645B (en) 2019-11-27
US9989406B2 (en) 2018-06-05
US20170219426A1 (en) 2017-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2018130989A (ru) Системы и способы для калибровки оптического датчика расстояния
EP3465266B1 (en) Optical system for object detection and location
US11340336B2 (en) Rotating light ranging system with optical communication uplink and downlink channels
KR102523828B1 (ko) 비행 시간 측정용 반도체 본체 및 방법
JP6633197B2 (ja) 光検出装置、及び電子機器
US10101453B2 (en) Time of flight apparatuses and an illumination source
KR20200024914A (ko) 전자적으로 스캔되는 방출기 어레이 및 동기화된 센서 어레이를 갖는 광 레인징 장치
CN111830530B (zh) 一种距离测量方法、系统及计算机可读存储介质
JPWO2018057084A5 (ru)
CN111954827B (zh) 利用波长转换的lidar测量系统
US20210141069A1 (en) Photodetector and portable electronic equipment
KR20220006638A (ko) 전자 스캐닝 lidar 시스템을 위한 동기화된 이미지 캡처
KR20180014974A (ko) 라이다 장치
US20170285936A1 (en) Laser projector and camera
US20120162370A1 (en) Apparatus and method for generating depth image
KR20150090777A (ko) Ｔｏｆ 카메라 장치
US8547531B2 (en) Imaging device
JP6911825B2 (ja) 光測距装置
KR20220012319A (ko) 필드 각도에 따라 조명 파장을 변화시키기 위한 능동 조명 시스템들
CN110501714A (zh) 一种距离探测器及距离探测方法
KR102578977B1 (ko) 라이다 시스템
CN115702363A (zh) 立体图像捕获系统
EP3226024B1 (en) Optical 3-dimensional sensing system and method of operation
US20230028749A1 (en) Lidar with multi-range channels
KR20230095767A (ko) 모듈형 플래시 라이다 장치