JP6911825B2 - 光測距装置 - Google Patents
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Description
図1に示すように、本開示における第1実施形態としての光測距装置10は、筐体15と、光源部20と、受光部30と、測定部40と、を備える。光源部20と受光部30とは、例えば、接着剤によって筐体15に固定されている。光源部20は、測定範囲MRに対して照射光ILを射出する。本実施形態では、光源部20は、照射光ILを走査方向SDに走査する。照射光ILは、走査方向SDに直交する方向が長手方向となる矩形状に形成される。受光部30は、照射光ILの照射に応じた測定範囲MRを含む範囲からの反射光を受光し、反射光の受光状態に応じた信号を出力する。測定部40は、受光部30から出力された信号を用いて、測定範囲MR内に存在する物体までの距離を測定する。光測距装置10は、例えば、車両に搭載され、障害物の検出や障害物までの距離を測定するために使用される。
D=(c×Δt)/2 ・・・式(1)
図7に示すように、第2実施形態の光測距装置10bは、センサ60を備えている。センサ60は、温度センサと湿度センサとを含んでいる。本実施形態において、制御部50は、センサ60によって測定された光測距装置10の周囲の温度または湿度に応じて、照射光が移動する一の方位あたりに受光位置を変更する複数の位置の数を変更する。具体的には、制御部50は、図8に示すように、温度が高いほど、または、湿度が高いほど、受光位置の移動量を大きくする。受光位置の移動量を大きくするとは、照射光が受光面32上を1方位分進む間に、受光位置を第1方向に移動させる距離を大きくし、受光位置を増加させることをいう。このように、受光位置の移動量を大きくすれば、受光面32に対する反射光の照射位置のバラツキが大きくなったとしても、適正に受光できる可能性を高めることができる。なお、センサ60は、温度センサと湿度センサのいずれか一方のみを含んでいてもよい。また、本実施形態は、後述する他の実施形態にも適用可能である。
第1実施形態では、照射光ILを走査方向SDに沿って走査しながら、反射光の受光位置を図3に示したように往復移動させることによって、反射光の受光可能性を高めている。これに対して、第3実施形態では、受光部30は、反射光を受光する受光位置を第1方向に向けて移動させつつ反射光の受光を行い、光源部20が、一の受光位置あたり、照射光ILを照射する方位を、複数の方位に変更する。
第1実施形態の光測距装置10では、レーザ光源21から射出された照射光は、第1走査部22によって走査され、その反射光が受光部30によって受光される。これに対して、図11に示す第4実施形態の光測距装置10dでは、レーザ光源21から射出された照射光が第1走査部22によって走査され、更に、その反射光が、第2走査部33によって走査されて受光部30dによって受光される。第2走査部33は、回転軸331と回転軸331上で回動するミラー332とを備えている。ミラー332の回動は、制御部50によって制御される。
第1実施形態では、光源部20は、第1走査部22によって、照射光ILを走査方向SDに走査している。これに対して、図13に示す第5実施形態の光測距装置10eでは、光源部20eが、縦長状の発光部を横方向に連結させた発光アレイとして構成されている。制御部50は、これらの発光部を、走査方向SDに沿って順番に点灯させることによって、照射光を照射する方位を変更する。このような構成によっても、第1実施形態と同様に、反射光を適正に受光する可能性を高めることができる。
図14に示す第6実施形態の光測距装置10fは、光源部20fが、第5実施形態と同様に発光アレイとして構成されている。そして、第4実施形態と同様に、反射光が、第2走査部33によって走査されて受光部30fで受光される。このような構成によっても、第1実施形態と同様に、反射光を適正に受光する可能性を高めることが可能である。
(G−1)上記実施形態において、受光部30は、反射光を受光する受光位置を画素1列分としている。しかし、受光位置は、画素2列分あるいはそれ以上の幅であってもよい。この場合、受光部30は、受光位置が重ならないように受光位置を移動させてもよいし、受光位置に隙間が空くように受光位置を移動させてもよい。また、受光位置の一部が重なるように受光位置を移動させてもよいし、受光位置の幅を変更させつつ受光位置を移動させてもよい。また、受光面32に対する反射光の照射範囲も、画素1列分ではなく、画素2列分あるいはそれ以上の幅であってもよい。
Claims (12)
- 光測距装置(10)であって、
測定範囲に対して、照射光を照射する光源部(20)と、
前記照射光の照射に応じた前記測定範囲を含む範囲からの反射光を受光可能な複数の受光要素を有する受光面(32)を有し、前記受光要素ごとに前記反射光の受光状態に応じた信号を出力する受光部(30)と、
前記受光部から出力された前記信号を用いて、前記測定範囲中の物体までの距離を測定する測定部(40)と、
を備え、
前記受光部は、前記信号を出力する受光要素を選択することで前記反射光を受光する受光位置を可変させる機能を有し、前記反射光の位置に対して、前記受光位置を、複数の位置に変更し、
前記光源部は、前記反射光が前記受光面上で予め定められた第1方向に向けて移動するように、前記照射光を照射する方位を複数の方位の中で変更させつつ前記測定範囲に前記照射光を照射し、
前記受光部は、前記照射光が照射される一の方位あたり、前記反射光を受光する受光要素の位置である受光位置を、前記第1方向において複数の位置に変更する、
光測距装置。 - 請求項1に記載の光測距装置であって、
前記受光面上での前記反射光の大きさは、前記受光面の大きさよりも小さい、光測距装置。 - 請求項1または請求項2に記載の光測距装置であって、
前記光源部は、前記照射光を照射する方位を予め定められた方向に向けて移動するように、複数の方位の中で方位を変更させつつ前記測定範囲に前記照射光を照射する、光測距装置。 - 請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の光測距装置であって、
前記受光部は、前記第1方向に向けて前記受光位置を移動させることにより、前記受光位置を複数の位置に変更する、光測距装置。 - 請求項4に記載の光測距装置であって、
前記受光部は、前記反射光が前記受光面上で移動する速さよりも速い速さで前記受光位置を移動させる、光測距装置。 - 請求項5に記載の光測距装置であって、
前記受光部は、前記一の方位に対する前記照射光の照射に対する受光処理が完了する毎に、前記受光位置を、前記第1方向の逆方向に移動させる、光測距装置。 - 請求項6に記載の光測距装置であって、
前記受光部は、前記受光位置を前記第1方向の逆方向に移動させて、前記受光位置を、前の方位に対する前記照射光の照射開始時における受光位置よりも前記第1方向側の位置まで戻す、光測距装置。 - 請求項1から請求項7までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
前記受光部は、前記測定部によって前記複数の方位について距離の測定が完了した後、前記距離の測定を行わない期間に、前記受光位置を初期位置に戻す、光測距装置。 - 請求項1から請求項8までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
温度または湿度を測定するセンサ(60)を備え、
前記受光部は、前記センサによって測定された温度または湿度に応じて、前記一の方位あたりに前記受光位置を変更する複数の位置の数を変更する、光測距装置。 - 請求項1から請求項9までのいずれか一項に記載の光測距装置であって、
前記受光要素は、前記信号として、光の入射を示す出力信号を出力するSPAD(シングルフォトンアバランシェダイオード)を備える、光測距装置。 - 請求項10に記載の光測距装置であって、
前記測定部は、略同時に複数の前記SPADから出力される前記出力信号の数を前記受光要素ごとに計数し、前記照射光が照射されてからの飛行時間ごとに、計数された前記出力信号の数を記録することによって前記受光要素ごとにヒストグラムを求め、前記ヒストグラムに基づき、前記受光要素ごとに前記距離を測定する、光測距装置。 - 光測距装置であって、
測定範囲からの反射光を受光可能な複数の受光要素を有する受光面を有し、前記受光要素ごとに前記反射光の受光状態に応じた信号を出力する受光部と、
前記反射光が前記受光面上で移動するように、照射光を照射する方位を変更させつつ前記測定範囲に前記照射光を照射する光源部と、
前記受光部から出力された前記信号を用いて、前記測定範囲中の物体までの距離を測定する測定部と、
を備え、
前記受光部は、前記反射光を受光する受光要素の位置である受光位置を予め定められた方向に向けて移動させつつ前記反射光の受光を行い、
前記光源部は、前記反射光の受光を行う一の前記受光位置あたり、前記照射光を照射する方位を、複数の方位に変更する、
光測距装置。
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