JP2020134313A

JP2020134313A - 光検出器

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Publication number: JP2020134313A
Application number: JP2019028044A
Authority: JP
Inventors: 光宏清野; Mitsuhiro Kiyono; 柳井　謙一; Kenichi Yanai; 謙一柳井; 木村　禎祐; Sadasuke Kimura; 禎祐木村; 尾崎　憲幸; Noriyuki Ozaki; 憲幸尾崎
Original assignee: Denso Corp
Current assignee: Denso Corp
Priority date: 2019-02-20
Filing date: 2019-02-20
Publication date: 2020-08-31

Abstract

【課題】光検出器におけるＳＮ比の低下を抑制する。【解決手段】物体２００の検出を行う光検出器１０は、光を発光する発光部２１と、前記光を第１の方向に長い発光領域を有する１次元の発光ビームＩＬとして、前記第１の方向と交差する第２の方向に走査するスキャン装置２６と、前記発光ビームが前記物体に当たって返ってきた反射光ＲＬを受光する２次元のアレイ状に配置された受光素子を有する受光部３０と、前記スキャン装置を制御すると共に、前記受光部から受光データを受信して前記物体を検出する測定部４０と、を備え、前記受光部は、前記第２の方向に１次元のライン状に同時読出しを行い、前記発光部は、前記発光ビームの第１の方向の長さを、前記受光素子の読出しラインの幅より長くなるよう発光させ、前記読み出しラインが前記反射光と交わるように、前記受光部が配置されていることを特徴とする。【選択図】図４

Description

本開示は、光検出器に関する。

特許文献１には、光源から対象物にレーザ光を照射してから、光検出部がその反射光を検出するまでの飛行時間を測定することで、対象物までの距離を測定する距離測定装置が開示されている。この距離測定装置では、１次元のレーザ光を照射し、光検出部に２次元アレイ状に配置されたＳＰＡＤを用いた検出器が採用されている。

特開２０１５−７８９５３号公報

しかし、１次元のレーザ光のビーム方位と、検出器の方位、例えば、アレイ上の１ラインを精度良く揃える調整が必要であり、光軸調整も時間を要するという問題があった。例えば、物体検知において１００ｍ〜２００ｍ程度の長距離化を狙うには、ビームを絞り・スキャナを併用し走査することで発光エネルギ密度を高めることで対応できるが、絞ったスポットや縦長の発光ビームを受光素子上に高精度に光軸調整する必要があり、部品点数が多く・工程が複雑化し、小型・低コスト化が困難であった。
反面、スキャナを用いないフラッシュ型の発光をする技術では、一括で広くビームを投光するため、高精度な軸調整が不要となり、小型・低コスト化が容易となるが、フラッシュ型のため発光エネルギ密度が低下するため、物体の検知距離が約１０ｍ程度に極端に低下してしまう問題がある。
本開示は、これらの問題を鑑み、フラッシュ型の軸調不要・シンプルという良さを残しながら、検知距離を車両周辺の用途として実用化が望める５０ｍ〜１００ｍ程度の中距離の検知性能は維持するという、両方式のメリットを併せ持った構造の光検出装置を狙ったものである。

本開示の一形態によれば、物体（２００）の検出を行う光検出器（１０）が提供される。この光検出器は、光を発光する発光部（２１）と、前記光を第１の方向に長い発光領域を有する１次元の発光ビーム（ＩＬ）として、前記第１の方向と交差する第２の方向に走査するスキャン装置（２６）と、前記発光ビームが前記物体に当たって返ってきた反射光（ＲＬ）を受光する２次元のアレイ状に配置された受光素子を有する受光部（３０）と、前記スキャン装置を制御すると共に、前記受光部から受光データを受信して前記物体を検出する測定部（４０）と、を備え、前記受光部は、前記第２の方向に１次元のライン状に同時読出しを行い、前記発光部は、前記発光ビームの第１の方向の長さを、前記受光素子の読出しラインの幅より長くなるよう発光させ、前記読み出しラインが前記反射光と交わるように、前記受光部が配置されていることを特徴とする。この形態によれば、読み出しラインが反射光と交わるように、受光部が配置されているので、発光部、スキャン装置、受光部の間の光軸調整を高精度に行わなくても、反射光は、２次元のアレイ状に配置された受光素子のいずれかで検知できる。そのため、発光部、スキャン装置、受光部の間の光軸調整が容易となる。

なお、本開示は、種々の形態で実現することが可能であり、例えば、光検出器の他、光学的距離測定装置、光検出器における光軸調整を簡単にする方法としても実現することができる。

光検出器を搭載する車両を示す説明図である。光検出器を示す説明図である。光検出器のブロック図である。光検出器の動作を示す説明図である。受光センサと、反射光、読み出しラインの関係を示す説明図である。測定部の構成を示す説明図である。ヒストグラムの一例である。受光センサと、反射光、読み出しラインの関係を示す説明図である。物体の反射特性を示す説明図である。物体の反射強度と受光センサへの反射光を示す説明図である。受光センサの読み出しパターンを示す説明図である。反射光が２ラインある場合の説明図である。反射光を２ラインとするための構成例である。受光データの校正フローチャートである。

・第１実施形形態：
図１に示すように、本実施形態の光検出器１０は、車両１００に搭載され、物体２００の検出や物体２００までの距離を測定するために使用される。光検出器１０は、発光ビームＩＬを走査方向ＳＤにスキャンしながらパルス発光する。発光ビームＩＬは、物体２００に当たると、その一部が反射光ＲＬとして、返ってくる。光検出器１０は、発光ビームＩＬを発光してから反射光ＲＬを検知するまでの時間を用いて、車両１００から物体２００までの距離を求める。

車両１００は、ハンドル１０２、シフトレバー１０４、速度計１０６、加速度センサ１０８、ＧＮＳＳ受信機１１０を備えている。光検出器１０は、ハンドル１０２のステアリング角度、シフトレバー１０４のシフトポジション、速度計１０６から得た車両１００の速度、加速度センサ１０８から得た車両１００の加速度やヨーレイト、ＧＮＳＳ受信機から得た車両１００の位置（緯度、経度）、時刻、車両１００の車種、光検出器１０の車両１００における搭載位置の少なくとも１つを用いて、発光ビームＩＬを用いてスキャンするときのスキャンパターンを設定、あるいは変更する。

図２に示すように、光検出器１０は、発光装置２０と、受光部３０と、測定部４０と、を備える。発光装置２０は、測定範囲ＭＲに対して発光ビームＩＬを射出する。本実施形態では、発光装置２０は、発光ビームＩＬを走査方向ＳＤに走査する。発光ビームＩＬは、走査方向ＳＤに直交する方向が長手方向となる矩形形状に形成されている。受光部３０は、発光ビームＩＬの照射に応じた測定範囲ＭＲを含む範囲からの反射光ＲＬを受光し、反射光ＲＬの受光状態に応じた信号を出力する。測定部４０は、受光部３０から出力された信号を用いて、測定範囲ＭＲ内に存在する物体までの距離を測定する。また、以上の関係が守られていれば、測定範囲ＭＲ中の発光ビームＩＬ、走査方向ＳＤ、反射光ＲＬは、図２から各々が９０度向きを回転した配置となっていてもよい。

図３に示すように、発光装置２０は、発光部２１と、走査制御部２４と、スキャン装置である一次元スキャナ２６と、を備える。発光部２１は、例えば半導体レーザダイオードで構成されており、パルスレーザ光を一次元スキャナ２６に照射する。

一次元スキャナ２６は、発光部２１から照射されたパルスレーザ光を用いて、測定範囲ＭＲの一次元の走査を行う。一次元スキャナ２６は、ミラーと、強制・共振型ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System）と、を有している。一次元スキャナ２６は、強制・共振型ＭＥＭＳを駆動することにより、ミラーの角度を少しずつ変えることで、発光ビームＩＬの方向を変え、ＳＤ方向への一次元の走査を行う。強制・共振型ＭＥＭＳの代わりに、往復または回転運動型ミラーを用いても良い。

走査制御部２４は、一次元スキャナ２６の走査角度を検出し、この検出結果に基づいて、発光部２１によるパルスレーザ光の照射と、一次元スキャナ２６を用いた発光ビームＩＬの走査を制御する。また走査制御部２４は、車両情報を用いて、発光部２１と一次元スキャナ２６を制御する。車両情報とは、例えば、ハンドル１０２のステアリング角度、シフトレバー１０４のシフトポジション、速度計１０６から得た車両１００の速度、加速度センサ１０８から得た車両１００の加速度やヨーレイト、ＧＮＳＳ受信機から得た車両の位置（緯度、経度）、時刻、車種、光検出器１０の車両１０における搭載位置の少なくとも１つである。

受光部３０は、ｎ×ｍ（ｎ、ｍは、２以上の自然数）の二次元に配列された受光素子アレイ３４とデコーダ３６を備える。受光素子アレイ３４は、複数の受光素子３２を二次元行列状に配列することで構成されている。受光素子３２は、シングルフォトンアバランシフォトダイオード（ＳＰＡＤ：Single Photon Avalanche Diode）で構成されており、受光素子アレイ３４は、ＳＰＡＤアレイである。受光素子３２は、その受光面に反射光等の光が入射すると、検出信号を出力する。受光素子３２の構成については、後述する。

デコーダ３６は、受光素子３２を選択するための回路である。デコーダ３６は、複数の受光素子３２により構成される行列の列毎に設けられた選択制御線ＣＬを備える。選択制御線ＣＬは、対応する列に配置されている受光素子３２の全てに接続される。デコーダ３６は、選択制御線ＣＬに選択制御電圧を印加することにより、受光素子３２は、列単位で選択される。列単位で選択された受光素子３２のデータは、それぞれの行に設けられたデータ線ＤＬに出力される。本実施形態では、データ線ＤＬは、奇数列用のデータ線と、偶数列用のデータ線に分かれている。こうすれば、隣接する２つの列を同時に選択できる。

測定部４０は、発光部２１がパルスレーザ光を照射した時刻と、受光部３０が反射光検出した時刻との差に基づいて、物体２００までの距離を計測する処理を行う。測定部４０は、行毎に設けられているデータ線ＤＬに接続されている。測定部４０の構成とデータ処理についての詳細は後述する。

図４を用いて、発光部２１から発光されたパルスレーザ光が受光部３０に到達するまでを説明する。発光部２１から発光されたパルスレーザ光は、コリメートレンズ２２により並行光とされて細長い矩形形状を有する発光ビームＩＬになる。レンズ２２の代わりにスリットが用いられても良い。矩形形状を有する発光ビームＩＬは、一次元スキャナ２６で反射して物体（図示せず）に向かう。物体の表面で乱反射した反射光ＲＬは、受光レンズ２８により集約されて、受光部３０に当たる。

図５に示すように、受光部３０に当たる反射光ＲＬ１の長手方向と、読み出しラインとは、交わっている。そして、反射光ＲＬ１の長手方向の大きさは、すなわち、反射光ＲＬは、ｍ１行に当たり、読み出しラインは、ｎ１列、ｎ２列である。そのため、発光部２１と、一次元スキャナ２６と、受光部３０とにおける光軸の調整を高精度で行わなくても、反射光ＲＬを、（ｎ１、ｍ１）、（ｎ２、ｍ２）の座標の受光素子３２で検知できるため、調整にかかる製品側の部品点数の増加、製造ラインの工程数の増化、リードタイム増加を抑えることができるため、製品の大幅な小型化と低コスト化が可能となる。また、一次元スキャナ２６の角度により特定されるｍ１行と、読み出しラインで特定されるｎ１列、ｎ２行で特定される（ｎ１、ｍ１）、（ｎ２、ｍ１）の座標の受光素子３２でしか反射光を検知しないので、受光素子間のクロストーク、及び強反射体からの光により生じるレンズフレアによる（ｎ１、ｍ１）、（ｎ２、ｍ１）の座標以外の他の受光素子へのゴーストに起因する物体検出の精度劣化を抑制することができる。なお、反射光ＲＬの長手方向と、走査方向ＳＤとは、交差していればよいが、直交することが好ましい。

図５に示すように、反射光ＲＬが受光部３０に当たるときのスキャン範囲ＬＹは、受光部３０における読み出しラインの長さＹよりも大きく、また、反射光ＲＬの長手方向の長さＬＸは、受光素子３２の２画素の大きさよりも大きく、受光部３０における読み出しラインの幅よりも大きい。そのため、反射光ＲＬがスキャン方向ＳＤに沿ってシフトした場合、あるいは、反射光ＲＬがその矩形形状の長手方向に沿ってシフトした場合でも、読み出しライン中の受光素子３２は、反射光ＲＬのスキャン範囲内に存在する。その結果、発光部２１と、一次元スキャナ２６と、受光部３０とにおける光軸の調整が容易となる。この場合、発光部２１は、矩形形状の長手方向に沿って順次発光し、合計でＸ以上の幅を確保しても良い。

図６に示すように、受光素子３２は、アバランシェフォトダイオード３２ｄと、クエンチング抵抗器３２ｒと、インバータ回路３２ｉを含む周知の回路によって構成されている。より具体的には、受光素子３２は、電源と接地ラインとの間に直列にクエンチング抵抗器３２ｒとアバランシェフォトダイオード３２ｄとが接続され、その接続点にインバータ回路３２ｉの入力側が接続されることにより構成されている。クエンチング抵抗器３２ｒは電源側に接続され、アバランシェフォトダイオード３２ｄは、逆バイアスとなるように接地ライン側に接続されている。受光素子３２は、ガイガーモードで動作し、物体２００から反射された反射光（１つ以上のフォトン）が入射されると、その反射光が入射したことを示すパルス信号を一定の確率でデータ線ＤＬに出力する。

測定部４０は、加算部４２と、ヒストグラム生成部４４と、ピーク検出部４６と、距離算出部４８と、を備える。

加算部４２は、受光部３０に含まれる複数の受光素子３２から略同時に出力されたパルス信号の数を加算して加算値を求める。加算部４２は、求めた加算値をヒストグラム生成部４４に出力する。

ヒストグラム生成部４４は、加算部４２から出力された加算値に基づきヒストグラムを生成する。図７には、ヒストグラムの例を示している。ヒストグラムの階級（横軸）は、発光部２１から光が照射されてから反射光が受光されるまでの光の飛行時間を示している。この時間のことを、ＴＯＦ（ＴＯＦ：ＴｉｍｅＯｆＦｌｉｇｈｔ）ともいう。ヒストグラムの度数（縦軸）は、加算部４２によって算出された加算値であり、物体２００から反射してきた反射光ＲＬの強度を示している。ヒストグラム生成部４４は、発光部２１から照射されるパルスレーザ光の周期に同期した記録タイミングに従って、加算部４２から出力された加算値を予め定められた時間間隔ごとに記録することによってヒストグラムを生成する。発光部２１によって光が照射される範囲に物体２００が存在すれば、その物体２００からの反射光ＲＬが入射する時刻に対応する階級の度数が大きくなる。つまり、ヒストグラムにおいて大きな度数を有する階級が存在すれば、その階級に対応する時刻に基づいて、物体２００までの距離を算出することができる。なお、１つのヒストグラムを生成するにあたり、光を複数回照射して度数を積算してもよい。こうすることにより、ＳＮ比を向上させることができる。

ピーク検出部４６は、ヒストグラムからピークを検出する。本実施形態において、ピークとは、予め定めた閾値を超える度数を有する階級のことをいう。

距離算出部４８は、ピークに対応する時刻から、物体２００までの距離を算出する。

以上、本実施形態によれば、受光部３０に当たる反射光ＲＬ１の長手方向と、読み出しラインとは、交わっている。そのため、発光部２１と、一次元スキャナ２６と、受光部３０とにおける光軸の調整を高精度で行わなくても、反射光ＲＬを、いずれかの受光素子３２で検知し、物体２００までの距離を取得できる。また、反射光ＲＬが受光部３０に当たるときのスキャン範囲ＬＹを、受光部３０における読み出しラインの長さＹよりも大きく、反射光ＲＬの長手方向の長さＬＸを、受光部３０における読み出しラインと交わる方向の長さＸよりも大きくすることで、発光部２１と、一次元スキャナ２６と、受光部３０とにおける光軸の調整の時間を省くことができる。

また、一次元スキャナ２６の角度と、読み出しラインの選択により特定される特定の受光素子３２でしか反射光を検知しないので、受光素子間のクロストーク、及び強反射体のレンズフレアによる他の受光素子へのゴーストの発生を抑制できる。

図８は、図５と比較すると、読み出しラインの数が１つである点と、反射光ＲＬの長手方向の長さＬＸが、受光部３０における読み出しラインと交わる方向の長さＸよりも大きい点が異なる。この場合、反射光ＲＬがスキャン方向ＳＤに沿ってシフトした場合、あるいは、反射光ＲＬがその矩形形状の長手方向に沿ってシフトした場合でも、受光部３０は、反射光ＲＬのスキャン範囲内に存在する。したがって、一次元スキャナ２６の角度により特定される行と、読み出しラインで特定される列で特定される座標の受光素子３２で反射光を検知できる。その結果、発光部２１と、一次元スキャナ２６と、受光部３０とにおける光軸の調整がより容易となる。なお、図８に示す場合には、図３の例と異なり、データ線ＤＬを、奇数列用のデータ線と、偶数列用のデータ線に分けなくてもよい。

上記形態において、同時読み出しラインの数は、１、または２に限られず、３以上であってもよい。また、反射光ＲＬの長手方向の長さＬＸは、同時読み出しラインの数に応じて、設定されていても良い。

・第２実施形形態：
図９に示すように、物体２００は、様々な反射特性を有する。物体２００が鏡面反射物である場合には、光が物体２００に当たったときの光の反射角度の幅は狭い。一方、物体２００が拡散反射板である場合には、光が物体２００に当たったとき、光は様々な方向に乱反射し、光の反射角度の幅は広い。

図１０に示すように、物体２００が鏡面反射物である場合には、反射光ＲＬａは、読み出しラインと交わる方向に長い略矩形形状となる。一方、物体２００が拡散反射板である場合には、反射光ＲＬｂは、読み出しラインに沿って広くなり、例えば略楕円形状となる。反射光の強度については、反射光ＲＬａは、鋭いピークを有しているが、反射光ＲＬｂは、読み出しラインに沿って広くなっているためブロードなピークである。

上述したように、受光素子３２は、ガイガーモードで動作し、物体２００から反射された反射光が入射されると、その反射光が入射したことを示すパルス信号を一定の確率でデータ線ＤＬに出力する。この確率は、受光素子３２が受ける反射光の強さが強くなると高くなり、弱くなると低くなる。したがって、受光素子３２ごとのヒストグラムを比較すれば、物体２００が鏡面反射物である場合には、特定の受光素子３２におけるピークが高くなり、そのスキャン方向に隣接する他の受光素子３２におけるピークが急激に少なくなる。一方、物体２００が拡散反射板である場合には、特定の受光素子３２におけるピークは、物体２００が鏡面反射物である場合に比較して小さいが、スキャン方向に隣接する他の受光素子３２におけるピークは、急激には少なくならない。したがって、各受光素子３２に対応するヒストグラムを比較することにより、物体の反射特性を分析することができる。すなわち、特定の受光素子３２に加え、特定の受光素子３２の周辺の複数の受光素子の受光データを用いて物体２００を検出することで、物体２００の反射特性を分析できる。

走査制御部２４は、車両１００の車両情報を用いて、発光部２１と一次元スキャナ２６を制御する。図１１は、制御例を示す。図１１（ａ）に示す例は、走査制御部２４が、反射光が受光部３０の全ての範囲をスキャンするように、一次元スキャナ２６を制御する例である。この場合、広範囲に物体２００を検出できる。図１１（ｂ）（ｃ）に示す例は、走査制御部２４が、反射光が受光部３０の一部の範囲をスキャンするように、一次元スキャナ２６を制御する例である。例えば、車両１００がハンドル１０２を右に切って右に回ろうとする場合には、右方向のみを検知するように走査制御部２４がスキャン範囲を制御することができる。図１１（ｂ）（ｃ）は、スキャン範囲は共通するが、図１１（ｂ）で、物体２００との距離測定を重視し、図１１（ｃ）は、空間分解能を重視する点で異なっている。

図１２は、反射光が、反射光ＲＬ１、ＲＬ２の２本ある場合の受光部３０に当たる反射光を示す説明図である。反射光ＲＬ１は、受光部３０の行ｍ１に当たり、反射光ＲＬ２は、受光部３０の行ｍ２に当たっている。読み出しラインは、列ｎ１である。したがって、（ｎ１、ｍ１）と（ｎ１、ｍ２）の２つの座標の受光素子３２によって反射光が検知される。

図１３は、２つの反射光ＲＬ１、ＲＬ２を形成するための構成の一例である。図１３に示す構成例は、２つの発光部２１ａ、２１ｂと、２つのレンズ２２ａ、２２ｂを備える。発光部２１ａ、２１ｂからそれぞれ発光されたパルスレーザ光は、１つの一次元スキャナ２６に反射して２本の発光ビームＩＬ１、ＩＬ２として物体２００に向けて照射され、２本の反射光ＲＬ１、ＲＬ２が返ってくる。この場合、反射光ＲＬ１と反射光ＲＬ２は、それぞれ受光部３０の半分ずつをスキャンすれば良いので、スキャン時間が半分になり、処理時間も半分に短縮できる。なお、この実施形態では、２つの発光部２１ａ、２１ｂに対し１つの一次元スキャナ２６を備える構成であるが、発光部２１ａ、２１ｂに対してそれぞれ一次元スキャナ２６を備える構成であってもよい。この場合、反射光ＲＬ１と反射光ＲＬ２のスキャン方向が同方向、逆方向のいずれのスキャンも可能となる。また、発光部２１及び一次元スキャナ２６を１つのみとし、２つのスリットを用いて２つの発光ビームＩＬ１、ＩＬ２を形成するようにしてもよい。

・第３実施形形態：
図１４を用いて、受光データの校正について説明する。ステップＳ１００では、測定部４０は、特定の受光素子３２を設定する。この特定の受光素子３２は、物体２００がどこに存在しているか、予め分かっている場合に、その物体の位置に対応する受光素子３２である。

ステップＳ１１０では、測定部４０は、特定の受光素子３２の周辺における反射光の第１の強度分布を取得する。ステップＳ１２０では、測定部４０は、所定期間経過後の特定の受光素子３２の周辺における反射光の第２の強度分布を取得する。ここで所定期間は、例えば、１年である。１年としたのは、光検出器１０が車両１００に搭載されることを考慮すると、１２ヶ月点検の時に、同一の環境でステップＳ１１０とＳ１２０を実行することが好ましいからである。但し、所定期間は、１年より短い他の期間、あるいは長い他の期間であってもよい。

ステップＳ１３０では、測定部４０は、第１の強度分布と第２の強度分布とを比較する。ステップＳ１４０では、第１の強度分布と第２の強度分布との差が予め定められた値以上変化していた場合には、第２の強度分布に基づいて、受光素子３２毎に、校正データを書き換える。具体的には、第１の強度分布と第２の強度分布との差が予め定められた値未満となるように、キャリブレーションする。なお、測定部４０は、所定期間より短い期間毎に、第１の強度分布と第２の強度分布とを比較して、自己キャリブレーションしてもよい。

また、測定部４０は、第１の強度分布においてピークを示す受光素子の座標と、第２の強度分布においてピークを示す受光素子の座標とが一致するように、座標を変換するキャリブレーションを実行してもよい。

本開示は、上述の実施形態に限られるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の構成で実現することができる。例えば、発明の概要の欄に記載した各形態中の技術的特徴に対応する実施形態の技術的特徴は、上述の課題の一部又は全部を解決するために、あるいは、上述の効果の一部又は全部を達成するために、適宜、差し替えや、組み合わせを行うことが可能である。また、その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除することが可能である。

１０光検出器２１発光部２６一次元スキャナ３０受光部４０測定部

Claims

物体（２００）の検出を行う光検出器（１０）であって、
光を発光する発光部（２１）と、
前記光を第１の方向に長い発光領域を有する１次元の発光ビーム（ＩＬ）として、前記第１の方向と交差する第２の方向に走査するスキャン装置（２６）と、
前記発光ビームが前記物体に当たって返ってきた反射光（ＲＬ）を受光する２次元のアレイ状に配置された受光素子を有する受光部（３０）と、
前記スキャン装置を制御すると共に、前記受光部から受光データを受信して前記物体を検出する測定部（４０）と、
を備え、
前記受光部は、前記第２の方向に１次元のライン状に同時読出しを行い、
前記発光部は、前記発光ビームの第１の方向の長さを、前記受光素子の読出しラインの幅より長くなるよう発光させ、
前記読み出しラインが前記反射光と交わるように、前記受光部が配置されていることを特徴とする、
光検出器。
請求項１に記載の光検出器であって、
前記発光ビームが前記物体に当たって返ってくる前記反射光の前記第１の方向の大きさ（ＬＸ）と、前記読み出しライン方向のスキャンの大きさ（ＬＹ）が、前記２次元のアレイ状に配置された受光素子の検知範囲（Ｘ、Ｙ）よりも大きくなるように、前記受光部が配置されている、光検出器。
請求項１または２に記載の光検出器であって、
前記受光部は、ＳＰＡＤアレイを有する、光検出器。
請求項１から請求項３のうちのいずれか一項に記載の光検出器であって、
前記測定部は、前記読み出しライン上の２箇所以上の前記受光素子の受光データを用いて前記物体を検出する、光検出器。
請求項４に記載の光検出器であって、
前記発光部を複数備え、前記受光部は、複数の前記発光部から発光される複数の前記発光ビームに対応する複数の前記反射光を前記読み出しライン上の複数の前記受光素子で受光して、前記測定部は、複数の前記受光素子の受光データを用いて前記物体を検出する、光検出器。
請求項４または５に記載の光検出器であって、
前記測定部は、複数の前記受光素子の受光データにおいて、前記反射光の強度分布の時間変化を比較する、光検出器。
請求項６に記載の光検出器であって、
前記測定部は、前記反射光の強度分布の時間変化を用いて、ある方位に対応する特定の受光素子のアドレス情報、及び前記特定の受光素子の周辺の受光素子の校正データを書き換える、光検出器。
請求項１から請求項７のうちのいずれか一項に記載の光検出器であって、
前記光検出器は、車両に搭載されるものであり、
前記スキャン装置は、複数の走査パターンを有し、
前記測定部は、前記光検出器の前記車両上の位置、前記車両の種類、前記車両の状態に応じて前記複数の走査パターンから１つの走査パターンを選択し、
前記車両の状態は、前記車両の速度、シフトポジション、ステアリング角度、ヨーレイト、経度、緯度、時間のうちの少なくとも１つを含む、
光検出器。