RU2012873C1 - Способ контроля латунированной стальной проволоки - Google Patents
Способ контроля латунированной стальной проволоки Download PDFInfo
- Publication number
- RU2012873C1 RU2012873C1 SU4891732A RU2012873C1 RU 2012873 C1 RU2012873 C1 RU 2012873C1 SU 4891732 A SU4891732 A SU 4891732A RU 2012873 C1 RU2012873 C1 RU 2012873C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- brass
- line
- coating
- steel wire
- content
- Prior art date
Links
Abstract
Использование: рентгенографический контроль. Сущность изобретения: измеряют интегральную интенсивность линий участка дифракционного спектра латунированной проволоки, включающего линии (111) альфа-латуни, (110) бета-латуни совместно с линией (111) меди и линию (110) железа стальной проволоки. Линия железа служит репером, относительно которого отсчитывают угловое положение линии (111) альфа-латуни, что позволяет на основе градуировочного графика судить о содержании в ней растворенного цинка. Регистрация и измерение интенсивности линии (200) меди дает сведения о наличии остатков меди в покрытии и позволяет произвести коррекцию интегральной интенсивности линии (110) бета-латуни для более точного определения ее относительного содержания в покрытии. Предложены соотношения, позволяющие рассчитывать среднее содержание цинка в латунном покрытии на стальной проволоке.
Description
Изобретение относится к рентгенографическому контролю качества металлопродукции и может быть использовано при контроле процесса термодиффузионного латунирования стальной проволоки для корда автомобильных шин и канатов.
Известен способ рентгенографического фазового анализа латуней [1] , включающий облучение образцов рентгеновским излучением, регистрацию дифракционного спектра, измерение интегральных интенсивностей линий и определение относительного содержания присутствующих в латуни фаз методом гомологических пар.
Недостатком данного метода является невозможность его быстрого осуществления и применимость только к двухфазным латуням.
Известен способ определения содержания цинка в латуни [2] , включающий облучение образца латуни пучком рентгеновских лучей, регистрацию дифракционной линии, определение периода решетки и нахождение по нему из предварительно построенной градуировочной зависимости содержания цинка.
Недостаток этого способа состоит в том, что он имеет недостаточную точность при контроле на образцах не плоской формы, например, на проволоке.
Ближайшим техническим решением является способ контроля латунированной стальной проволоки [3] , включающий облучение образца пучком рентгеновских лучей заданной длины волны, регистрацию выбранного участка дифракционного спектра, определение интенсивности линий спектра и их углового положения, из которых находят периоды решетки и устанавливают фазовый состав латунного покрытия.
Недостатки прототипа состоят в том, что он не обеспечивает необходимой точности контроля фазового состава и содержания цинка в покрытии латунированной стальной проволоки.
Цель изобретения состоит в повышении точности и информативности контроля латунированной стальной проволоки.
Для решения поставленной задачи в способе контроля латунированной стальной проволоки, включающем облучение образца пучком рентгеновских лучей заданной длины волны, регистрацию выбранного участка дифракционного спектра, определение интенсивности линий спектра и их углового положения, из которого находят периоды решетки и устанавливают фазовый состав латуни, регистрируют участок дифракционного спектра, содержащий линии (111) α -латуни, (110) β -латуни, линии (111) и (200) меди, от покрытия и линию (110) железа от стальной проволоки, определяют интегральную интенсивность линии (111) α -латуни I(111) α , линии (200) меди I(200)Сu, общую интегральную интенсивность Iобщ. линий (111) меди и (110) β -латуни и определяют содержание в покрытии β -латуни (V β ) из соотношения: Vβ = { 1+1,44˙I(111) α /(Iобщ-1,16I(200)Сu} -1 находят угловое положение Δ 2 ˙ Θ линии (111) α -латуни покрытия относительно линии (110) железа стальной проволоки и при отсутствии β -латуни находят содержание цинка в латунном покрытии по величине Δ 2 ˙ Θ из градуировочной зависимости СZn α = f( Δ 2 ˙ Θ), построенной на образцах латунированной стальной проволоки с известным содержанием цинка в покрытии, а при наличии содержание цинка в покрытии (СZn n) определяют из соотношения
CZn n= CZn α + Vβ (0,457-CZn α) где CZn α - содержание цинка в α -латуни, найденное из градуировочной зависимости по измеренному значению Δ 2 ˙ Θ , при этом длину волны рентгеновского излучения выбирают так, чтобы обеспечить наличие в регистрируемом участке спектра линии железа проволоки.
CZn n= CZn α + Vβ (0,457-CZn α) где CZn α - содержание цинка в α -латуни, найденное из градуировочной зависимости по измеренному значению Δ 2 ˙ Θ , при этом длину волны рентгеновского излучения выбирают так, чтобы обеспечить наличие в регистрируемом участке спектра линии железа проволоки.
Сущность предложенного способа состоит в измерении интегральной интенсивности линий участка дифракционного спектра латунного покрытия, включающего линии (111) α -латуни, (110) β -латуни совместно с линией (111) меди и линию (110) железа стальной проволоки. Линия (110) железа является репером, относительно которого отсчитывается угловое положение Δ 2 ˙ Θ линии (111) α -латуни, зависящее от содержания в ней растворенного цинка. Такая косвенная оценка параметра решетки α -латуни позволяет с большой точностью и оперативностью получать данные о химическом составе α -латуни. Регистрация и измерение интенсивности линии (200) меди дает сведения о наличии остатков меди в покрытии и позволяет произвести коррекцию интегральной интенсивности линии (110) β-латуни путем вычитания из нее регистрируемой под тем же брэгговским углом линии (111) меди, интегральная интенсивность которой в 1,16 раз больше, чем у линии (200) меди.
При наличии β -латуни ее состав по цинку берется из диаграммы фазового равновесия (0,457), а ее относительное количество определяют по соотношению интенсивностей дифракционных линий α и β-латуней.
В качестве примера производили рентгенографирование на дифрактометре АДП-2 образцов латунированной стальной проволоки в излучении CrK α в режиме: 30 кВ - напряжение и 20 мА - ток. Регистрацию дифракционного спектра производили координатным детектором РКД-1-01 в угловом интервале 5о вблизи удвоенного брэгговского угла 65,4о, что позволяло регистрировать одновременно линии (111) α -латуни, (110) β -латуни, (111) меди и (110) железа. Отделение фона и нахождение интегральной интенсивности линий производили с помощью специально разработанной программы на вычислительном комплексе "Искра 1030".
Ниже приведены результаты рентгенографического определения содержания цинка в α -латуни, содержание α и β -латуни в покрытии на латунированной стальной проволоке, результаты расчета среднего содержания меди в покрытии и данные химического анализа тех же образцов.
Результаты рентгенографического и химического определения содержания меди в латунном покрытии на стальной проволоке согласуются между собой. В то же время рентгеновский контроль позволяет получить дополнительную информацию - сведения о фазовом составе покрытия, которые в большей мере, чем среднее содержание меди, характеризуют механические и защитные свойства покрытия. Таким образом, данные рентгенографического контроля латунного покрытия на стальной проволоке оказываются более информативными и полезными для регулирования технологического процесса термодиффузионного латунирования.
Claims (1)
- СПОСОБ КОНТРОЛЯ ЛАТУНИРОВАННОЙ СТАЛЬНОЙ ПРОВОЛОКИ, включающий облучение образца пучком рентгеновских лучей заданной длины волны, регистрацию выбранного участка дифракционного рентгеновского спектра, определение интенсивности линий спектра и их углового положения, из которого находят периоды решетки и устанавливают фазовый состав латуни, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и информативности контроля, регистрируют участок дифракционного рентгеновского спектра, содержащий линии (110)α -латуни, (110)β -латуни, (111) и (200) меди покрытия и линию (110) железа стальной проволоки, определяют интегральные интенсивности линии (111)α-латуни J(111)α линии (200) меди J(200)Cu общую интегральную интенсивность Jобщ линии (111) меди и (110)β -латуни и определяют содержание Uβ в покрытии β -латуни
Vβ= { 1+1,44·J(111)α/(Jобщ-1,16J(200)Cu} -1,
находят угловое положение Δ2θ линии (111)α -латуни покрытия относительно линии (110) железа стальной проволоки и при отсутствии β -латуни находят содержание цинка в латунном покрытии по величине Δ2θ из градуировочной зависимости CZn α = f (Δ2θ) , построенной по образцам латунированной стальной проволоки с известным содержанием цинка в покрытии, а при наличии β -латуни содержание цинка в покрытии CZn попределяют из соотношения
CZn п = CZn α + Uβ(0,457 - CZn α) ,
где CZn α - содержание цинка в α -фазе, найденное из градуировочной зависимости по измеренному значению Δ2θ ,
при этом используют характеристическое рентгеновское излучение Cr, Fe, Co.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4891732 RU2012873C1 (ru) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | Способ контроля латунированной стальной проволоки |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4891732 RU2012873C1 (ru) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | Способ контроля латунированной стальной проволоки |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2012873C1 true RU2012873C1 (ru) | 1994-05-15 |
Family
ID=21550488
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4891732 RU2012873C1 (ru) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | Способ контроля латунированной стальной проволоки |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU2012873C1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100409002C (zh) * | 2001-08-07 | 2008-08-06 | 精工电子纳米科技术有限公司 | X射线涂层厚度仪 |
-
1990
- 1990-12-18 RU SU4891732 patent/RU2012873C1/ru active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100409002C (zh) * | 2001-08-07 | 2008-08-06 | 精工电子纳米科技术有限公司 | X射线涂层厚度仪 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0197157A1 (en) | Method of determining thickness and composition of alloy film | |
Langford et al. | Kinetics and equilibrium of binding of Fe3+ by a fulvic acid: A study by stopped flow methods | |
RU2012873C1 (ru) | Способ контроля латунированной стальной проволоки | |
US2521772A (en) | Method of determining the thickness of a metal coating on a metal base | |
JPS58223047A (ja) | 螢光x線分析方法 | |
He et al. | An integrated system for quantitative EDXRF analysis based on fundamental parameters | |
EP0348574A2 (en) | Method of simultaneously measuring thickness and composition of film and apparatus therefor | |
DE102005063263A1 (de) | Verfahren und System zur Generierung eines hinsichtlich der Präsenz eines Stoffes innerhalb einer Probe indikativen Messergebnisses auf Grundlage einer spektrometrischen Messung | |
Powell | Recent developments in quantitative surface analysis by electron spectroscopy | |
EP1521947B1 (en) | Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components | |
KR100348065B1 (ko) | 형광 엑스선을 이용한 도금량 및 합금화도 측정방법 | |
CN109563606B (zh) | 镀锌钢板的合金化度和/或镀覆附着量测定方法 | |
SU1224688A1 (ru) | Способ определени фона в рентгенофлуоресцентном анализе сложных по составу сред | |
Buczko et al. | Effect of climate on chemical composition of fossil bones | |
JP3369918B2 (ja) | 蛍光x線分析方法および装置 | |
JPH06331576A (ja) | 鉄上の鉄亜鉛合金メッキ層の分析方法 | |
SU1635091A1 (ru) | Способ рентгеноструктурного анализа сплавов | |
JPH0610660B2 (ja) | 合金被膜の膜厚及び組成測定方法 | |
RU2255328C1 (ru) | Способ определения концентрации фазы в веществе сложного химического состава | |
Kozachuk | Synchrotron Radiation Analysis of Daguerreotypes: Surface Characterization, Electrocleaning, and Preservation | |
SU890182A1 (ru) | Способ рентгенорадиометрического анализа неоднородных сплавов или лигатур | |
Feret et al. | Estimation of the Tin Coating Thickness and of the Chromium Content of Passivation Films on Tinplate by X-ray Fluorescence | |
SU976359A1 (ru) | Способ определени концентраций средних и т желых элементов в растворах | |
Hummel et al. | Application of the “Differential Reflectometer” to Materials Research in Corrosion, Ordering and Alloying | |
JPH0222544A (ja) | 蛍光x線分析方法 |