RU2012142137A - Спектрометрический прибор - Google Patents
Спектрометрический прибор Download PDFInfo
- Publication number
- RU2012142137A RU2012142137A RU2012142137/28A RU2012142137A RU2012142137A RU 2012142137 A RU2012142137 A RU 2012142137A RU 2012142137/28 A RU2012142137/28 A RU 2012142137/28A RU 2012142137 A RU2012142137 A RU 2012142137A RU 2012142137 A RU2012142137 A RU 2012142137A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- observed
- angle
- front surface
- detector
- interferometer
- Prior art date
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract 7
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 5
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
- G01J3/4535—Devices with moving mirror
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
1. Спектрометрический прибор (2; 38), который содержит: сканирующий интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44), содержащий светоделитель (4; 40), предназначенный для расщепления падающего оптического излучения на отраженный луч и прошедший луч; источник (12; 52) монохроматического оптического излучения, предназначенный для впуска опорного луча в интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44) по первой траектории (14; 62) распространения так, чтобы он вначале падал на первую лицевую поверхность (4'; 40') светоделителя (4; 40); источник (16; 46) наблюдаемого оптического излучения, предназначенный для впуска наблюдаемого луча (18; 64) в интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44) по второй траектории (20; 66) распространения так, чтобы он вначале падал на первую лицевую поверхность (4'; 40') светоделителя (4; 40) и перекрывался с опорным лучом на первой лицевой поверхности (4'; 40'); где источники (12; 16; 52; 46) излучения совместно действуют для создания между соответствующими первой (14; 62) и второй (20; 66) траекториями распространения на лицевой поверхности (4'; 40') первого угла (θ), который превышает половинный угол расходимости (α) наблюдаемого луча (18; 64).2. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.1, который дополнительно содержит опорный детектор (26; 56), предназначенный для регистрации опорной интерферограммы, генерируемой из впущенного опорного луча, и детектор (28; 54) наблюдения, предназначенный для регистрации наблюдаемой интерферограммы из впущенного наблюдаемого луча (18; 64), где каждый детектор (26; 28; 56; 54) располагается вне траектории (36; 34; 62; 64) другого луча.3. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.2, который дополнительно содержит процессор (30) данных, подключенный для приема выходного сигнала каждого из детекторов (26;
Claims (8)
1. Спектрометрический прибор (2; 38), который содержит: сканирующий интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44), содержащий светоделитель (4; 40), предназначенный для расщепления падающего оптического излучения на отраженный луч и прошедший луч; источник (12; 52) монохроматического оптического излучения, предназначенный для впуска опорного луча в интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44) по первой траектории (14; 62) распространения так, чтобы он вначале падал на первую лицевую поверхность (4'; 40') светоделителя (4; 40); источник (16; 46) наблюдаемого оптического излучения, предназначенный для впуска наблюдаемого луча (18; 64) в интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44) по второй траектории (20; 66) распространения так, чтобы он вначале падал на первую лицевую поверхность (4'; 40') светоделителя (4; 40) и перекрывался с опорным лучом на первой лицевой поверхности (4'; 40'); где источники (12; 16; 52; 46) излучения совместно действуют для создания между соответствующими первой (14; 62) и второй (20; 66) траекториями распространения на лицевой поверхности (4'; 40') первого угла (θ), который превышает половинный угол расходимости (α) наблюдаемого луча (18; 64).
2. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.1, который дополнительно содержит опорный детектор (26; 56), предназначенный для регистрации опорной интерферограммы, генерируемой из впущенного опорного луча, и детектор (28; 54) наблюдения, предназначенный для регистрации наблюдаемой интерферограммы из впущенного наблюдаемого луча (18; 64), где каждый детектор (26; 28; 56; 54) располагается вне траектории (36; 34; 62; 64) другого луча.
3. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.2, который дополнительно содержит процессор (30) данных, подключенный для приема выходного сигнала каждого из детекторов (26; 28; 56; 54), соответствующего регистрируемым интерферограммам, при этом процессор (30) данных приспособлен для обработки принимаемых выходных сигналов для коррекции ошибок в спектральной информации, извлекаемой из наблюдаемой интерферограммы, регистрируемой детектором (28; 54) наблюдения, являющихся результатом впуска опорного луча под первым углом (θ).
4. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.3, в котором опорный луч имеет диаметр луча, и источник (12; 52) монохроматического излучения сконфигурирован для впуска опорного луча под первым углом (θ), коррелирующим с диаметром луча, для достижения степени перекрытия на первой лицевой поверхности (4'; 40') светоделителя (4; 40), выбранной для обеспечения минимального отношения сигнал/шум в выходном сигнале наблюдаемого детектора (26), когда зеркало (6) перемещается достаточно для того, чтобы позволить определить в процессоре (30) данных периодически повторяющиеся характерные признаки, исходя из опорной интерферограммы.
5. Способ эксплуатации спектрометрического прибора (2; 38) по п.1, который содержит этап одновременного впуска опорного луча из источника (12; 52) монохроматического излучения и расходящегося наблюдаемого луча (18; 64) из источника (16; 46) наблюдаемого оптического излучения по соответствующим траекториям (14; 20; 62; 66) распространения в направлении первой лицевой поверхности (4'; 40') светоделителя (4; 40) интерферометра (4, 6, 8; 40, 42, 44), при этом опорный луч впускают по его траектории распространения (14; 62) для падения на первую лицевую поверхность (4'; 40') под первым углом (θ) относительно траектории (20; 66) распространения наблюдаемого луча, где первый угол больше чем половинный угол (α) расходимости наблюдаемого луча (18; 64).
6. Способ по п.5, который также содержит этап обработки в процессоре (30) данных интерферограммы, полученной из наблюдаемого луча (18; 64), для коррекции ошибок в спектральной информации, получаемой из него, возникающих в результате впуска опорного луча под первым углом (θ).
7. Способ по п.6, в котором коррекция содержит компенсацию того, что опорный луч имеет кажущуюся длину волны, которая отличается от фактической длины волны множителем cos(θ).
8. Способ по одному из п.п.5-7, который дополнительно содержит этапы пропускания наблюдаемого луча (18; 64) через материал образца; и обработки в процессоре (30) данных интерферограммы, полученной из наблюдаемого луча (18; 64), для извлечения спектральной информации, характерной для материала образца.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP2011056934 | 2011-05-02 | ||
EPPCT/EP2011/056934 | 2011-05-02 | ||
PCT/EP2012/057631 WO2012150172A1 (en) | 2011-05-02 | 2012-04-26 | Spectrometric instrument |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2012142137A true RU2012142137A (ru) | 2014-10-10 |
RU2586393C2 RU2586393C2 (ru) | 2016-06-10 |
Family
ID=46022220
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2012142137/28A RU2586393C2 (ru) | 2011-05-02 | 2012-04-26 | Спектрометрический прибор |
Country Status (16)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8593637B2 (ru) |
JP (1) | JP5714773B2 (ru) |
KR (1) | KR101828100B1 (ru) |
CN (1) | CN102906535B (ru) |
AR (1) | AR089921A1 (ru) |
AU (1) | AU2012241106C1 (ru) |
BR (1) | BR112012028396B1 (ru) |
CA (1) | CA2791411C (ru) |
DK (1) | DK2564154T3 (ru) |
ES (1) | ES2436363T3 (ru) |
MX (1) | MX2013000643A (ru) |
PT (1) | PT2564154E (ru) |
RU (1) | RU2586393C2 (ru) |
UA (1) | UA111063C2 (ru) |
WO (1) | WO2012150172A1 (ru) |
ZA (1) | ZA201208023B (ru) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8766191B2 (en) * | 2009-10-06 | 2014-07-01 | The Curators Of The University Of Missouri | External/internal optical adapter for FTIR spectrophotometer |
US11006824B2 (en) | 2014-06-11 | 2021-05-18 | Cellview Imaging Inc. | Angular separation of scan channels |
WO2016124970A1 (en) * | 2015-02-02 | 2016-08-11 | Foss Analytical A/S | A spectrometer system and a method for compensating for time periodic perturbations of an interferogram generated by the spectrometer system |
JP2017191071A (ja) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | キヤノン株式会社 | 分光データ処理装置、撮像装置、分光データ処理方法および分光データ処理プログラム |
CN111551520B (zh) * | 2020-05-24 | 2021-04-27 | 清华大学 | 一种级联吸收路径气体浓度复用探测的方法及装置 |
CN112945385A (zh) * | 2021-01-26 | 2021-06-11 | 同济大学 | 一种多反射干涉自动测量系统 |
CN116297320B (zh) * | 2023-05-09 | 2023-09-08 | 北京易兴元石化科技有限公司 | 用于煤质分析的近红外光谱系统及煤质分析方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU935716A1 (ru) * | 1980-10-10 | 1982-06-15 | Предприятие П/Я Р-6681 | Интерференционный спектрометр |
US4444501A (en) * | 1982-02-12 | 1984-04-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce | Stabilization mechanism for optical interferometer |
JPS63168522A (ja) * | 1986-12-30 | 1988-07-12 | Shimadzu Corp | 干渉計の調整装置 |
JPS63269024A (ja) * | 1987-04-27 | 1988-11-07 | Fuji Electric Co Ltd | 干渉分光分析装置 |
JPH0346523A (ja) * | 1989-07-14 | 1991-02-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | フーリェ変換型分光器用信号処理装置 |
JPH05231939A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Hitachi Ltd | ステップスキャンフーリエ変換赤外分光装置 |
US5539518A (en) * | 1993-09-13 | 1996-07-23 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Method for determining and displaying the spacial distribution of a spectral pattern of received light |
JPH07209085A (ja) * | 1994-01-19 | 1995-08-11 | Yokogawa Electric Corp | フーリエ分光器 |
JPH07286902A (ja) * | 1994-04-18 | 1995-10-31 | Yokogawa Electric Corp | フーリエ分光器 |
JP3314618B2 (ja) * | 1996-06-24 | 2002-08-12 | 横河電機株式会社 | 移動鏡駆動回路 |
JPH11142243A (ja) * | 1997-11-13 | 1999-05-28 | Yokogawa Electric Corp | 干渉計及びこれを用いたフーリエ変換型分光装置 |
DE10159721B4 (de) * | 2001-12-05 | 2004-07-22 | Bruker Optik Gmbh | Digitales FTIR-Spektrometer |
US6654125B2 (en) | 2002-04-04 | 2003-11-25 | Inlight Solutions, Inc | Method and apparatus for optical spectroscopy incorporating a vertical cavity surface emitting laser (VCSEL) as an interferometer reference |
WO2005008199A2 (en) * | 2003-07-18 | 2005-01-27 | Chemimage Corporation | Method and apparatus for compact fabry-perot imaging spectrometer |
RU2400715C2 (ru) | 2004-12-21 | 2010-09-27 | ФОСС Аналитикал А/С | Способ градуировки спектрометра |
JP2007114017A (ja) * | 2005-10-19 | 2007-05-10 | Shimadzu Corp | 干渉計 |
EP2151248A1 (en) * | 2008-07-30 | 2010-02-10 | Johann Bauer | Improved pre-mRNA trans-splicing molecule (RTM) molecules and their uses |
US7894072B1 (en) * | 2008-11-10 | 2011-02-22 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Laser-based gas differential spectral analysis |
US20120002210A1 (en) | 2009-04-28 | 2012-01-05 | Foss Analytical A/S | Optical interferometer |
US8169616B2 (en) * | 2010-02-16 | 2012-05-01 | Agilent Technologies Australia (M) Pty Ltd | Interferometer step scanning systems and methods |
-
2012
- 2012-04-26 MX MX2013000643A patent/MX2013000643A/es active IP Right Grant
- 2012-04-26 CN CN201280001217.3A patent/CN102906535B/zh active Active
- 2012-04-26 CA CA2791411A patent/CA2791411C/en active Active
- 2012-04-26 UA UAA201211606A patent/UA111063C2/uk unknown
- 2012-04-26 PT PT127176808T patent/PT2564154E/pt unknown
- 2012-04-26 JP JP2014508750A patent/JP5714773B2/ja active Active
- 2012-04-26 KR KR1020127028765A patent/KR101828100B1/ko active IP Right Grant
- 2012-04-26 DK DK12717680.8T patent/DK2564154T3/da active
- 2012-04-26 US US13/583,534 patent/US8593637B2/en active Active
- 2012-04-26 WO PCT/EP2012/057631 patent/WO2012150172A1/en active Application Filing
- 2012-04-26 RU RU2012142137/28A patent/RU2586393C2/ru active
- 2012-04-26 AU AU2012241106A patent/AU2012241106C1/en active Active
- 2012-04-26 ES ES12717680T patent/ES2436363T3/es active Active
- 2012-04-26 BR BR112012028396-0A patent/BR112012028396B1/pt active IP Right Grant
- 2012-10-24 ZA ZA2012/08023A patent/ZA201208023B/en unknown
-
2013
- 2013-02-06 AR ARP130100370A patent/AR089921A1/es active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU2012241106A1 (en) | 2012-11-22 |
PT2564154E (pt) | 2013-12-05 |
BR112012028396A2 (pt) | 2018-10-16 |
JP2014523517A (ja) | 2014-09-11 |
BR112012028396B1 (pt) | 2021-02-02 |
AU2012241106C1 (en) | 2014-01-16 |
JP5714773B2 (ja) | 2015-05-07 |
KR20140022715A (ko) | 2014-02-25 |
CA2791411C (en) | 2017-03-21 |
DK2564154T3 (da) | 2013-11-18 |
WO2012150172A1 (en) | 2012-11-08 |
AR089921A1 (es) | 2014-10-01 |
CN102906535B (zh) | 2016-01-20 |
AU2012241106B2 (en) | 2013-07-18 |
ES2436363T3 (es) | 2013-12-30 |
UA111063C2 (uk) | 2016-03-25 |
ZA201208023B (en) | 2014-01-29 |
CA2791411A1 (en) | 2012-11-02 |
NZ602603A (en) | 2014-06-27 |
US20130188192A1 (en) | 2013-07-25 |
KR101828100B1 (ko) | 2018-02-09 |
MX2013000643A (es) | 2013-03-22 |
CN102906535A (zh) | 2013-01-30 |
US8593637B2 (en) | 2013-11-26 |
RU2586393C2 (ru) | 2016-06-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2012142137A (ru) | Спектрометрический прибор | |
CN104236856B (zh) | 物镜成像系统的波像差检测装置及其系统误差校正方法 | |
WO2019191698A3 (en) | Self-referenced spectrometer | |
WO2011126610A3 (en) | Interferometric encoder systems | |
CN106546335B (zh) | 一种双通道傅里叶光谱仪及探测方法 | |
CN104655032B (zh) | 基于正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统和方法 | |
RU2013143824A (ru) | Устройство измерения оптических характеристик и способ измерения оптических характеристик | |
US10481264B2 (en) | Laser processing device and laser processing system | |
TWI663416B (zh) | 光學測距方法及光相位差檢測系統 | |
TW200710370A (en) | Heterodyne reflectometer for film thickness monitoring and method for implementing | |
JP2014523517A5 (ru) | ||
EP2180301A3 (en) | Wavelength shift measuring apparatus, optical source apparatus, interference measuring apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method | |
JP2016024086A (ja) | 距離測定装置、波長検出装置、及び距離測定方法 | |
US20210396880A1 (en) | Optical distance measurement device | |
CN111208072A (zh) | 一种痕量气体浓度检测的光谱系统 | |
JP2017133869A (ja) | 厚み測定装置および厚み測定方法 | |
CN103900694B (zh) | 一种近红外偏振干涉光谱仪 | |
JP5857887B2 (ja) | 波面測定装置 | |
JP2015152347A (ja) | 分光分析装置および分光分析方法 | |
KR20130033612A (ko) | 광학계 및 이를 구비한 간섭계 | |
JP6489680B2 (ja) | 距離測定装置、及び距離測定方法 | |
JP6347552B2 (ja) | 光学デバイスのインパルスレスポンス測定装置および測定方法 | |
CN104048757A (zh) | 一种凹面光栅光谱仪 | |
CN109490238A (zh) | 一种短波红外ch4遥测成像装置 | |
KR101213786B1 (ko) | 광의 공간 분할을 이용한 측정 시스템 |