RU2012142137A - Спектрометрический прибор - Google Patents

Спектрометрический прибор Download PDF

Info

Publication number
RU2012142137A
RU2012142137A RU2012142137/28A RU2012142137A RU2012142137A RU 2012142137 A RU2012142137 A RU 2012142137A RU 2012142137/28 A RU2012142137/28 A RU 2012142137/28A RU 2012142137 A RU2012142137 A RU 2012142137A RU 2012142137 A RU2012142137 A RU 2012142137A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
observed
angle
front surface
detector
interferometer
Prior art date
Application number
RU2012142137/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2586393C2 (ru
Inventor
Якоб ФОЛКЕНБЕРГ
Ханс ЛАРСЕН
Original Assignee
ФОСС Аналитикал А/С
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ФОСС Аналитикал А/С filed Critical ФОСС Аналитикал А/С
Publication of RU2012142137A publication Critical patent/RU2012142137A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2586393C2 publication Critical patent/RU2586393C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • G01J3/453Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • G01J3/453Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
    • G01J3/4535Devices with moving mirror
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/02Interferometers
    • G01B9/02015Interferometers characterised by the beam path configuration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

1. Спектрометрический прибор (2; 38), который содержит: сканирующий интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44), содержащий светоделитель (4; 40), предназначенный для расщепления падающего оптического излучения на отраженный луч и прошедший луч; источник (12; 52) монохроматического оптического излучения, предназначенный для впуска опорного луча в интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44) по первой траектории (14; 62) распространения так, чтобы он вначале падал на первую лицевую поверхность (4'; 40') светоделителя (4; 40); источник (16; 46) наблюдаемого оптического излучения, предназначенный для впуска наблюдаемого луча (18; 64) в интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44) по второй траектории (20; 66) распространения так, чтобы он вначале падал на первую лицевую поверхность (4'; 40') светоделителя (4; 40) и перекрывался с опорным лучом на первой лицевой поверхности (4'; 40'); где источники (12; 16; 52; 46) излучения совместно действуют для создания между соответствующими первой (14; 62) и второй (20; 66) траекториями распространения на лицевой поверхности (4'; 40') первого угла (θ), который превышает половинный угол расходимости (α) наблюдаемого луча (18; 64).2. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.1, который дополнительно содержит опорный детектор (26; 56), предназначенный для регистрации опорной интерферограммы, генерируемой из впущенного опорного луча, и детектор (28; 54) наблюдения, предназначенный для регистрации наблюдаемой интерферограммы из впущенного наблюдаемого луча (18; 64), где каждый детектор (26; 28; 56; 54) располагается вне траектории (36; 34; 62; 64) другого луча.3. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.2, который дополнительно содержит процессор (30) данных, подключенный для приема выходного сигнала каждого из детекторов (26;

Claims (8)

1. Спектрометрический прибор (2; 38), который содержит: сканирующий интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44), содержащий светоделитель (4; 40), предназначенный для расщепления падающего оптического излучения на отраженный луч и прошедший луч; источник (12; 52) монохроматического оптического излучения, предназначенный для впуска опорного луча в интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44) по первой траектории (14; 62) распространения так, чтобы он вначале падал на первую лицевую поверхность (4'; 40') светоделителя (4; 40); источник (16; 46) наблюдаемого оптического излучения, предназначенный для впуска наблюдаемого луча (18; 64) в интерферометр (4, 6, 8; 40, 42, 44) по второй траектории (20; 66) распространения так, чтобы он вначале падал на первую лицевую поверхность (4'; 40') светоделителя (4; 40) и перекрывался с опорным лучом на первой лицевой поверхности (4'; 40'); где источники (12; 16; 52; 46) излучения совместно действуют для создания между соответствующими первой (14; 62) и второй (20; 66) траекториями распространения на лицевой поверхности (4'; 40') первого угла (θ), который превышает половинный угол расходимости (α) наблюдаемого луча (18; 64).
2. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.1, который дополнительно содержит опорный детектор (26; 56), предназначенный для регистрации опорной интерферограммы, генерируемой из впущенного опорного луча, и детектор (28; 54) наблюдения, предназначенный для регистрации наблюдаемой интерферограммы из впущенного наблюдаемого луча (18; 64), где каждый детектор (26; 28; 56; 54) располагается вне траектории (36; 34; 62; 64) другого луча.
3. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.2, который дополнительно содержит процессор (30) данных, подключенный для приема выходного сигнала каждого из детекторов (26; 28; 56; 54), соответствующего регистрируемым интерферограммам, при этом процессор (30) данных приспособлен для обработки принимаемых выходных сигналов для коррекции ошибок в спектральной информации, извлекаемой из наблюдаемой интерферограммы, регистрируемой детектором (28; 54) наблюдения, являющихся результатом впуска опорного луча под первым углом (θ).
4. Спектрометрический прибор (2; 38) по п.3, в котором опорный луч имеет диаметр луча, и источник (12; 52) монохроматического излучения сконфигурирован для впуска опорного луча под первым углом (θ), коррелирующим с диаметром луча, для достижения степени перекрытия на первой лицевой поверхности (4'; 40') светоделителя (4; 40), выбранной для обеспечения минимального отношения сигнал/шум в выходном сигнале наблюдаемого детектора (26), когда зеркало (6) перемещается достаточно для того, чтобы позволить определить в процессоре (30) данных периодически повторяющиеся характерные признаки, исходя из опорной интерферограммы.
5. Способ эксплуатации спектрометрического прибора (2; 38) по п.1, который содержит этап одновременного впуска опорного луча из источника (12; 52) монохроматического излучения и расходящегося наблюдаемого луча (18; 64) из источника (16; 46) наблюдаемого оптического излучения по соответствующим траекториям (14; 20; 62; 66) распространения в направлении первой лицевой поверхности (4'; 40') светоделителя (4; 40) интерферометра (4, 6, 8; 40, 42, 44), при этом опорный луч впускают по его траектории распространения (14; 62) для падения на первую лицевую поверхность (4'; 40') под первым углом (θ) относительно траектории (20; 66) распространения наблюдаемого луча, где первый угол больше чем половинный угол (α) расходимости наблюдаемого луча (18; 64).
6. Способ по п.5, который также содержит этап обработки в процессоре (30) данных интерферограммы, полученной из наблюдаемого луча (18; 64), для коррекции ошибок в спектральной информации, получаемой из него, возникающих в результате впуска опорного луча под первым углом (θ).
7. Способ по п.6, в котором коррекция содержит компенсацию того, что опорный луч имеет кажущуюся длину волны, которая отличается от фактической длины волны множителем cos(θ).
8. Способ по одному из п.п.5-7, который дополнительно содержит этапы пропускания наблюдаемого луча (18; 64) через материал образца; и обработки в процессоре (30) данных интерферограммы, полученной из наблюдаемого луча (18; 64), для извлечения спектральной информации, характерной для материала образца.
RU2012142137/28A 2011-05-02 2012-04-26 Спектрометрический прибор RU2586393C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP2011056934 2011-05-02
EPPCT/EP2011/056934 2011-05-02
PCT/EP2012/057631 WO2012150172A1 (en) 2011-05-02 2012-04-26 Spectrometric instrument

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012142137A true RU2012142137A (ru) 2014-10-10
RU2586393C2 RU2586393C2 (ru) 2016-06-10

Family

ID=46022220

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012142137/28A RU2586393C2 (ru) 2011-05-02 2012-04-26 Спектрометрический прибор

Country Status (16)

Country Link
US (1) US8593637B2 (ru)
JP (1) JP5714773B2 (ru)
KR (1) KR101828100B1 (ru)
CN (1) CN102906535B (ru)
AR (1) AR089921A1 (ru)
AU (1) AU2012241106C1 (ru)
BR (1) BR112012028396B1 (ru)
CA (1) CA2791411C (ru)
DK (1) DK2564154T3 (ru)
ES (1) ES2436363T3 (ru)
MX (1) MX2013000643A (ru)
PT (1) PT2564154E (ru)
RU (1) RU2586393C2 (ru)
UA (1) UA111063C2 (ru)
WO (1) WO2012150172A1 (ru)
ZA (1) ZA201208023B (ru)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8766191B2 (en) * 2009-10-06 2014-07-01 The Curators Of The University Of Missouri External/internal optical adapter for FTIR spectrophotometer
US11006824B2 (en) 2014-06-11 2021-05-18 Cellview Imaging Inc. Angular separation of scan channels
WO2016124970A1 (en) * 2015-02-02 2016-08-11 Foss Analytical A/S A spectrometer system and a method for compensating for time periodic perturbations of an interferogram generated by the spectrometer system
JP2017191071A (ja) * 2016-04-15 2017-10-19 キヤノン株式会社 分光データ処理装置、撮像装置、分光データ処理方法および分光データ処理プログラム
CN111551520B (zh) * 2020-05-24 2021-04-27 清华大学 一种级联吸收路径气体浓度复用探测的方法及装置
CN112945385A (zh) * 2021-01-26 2021-06-11 同济大学 一种多反射干涉自动测量系统
CN116297320B (zh) * 2023-05-09 2023-09-08 北京易兴元石化科技有限公司 用于煤质分析的近红外光谱系统及煤质分析方法

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU935716A1 (ru) * 1980-10-10 1982-06-15 Предприятие П/Я Р-6681 Интерференционный спектрометр
US4444501A (en) * 1982-02-12 1984-04-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Stabilization mechanism for optical interferometer
JPS63168522A (ja) * 1986-12-30 1988-07-12 Shimadzu Corp 干渉計の調整装置
JPS63269024A (ja) * 1987-04-27 1988-11-07 Fuji Electric Co Ltd 干渉分光分析装置
JPH0346523A (ja) * 1989-07-14 1991-02-27 Sumitomo Electric Ind Ltd フーリェ変換型分光器用信号処理装置
JPH05231939A (ja) * 1992-02-21 1993-09-07 Hitachi Ltd ステップスキャンフーリエ変換赤外分光装置
US5539518A (en) * 1993-09-13 1996-07-23 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Method for determining and displaying the spacial distribution of a spectral pattern of received light
JPH07209085A (ja) * 1994-01-19 1995-08-11 Yokogawa Electric Corp フーリエ分光器
JPH07286902A (ja) * 1994-04-18 1995-10-31 Yokogawa Electric Corp フーリエ分光器
JP3314618B2 (ja) * 1996-06-24 2002-08-12 横河電機株式会社 移動鏡駆動回路
JPH11142243A (ja) * 1997-11-13 1999-05-28 Yokogawa Electric Corp 干渉計及びこれを用いたフーリエ変換型分光装置
DE10159721B4 (de) * 2001-12-05 2004-07-22 Bruker Optik Gmbh Digitales FTIR-Spektrometer
US6654125B2 (en) 2002-04-04 2003-11-25 Inlight Solutions, Inc Method and apparatus for optical spectroscopy incorporating a vertical cavity surface emitting laser (VCSEL) as an interferometer reference
WO2005008199A2 (en) * 2003-07-18 2005-01-27 Chemimage Corporation Method and apparatus for compact fabry-perot imaging spectrometer
RU2400715C2 (ru) 2004-12-21 2010-09-27 ФОСС Аналитикал А/С Способ градуировки спектрометра
JP2007114017A (ja) * 2005-10-19 2007-05-10 Shimadzu Corp 干渉計
EP2151248A1 (en) * 2008-07-30 2010-02-10 Johann Bauer Improved pre-mRNA trans-splicing molecule (RTM) molecules and their uses
US7894072B1 (en) * 2008-11-10 2011-02-22 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Laser-based gas differential spectral analysis
US20120002210A1 (en) 2009-04-28 2012-01-05 Foss Analytical A/S Optical interferometer
US8169616B2 (en) * 2010-02-16 2012-05-01 Agilent Technologies Australia (M) Pty Ltd Interferometer step scanning systems and methods

Also Published As

Publication number Publication date
AU2012241106A1 (en) 2012-11-22
PT2564154E (pt) 2013-12-05
BR112012028396A2 (pt) 2018-10-16
JP2014523517A (ja) 2014-09-11
BR112012028396B1 (pt) 2021-02-02
AU2012241106C1 (en) 2014-01-16
JP5714773B2 (ja) 2015-05-07
KR20140022715A (ko) 2014-02-25
CA2791411C (en) 2017-03-21
DK2564154T3 (da) 2013-11-18
WO2012150172A1 (en) 2012-11-08
AR089921A1 (es) 2014-10-01
CN102906535B (zh) 2016-01-20
AU2012241106B2 (en) 2013-07-18
ES2436363T3 (es) 2013-12-30
UA111063C2 (uk) 2016-03-25
ZA201208023B (en) 2014-01-29
CA2791411A1 (en) 2012-11-02
NZ602603A (en) 2014-06-27
US20130188192A1 (en) 2013-07-25
KR101828100B1 (ko) 2018-02-09
MX2013000643A (es) 2013-03-22
CN102906535A (zh) 2013-01-30
US8593637B2 (en) 2013-11-26
RU2586393C2 (ru) 2016-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2012142137A (ru) Спектрометрический прибор
CN104236856B (zh) 物镜成像系统的波像差检测装置及其系统误差校正方法
WO2019191698A3 (en) Self-referenced spectrometer
WO2011126610A3 (en) Interferometric encoder systems
CN106546335B (zh) 一种双通道傅里叶光谱仪及探测方法
CN104655032B (zh) 基于正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统和方法
RU2013143824A (ru) Устройство измерения оптических характеристик и способ измерения оптических характеристик
US10481264B2 (en) Laser processing device and laser processing system
TWI663416B (zh) 光學測距方法及光相位差檢測系統
TW200710370A (en) Heterodyne reflectometer for film thickness monitoring and method for implementing
JP2014523517A5 (ru)
EP2180301A3 (en) Wavelength shift measuring apparatus, optical source apparatus, interference measuring apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2016024086A (ja) 距離測定装置、波長検出装置、及び距離測定方法
US20210396880A1 (en) Optical distance measurement device
CN111208072A (zh) 一种痕量气体浓度检测的光谱系统
JP2017133869A (ja) 厚み測定装置および厚み測定方法
CN103900694B (zh) 一种近红外偏振干涉光谱仪
JP5857887B2 (ja) 波面測定装置
JP2015152347A (ja) 分光分析装置および分光分析方法
KR20130033612A (ko) 광학계 및 이를 구비한 간섭계
JP6489680B2 (ja) 距離測定装置、及び距離測定方法
JP6347552B2 (ja) 光学デバイスのインパルスレスポンス測定装置および測定方法
CN104048757A (zh) 一种凹面光栅光谱仪
CN109490238A (zh) 一种短波红外ch4遥测成像装置
KR101213786B1 (ko) 광의 공간 분할을 이용한 측정 시스템