RU2010137981A - Детектор рентгеновского излучения для формирования фазовоконтрастных изображений - Google Patents

Детектор рентгеновского излучения для формирования фазовоконтрастных изображений Download PDF

Info

Publication number
RU2010137981A
RU2010137981A RU2010137981/07A RU2010137981A RU2010137981A RU 2010137981 A RU2010137981 A RU 2010137981A RU 2010137981/07 A RU2010137981/07 A RU 2010137981/07A RU 2010137981 A RU2010137981 A RU 2010137981A RU 2010137981 A RU2010137981 A RU 2010137981A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
ray
analyzer
sensitive elements
phase
pattern
Prior art date
Application number
RU2010137981/07A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2489762C2 (ru
Inventor
Кристиан БОЙМЕР (NL)
Кристиан БОЙМЕР
Коаус Й. ЭНГЕЛЬ (NL)
Коаус Й. ЭНГЕЛЬ
Кристоф ХЕРРМАНН (NL)
Кристоф ХЕРРМАНН
Original Assignee
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl)
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl), Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl)
Publication of RU2010137981A publication Critical patent/RU2010137981A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2489762C2 publication Critical patent/RU2489762C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00—Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06—Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • G21K2201/067—Construction details
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
    • G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast

Abstract

1. Детектор (30) рентгеновского излучения для определения фазового сдвига картины (I) интенсивностей рентгеновского излучения, детектор (30) рентгеновского излучения содержит: ! a) по меньшей мере один макропиксель (Πi), состоящий из множества рентгеночувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid); ! b) по меньшей мере две решетки (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора, ! при этом перед каждым из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) расположена соответствующая решетка (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора с разной фазой и/или периодичностью, из условия чтобы каждый из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) по меньшей мере одного макропикселя (Πi) выдает разную выборку отсчетов картины (I) интенсивностей. ! 2. Детектор (30) рентгеновского излучения по п. 1, отличающийся тем, что решетки анализатора являются сетками (Gia, Gib, Gic, Gid) поглощения. ! 3. Детектор (30) рентгеновского излучении по п. 1, отличающийся тем, что точки выборки отсчетов картины (I) интенсивностей по меньшей мере одного макропикселя (Πi) покрывают полный интервал сдвига 2π. ! 4. Детектор (30) рентгеновского излучения по п. 3, отличающийся тем, что решетки (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора макропикселя (Πi) имеют одинаковую периодичность, но взаимные фазовые сдвиги, которые равномерно распределены по одному периоду. ! 5. Рентгеновское устройство (100) для формирования фазово-контрастных изображений объекта (1), содержащее: ! a) рентгеновский источник (10); ! b) дифракционный оптический элемент (20), называемый DOE, который подвергается воздействию рентгеновского источника; ! c) детектор (30) рентгеновского излучения для определения фазового сдвига картины (I) интенсивностей с помощью по меньшей мере одного макропикселя (Πi), состояще�

Claims (12)

1. Детектор (30) рентгеновского излучения для определения фазового сдвига картины (I) интенсивностей рентгеновского излучения, детектор (30) рентгеновского излучения содержит:
a) по меньшей мере один макропиксель (Πi), состоящий из множества рентгеночувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid);
b) по меньшей мере две решетки (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора,
при этом перед каждым из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) расположена соответствующая решетка (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора с разной фазой и/или периодичностью, из условия чтобы каждый из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) по меньшей мере одного макропикселя (Πi) выдает разную выборку отсчетов картины (I) интенсивностей.
2. Детектор (30) рентгеновского излучения по п. 1, отличающийся тем, что решетки анализатора являются сетками (Gia, Gib, Gic, Gid) поглощения.
3. Детектор (30) рентгеновского излучении по п. 1, отличающийся тем, что точки выборки отсчетов картины (I) интенсивностей по меньшей мере одного макропикселя (Πi) покрывают полный интервал сдвига 2π.
4. Детектор (30) рентгеновского излучения по п. 3, отличающийся тем, что решетки (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора макропикселя (Πi) имеют одинаковую периодичность, но взаимные фазовые сдвиги, которые равномерно распределены по одному периоду.
5. Рентгеновское устройство (100) для формирования фазово-контрастных изображений объекта (1), содержащее:
a) рентгеновский источник (10);
b) дифракционный оптический элемент (20), называемый DOE, который подвергается воздействию рентгеновского источника;
c) детектор (30) рентгеновского излучения для определения фазового сдвига картины (I) интенсивностей с помощью по меньшей мере одного макропикселя (Πi), состоящего из множества рентгеночувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) и по меньшей мере двух решеток (Gia, Gib, Gic, Gid), анализатора, в котором перед каждым из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) расположена соответствующая решетка (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора с разной фазой и/или периодичностью, из условия чтобы каждый из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) по меньшей мере одного макропикселя (Πi) выдает разную выборку отсчетов картины (I) интенсивностей.
6. Рентгеновское устройство (100) по п. 5, отличающееся тем, что детектор (30) рентгеновского излучения сконструирован по любому одному из пп. 1-4.
7. Рентгеновское устройство (100) по п. 5, отличающееся тем, что периодичность решеток (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора соответствует периодичности интерференционной картины (I), формируемой от DOE (20), и положению решеток анализатора.
8. Рентгеновское устройство (100) по п. 5, отличающееся тем, что оно содержит блок (40) оценки для определения фазового сдвига (Ф), вызванного объектом (1) в рентгеновском излучении на его пути от рентгеновского источника (10) до детектора (30) рентгеновского излучения.
9. Рентгеновское устройство (100) по п. 8, отличающееся тем, что блок (40) оценки содержит модуль (41) реконструкции для реконструкции фазово-контрастного изображения среза поперечного сечения объекта (1) из рентгеновских фазово-контрастных проекций объекта, снятых с разных направлений.
10. Рентгеновское устройство (100) по п. 5, отличающееся тем, что детектор (30) и/или рентгеновский источник (10) установлены из условия, чтобы они могли вращаться относительно неподвижного объекта.
11. Способ для анализа картины (I) интенсивностей рентгеновского излучения, состоящий в том, что осуществляют одновременную локальную выборку отсчетов картины интенсивностей с помощью по меньшей мере одного макропикселя (Πi), состоящего из множества рентгеночувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) и решеток (Gia, Gib, Gic, Gid), анализатора разной фазы и периодичности, при этом, перед каждым из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) расположена соответствующая решетка (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора с разной фазой и/или периодичностью, из условия, чтобы каждый из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic, Pid) по меньшей мере одного макропикселя (Πi) выдавал разную выборку отсчетов картины (I) интенсивностей.
12. Компьютерная программа, содержащая команды для анализа картины (I) интенсивностей рентгеновского излучения, состоящего в одновременной локальной выборке отсчетов картины интенсивностей с помощью по меньшей мере одного макропикселя (Πi), состоящего из множества рентгеночувствительных элементов (Pia, Pib, Pic Pid) и решеток (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора разной фазы и/или периодичности, при этом, перед каждым из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic Pid) расположена соответствующая решетка (Gia, Gib, Gic, Gid) анализатора с разной фазой и/или периодичностью, из условия, чтобы каждый из чувствительных элементов (Pia, Pib, Pic Pid) по меньшей мере одного макропикселя (Πi) выдавал разную выборку отсчетов картины (I) интенсивностей.
RU2010137981/07A 2008-02-14 2009-02-09 Детектор рентгеновского излучения для формирования фазово-контрастных изображений RU2489762C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP08151430.9 2008-02-14
EP08151430 2008-02-14
PCT/IB2009/050519 WO2009101569A2 (en) 2008-02-14 2009-02-09 X-ray detector for phase contrast imaging

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2010137981A true RU2010137981A (ru) 2012-03-20
RU2489762C2 RU2489762C2 (ru) 2013-08-10

Family

ID=40957330

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2010137981/07A RU2489762C2 (ru) 2008-02-14 2009-02-09 Детектор рентгеновского излучения для формирования фазово-контрастных изображений

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8576983B2 (ru)
EP (1) EP2245636A2 (ru)
JP (1) JP5461438B2 (ru)
CN (1) CN101952900B (ru)
RU (1) RU2489762C2 (ru)
WO (1) WO2009101569A2 (ru)

Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8708561B2 (en) 2009-03-20 2014-04-29 Orthoscan, Inc. Mobile imaging apparatus
JP2012090945A (ja) * 2010-03-30 2012-05-17 Fujifilm Corp 放射線検出装置、放射線撮影装置、放射線撮影システム
JP5610885B2 (ja) * 2010-07-12 2014-10-22 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像装置および撮像方法
JP2012022239A (ja) * 2010-07-16 2012-02-02 Fujifilm Corp 回折格子及びその製造方法、放射線撮影装置
WO2012029005A1 (en) * 2010-09-03 2012-03-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Differential phase-contrast imaging with improved sampling
CN103189739B (zh) * 2010-10-19 2015-12-02 皇家飞利浦电子股份有限公司 微分相位对比成像
EP2630476B1 (en) * 2010-10-19 2017-12-13 Koninklijke Philips N.V. Differential phase-contrast imaging
JP5238787B2 (ja) * 2010-10-27 2013-07-17 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及び放射線撮影システム
WO2012056724A1 (ja) * 2010-10-29 2012-05-03 富士フイルム株式会社 放射線位相画像撮影装置
WO2012082799A1 (en) 2010-12-13 2012-06-21 Orthoscan, Inc. Mobile fluoroscopic imaging system
JP2012157690A (ja) * 2011-01-14 2012-08-23 Fujifilm Corp 放射線画像撮影装置および放射線画像検出器
US9066704B2 (en) * 2011-03-14 2015-06-30 Canon Kabushiki Kaisha X-ray imaging apparatus
WO2013004574A1 (en) * 2011-07-04 2013-01-10 Koninklijke Philips Electronics N.V Phase contrast imaging apparatus
JP2013050441A (ja) * 2011-08-03 2013-03-14 Canon Inc 波面測定装置、波面測定方法、及びプログラム並びにｘ線撮像装置
DE102011082878A1 (de) 2011-09-16 2013-03-21 Siemens Aktiengesellschaft Röntgendetektor einer gitterbasierten Phasenkontrast-Röntgenvorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer gitterbasierten Phasenkontrast-Röntgenvorrichtung
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
WO2013111050A1 (en) * 2012-01-24 2013-08-01 Koninklijke Philips N.V. Multi-directional phase contrast x-ray imaging
CN104394770B (zh) * 2012-06-27 2018-06-08 皇家飞利浦有限公司 基于光栅的差分相位对比成像
DE102012213876A1 (de) * 2012-08-06 2014-02-06 Siemens Aktiengesellschaft Anordnung und Verfahren zur inversen Röntgen-Phasenkontrast-Bildgebung
KR101378757B1 (ko) * 2012-08-30 2014-03-27 한국원자력연구원 물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치
WO2014047424A1 (en) * 2012-09-20 2014-03-27 University Of Houston System Single step x-ray phase imaging
US8989347B2 (en) 2012-12-19 2015-03-24 General Electric Company Image reconstruction method for differential phase contrast X-ray imaging
US10096098B2 (en) 2013-12-30 2018-10-09 Carestream Health, Inc. Phase retrieval from differential phase contrast imaging
US9357975B2 (en) * 2013-12-30 2016-06-07 Carestream Health, Inc. Large FOV phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques
DE102012224258A1 (de) * 2012-12-21 2014-06-26 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenaufnahmesystem zur differentiellen Phasenkontrast-Bildgebung eines Untersuchungsobjekts mit Phase-Stepping sowie angiographisches Untersuchungsverfahren
US10578563B2 (en) 2012-12-21 2020-03-03 Carestream Health, Inc. Phase contrast imaging computed tomography scanner
WO2014187885A1 (de) * 2013-05-22 2014-11-27 Siemens Aktiengesellschaft Phasenkontrast-rontgenbildgebungsvorrichtung
US10297359B2 (en) 2013-09-19 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray illumination system with multiple target microstructures
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
US10269528B2 (en) 2013-09-19 2019-04-23 Sigray, Inc. Diverging X-ray sources using linear accumulation
US10304580B2 (en) 2013-10-31 2019-05-28 Sigray, Inc. Talbot X-ray microscope
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
KR101668219B1 (ko) * 2013-10-31 2016-10-20 도호쿠 다이가쿠 비파괴 검사 장치
JP2015166676A (ja) * 2014-03-03 2015-09-24 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像システム
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
DE102014210223A1 (de) * 2014-05-28 2015-12-03 Siemens Aktiengesellschaft Röntgendetektorvorrichtung zum Gewinnen einer Phaseninformation für ein Phasenkontrastbild
JP6198989B2 (ja) * 2014-10-13 2017-09-20 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． 動き得る物体の位相コントラスト及び／又は暗視野撮像のための格子装置
JP7171190B2 (ja) * 2014-11-11 2022-11-15 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 線源－検出器装置
WO2016104008A1 (ja) * 2014-12-22 2016-06-30 株式会社島津製作所 放射線位相差撮影装置
JP6451400B2 (ja) * 2015-02-26 2019-01-16 コニカミノルタ株式会社 画像処理システム及び画像処理装置
US10352880B2 (en) 2015-04-29 2019-07-16 Sigray, Inc. Method and apparatus for x-ray microscopy
EP3314576B1 (en) * 2015-06-26 2019-11-27 Koninklijke Philips N.V. Robust reconstruction for dark-field and phase contrast ct
US10295486B2 (en) 2015-08-18 2019-05-21 Sigray, Inc. Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution
CN105935297A (zh) * 2016-06-23 2016-09-14 中国科学院深圳先进技术研究院 X射线光栅相衬成像ct系统
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
US10598612B2 (en) 2017-02-01 2020-03-24 Washington University Single-shot method for edge illumination X-ray phase-contrast tomography
WO2018175570A1 (en) 2017-03-22 2018-09-27 Sigray, Inc. Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system
US10441234B2 (en) * 2017-06-15 2019-10-15 Shimadzu Corporation Radiation-phase-contrast imaging device
EP3427663B1 (en) * 2017-07-13 2020-03-04 Agfa Nv Phase contrast imaging method
EP3498171A1 (en) 2017-12-15 2019-06-19 Koninklijke Philips N.V. Single shot x-ray phase-contrast and dark field imaging
EP3740130B1 (en) 2018-01-19 2023-09-27 Koninklijke Philips N.V. Scan parameter adaption during a contrast enhanced scan
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
US10845491B2 (en) 2018-06-04 2020-11-24 Sigray, Inc. Energy-resolving x-ray detection system
GB2591630B (en) 2018-07-26 2023-05-24 Sigray Inc High brightness x-ray reflection source
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
DE112019004433T5 (de) 2018-09-04 2021-05-20 Sigray, Inc. System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung
CN112823280A (zh) 2018-09-07 2021-05-18 斯格瑞公司 用于深度可选x射线分析的系统和方法
WO2021162947A1 (en) 2020-02-10 2021-08-19 Sigray, Inc. X-ray mirror optics with multiple hyperboloidal / hyperbolic surface profiles
US11389124B2 (en) 2020-02-12 2022-07-19 General Electric Company X-ray phase contrast detector
CN111795980B (zh) * 2020-08-04 2022-04-26 合肥工业大学 一种基于逐像素高斯函数拟合法的x射线边界照明成像方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4413353A (en) * 1981-09-03 1983-11-01 Albert Macovski X-Ray encoding system using an optical grating
GB8615196D0 (en) 1986-06-21 1986-07-23 Renishaw Plc Opto-electronic scale reading apparatus
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
EP1447046A1 (en) 2003-02-14 2004-08-18 Paul Scherrer Institut Apparatus and method to obtain phase contrast x-ray images
CN100457040C (zh) 2005-11-17 2009-02-04 中国科学院高能物理研究所 同步辐射x射线相位衬度ct成像装置及实验方法
CN101011256A (zh) 2006-02-01 2007-08-08 西门子公司 通过x射线无破坏地分析检查对象的方法和测量装置
DE102006037254B4 (de) 2006-02-01 2017-08-03 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit röntgenoptischen Gittern, sowie Röntgen-System, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-Computer-Tomographie-System
DE102006037255A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-02 Siemens Ag Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
DE102006015356B4 (de) 2006-02-01 2016-09-22 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Röntgen-System
DE102006037281A1 (de) 2006-02-01 2007-08-09 Siemens Ag Röntgenoptisches Durchstrahlungsgitter einer Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen von einem Untersuchungsobjekt
DE102006017291B4 (de) * 2006-02-01 2017-05-24 Paul Scherer Institut Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, Röntgensystem mit einem solchen Fokus/Detektor-System sowie zugehöriges Speichermedium und Verfahren
DE102006037256B4 (de) * 2006-02-01 2017-03-30 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System
EP1879020A1 (en) * 2006-07-12 2008-01-16 Paul Scherrer Institut X-ray interferometer for phase contrast imaging
DE102007024156B3 (de) * 2007-05-24 2008-12-11 Siemens Ag Röntgenabsorptionsgitter
RU69648U1 (ru) * 2007-08-28 2007-12-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт импульсной техники" (ФГУП НИИИТ) Цифровой спектрограф мягкого рентгеновского излучения

Also Published As

Publication number Publication date
CN101952900B (zh) 2013-10-23
WO2009101569A2 (en) 2009-08-20
WO2009101569A3 (en) 2010-03-25
EP2245636A2 (en) 2010-11-03
RU2489762C2 (ru) 2013-08-10
JP5461438B2 (ja) 2014-04-02
CN101952900A (zh) 2011-01-19
JP2011512187A (ja) 2011-04-21
US20100322380A1 (en) 2010-12-23
US8576983B2 (en) 2013-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2010137981A (ru) Детектор рентгеновского излучения для формирования фазовоконтрастных изображений
JP5961614B2 (ja) 位相差イメージングのための格子装置、位相差イメージングのための装置、当該装置を有するｘ線システム、当該装置の使用方法
US10352880B2 (en) Method and apparatus for x-ray microscopy
JP5777360B2 (ja) Ｘ線撮像装置
JP5174180B2 (ja) Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法
Zanette et al. Two-dimensional x-ray grating interferometer
JP6228457B2 (ja) 微分位相コントラスト画像形成
JP5269041B2 (ja) Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法
JP5796976B2 (ja) Ｘ線撮像装置
JP2011078669A (ja) Ｘ線位相コントラスト像の撮像に用いられる位相格子、該位相格子を用いた撮像装置、ｘ線コンピューター断層撮影システム
CN107850680A (zh) 用于相位对比和/或暗场成像的x射线探测器
JP2011174715A (ja) Ｘ線撮像装置
RU2013141214A (ru) Формирование дифференциальных фазо-контрастных изображений с увеличенным динамическим диапазоном
US20160035450A1 (en) Talbot interferometer, talbot interference system, and fringe scanning method
JP2013230398A (ja) Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法
WO2016074864A1 (en) System for obtaining quantitative x-ray images using hilbert transform on imaged fringes
JP2016527490A (ja) Ｘ線イメージング
EP3344979B1 (en) Dual phase grating interferometer for x-ray phase contrast imaging
RU2708816C2 (ru) Детектор и система визуализации для рентгеновской фазово-контрастной визуализации томосинтеза
JP6604772B2 (ja) Ｘ線トールボット干渉計
JP2017090414A (ja) 二次元干渉パターン撮像装置
Momose et al. Sensitivity of x-ray phase imaging based on Talbot interferometry
JP2012187288A (ja) Ｘ線撮像装置
JP5610885B2 (ja) Ｘ線撮像装置および撮像方法
Hoshino et al. Current status of X-ray phase imaging at SPring-8: Toward 4D X-ray phase tomography for biological samples

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20170210