RU2009118267A - Способ томографического исследования микроскопических объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления - Google Patents
Способ томографического исследования микроскопических объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления Download PDFInfo
- Publication number
- RU2009118267A RU2009118267A RU2009118267/28A RU2009118267A RU2009118267A RU 2009118267 A RU2009118267 A RU 2009118267A RU 2009118267/28 A RU2009118267/28 A RU 2009118267/28A RU 2009118267 A RU2009118267 A RU 2009118267A RU 2009118267 A RU2009118267 A RU 2009118267A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- section
- cross
- scanning
- electromagnetic radiation
- radiation
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
1. Способ томографического исследования объектов, включающий сканирование объекта пучком электромагнитного излучения при дискретном изменении углового положения объекта относительно пучка электромагнитного излучения, регистрацию интенсивности излучения, прошедшего через объект в процессе сканирования, и обработку полученной информации с последующим восстановлением на ее основе структуры объекта, отличающийся тем, что при сканировании формируют пучок электромагнитного излучения с дискретно изменяемыми размерами поперечного сечения пучка, при этом изменение одного из поперечных размеров сечения пучка производят на величину, соответствующую требуемой разрешающей способности, регистрацию интенсивности излучения осуществляют после каждого изменения поперечного размера сечения пучка, а при обработке вычисляют разность величин двух последовательно зарегистрированных интенсивностей с получением множества значений, используемых для восстановления структуры объекта. ! 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что поперечное сечение пучка электромагнитного излучения представляет собой прямоугольник, ширина которого значительно меньше его длины. ! 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что дискретные изменения поперечного размера сечения пучка по ширине осуществляют пошаговым последовательным сдвигом одной границы пучка от минимального до максимального значения или пошаговым последовательным сдвигом одной границы пучка от максимального до минимального значения соответственно. ! 4. Способ по п.1, отличающийся тем, что дискретные изменения поперечного размера сечения пучка по ширине осуществляют сонаправл
Claims (7)
1. Способ томографического исследования объектов, включающий сканирование объекта пучком электромагнитного излучения при дискретном изменении углового положения объекта относительно пучка электромагнитного излучения, регистрацию интенсивности излучения, прошедшего через объект в процессе сканирования, и обработку полученной информации с последующим восстановлением на ее основе структуры объекта, отличающийся тем, что при сканировании формируют пучок электромагнитного излучения с дискретно изменяемыми размерами поперечного сечения пучка, при этом изменение одного из поперечных размеров сечения пучка производят на величину, соответствующую требуемой разрешающей способности, регистрацию интенсивности излучения осуществляют после каждого изменения поперечного размера сечения пучка, а при обработке вычисляют разность величин двух последовательно зарегистрированных интенсивностей с получением множества значений, используемых для восстановления структуры объекта.
2. Способ по п.1, отличающийся тем, что поперечное сечение пучка электромагнитного излучения представляет собой прямоугольник, ширина которого значительно меньше его длины.
3. Способ по п.1, отличающийся тем, что дискретные изменения поперечного размера сечения пучка по ширине осуществляют пошаговым последовательным сдвигом одной границы пучка от минимального до максимального значения или пошаговым последовательным сдвигом одной границы пучка от максимального до минимального значения соответственно.
4. Способ по п.1, отличающийся тем, что дискретные изменения поперечного размера сечения пучка по ширине осуществляют сонаправленным попеременным сдвигом противоположных границ пучка, обеспечивающих перемещение пучка по объекту.
5. Сканирующий микроскоп, содержащий источник излучения, размещенные по ходу лучей непрозрачный экран с щелью, предметный столик для размещения объекта исследования, снабженный устройством перемещения в плоскости сканирования, детектор излучения, соединенный с блоком обработки информации, отличающийся тем, что непрозрачный экран снабжен, по крайней мере, одной подвижной в плоскости размещения непрозрачного экрана щелевой заслонкой, обеспечивающей возможность изменения поперечных размеров щели.
6. Сканирующий микроскоп по п.5, отличающийся тем, что непрозрачный экран снабжен устройством для его перемещения в плоскости, параллельной плоскости сканирования.
7. Сканирующий микроскоп по п.5, отличающийся тем, что предметный столик выполнен с возможностью поворота в плоскости сканирования.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2009118267/28A RU2413204C2 (ru) | 2009-05-15 | 2009-05-15 | Способ томографического исследования микроскопических объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления |
PCT/RU2010/000243 WO2010131996A1 (ru) | 2009-05-15 | 2010-05-14 | Способ томографического исследования микроскопических объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления |
DE112010002007T DE112010002007T5 (de) | 2009-05-15 | 2010-05-14 | Verfahren zur tomographischen untersuchung vonmikroskopischen objekten und abtastmikroskopzur durchführung dessen |
US13/296,676 US8384901B2 (en) | 2009-05-15 | 2011-11-15 | Method for the tomographic examination of microscopic objects and a scanning microscope for the implementation thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2009118267/28A RU2413204C2 (ru) | 2009-05-15 | 2009-05-15 | Способ томографического исследования микроскопических объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2009118267A true RU2009118267A (ru) | 2010-11-20 |
RU2413204C2 RU2413204C2 (ru) | 2011-02-27 |
Family
ID=43085209
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2009118267/28A RU2413204C2 (ru) | 2009-05-15 | 2009-05-15 | Способ томографического исследования микроскопических объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8384901B2 (ru) |
DE (1) | DE112010002007T5 (ru) |
RU (1) | RU2413204C2 (ru) |
WO (1) | WO2010131996A1 (ru) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018089839A1 (en) | 2016-11-10 | 2018-05-17 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Rapid high-resolution imaging methods for large samples |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU765669A1 (ru) * | 1978-04-19 | 1980-09-23 | Предприятие П/Я А-3651 | Колориметр |
SU1138651A1 (ru) * | 1982-12-29 | 1985-02-07 | Хабаровский Филиал Государственного Дорожного Проектно-Изыскательского И Научно-Исследовательского Института "Гипродорнии" | Спектральна марка дифракционного створофиксатора |
SU1260683A1 (ru) * | 1984-08-08 | 1986-09-30 | Ташкентский Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.В.И.Ленина | Устройство дл дистанционного измерени толщины и рассто ний |
RU2018891C1 (ru) * | 1991-02-01 | 1994-08-30 | Алексей Валерьевич Карнаухов | Конфокальный сканирующий микроскоп |
JP3217412B2 (ja) * | 1991-12-13 | 2001-10-09 | オリンパス光学工業株式会社 | 試料観察方法及びその装置 |
RU2097748C1 (ru) * | 1994-03-16 | 1997-11-27 | Войсковая часть 75360 | Способ томографического контроля |
RU2140661C1 (ru) | 1999-03-19 | 1999-10-27 | Левин Геннадий Генрихович | Способ конфокальной сканирующей трехмерной микроскопии и конфокальный сканирующий томографический микроскоп |
RU2180745C2 (ru) | 1999-03-22 | 2002-03-20 | Войсковая часть 75360 | Способ радиационной вычислительной томографии |
-
2009
- 2009-05-15 RU RU2009118267/28A patent/RU2413204C2/ru not_active IP Right Cessation
-
2010
- 2010-05-14 WO PCT/RU2010/000243 patent/WO2010131996A1/ru active Application Filing
- 2010-05-14 DE DE112010002007T patent/DE112010002007T5/de not_active Ceased
-
2011
- 2011-11-15 US US13/296,676 patent/US8384901B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20120133940A1 (en) | 2012-05-31 |
WO2010131996A1 (ru) | 2010-11-18 |
RU2413204C2 (ru) | 2011-02-27 |
US8384901B2 (en) | 2013-02-26 |
DE112010002007T5 (de) | 2012-06-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5174180B2 (ja) | X線撮像装置およびx線撮像方法 | |
JP5777360B2 (ja) | X線撮像装置 | |
JP2017500160A5 (ru) | ||
Revol et al. | X-ray interferometer with bent gratings: Towards larger fields of view | |
JP2018526055A5 (ru) | ||
RU2012128794A (ru) | Устройство для фазоконтрастного формирования изображений, содержащее перемещаемый элемент детектора рентгеновского излучения, и соответствующий способ | |
JP2016523157A5 (ru) | ||
CN113678025A (zh) | 用于在医学透射射线照相中操纵x射线的同轴x射线聚焦光学器件 | |
ES2959394T3 (es) | Formación de imágenes de rayos X de apertura codificada | |
JP2016533789A5 (ru) | ||
KR102272435B1 (ko) | 편광광 조사장치 | |
RU2009118267A (ru) | Способ томографического исследования микроскопических объектов и сканирующий микроскоп для его осуществления | |
CN107290360A (zh) | 双波长中子光栅干涉仪的成像方法 | |
US20160162755A1 (en) | Image processing apparatus and image processing method | |
JP2013217649A (ja) | テラヘルツイメージング装置、テラヘルツ画像からの干渉パターン除去方法及びプログラム | |
WO2015156379A1 (en) | Image processing unit and control method for image processing unit | |
JP2017090414A (ja) | 二次元干渉パターン撮像装置 | |
WO2019011692A1 (en) | METHOD OF IMAGING BY PHASE CONTRAST | |
JP2016050929A (ja) | 位相撮影装置およびその復元方法 | |
Jin et al. | The online measurement of optical distortion for glass defect based on the grating projection method | |
JP2014052203A (ja) | 平面形状測定装置 | |
JP2010133982A5 (ru) | ||
JPWO2016147320A1 (ja) | 電磁波顕微鏡及びx線顕微鏡 | |
CN107655859A (zh) | 周期材料成像方法及其装置 | |
Choi et al. | X-ray phase imaging microscopy with two-dimensional knife-edge filters |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20140516 |