RU2007125982A - Устройство для многоточечного исследования - Google Patents

Устройство для многоточечного исследования Download PDF

Info

Publication number
RU2007125982A
RU2007125982A RU2007125982/28A RU2007125982A RU2007125982A RU 2007125982 A RU2007125982 A RU 2007125982A RU 2007125982/28 A RU2007125982/28 A RU 2007125982/28A RU 2007125982 A RU2007125982 A RU 2007125982A RU 2007125982 A RU2007125982 A RU 2007125982A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample
light
matrix
carrier
msg
Prior art date
Application number
RU2007125982/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2414695C2 (ru
Inventor
Дерк Ян Вилфред КЛУНДЕР (DE)
Дерк Ян Вилфред КЛУНДЕР
ХЕРПЕН Мартен ВАН (DE)
ХЕРПЕН Мартен ВАН
Марчелло БАЛИСТРЕРИ (DE)
Марчелло БАЛИСТРЕРИ
Кун ЛИДЕНБАУМ (DE)
Кун ЛИДЕНБАУМ
Менно ПРИНС (DE)
Менно ПРИНС
Райнхольд ВИМБЕРГЕР-ФРИДЛЬ (DE)
Райнхольд ВИМБЕРГЕР-ФРИДЛЬ
Ральф КУРТ (DE)
Ральф КУРТ
Original Assignee
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl)
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl), Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl)
Publication of RU2007125982A publication Critical patent/RU2007125982A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2414695C2 publication Critical patent/RU2414695C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6452—Individual samples arranged in a regular 2D-array, e.g. multiwell plates
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1765—Method using an image detector and processing of image signal
    • G01N2021/177—Detector of the video camera type
    • G01N2021/1772—Array detector
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N2021/6463—Optics
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N2021/6463—Optics
    • G01N2021/6478—Special lenses
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/648—Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/04—Batch operation; multisample devices
    • G01N2201/0461—Simultaneous, e.g. video imaging

Claims (21)

1. Устройство для обработки материала образца светом, содержащее
a) блок хранения (300) с прозрачным носителем (301) и слоем образца (302), который расположен в непосредственной близости с одной стороной носителя («стороной образца») носителя (301);
b) многоточечный формирователь MSG (100) для формирования входного светового потока (504);
c) секция передачи (200) для передачи упомянутого входного светового потока на носитель (301), при этом весь входной световой поток, достигающий внутренней поверхности стороны образца носителя (301), претерпевает на ней полное внутреннее отражение, и матрица световых пятен (501) подсветки образца формируется в слое (302) образца затухающими волнами.
2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что блок (300) хранения содержит крышку (304), которая расположена на расстоянии от стороны образца носителя (301).
3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что MSG (100) содержит амплитудную маску (102), фазовую маску, голографическую маску, дифракционную структуру, микролинзовую матрицу, матрицу плоскостных лазеров с вертикальными резонаторами (VCSEL) и/или многомодовый интерферометр (106) для формирования матрицы исходных световых пятен (510) на выходной стороне MSG (100).
4. Устройство по п.1, отличающееся тем, что MSG (100) содержит источник (101) света для формирования основного светового пучка (105) и оптический мультиплицирующий блок, в частности многомодовый интерферометр (106), для расщепления основного светового пучка на матрицу исходных световых пятен (510) на выходной стороне MSG (100).
5. Устройство по п.4, отличающееся тем, что MSG (100) содержит блок (110) формирования пучка для формирования основного светового пучка (105), в частности маскирующий элемент (111), преломляющий элемент и/или отражающий элемент (112, 113) для перекрывания некоторых частей основного светового пучка.
6. Устройство по п.1, отличающееся тем, что MSG (100) выполнен с возможностью формирования матрицы исходных световых пятен (510) в когерентном свете, который формирует картину (201) Тальбота.
7. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оно содержит маскирующую матрицу поглощающих элементов (204), отражающих элементов и/или преломляющих элементов для перекрывания частей входного светового потока, формируемого посредством MSG (100), которые не претерпевали бы полное внутреннее отражение на стороне образца носителя (301).
8. Устройство по п.7, отличающееся тем, что, по меньшей мере, один регистрирующий элемент (400) расположен в тени, по меньшей мере, одного маскирующего элемента (204) маскирующей матрицы.
9. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оно содержит, по меньшей мере, одно регистрирующее устройство (400, 401, 403) для регистрации света, сформированного в слое (302) образца.
10. Устройство по п.9, отличающееся тем, что регистрирующее устройство содержит матрицу регистрирующих элементов, в частности матрицу ПЗС (401, 402), и оптическую систему (403, 404) для отображения слоя (302) образца на упомянутую матрицу.
11. Устройство по п.9, отличающееся тем, что секция (200) передачи содержит делитель (206, 207) пучка, который направляет входной световой поток из MSG (100) на слой (302) образца и свет от слоя (302) образца на регистрирующее устройство (402).
12. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оно выполнено с возможностью смещения матрицы световых пятен (501) подсветки образца относительно слоя (302) образца.
13. Устройство по п.12, отличающееся тем, что оно содержит сканирующий блок для селективного направления входного светового потока, сформированного посредством MSG (100).
14. Устройство по п.12, отличающееся тем, что оно выполнено с возможностью идентификации и повторного определения координат световых пятен подсветки образца относительно слоя (302) образца.
15. Устройство по п.1, отличающееся тем, что на наружной стороне носителя (301) обеспечены дифракционные структуры (305), которые выполнены с возможностью вывода носителя (301) такого света (505, 506), который претерпевал бы полное внутреннее отражение без указанных структур.
16. Способ для обработки материала образца светом, при этом, упомянутый материал расположен в слое (302) образца, находящемся в непосредственной близости с одной стороной («стороной образца») прозрачного носителя (301), причем способ заключается в том, что обеспечивают распространение входного светового потока через носитель (301) так, чтобы упомянутый поток претерпевал полное внутреннее отражение во множестве точек на внутренней поверхности стороны образца и, тем самым, формировал матрицу световых пятен (501) подсветки образца в слое (302) образца затухающими волнами.
17. Способ по п.16, отличающийся тем, что формируют матрицу исходных световых пятен (510) в когерентном свете, из которых входной световой поток распространяется посредством эффекта Тальбота.
18. Способ по п.16, отличающийся тем, что формируют основной световой пучок (105) и расщепляют на матрицу световых пучков.
19. Способ по п.16, отличающийся тем, что регистрируют световой сигнал, испускаемый материалом образца в световых пятнах (501) подсветки образца.
20. Способ по п.19, отличающийся тем, что световой сигнал, который не мог бы выйти из носителя (301) из-за полного внутреннего отражения выводят путем дифракции.
21. Способ по п.16, отличающийся тем, что слой (302) образца сканируют матрицей световых пятен (501) подсветки образца, при этом идентичные координаты матрицы воспроизводят, по меньшей мере, один раз.
RU2007125982/28A 2004-12-10 2005-12-07 Устройство для многоточечного исследования RU2414695C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP04106477.5 2004-12-10
EP04106477 2004-12-10

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2007125982A true RU2007125982A (ru) 2009-01-20
RU2414695C2 RU2414695C2 (ru) 2011-03-20

Family

ID=36129978

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2007125982/28A RU2414695C2 (ru) 2004-12-10 2005-12-07 Устройство для многоточечного исследования

Country Status (7)

Country Link
US (1) US20090218514A1 (ru)
EP (1) EP1825248A1 (ru)
JP (1) JP2008523383A (ru)
CN (1) CN101072996A (ru)
BR (1) BRPI0518876A2 (ru)
RU (1) RU2414695C2 (ru)
WO (1) WO2006061783A1 (ru)

Families Citing this family (86)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11026768B2 (en) 1998-10-08 2021-06-08 Align Technology, Inc. Dental appliance reinforcement
US9492245B2 (en) 2004-02-27 2016-11-15 Align Technology, Inc. Method and system for providing dynamic orthodontic assessment and treatment profiles
WO2006064465A2 (en) * 2004-12-17 2006-06-22 Koninklijke Philips Electronics N. V. Multi-spot investigation apparatus
EP1910809A1 (en) 2005-07-21 2008-04-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Device for detection of excitation using a multiple spot arrangement
US7878805B2 (en) 2007-05-25 2011-02-01 Align Technology, Inc. Tabbed dental appliance
US8738394B2 (en) 2007-11-08 2014-05-27 Eric E. Kuo Clinical data file
US9046680B2 (en) * 2008-03-07 2015-06-02 California Institute Of Technology Scanning illumination microscope
US8108189B2 (en) 2008-03-25 2012-01-31 Align Technologies, Inc. Reconstruction of non-visible part of tooth
US8092215B2 (en) 2008-05-23 2012-01-10 Align Technology, Inc. Smile designer
US9492243B2 (en) 2008-05-23 2016-11-15 Align Technology, Inc. Dental implant positioning
US8172569B2 (en) 2008-06-12 2012-05-08 Align Technology, Inc. Dental appliance
US8686376B2 (en) 2008-06-24 2014-04-01 Koninklijke Philips N.V. Microarray characterization system and method
US8152518B2 (en) 2008-10-08 2012-04-10 Align Technology, Inc. Dental positioning appliance having metallic portion
US8292617B2 (en) 2009-03-19 2012-10-23 Align Technology, Inc. Dental wire attachment
US8765031B2 (en) 2009-08-13 2014-07-01 Align Technology, Inc. Method of forming a dental appliance
US9357202B2 (en) 2010-02-23 2016-05-31 California Institute Of Technology High resolution imaging devices with wide field and extended focus
US9241774B2 (en) 2010-04-30 2016-01-26 Align Technology, Inc. Patterned dental positioning appliance
US9211166B2 (en) 2010-04-30 2015-12-15 Align Technology, Inc. Individualized orthodontic treatment index
TWI418774B (zh) * 2010-08-06 2013-12-11 大區域光學檢測裝置及其運作方法
US9086536B2 (en) 2011-03-09 2015-07-21 California Institute Of Technology Talbot imaging devices and systems
WO2012145566A2 (en) 2011-04-20 2012-10-26 California Institute Of Technology Talbot-illuminated imaging devices, systems, and methods for focal plane tuning
CN102865999B (zh) * 2011-07-08 2015-03-04 中国科学院微电子研究所 Led光学特性检测方法及检测装置
US9403238B2 (en) 2011-09-21 2016-08-02 Align Technology, Inc. Laser cutting
JP6010898B2 (ja) * 2011-11-16 2016-10-19 ソニー株式会社 生体計測装置、生体計測方法、プログラムおよび記録媒体
US20130119270A1 (en) * 2011-11-16 2013-05-16 Samsung Electronics Co., Ltd. Wavelength division devices, multi-wavelength light generators and optical biosensor systems using the same
US9375300B2 (en) 2012-02-02 2016-06-28 Align Technology, Inc. Identifying forces on a tooth
US9220580B2 (en) 2012-03-01 2015-12-29 Align Technology, Inc. Determining a dental treatment difficulty
CN104364984A (zh) * 2012-04-06 2015-02-18 瑞尔D股份有限公司 激光器架构
US9414897B2 (en) 2012-05-22 2016-08-16 Align Technology, Inc. Adjustment of tooth position in a virtual dental model
US9261356B2 (en) 2014-07-03 2016-02-16 Align Technology, Inc. Confocal surface topography measurement with fixed focal positions
US9439568B2 (en) 2014-07-03 2016-09-13 Align Technology, Inc. Apparatus and method for measuring surface topography optically
US9261358B2 (en) 2014-07-03 2016-02-16 Align Technology, Inc. Chromatic confocal system
US10772506B2 (en) 2014-07-07 2020-09-15 Align Technology, Inc. Apparatus for dental confocal imaging
US9693839B2 (en) 2014-07-17 2017-07-04 Align Technology, Inc. Probe head and apparatus for intraoral confocal imaging using polarization-retarding coatings
US9675430B2 (en) 2014-08-15 2017-06-13 Align Technology, Inc. Confocal imaging apparatus with curved focal surface
US9660418B2 (en) 2014-08-27 2017-05-23 Align Technology, Inc. VCSEL based low coherence emitter for confocal 3D scanner
US9610141B2 (en) 2014-09-19 2017-04-04 Align Technology, Inc. Arch expanding appliance
US10449016B2 (en) 2014-09-19 2019-10-22 Align Technology, Inc. Arch adjustment appliance
US9744001B2 (en) 2014-11-13 2017-08-29 Align Technology, Inc. Dental appliance with cavity for an unerupted or erupting tooth
US10504386B2 (en) 2015-01-27 2019-12-10 Align Technology, Inc. Training method and system for oral-cavity-imaging-and-modeling equipment
EP4220256A1 (en) * 2015-03-16 2023-08-02 Pacific Biosciences of California, Inc. Analytical system comprising integrated devices and systems for free-space optical coupling
WO2016201387A1 (en) 2015-06-12 2016-12-15 Pacific Biosciences Of California, Inc. Integrated target waveguide devices and systems for optical coupling
US10248883B2 (en) 2015-08-20 2019-04-02 Align Technology, Inc. Photograph-based assessment of dental treatments and procedures
US11931222B2 (en) 2015-11-12 2024-03-19 Align Technology, Inc. Dental attachment formation structures
US11554000B2 (en) 2015-11-12 2023-01-17 Align Technology, Inc. Dental attachment formation structure
US11103330B2 (en) 2015-12-09 2021-08-31 Align Technology, Inc. Dental attachment placement structure
US11596502B2 (en) 2015-12-09 2023-03-07 Align Technology, Inc. Dental attachment placement structure
EP3345119A4 (en) * 2016-01-29 2019-04-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. OPTICAL READER
WO2017218951A1 (en) 2016-06-17 2017-12-21 Align Technology, Inc. Orthodontic appliance performance monitor
US10470847B2 (en) 2016-06-17 2019-11-12 Align Technology, Inc. Intraoral appliances with sensing
PL3578131T3 (pl) 2016-07-27 2021-06-28 Align Technology, Inc. Skaner wewnątrzustny z możliwościami diagnostyki stomatologicznej
US10507087B2 (en) 2016-07-27 2019-12-17 Align Technology, Inc. Methods and apparatuses for forming a three-dimensional volumetric model of a subject's teeth
TWI613534B (zh) * 2016-08-25 2018-02-01 雙層微透鏡陣列光學元件
US10595966B2 (en) 2016-11-04 2020-03-24 Align Technology, Inc. Methods and apparatuses for dental images
CA3043049A1 (en) 2016-12-02 2018-06-07 Align Technology, Inc. Methods and apparatuses for customizing rapid palatal expanders using digital models
US11026831B2 (en) 2016-12-02 2021-06-08 Align Technology, Inc. Dental appliance features for speech enhancement
CN110035708B (zh) 2016-12-02 2021-11-05 阿莱恩技术有限公司 腭扩张器和扩张腭的方法
WO2018102770A1 (en) 2016-12-02 2018-06-07 Align Technology, Inc. Force control, stop mechanism, regulating structure of removable arch adjustment appliance
US10548700B2 (en) 2016-12-16 2020-02-04 Align Technology, Inc. Dental appliance etch template
US10456043B2 (en) 2017-01-12 2019-10-29 Align Technology, Inc. Compact confocal dental scanning apparatus
US10779718B2 (en) 2017-02-13 2020-09-22 Align Technology, Inc. Cheek retractor and mobile device holder
US20200011795A1 (en) * 2017-02-28 2020-01-09 The Regents Of The University Of California Optofluidic analyte detection systems using multi-mode interference waveguides
US10613515B2 (en) 2017-03-31 2020-04-07 Align Technology, Inc. Orthodontic appliances including at least partially un-erupted teeth and method of forming them
IL251636B (en) * 2017-04-06 2018-02-28 Yoav Berlatzky A system and method for a coherent camera
US11045283B2 (en) 2017-06-09 2021-06-29 Align Technology, Inc. Palatal expander with skeletal anchorage devices
US10639134B2 (en) 2017-06-26 2020-05-05 Align Technology, Inc. Biosensor performance indicator for intraoral appliances
US10885521B2 (en) 2017-07-17 2021-01-05 Align Technology, Inc. Method and apparatuses for interactive ordering of dental aligners
WO2019018784A1 (en) 2017-07-21 2019-01-24 Align Technology, Inc. ANCHOR OF CONTOUR PALATIN
EP3658070A1 (en) 2017-07-27 2020-06-03 Align Technology, Inc. Tooth shading, transparency and glazing
EP3658067B1 (en) 2017-07-27 2023-10-25 Align Technology, Inc. System and methods for processing an orthodontic aligner by means of an optical coherence tomography
WO2019035979A1 (en) 2017-08-15 2019-02-21 Align Technology, Inc. EVALUATION AND CALCULATION OF BUCCAL CORRIDOR
US11123156B2 (en) 2017-08-17 2021-09-21 Align Technology, Inc. Dental appliance compliance monitoring
US10813720B2 (en) 2017-10-05 2020-10-27 Align Technology, Inc. Interproximal reduction templates
CN114939001A (zh) 2017-10-27 2022-08-26 阿莱恩技术有限公司 替代咬合调整结构
WO2019089773A1 (en) 2017-10-31 2019-05-09 Align Technology, Inc. Dental appliance having selective occlusal loading and controlled intercuspation
US11096763B2 (en) 2017-11-01 2021-08-24 Align Technology, Inc. Automatic treatment planning
US11534974B2 (en) 2017-11-17 2022-12-27 Align Technology, Inc. Customized fabrication of orthodontic retainers based on patient anatomy
EP3716885B1 (en) 2017-11-30 2023-08-30 Align Technology, Inc. Orthodontic intraoral appliances comprising sensors
US11432908B2 (en) 2017-12-15 2022-09-06 Align Technology, Inc. Closed loop adaptive orthodontic treatment methods and apparatuses
US10980613B2 (en) 2017-12-29 2021-04-20 Align Technology, Inc. Augmented reality enhancements for dental practitioners
EP3743010B1 (en) 2018-01-26 2022-01-12 Align Technology, Inc. Diagnostic intraoral scanning and tracking
US11937991B2 (en) 2018-03-27 2024-03-26 Align Technology, Inc. Dental attachment placement structure
EP3773320B1 (en) 2018-04-11 2024-05-15 Align Technology, Inc. Releasable palatal expanders
NL2021258B1 (en) * 2018-06-14 2019-12-20 Illumina Inc Device for luminescent imaging
RU207039U1 (ru) * 2020-11-11 2021-10-07 Акционерное Общество "Центр Прикладной Физики Мгту Им. Н.Э. Баумана" Устройство для наблюдения эффекта тальбота на поверхностных волнах жидкости
WO2023287677A1 (en) * 2021-07-13 2023-01-19 Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Super-resolution lens-free microscopy

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0695428B1 (en) * 1994-02-11 2001-10-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Optical device with phased array
DE19815109A1 (de) * 1998-04-03 1999-10-07 Bodenseewerk Perkin Elmer Co Vorrichtung zum Nachweis eines Fluoreszenzfarbstoffs
JP2000356585A (ja) * 1999-06-16 2000-12-26 Suzuki Motor Corp Ｓｐｒセンサセル及びこれを用いた免疫反応測定装置
GB9906929D0 (en) 1999-03-26 1999-05-19 Univ Glasgow Assay system
DE10044308A1 (de) * 2000-09-07 2002-03-21 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Fluoreszenzlicht bei der konfokalen Rastermikroskopie
US7524625B2 (en) * 2000-10-30 2009-04-28 Sru Biosystems, Inc. Real time binding analysis of antigens on a biosensor surface
US7655475B2 (en) * 2001-01-23 2010-02-02 Fluorocap Limited Luminescence based sensor using protuberances to redirect light
DE10126083A1 (de) 2001-05-29 2002-12-05 Gnothis Holding Sa Ecublens Verwendung von optischen Diffraktionselementen in Nachweisverfahren
JP2003139694A (ja) * 2001-11-06 2003-05-14 Fuji Photo Film Co Ltd 測定プレート
US6856733B2 (en) * 2001-12-07 2005-02-15 Intel Corporation 1xN fanout waveguide photodetector
JP2004219401A (ja) * 2002-12-24 2004-08-05 Aisin Seiki Co Ltd 表面プラズモンセンサー及び、表面プラズモン共鳴測定装置、検知チップ
DE10309269B4 (de) * 2003-03-03 2005-06-02 Till Photonics Gmbh Vorrichtung für Totale Interne Reflexions-Mikroskopie
CN1813183A (zh) * 2003-06-25 2006-08-02 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于灵敏检测渐逝场的具表面构造的载体
WO2006064465A2 (en) * 2004-12-17 2006-06-22 Koninklijke Philips Electronics N. V. Multi-spot investigation apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008523383A (ja) 2008-07-03
BRPI0518876A2 (pt) 2008-12-16
WO2006061783A1 (en) 2006-06-15
CN101072996A (zh) 2007-11-14
EP1825248A1 (en) 2007-08-29
RU2414695C2 (ru) 2011-03-20
US20090218514A1 (en) 2009-09-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2007125982A (ru) Устройство для многоточечного исследования
US7589314B2 (en) Optical encoder applying substantially parallel light beams and three periodic optical elements
CA2473465A1 (en) Apparatus for low coherence ranging
KR960020553A (ko) 회절 광학장치를 이용한 표면 윤곽 묘사방법 및 묘사기
KR880002149A (ko) 광학식 헤드 장치
TWI742448B (zh) 雷射偵測裝置
JP2006505942A (ja) 構造化光投影器
KR970002935A (ko) 광학픽업 및 그 광편향커버
JP2018004512A (ja) 計測装置
KR960002513A (ko) 위치 검출 장치 및 이 장치를 사용한 음향 광학 변조 장치
EP0797121A3 (en) Exposure apparatus
JP2023500599A (ja) 光信号ルーティングデバイスおよびシステム
JP2008129315A5 (ru)
RU2224267C2 (ru) Способ обнаружения объектов и определения их местоположения и устройство для его осуществления
WO1999009550A1 (en) Reading/recording method and apparatus for three-dimensional information carrier
JP3374028B2 (ja) 光学読取装置
JPWO2006080061A1 (ja) ホログラム記録装置
RU2152588C1 (ru) Способ измерения оптической толщины плоскопараллельных прозрачных объектов
KR930018488A (ko) 광학 정보 재생 장치 및 이의 제조방법
KR100893040B1 (ko) 홀로그램 기록 장치
ATE298417T1 (de) Sensorsystem
RU2001422C1 (ru) Способ получени голограмм в некогерентном свете
RU2201588C1 (ru) Способ оптического детектирования присоединения вещественного компонента к сенсорному слою на основе биологического, химического или физического взаимодействия и устройство для его осуществления
KR20240001225A (ko) 플로팅 홀로그램용 광학 시스템
KR950034117A (ko) 광 픽업

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20121208