RU197307U1 - Многослойное зеркало для монохроматизации жесткого рентгеновского излучения - Google Patents

Многослойное зеркало для монохроматизации жесткого рентгеновского излучения Download PDF

Info

Publication number
RU197307U1
RU197307U1 RU2019143304U RU2019143304U RU197307U1 RU 197307 U1 RU197307 U1 RU 197307U1 RU 2019143304 U RU2019143304 U RU 2019143304U RU 2019143304 U RU2019143304 U RU 2019143304U RU 197307 U1 RU197307 U1 RU 197307U1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
layers
thickness
less
monochromatization
ray radiation
Prior art date
Application number
RU2019143304U
Other languages
English (en)
Inventor
Ольга Александровна Дикая
Александр Юрьевич Гойхман
Дмитрий Александрович Серебренников
Евгений Станиславович Клементьев
Original Assignee
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Балтийский федеральный университет имени Иммануила Канта"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Балтийский федеральный университет имени Иммануила Канта" filed Critical Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Балтийский федеральный университет имени Иммануила Канта"
Priority to RU2019143304U priority Critical patent/RU197307U1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU197307U1 publication Critical patent/RU197307U1/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Полезная модель относится к области синхротронной техники, а конкретно – к оптическим системам, используемым на станциях с поворотным магнитом установок синхротронного излучения, реализующих спектроскопию нерезонансной рентгеновской эмиссии. Техническим результатом, на получение которого направлена полезная модель, является расширение арсенала устройств для монохроматизации рентгеновского излучения. Технический результат достигается в устройстве, состоящем из окисленной кремниевой подложки с шероховатостью поверхности менее 1 нм и нанесенной на нее тонкопленочной периодической многослойной структуры из чередующихся слоев Mo толщиной dA и Si толщиной dB, с соотношением толщины слоев Гравным 0,383, толщиной dA+dB в диапазоне 2-5 нм и количеством пар слоев не менее 200, причем слои выполнены методом высокочастотного ионно-плазменного осаждения с использованием моноэнергетического ионного пучка, в связи с чем отличаются высоким качеством наносимых слоев с отклонением от заданного значения менее чем на 0,1 нм.

Description

Полезная модель относится к области синхротронной техники, а конкретно – к оптическим системам, используемым на станциях с поворотным магнитом установок синхротронного излучения, реализующих спектроскопию нерезонансной рентгеновской эмиссии.
Для реализации метода спектроскопии нерезонансной рентгеновской эмиссии с мили- и микросекундным разрешением требуется система монохроматизации синхротронного излучения, так называемого «белого» или «розового» пучка, сохраняющая не менее 20% от исходного потока фотонов во всем диапазоне энергий 5-17 кэВ. В частности это приводит к следующим ограничениям: узкий круг доступных для использования материалов:
–они не должны иметь линий поглощения и эмиссии в диапазоне 5-17 кэВ; латеральные размеры монохроматора и доступные углы поворота
–поскольку источник излучения не является физической точкой, то длина его проекции увеличивается экспоненциально с уменьшением угла падения излучения.
Наиболее оптимальным решением в данной ситуации являются многослойные покрытия на основе молибдена в сочетании с материалами низкой плотности, например Si.
Известна заявка на получение Европейского патента EP2722852 (опубликована 23.04.2014), в которой для монохроматизации применяются многослойные зеркала из чередующихся слоев А (Mo) и В (Si) толщиной dA и dB, соответственно, с соотношением толщины слоев ГdA/(dA+dB), равным 0,5 и 0,33, и толщиной периода в диапазоне 1 – 10 нм. В описании указано, что слои в зеркалах получали методом магнетронного напыления.
Техническим результатом, на получение которого направлена полезная модель, является расширение арсенала устройств для монохроматизации рентгеновского излучения.
Технический результат достигается в устройстве, состоящем из окисленной кремниевой подложки с шероховатостью поверхности менее 1 нм и нанесенной на нее тонкопленочной периодической многослойной структуры из чередующихся слоев Mo толщиной dA и Si толщиной dB, с соотношением толщины слоев ГdA/(dA+dB), равным 0,383, толщиной dA+dB в диапазоне 2-5 нм и количеством пар слоев не менее 200, причем слои выполнены методом высокочастотного ионно-плазменного осаждения с использованием моноэнергетического ионного пучка, в связи с чем отличаются высоким качеством наносимых слоев с отклонением от заданного значения менее чем на 0,1 нм.
Полезная модель реализуется в следующем устройстве. Подложка очищается по протоколу подготовки образцов к напылению в высоком вакууме: 1 этап – 15 мин в ультразвуковой ванне в смеси изопропилового спирта и ацетона; 2 этап – 1 мин в деионизованной или дистиллированой воде; 3 этап – продувка техническим азотом. Затем подложка закрепляется в камере высокого вакуума, которая откачивается до 2х10-5 Па. Методом высокочастотного ионно-плазменного осаждения с использованием моноэнергетического ионного пучка поочередно осаждаются равномерные тонкие слои Mo и Si на всей поверхности подложки. Использование данного метода позволяет получить равномерное многослойное покрытие с минимальными отклонениями по толщине на всей площади полированной поверхности подложки. Готовое устройство представляет собой монохроматор для применения в камерах низкого вакуума на экспериментальной стороне станций источников синхротронного излучения, состоящий из многослойной структуры [Mo,Si]200+с толщиной периода 2-5 нм и соотношением Гd(Mo)/d =0,383, нанесенной на кремниевую подложку. Это соотношение толщин дает ширину брэгговского пика 4±0.2% во всем обозначенном диапазоне энергий 5-17 кэВ, при этом отражение даже на самых малых энергиях диапазона остается больше 20% от полного пучка и растет с ростом энергии.
Таким образом, достигается технический результат полезной модели в виде расширение арсенала устройств для монохроматизации рентгеновского излучения.

Claims (1)

  1. Многослойное зеркало для монохроматизации жесткого рентгеновского излучения, состоящее из окисленной кремниевой подложки и нанесенной на нее тонкопленочной периодической структуры из чередующихся слоев Mo толщиной dA и Si толщиной dB, отличающееся тем, что кремниевая подложка выполнена с шероховатостью поверхности менее 1 нм, а соотношение толщин слоев ГdA/(dA+dB) в тонкопленочной периодической структуре выполнено равным 0,383, количество пар слоев составляет не менее 200, причем толщина dA+dB выполнена в диапазоне 2-5 нм, а слои выполнены методом высокочастотного ионно-плазменного осаждения с использованием моноэнергетического ионного пучка и с отклонением от заданного значения менее чем на 0,1 нм.
RU2019143304U 2019-12-23 2019-12-23 Многослойное зеркало для монохроматизации жесткого рентгеновского излучения RU197307U1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019143304U RU197307U1 (ru) 2019-12-23 2019-12-23 Многослойное зеркало для монохроматизации жесткого рентгеновского излучения

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2019143304U RU197307U1 (ru) 2019-12-23 2019-12-23 Многослойное зеркало для монохроматизации жесткого рентгеновского излучения

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU197307U1 true RU197307U1 (ru) 2020-04-21

Family

ID=70415728

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2019143304U RU197307U1 (ru) 2019-12-23 2019-12-23 Многослойное зеркало для монохроматизации жесткого рентгеновского излучения

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU197307U1 (ru)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2264995C2 (ru) * 2001-08-16 2005-11-27 Шотт Глас Материал подложки для рентгенооптических компонентов
RU2282222C2 (ru) * 2002-02-25 2006-08-20 ФРАУНХОФЕР-ГЕЗЕЛЛЬШАФТ ЦУР ФЕРДЕРУНГ ДЕР АНГЕВАНДТЕН ФОРШУНГ э.ф. Зеркало-монохроматор для жесткого ультрафиолетового излучения
RU2410732C2 (ru) * 2004-12-23 2011-01-27 Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф. Термостабильное многослойное зеркало для крайнего ультрафиолетового спектрального диапазона
EP2722852A1 (en) * 2012-10-19 2014-04-23 Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH Double-multilayer monochromator
US9335282B2 (en) * 2012-04-02 2016-05-10 Rigaku Corporation X-ray topography apparatus

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2264995C2 (ru) * 2001-08-16 2005-11-27 Шотт Глас Материал подложки для рентгенооптических компонентов
RU2282222C2 (ru) * 2002-02-25 2006-08-20 ФРАУНХОФЕР-ГЕЗЕЛЛЬШАФТ ЦУР ФЕРДЕРУНГ ДЕР АНГЕВАНДТЕН ФОРШУНГ э.ф. Зеркало-монохроматор для жесткого ультрафиолетового излучения
RU2410732C2 (ru) * 2004-12-23 2011-01-27 Фраунхофер-Гезелльшафт Цур Фердерунг Дер Ангевандтен Форшунг Е.Ф. Термостабильное многослойное зеркало для крайнего ультрафиолетового спектрального диапазона
US9335282B2 (en) * 2012-04-02 2016-05-10 Rigaku Corporation X-ray topography apparatus
EP2722852A1 (en) * 2012-10-19 2014-04-23 Helmholtz-Zentrum Geesthacht Zentrum für Material- und Küstenforschung GmbH Double-multilayer monochromator

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9733580B2 (en) Method for producing a reflective optical element for EUV-lithography
US8817367B2 (en) Plasma ion assisted deposition of Mo/Si multilayer EUV coatings
WO2010018876A1 (ja) 光学薄膜蒸着装置及び光学薄膜の製造方法
US8475635B2 (en) Processes and device for the deposition of films on substrates
WO2010031483A1 (en) Reflective optical element and methods for producing it
RU197307U1 (ru) Многослойное зеркало для монохроматизации жесткого рентгеновского излучения
Trail et al. Measurement of soft x‐ray multilayer mirror reflectance at normal incidence using laser‐produced plasmas
JP4071714B2 (ja) 多層系の製造方法
Jin et al. Effect of rf bias (ion current density) on the hardness of amorphous silicon oxide films deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition
Vainer et al. Evolution of the roughness of amorphous quartz surfaces and Cr/Sc multilayer structures upon exposure to ion-beam etching
Yoshimura et al. Surface modification of poly (methyl methacrylate) by hydrogen-plasma exposure and its sputtering characteristics by ultraviolet light irradiation
JPH05126999A (ja) X線多層膜反射鏡の製造方法
Sella et al. Multilayer X-ray mirrors prepared by triode sputtering using a new method of film thickness monitoring
KR20220087517A (ko) 극자외선 마스크 블랭크 결함 감소 방법들
Braun et al. Reflectance and resolution of multilayer monochromators for photon energies from 400–6000 eV
Jupé et al. Manufacturing of quantized nanolaminates
SU922091A1 (ru) Способ упрочнени оптических элементов
KR102617884B1 (ko) 리소그래피 마스크용 반사층의 제조 방법
Jin et al. Effect of bipolar pulsed dc bias on the mechanical properties of silicon oxide thin film by plasma enhanced chemical vapor deposition
JP2013185158A (ja) 成膜方法
Rigato et al. Novel methods of synthesis of a‐Si (H)/Mo multilayers for Extreme UV applications
Randel et al. Effects of Annealing on Residual Stress in Titania Germania Mixtures Deposited by Ion Beam Sputtering
JP2544644B2 (ja) 光反応装置
Susini et al. Semitransparent multilayer mirrors in the soft X-ray range
JP2007163221A (ja) 多層膜反射鏡の製造方法