RU1837158C - Микроскоп со сканированием вдоль оптической оси - Google Patents
Микроскоп со сканированием вдоль оптической осиInfo
- Publication number
- RU1837158C RU1837158C SU887774710A SU7774710A RU1837158C RU 1837158 C RU1837158 C RU 1837158C SU 887774710 A SU887774710 A SU 887774710A SU 7774710 A SU7774710 A SU 7774710A RU 1837158 C RU1837158 C RU 1837158C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- microscope
- optical axis
- scanning
- along
- drive
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/006—Optical details of the image generation focusing arrangements; selection of the plane to be imaged
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0072—Optical details of the image generation details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
Использование: в растровых микроскопах со сканированием вдоль оптической оси с конфональным ходом лучей при наблюдении в проход щем и отраженном свете. Сущность изобретени : в зависимости от измерени сферической аберрации в процессе сканировани в микроскопе-исполь- зуетс привод дл перемещени оптической системы микроскопа, источника света и детектора вдоль оптической оси. св занный с блоком управлени и приводом дл перемещени предметного столика вдоль оптической оси. 1 з.п.ф-лы, 3 ил.
Description
Изобретение находит применение в )зстровых микроскопах с конфокальным хо- , ом лучей и z-сканированием. Оно подходит , 1л метода наблюдени в проход щем и в Отраженном свете.
I Цель изобретени - создать устройство дл избежани переменной сферической аберрации в растровых микроскопах со г- жанированием в конфокальном ходе лучей, три котором в зависимости от установленной глубины фокуса zi.a... всегда минимизируютс возникающие различные сферические аберрации благодар автомагической установке. Задача устройством дл избежани переменной сферической аберрации в растровых микроскопах со z- :канированием, состо щим из точечного ис- гочника света, первой оптической системы {дл изображени названного точечного источника света в объекте, детектора света с (точечной чувствительной поверхностью,
причем точечный источник света или его изображение в объекте первой оптической системы посредством отраженного на объекте света или второй оптической системой посредством пропущенного объектом света изображаетс в точечную чувствительную поверхность детектора света и при котором известным образом точечное изображение источника света относительно объекта перемещаетс в координатах х и/или у и г, и диспле согласно изобретению решаетс тем, что создающие и принимающие свето- свой пучок средства и/или по крайней мере части вли ющих на световой пучок оптических систем расположены подвижно вдоль хода лучей и эти средства имеют функциональную св зь с центральным блоком управлени через исполнительное устройство и что исполнительное устройство по г-ска- нированию св зано с центральным блоком управлени и исполнительным устройством .
00 GO XJ
СЛ 00
Если посредством исполнительного устройства по z-сканированию в наблюдаемом обьекте по очереди устанавливают
определенную глубину фокуса г.чтогда
подвижные вдоль хода лучей средства с каждым шагом сканировани перемещаютс на определенный путь 21,2,..., выбранный так, что обе половины двойного конуса светового пучка месте или отдельно имеют минимальную сферическую аберрацию. Осуществление установлени пути 21,2,... производитс по сигналу центрального блока управлени через исполнительное устройство , причем в виде исполнительного устройства наход т применение известные средства, действующие физическим путем.
Предпочтительна форма выполнени согласно изобретению заключаетс в том, что подвижные части первой и второй оптической системы элементом св зи жестко соединены друг с другом и элемент св зи имеет .функциональную св зь с .исполнительным устройством.
Сущности изобретени дальше соответствует то, если вместо отраженного на объекте или пропущенного объектом света детектором света регистрируетс излучение , исход а ее из объекта другими оптическими взаимодействи ми, как например рассе нием, флуоресценцией и дифракцией .
Изобретение более подробно по сн етс с помощью чертежей: фиг. 1 показывает упрощенное схематическое изображение хода лучей растрового микроскопа, с конфокальным ходом лучей и z-сканмрованием, с устройством согласно изобретению; на фиг. Та - устанавливаемую глубину фокуса 21.2,... в объекте и фиг. 2 и 3 - дальнейшие предпочтительные формы выполнени представленного на фиг. 1 основного варианта.
с.
Фиг. 1 показывает упрощенное схематическое изображение хода лучей, а также расположение существенных элементов растрового микроскопа. Созданный и испущенный точечным источником света 1 световой пучок L после прохождени через первую оптическую систему 2, состо щую минимально из одной линзы/группы линз, попадает на объект 6. Под вли нием объекта 6 световой пучок после прохождени через вторую оптическую систему 3, состо щую минимально из одной линзы/группы линз, попадает; на детектор света 4 с точечной чувствительной поверхностью. Объект 6 держитс посредством устанавливаемого в координатах х, у и z объектодержател 8. Объектодержатель 8 св зан с исполнитель
ным устройством по х, у-сканированию 5 и исполнительным устройством по z-сканированию 9.
Согласно изобретению перва 2 и втора 3 оптические системы снабжены подвижной вдоль хода лучей линзой/группой линз 11 или 12. Линзы/группы линз 11, 12 через исполнительное устройство 10 имеют
функциональную св зь с центральным бло- комуправлени 13. Исполнительное устройство по z-сканированию 9 соединено с центральным блоком управлени 13 и с исполнительным устройством 10.В центральном блоке управлени 13 накоплены информации об объекте 6; например толщина сло и показатель преломлени , а также отношение между величиной изменени глубины фокуса и величиной изменени пути перемещени подвижных средств. Если посредством исполнительного устройства по z-сканированию 9, исход из сигнала центрального блока управлени 13, в наблюдаемом объекте 6 по очереди устанавливают определенную глубину фокуса Si.2(... (смотри фиг. 1,а), тогда подвижные вдоль хода лучей средства с каждым шагом сканировани z перемещаютс на определенный путь zi,2, ..., выбранный так, что перва половина 14 и втора половина 15 двойного конуса светового пучка имеют минимальную сферическую аберрацию. Детектор света 4 дает сигнал, от которого выводитс интенсивность 1 (х, у) на дисплеи 7. Дисплей
у св зан с элементами 4, 5 и 13.
Фиг. 2 показывает предпочтительную форму выполнени устройства согласно изобретению, при которой отдельные части первой и второй оптической системы 2 и 3
выполнены равным образом. Этой формой выполнени перемещени линз/групп линз 11 и 12 осуществл етс в одинаковом направлении . Линзы/группы линз 11 и 12 соединены друг с другом элементом св зи 16.
На фиг. 3 представлена дальнейша предпочтительна форма выполнени устройства согласно изобретению. Точечный источник света 1 и/или детектор света 4 расположены подвижно вдоль хода лучей.
При этой форме выполнени пути перемещени подвижных средств 1., 4 больше, чем при формах выполнени согласно фиг. 1 и 2, однако необходимые точности перемещени не представленных подвижных средств
Claims (2)
- меньше, благодар чему уменьшаютс затраты технического осуществлени . Формула изобретени 1. Микроскоп со сканированием вдоль оптической оси, содержащий источник света , предметный столик, привод дл перемещени предметного столика вдоль оптической оси и блок управлени , отличающийс тем, что, с целью исключени изменени сферической аберрации в процессе сканировани , в состав микроскопа введен привод дл перемещени оптической системы микроскопа или ее частей или источника света и детектора вдоль оптической оси, св занный с блоком управлени иприводом дл перемещени предметного столика вдоль оптической оси.
- 2. Микроскоп по п. 1,отличают и й- с тем, что части оптической системы микроскопа жестко соединены одна с другой посредством элемента св зи, который функционально св зан с приводом дл перемещени оптической системы микроскопа или ее частей вдоль оптической оси.1Щ&Фиг. 7аZSчItФиг. I
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DD30140187A DD276218A3 (de) | 1987-04-02 | 1987-04-02 | Anordnung zur vermeidung des variablen oeffnungsfehlers in rastermikroskopen mit z-scan |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1837158C true RU1837158C (ru) | 1993-08-30 |
Family
ID=5587945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU887774710A RU1837158C (ru) | 1987-04-02 | 1988-03-14 | Микроскоп со сканированием вдоль оптической оси |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
DD (1) | DD276218A3 (ru) |
DE (1) | DE3804642A1 (ru) |
RU (1) | RU1837158C (ru) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0718656B1 (en) * | 1994-12-23 | 1999-09-08 | Koike Seiki Co., Ltd. | Transmission type confocal laser microscope |
DE19511475A1 (de) * | 1995-03-29 | 1996-10-17 | Tympel Ingenieurbuero F Volker | Anordnung und Verfahren zur Erweiterung des Bereiches der Schärfentiefe bei optischen Abbildungen |
DE19654211C2 (de) | 1996-12-24 | 2000-07-06 | Leica Microsystems | Konfokales Mikroskop |
DE10107210C1 (de) * | 2001-02-16 | 2002-10-10 | Evotec Ag | Mikroskop |
DE10217544A1 (de) * | 2002-04-17 | 2003-11-06 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop mit Kollimator- und/oder Pinholeoptik |
DE102014101762B4 (de) | 2014-02-12 | 2021-12-23 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Mikroskop zum Abbilden einer Volumenprobe |
CN109406453B (zh) * | 2018-09-11 | 2021-04-20 | 江苏大学 | 一种自动确定最优入射光强的z扫描测量方法 |
-
1987
- 1987-04-02 DD DD30140187A patent/DD276218A3/de unknown
-
1988
- 1988-02-15 DE DE19883804642 patent/DE3804642A1/de not_active Withdrawn
- 1988-03-14 RU SU887774710A patent/RU1837158C/ru active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DD276218A3 (de) | 1990-02-21 |
DE3804642A1 (de) | 1988-10-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6987609B2 (en) | Microscope | |
US7554664B2 (en) | Laser scanning microscope | |
JP6360825B2 (ja) | 結像光学系、照明装置および観察装置 | |
US5288987A (en) | Autofocusing arrangement for a stereomicroscope which permits automatic focusing on objects on which reflections occur | |
US20030021016A1 (en) | Parallel scanned laser confocal microscope | |
JPH08190056A (ja) | 観察光学装置 | |
WO2004005995A1 (en) | Single axis illumination for multi-axis imaging system | |
JPS63503171A (ja) | 光学的構成部材とその装置への応用 | |
US4686360A (en) | Device for the automatic focussing of optical instruments with complementary measuring and detecting diaphragms | |
CN109416461A (zh) | 显微镜的光学路径中盖玻片的倾斜度测量和校正 | |
CN110132897B (zh) | 一种并行光学相干层析成像设备自动对焦系统和方法 | |
US5309214A (en) | Method for measuring distributed dispersion of gradient-index optical elements and optical system to be used for carrying out the method | |
US3518014A (en) | Device for optically scanning the object in a microscope | |
JP2017215546A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
RU1837158C (ru) | Микроскоп со сканированием вдоль оптической оси | |
US3437395A (en) | Optical system for inverted microscope | |
CN109540474B (zh) | 后置分光瞳激光差动共焦焦距测量方法与装置 | |
US5952562A (en) | Scanning probe microscope incorporating an optical microscope | |
US4917478A (en) | Arrangement for illumination and scanning of an object by means of a scanning disk similar to a Nipkow disk | |
EP1520199B1 (en) | Optical microscope able to operate a rapid three dimensional modulation of the position of the observation point | |
US5239355A (en) | Microscopic system for examination of crystal cleavage plane | |
US4367648A (en) | Dark field viewing apparatus | |
JPH09325278A (ja) | 共焦点型光学顕微鏡 | |
US4948984A (en) | Optical scanning head with objective position measuring and mirrors | |
US6226036B1 (en) | Device for optical investigation of an object |