RU1779833C - Шарикова предохранительна муфта - Google Patents

Шарикова предохранительна муфта

Info

Publication number
RU1779833C
RU1779833C SU914920222A SU4920222A RU1779833C RU 1779833 C RU1779833 C RU 1779833C SU 914920222 A SU914920222 A SU 914920222A SU 4920222 A SU4920222 A SU 4920222A RU 1779833 C RU1779833 C RU 1779833C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
light beam
replica
object holder
liquid
sensor
Prior art date
Application number
SU914920222A
Other languages
English (en)
Inventor
Богдан Матвеевич Гевко
Роман Богданович Гевко
Орест Богданович Новак
Original Assignee
Тернопольский Филиал Львовского Политехнического Института
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Тернопольский Филиал Львовского Политехнического Института filed Critical Тернопольский Филиал Львовского Политехнического Института
Priority to SU914920222A priority Critical patent/RU1779833C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1779833C publication Critical patent/RU1779833C/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

5i)5 G 01 N 1/28
ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР)
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
1
(21)4870171/21 (22)01.10.90 (46)07.12.92. Бюл. N 45
(71)Сумское производственное объединение Электрон
(72)В.М.Северин, А.М.Климовицкий, В.С.Турин и Б.В.Дешин
(56)Методика электронной микроскопии. /Под ред. Г.Шиммел .- М.: Мир, 1972, с. 119
Практические-методы в электронной микроскопии.- Л.: Машиностроение, 1980, с. 122.
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ НЯТИЯ РЕПЛИК С ПОВЕРХНОСТИ ОБРАЗЦОВ
(57)Изобретение относитс  к технологии приготовлени  тест-объектов в электронной микроскопии. Целью изобретени   вл етс 
Изобретение относитс  к технологии приготовлени  тест-объектов в электронной микроскопии и может быть использовано при проведении электронно-микроскопических исследований.
Целью изобретени   вл етс  повышение выхода годных реплик и повышение их качества за счет автоматизации процесса контрол  за отделением реплики от поверхности .
На чертеже приведена схема предлагаемого устройства дл  сн ти  реплик.
Устройство содержит стойку 1, закрепленную на массивном основании 2 с резино- выми подушками 3, по которой перемещаетс  подвижный держатель с жестко закрепленными на кронштейне 4 источником светового пучка со щелью 5,
повышение выхода годных реплик и повышение их качества за счет автоматизации процесса контрол  за отделением реплики от поверхности. Устройство содержит резервуар с жидкостью и объектодержатель, расположенный на наклонной опоре. Введен электромеханический привод объекто- держател  по поверхности опоры и оптически св занные щелевой источник и датчик светового пучка. При этом оптическа  ось источника проходит через линию пересечени  поверхности жидкости и плоскости объектодержател , а выход датчика светового пучка соединен с приводом объектодержател . Датчик обеспечивает включение электропривода при отделении реплики и до восстановлени  нарушенной оптической св  зи из-за изменени  угла отражени  света отдел емой репликой. 1 ил.
датчиком б и кареткой с электромеханическим приводом 7, который через микровинт 8 и объектодержатель 9 соединен с наклонной опорой 10. Эксцентрик 11 служит дл  изменени  угла наклона каретки вместе с щелевым источником и датчиком светового пучка, т.е. угла, под которым образец опускаетс  в жидкость. Зажим 12 служит дл  перемещени  всей конструкции по высоте.
На чертеже обозначен также резервуар 13с жидкостью. В кронштейне, на котором креп тс  датчик, имеетс  паз, позвол ющий осуществл ть его перемещени  в период юстировки устройства.
Образец с репликой, источник и приемник света жестко закреплен и св заны световым пучком. При погружении образца с репликой в жидкость (воду) под углом по
следн  , отдел  сь от образца в результате действи  сил поверхностного нат жени , располагаетс  горизонтально (на поверхности воды), измен   при этом значени  углов падени  и отражени  светового пучка. Сигнал , сформированный при этом приемником , используетс  дл  автоматического перемещени  образца с еще не сн тым участком реплики в аналогичное положение и т.д. Жесткость всей конструкции, а также плавность перемещени  образца с репликой только после сн ти  предыдущего участка исключает возникновение механических напр жений, привод щих к деформации или повреждению реплики.
Устройство работает следующим образом .
На опору 10 помещают дифракционную решетку с нанесенной репликой. Отпустив эксцентрик 11, устанавливают требуемый угол погружени  (20-45°) и фиксируют это положение. Включив привод 7, в ручном режиме подвод т край решетки под полоску света, идущего от источника со щелью, и останавливают двигатель. Устанавливают датчик 6 в такое положение, когда отраженный пучок попадает в щелевое отверстие датчиков. Отпускают зажим 12 и опускают всю конструкцию вниз, погружа  образец с репликой в воду, чуть ниже уровн  жидкости (до возникновени  мениска). Включают устройство в автоматический режим. Под действием сил поверхностного нат жени  и в результате растворени  подсло  узка  полоска реплики отслаиваетс  от решетки и пленка располагаетс  на поверхности. При этом в результате изменени  углов падени  и отражени  пучок света уходит из области чувствительности датчика, которые при этом включает привод, осуществл ющий перемещение решетки до тех пор, пока отраженный пучок не будет попадать на щель датчика, который в этом случае остановит двигатель. Решетка будет в положении, аналогичном начальному, т.е. в услови х, необходимых дл  отрыва реплики. Далее весь процесс будет повтор тьс , пока микровыключатель в крайней точке не выключит всю схему.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Устройство дл  сн ти  реплик с поверхности образцов дл  электронно-микроскопического анализа, содержащее резервуар с жидкостью и объектодержатель, расположенный на наклонной опоре, отличающеес  тем, что, с целью повышени  выхода годных реплик и их качества за счет автоматизации процесса контрол  за отде- лением реплики от поверхности, оно снабжено электромеханическим приводом объектодержател  по поверхности опоры и оптически св занными щелевым источником и датчиком светового пучка, при этом 0 оптическа  ось источника светового пучка проходит через линию пересечени  поверхности жидкости и плоскости объектодержател , а выход датчика светового пучка соединен с приводом обьектодержател .
SU914920222A 1991-03-19 1991-03-19 Шарикова предохранительна муфта RU1779833C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU914920222A RU1779833C (ru) 1991-03-19 1991-03-19 Шарикова предохранительна муфта

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU914920222A RU1779833C (ru) 1991-03-19 1991-03-19 Шарикова предохранительна муфта

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1779833C true RU1779833C (ru) 1992-12-07

Family

ID=21565629

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU914920222A RU1779833C (ru) 1991-03-19 1991-03-19 Шарикова предохранительна муфта

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1779833C (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4532838A (en) Method in a microtome for creating the possibility that the slit between the knife edge and the specimen can be made extremely narrow
KR100202215B1 (ko) 광학부품 특히 눈을 위한 광학부품의 검사방법 및 장치와 청정하고 투명한 검사 물체의 조명장치
US3699649A (en) Method of and apparatus for regulating the resistance of film resistors
US6314199B1 (en) Process and apparatus for examining optical components, especially optical components for the eye and device for illuminating clear-transparent
ES8500445A1 (es) Procedimiento y aparato para la deteccion optica de defectos radiales reflectantes en recipientes traslucidos
CA2089079A1 (en) Machine vision surface characterization system
IE38495B1 (en) Method and apparatus for determining the optical quality of transparent or reflective material
RU1779833C (ru) Шарикова предохранительна муфта
US4822165A (en) Device for illuminating components of transparent material in testing for irregularities
RU1779974C (ru) Устройство дл сн ти реплик с поверхности образцов
WO2013110899A1 (fr) Procede optique d'inspection d'articles transparents ou translucides visant a attribuer un reglage optique de reference au systeme de vision
US4162125A (en) Process and device for detecting inclusions in crystals
US3937564A (en) Method for trimming of a specimen for a microtome
JPS5599049A (en) Defect detector
EP0539456A1 (fr) Dispositif de detection en continu des impuretes de contraste contenues dans une matiere fluide en deplacement.
JPS6482860A (en) Method for forming reference surface of solid-state image pickup device fitting member
SU1680454A1 (ru) Способ определени глубины прорезани при термических способах резки
Gorycki Simple and rapid block face alignment methods for the ultramicrotome
JPS57168384A (en) Detecting method for shape of object
JPS5643539A (en) Defect inspection device of face plate
JPS5810355Y2 (ja) ビシヨ−ブツノケンサソウチ
JPS5644830A (en) Defect detection system of sheet type material
JPS6488240A (en) Inspection of photosensitive material
JPH06195451A (ja) ウエハパターン認識装置
JPS5796241A (en) Method and device for measuring density of impurity in semiconductor