RU172726U1 - Устройство измерения времени обратного восстановления диодов - Google Patents
Устройство измерения времени обратного восстановления диодов Download PDFInfo
- Publication number
- RU172726U1 RU172726U1 RU2017106409U RU2017106409U RU172726U1 RU 172726 U1 RU172726 U1 RU 172726U1 RU 2017106409 U RU2017106409 U RU 2017106409U RU 2017106409 U RU2017106409 U RU 2017106409U RU 172726 U1 RU172726 U1 RU 172726U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- time
- key
- control device
- direct current
- diode
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Полезная модель относится к области электронной техники, в частности к производству карбидкремниевых диодов Шоттки.Устройство содержит источник постоянного напряжения, задающий уровень обратного напряжения, 1; первый ключ на МДП-транзисторе, последовательно включенный предыдущему источнику, 2; регулируемое сопротивление 3; источник постоянного напряжения, задающий уровень прямого тока, 4; операционный усилитель 5; второй ключ на МДП-транзисторе, последовательно включенный предыдущему источнику, 6; датчик прямого тока в виде резистора 7; испытуемый диод 8; осциллограф 9; безындуктивный измерительный резистор 10; синхронизирующее устройство управления 11.Работает устройство следующим образом. В начальный момент времени синхронизирующее устройство управления 11 выдает импульс на открытие МДП-ключа 6 для формирования импульса прямого тока в испытуемом диоде 8. В следующий момент времени (через временную задержку относительно начального момента времени) синхронизирующее устройство управления 11 выдает импульс на открытие МДП-ключа 2 для подачи обратного напряжения на испытуемый диод 8. В итоговый момент времени (через временную задержку относительно второго момента времени) работа синхронизирующего устройство управления 11 останавливается. При выполнении циклических измерений данный алгоритм повторяется заново.Выбором типа транзистора 2 и сопротивления 3 устанавливается требуемая скорость спада прямого тока, а выбором напряжения на инвертирующем входе операционного усилителя 5 и сопротивления 7 - амплитуда прямого тока.Техническим результатом заявленного решения является возможность добиться высокой скорости спада прямого тока (1000 А/мкс и более) в испытуемом диоде при выполнении измерения его времени обратного восстановления. 1 ил.
Description
Полезная модель относится к области электронной техники, в частности к производству карбидкремниевых диодов Шоттки.
Известна схема измерения времени обратного восстановления диода (ГОСТ 24461-80), которая содержит источник импульсов прямого тока, источник импульсов обратного напряжения, синхронизирующее устройство, испытуемый диод, безындуктивный измерительный резистор, осциллограф, ветвь электрической цепи с последовательно включенными резистором и индуктивностью, ветвь электрической цепи с последовательно включенными резистором и конденсатором. Ветвь электрической цепи с последовательно включенными резистором и индуктивностью обеспечивают требуемую скорость спада прямого тока, а ветвь электрической цепи с последовательно включенными резистором и конденсатором ограничивают перенапряжения.
Недостатком данной схемы является невозможность на практике обеспечить высокую скорость спада прямого тока (1000 А/мкс и более), необходимую в частности при испытании силовых карбидокремниевых диодов Шоттки.
Задача полезной модели обеспечение высокой скорости спада прямого тока (1000 А/мкс и более)и повышения стабильности задаваемого прямого тока.
Эта задача достигается тем, устройство измерения времени обратного восстановления диодов содержит источник импульсов прямого тока, источник импульсов обратного напряжения, синхронизирующее устройство управления, испытуемый диод, безындуктивный измерительный резистор, осциллограф, отличается тем, что источник импульсов обратного напряжения выполнен в виде источника постоянного напряжения и ключа на МДП-транзисторе с регулируемым сопротивлением в цепи затвора, а источник импульсов прямого тока содержит источник постоянного напряжения, операционный усилитель, МДП-транзистор и датчик прямого тока в виде резисторачто
На рисунке представлена схема измерения времени обратного восстановления диода.
Устройство содержит источника постоянного напряжения, задающий уровень обратного напряжения 1, первый ключ на МДП-транзисторе, последовательно включенный предыдущему источнику 2, регулируемое сопротивление 3, источник постоянного напряжения, задающий уровень прямого тока 4, операционный усилитель 5, второй ключ на МДП-транзисторе, последовательно включенный предыдущему источнику 6, датчик прямого тока в виде резистора 7, испытуемый диод 8, осциллограф 9, безындуктивный измерительный резистор 10, синхронизирующее устройство управления 11.
Работает устройство следующим образом. В начальный момент времени синхронизирующее устройство управления 11 выдает импульс на открытие МДП-ключа 6 для формирования импульса прямого тока в испытуемом диоде 8. В следующий момент времени (через временную задержку относительно начального момента времени) синхронизирующее устройство управления 11 выдает импульс на открытие МДП-ключа 2 для подачи обратного напряжения на испытуемый диод 8. В итоговый момент времени (через временную задержку относительно второго момента времени) работа синхронизирующего устройство управления 11 останавливается. При выполнении циклических измерений данный алгоритм повторяется заново.
Выбором типа транзистора 2 и сопротивления 3 устанавливается требуемая скорость спада прямого тока, а выбором напряжения на инвертирующем входе операционного усилителя 5 и сопротивления 7 - амплитуда прямого тока.
Предлагаемое устройство было использовано при разработке автоматизированного тестера для измерения динамических параметров силовых карбидкремниевых диодов и транзисторных модулей.
Таким образом, предлагаемая схема позволяет добиться высокой скорости спада прямого тока (1000 А/мкс и более) в испытуемом диоде при выполнении измерения его времени обратного восстановления.
Claims (1)
- Устройство измерения времени обратного восстановления диодов содержит источник импульсов прямого тока, источник импульсов обратного напряжения, синхронизирующее устройство управления, испытуемый диод, безындуктивный измерительный резистор, осциллограф, отличающееся тем, что источник импульсов обратного напряжения выполнен в виде источника постоянного напряжения и ключа на МДП-транзисторе с регулируемым сопротивлением в цепи затвора, а источник импульсов прямого тока содержит источник постоянного напряжения, операционный усилитель, МДП-транзистор и датчик прямого тока в виде резистора.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2017106409U RU172726U1 (ru) | 2017-02-27 | 2017-02-27 | Устройство измерения времени обратного восстановления диодов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2017106409U RU172726U1 (ru) | 2017-02-27 | 2017-02-27 | Устройство измерения времени обратного восстановления диодов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU172726U1 true RU172726U1 (ru) | 2017-07-21 |
Family
ID=59498948
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2017106409U RU172726U1 (ru) | 2017-02-27 | 2017-02-27 | Устройство измерения времени обратного восстановления диодов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU172726U1 (ru) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU429383A1 (ru) * | 1971-09-24 | 1974-05-25 | А. Б. Гитцевич , Ю. В. Кокорев | Устройство для измерениявремени восстановления обратного сопротивления диодов |
| RU126145U1 (ru) * | 2012-07-11 | 2013-03-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Новгородский государственный университет имени Ярослава Мудрого" (НовГУ) | Измеритель заряда восстановления |
| CN105044581A (zh) * | 2015-03-30 | 2015-11-11 | 国家电网公司 | 一种SiC IGBT串联阀组动态均压特性和反向恢复特性的测试方法及测试电路 |
| CN105045961A (zh) * | 2015-06-24 | 2015-11-11 | 中国人民解放军海军工程大学 | 功率二极管短时续流反向恢复尖峰电压建模方法 |
-
2017
- 2017-02-27 RU RU2017106409U patent/RU172726U1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU429383A1 (ru) * | 1971-09-24 | 1974-05-25 | А. Б. Гитцевич , Ю. В. Кокорев | Устройство для измерениявремени восстановления обратного сопротивления диодов |
| RU126145U1 (ru) * | 2012-07-11 | 2013-03-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Новгородский государственный университет имени Ярослава Мудрого" (НовГУ) | Измеритель заряда восстановления |
| CN105044581A (zh) * | 2015-03-30 | 2015-11-11 | 国家电网公司 | 一种SiC IGBT串联阀组动态均压特性和反向恢复特性的测试方法及测试电路 |
| CN105045961A (zh) * | 2015-06-24 | 2015-11-11 | 中国人民解放军海军工程大学 | 功率二极管短时续流反向恢复尖峰电压建模方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103954899B (zh) | 一种实时测量二极管瞬态温升的方法 | |
| GB951398A (en) | Sampling oscilloscopes | |
| Sahbel et al. | Experimental performance characterization of photovoltaic modules using DAQ | |
| RU172726U1 (ru) | Устройство измерения времени обратного восстановления диодов | |
| WO2018156049A1 (ru) | Устройство измерения времени обратного восстановления диодов | |
| RU176261U1 (ru) | Устройство измерения времени обратного восстановления диодов | |
| CN104515968B (zh) | 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置及校准方法 | |
| US8400179B1 (en) | Method for load-line correction of pulsed measurements | |
| RU185719U1 (ru) | Стенд для испытаний силовых полупроводниковых приборов на стойкость к воздействию ударного тока | |
| RU2012107506A (ru) | Мостовой измеритель параметров двухполюсников | |
| RU2507526C1 (ru) | Способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов с использованием полигармонической модуляции греющей мощности | |
| CN104766809B (zh) | 一种pn结瞬时电容能谱测量方法和系统 | |
| RU149143U1 (ru) | Генератор частотно-модулированных импульсов | |
| CN204302479U (zh) | 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置 | |
| Arabi et al. | Catastrophic faults detection of analog circuits | |
| RU2511673C2 (ru) | Мостовой измеритель параметров двухполюсников | |
| RU164168U1 (ru) | Генератор модулированных по частоте прямоугольных импульсов | |
| RU2613568C1 (ru) | Устройство для определения нагрузочной способности микросхем | |
| RU188241U1 (ru) | Устройство контроля стойкости диодов к скорости нарастания обратного напряжения | |
| CN110376499A (zh) | 三极管三端电流波形、退火效应测量系统及方法、中子注量测量方法 | |
| RU2548925C1 (ru) | Способ измерения последовательного сопротивления базы полупроводникового диода | |
| CN104142463B (zh) | 一种场效应晶体管tsp参数的提取方法 | |
| RU2527658C1 (ru) | Мостовой измеритель параметров двухполюсников | |
| RU184633U1 (ru) | Установка для испытания лавинных диодов на стойкость к воздействию ударной мощности обратных потерь | |
| SU77723A1 (ru) | Амплитудный вольтметр |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM9K | Utility model has become invalid (non-payment of fees) |
Effective date: 20171016 |