CN204302479U - 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置 - Google Patents

一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置 Download PDF

Info

Publication number
CN204302479U
CN204302479U CN201420835549.8U CN201420835549U CN204302479U CN 204302479 U CN204302479 U CN 204302479U CN 201420835549 U CN201420835549 U CN 201420835549U CN 204302479 U CN204302479 U CN 204302479U
Authority
CN
China
Prior art keywords
positive
negative
short circuit
transistor
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn - After Issue
Application number
CN201420835549.8U
Other languages
English (en)
Inventor
瞿明生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Original Assignee
Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology filed Critical Guizhou Aerospace Institute of Measuring and Testing Technology
Priority to CN201420835549.8U priority Critical patent/CN204302479U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN204302479U publication Critical patent/CN204302479U/zh
Withdrawn - After Issue legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置,它包括电容器(3),NPN型晶体三极管(1)的集电极与PNP型晶体三极管(2)的发射极短接后引出到接线端B,在接线端B与PNP型晶体三极管(2)的发射极之间串联有电容器(3),NPN型晶体三极管(1)的发射极与PNP型晶体三极管(2)的集电极短接后接到接地端GND,NPN型晶体三极管(1)的基极接到接线端A,PNP型晶体三极管(2)的基极接到接线端C;本实用新型解决了现有技术没有专用的模拟其开路或短路的标准仪器对电容器瞬间开短路测试仪进行校准,电容器瞬间开短路测试仪校准困难等问题。

Description

一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置
技术领域
本实用新型属于测量仪器校准技术,尤其涉及一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置。
背景技术
根据国家相关标准,电容在冲击、振动试验时,如果电容瞬间开路或短路的时间小于规定的时间T0时,电容合格;如果电容瞬间开路或短路的时间大于规定的时间T0时,电容不合格。电容器瞬间开短路测试仪器是用于测试电容在冲击、振动试验时,电容器瞬间开路或短路的时间,并对测量结果进行判断,从而确定所测电容是否合格;电容器瞬间开短路测试仪主要由直流测试电压源、交流测试电压源、电容开路检测电路和电容短路检测电路等部分组;直流测试电压源提供电容所需的直流电压;交流测试电压源提供几兆赫兹以下的交流电压;电容开路检测电路功能为检测出多个通道的电容开路信号并显示输出;电容短路检测电路功能为检测出多个通道的电容短路信号并显示输出;工作原理为:电容在冲击、振动试验时,在电容的两端同时加上直流测试电压源电压和交流测试电压源电压,如果电容工作正常,测试电路能检测出其上所加的直流电压信号和交流电压信号;当电容短路时,两端所加的直流电压为0,电容短路检测电路检测出此短路信号,并测出其短路时间并显示出来;由于电容有隔直流通交流的特性,当电容开路时,加在其上的交流测试电压源信号处于断路状态,电容开路检测电路检测出此断路信号,并测出其断路时间并显示出来。
由于电容器瞬间开短路测试仪输出的直流电压根据测试电容耐压不同,从几伏到数千伏连续可调,由于电容器瞬间开短路测试仪工作时,首先对要外接的器件进行识别,只有当外接的器件为电容元件时,才输出交直流信号,对电容进行测试。如用通常的函数或脉冲发生器作标准对其进行校准时,仪器无法识别,同时,由于仪器输出的高电压很可能损坏仪器;因此现有技术还没有专用的模拟其开路或短路的标准仪器对其进行校准;造成对电容器瞬间开短路测试仪的校准困难。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题:提供一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置,以解决现有技术没有专用的模拟其开路或短路的标准仪器对电容器瞬间开短路测试仪进行校准,电容器瞬间开短路测试仪校准困难等问题。
本实用新型技术方案:
一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置,它包括电容器, NPN型晶体三极管的集电极与PNP型晶体三极管的发射极短接后引出到接线端B,在接线端B与PNP型晶体三极管的发射极之间串联有电容器,NPN型晶体三极管的发射极与PNP型晶体三极管的集电极短接后接到接地端GND,NPN型晶体三极管的基极接到接线端A,PNP型晶体三极管的基极接到接线端C。
接线端A、B、和C端均为BNC接头。
本实用新型的有益效果:
本实用新型简单可靠,方便使用,通过一个电容器、一个NPN型晶体三极管和一个PNP型晶体三极管即可构成整个校准装置,通过采用脉冲电压信号来控制NPN型晶体三极管和PNP型晶体三极管的饱和和截止,模拟实现电容器瞬间开短路,从而实现对电容器瞬间开短路测试仪的最小短路时间和最小开路时间的校准,本实用新型解决了现有技术没有专用的模拟其开路或短路的标准仪器对电容器瞬间开短路测试仪进行校准,电容器瞬间开短路测试仪校准困难等问题。
附图说明:
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型函数发生器或波形发生器产生的单脉冲电压信号示意图。
具体实施方式:
一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置,它包括电容器3, NPN型晶体三极管1的集电极与PNP型晶体三极管2的发射极短接后引出到接线端B,在接线端B与PNP型晶体三极管2的发射极之间串联有电容器3,NPN型晶体三极管1的发射极与PNP型晶体三极管2的集电极短接后接到接地端GND,NPN型晶体三极管1的基极接到接线端A,PNP型晶体三极管2的基极接到接线端C。
接线端A、B、和C端均为BNC接头。
一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置的校准方法,它包括电容器瞬间开短路测试仪的短路校准方法和开路校准方法。
电容器瞬间开短路测试仪的短路校准方法包括:
步骤1、电容器瞬间开短路测试仪输出的信号加到B端;
步骤2、用一直流稳压电源在C端加入负低电平,使PNP型晶体三极管2饱和导通,相当于短路,PNP型晶体三极管2对电容3无影响。
步骤3、A端加入一单脉冲电压信号,33120A型函数/任意波形发生器的输出连接到A端,产生单脉冲电压信号;
步骤4、A端没有单脉冲电压信号输出时,A端为负低电平,NPN型晶体三极管1截止,对电容3无影响,A端电平从负低电平跳到高电平时,NPN型晶体三极管1饱和导通,相当于电容器3短路,将单脉冲电压信号的脉冲宽度T增加,当脉冲宽度T的值被检测仪器判定超过规定的短路时间T0时,此脉冲宽度T即为电容器瞬间开短路测试仪的最小短路时间。
电容器瞬间开短路测试仪的开路校准方法包括:
步骤1、电容器瞬间开短路测试仪输出的信号加到B端;
步骤2、用一直流稳压电源在A端加入负低电平,使NPN型晶体三极管1截止,相当于开路,NPN型晶体三极管1对电容3无影响;
步骤3、在C端加入一单脉冲电压信号,33120A型函数/任意波形发生器的输出连接到C端,产生单脉冲电压信号;
步骤4、C 端没有单脉冲电压信号输出时,C端为负低电平,PNP型晶体三极管2饱和导通,当C端电平从负低电平跳到高电平时,PNP型晶体三极管2截止,相当于电容器3开路,将单脉冲电压信号的脉冲宽度T增加,脉冲宽度T的值被仪器判定超过规定的开路时间T0时,此脉冲宽度T即为电容器瞬间开短路测试仪的最小开路时间。
所述高电平为1V,负的低电平为-1V。
所述单脉冲电压信号为函数发生器或波形发生器产生,本实施例采用,33120A型函数/任意波形发生器,33120A型函数/任意波形发生器设置:按pulse键,使其灯亮,幅度Ampl=2Vpp,直流偏置offset=0V,高电平Hilevel=1V,低电平Lolevel=-1V,周期period=100s,脉冲串Burst为1cyc,正脉冲,手动触发。则每按一次手动触发时,33120A型函数/任意波形发生器输出一个高电平为1V,低电平为-1V的脉冲宽度可调的单脉冲。

Claims (2)

1.一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置,它包括电容器(3),其特征在于:NPN型晶体三极管(1)的集电极与PNP型晶体三极管(2)的发射极短接后引出到接线端B,在接线端B与PNP型晶体三极管(2)的发射极之间串联有电容器(3),NPN型晶体三极管(1)的发射极与PNP型晶体三极管(2)的集电极短接后接到接地端GND,NPN型晶体三极管(1)的基极接到接线端A,PNP型晶体三极管(2)的基极接到接线端C。
2.根据权利要求1所述的一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置,其特征在于:接线端A、B、和C端均为BNC接头。
CN201420835549.8U 2014-12-25 2014-12-25 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置 Withdrawn - After Issue CN204302479U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201420835549.8U CN204302479U (zh) 2014-12-25 2014-12-25 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201420835549.8U CN204302479U (zh) 2014-12-25 2014-12-25 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN204302479U true CN204302479U (zh) 2015-04-29

Family

ID=53108010

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201420835549.8U Withdrawn - After Issue CN204302479U (zh) 2014-12-25 2014-12-25 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN204302479U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104515968A (zh) * 2014-12-25 2015-04-15 贵州航天计量测试技术研究所 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置及校准方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104515968A (zh) * 2014-12-25 2015-04-15 贵州航天计量测试技术研究所 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置及校准方法
CN104515968B (zh) * 2014-12-25 2017-08-01 贵州航天计量测试技术研究所 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置及校准方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101925828A (zh) 测试用于串联电弧检测的afci设备的方法和装置
CN106168647A (zh) Igbt老化状态检测系统
CN104515968A (zh) 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置及校准方法
CN107315122B (zh) 一种充电桩测试装置
CN103542877B (zh) 一种飞机起动箱综合检查仪的校准方法
CN109342939A (zh) 继电器综合参数测试系统的吸合释放时间校准装置及方法
CN204302479U (zh) 一种电容器瞬间开短路测试仪校准装置
CN202102047U (zh) 高压侧小电流检测装置
TW200942829A (en) Electromigration tester for high capacity and high current
CN202815193U (zh) 一种电池测试装置
CN203164305U (zh) 一种接地电阻测试仪
CN204065226U (zh) 一种瞬时峰值电压测量仪
CN101713809A (zh) 开关柜内ct二次线检查方法
CN203616370U (zh) 一种电流表的档位插口自动选择装置
CN209167498U (zh) 继电器综合参数测试系统的吸合释放时间校准装置
CN203930003U (zh) 一种用于芯片检测的模拟信号激励系统
CN207528835U (zh) 电容器参数测试装置
CN205749862U (zh) 一种特高频局放标定系统专用干扰源
CN202770906U (zh) 一种高电压大电流脉冲峰值检测电路
CN104267328A (zh) 二极管反向恢复时间测试方法
CN203465338U (zh) 一种电子围栏脉冲高压测试仪
CN206788313U (zh) 一种双极型功率晶体管开关时间参数标准检测装置
CN204649838U (zh) 充电桩充电计量检验装置
CN208569014U (zh) 一种可调压的局放信号标定仪
CN103837811A (zh) 晶体管特性图示仪高分辨测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
AV01 Patent right actively abandoned

Granted publication date: 20150429

Effective date of abandoning: 20170801

AV01 Patent right actively abandoned