RU1314881C - Способ получени рисунка фотошаблона - Google Patents

Способ получени рисунка фотошаблона

Info

Publication number
RU1314881C
RU1314881C SU3836518A RU1314881C RU 1314881 C RU1314881 C RU 1314881C SU 3836518 A SU3836518 A SU 3836518A RU 1314881 C RU1314881 C RU 1314881C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
layer
minutes
organic material
film
organic
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Е.В. Берлин
А.И. Красножон
А.И. Чернышов
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6644
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6644 filed Critical Предприятие П/Я Р-6644
Priority to SU3836518 priority Critical patent/RU1314881C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1314881C publication Critical patent/RU1314881C/ru

Links

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к микроэлектронике и может быть использовано на литографических операци х при изготовлении фотошаблонов Цель изобретени  - увеличение тиражеаойкости фотошаблона На аекл нную подложку нанос т слой органического материала - полиглицидилметакри- лата с этилакрилатом толщиной от 1 до 4 мкм и облучают его ультрафиолетовым облучением в вакууме не ниже 1,3 Па Затем обрабатывают подложку в ацетоне в течение 3 мин сушат при температуре 80°С в течение 30 мин и напыл ют пленку А1 толщиной 80-120 мкм. Далее нанос т пленку фоторезиаа толщиной 05- мкм, провод т сушку последнего при температуре 130°С в течение 30 мин и экспонируют рисунок топологии После про влени  рисунка в 0,5%-иом рааворе КОН и за- дубливании его при температуре 140°С в течение 10 мин провод т травление пленки А1 и HgPO iHNO CH COOHW O I40.6:30:5 Затем провод т реактивно-ионное травление сло  органического соединени  в кислороде при давлении 2.6 Па и напыл ют огой кермета на основе двуокиси кремни  с содержанием никел  от 1 до 10 ат%. Полученную аруктуру обрабатывают в 10%-ном растворе КОН до удалени  слоев и фоторезиста промывают в воде и сушат. Полимеризаци  органического материала фазвуковым излучением с длиной волны 115 - 430 нм в вакууме не ниже 1.3 Па с последующей пабипизацией в ацетоне в течение 2-10 мин обеспечивает достижение по- аавленной цели. 1 злф-лы. 2 ил.

Description

Изобретение относитс  к микроэлектронике и может быть использовано на литографических операци х при изготовлении фотошаблонов дл  полупроводниковых приборов и интегральных схем.
Целью изобретени   вл етс  увеличение тиражестойкости фотошаблона.
На фиг. 1 и 2 показаны основные этапы получени  рисунка фотошаблона.
На прозрачную подложку 1 нанос т слой 2 органического материала, представл ющий собой полностью сшитый полимер с сетчатой структурой, поверх сло  2 последовательно нанос т пленку 3 алюмини  и пленку 4 фоторезиста, в которой формируют маску. Рисунок маски путем последовательного травлени  пленки 3 и сло  2 органического материала перенос т в слой 2. После нанесени  маскирующего покрыти  5 пленку 3 алюмини  удап ют.
Пример 1. На стекл нную плоскопараллельную подложку 1 размером 102x102 мм (127x127 мм или другого стандартного размера) поспе отжига ее при в течение 40 мин нанос т на центрифуге слой 2 органического материала - полиглицидил- метакрилата с этилакрилатом толщиной от 1 до 4 мкм. провод т его облучение ультрафиолетовым излучением с длинами волн 360 нм в вакууме не ниже 1,3 Па. обрабатывают подложку в ацетоне в течение 3 мин, провод т сушку при температуре в течение 30 мин и напыл ют пленку 3 алюмини  толщиной 80-120 нм. Далее нанос т пленку 4 фоторезиста ФП--РН-7 толщиной 0,5-1 мкм. провод т его сушку при температуре 130°С а течение 30 мин и экспонирование рисунка топологии на установке ЭМ-552. После про влени  рисунка в 0,5%-ном растворе КОН и задубливании его при температуре 140°С в течение 10 мин провод т травление пленки 3 алюмини  в травителе состава НзРО/i: HNOa: СНзСООН : Н20 140:6:30:5. Затем осуществл ют ре- активно-иоиное травление сло  2 сополимера полиглицидилметакрилата с этилакрилатом в кислороде на установке УВП-2 при давлении 2.6 Па на установке вакуумного напылени  УРМЗ.279.040 электронно-лучевым и термическим испарением , одновременно напыл ют покрытие 5 (слой кермета на основе двуокиси кремни  с содержанием никел  от 1 до 10 вт.%). Затем полученную структуру обрабатывают в 10%-ном растворе КОН до удалени  слоев алюмини  и фоторезиста промывают в воде
и сушат при температуре 150°С в течение 30 мин.
Пример 2. На стекл нную плоскопараллельную подложку 1 размером 127x127 мм после отжига ее при Т - 100°С в течение 40 мин нанос т на центрифуге слой 2 бута- диенстирольного каучука
(- СН2СН СНСН2 -т - (-СН2СН-) п I
СбИб
в растворе толуола толщиной от 1 до 4 мкм и провод т его облучение ультрафиолетовым излучением в диапазоне длин волн 115-360 нм в вакууме не ниже 1,3 Па со скважностью импульс/пауза 1:10 в течение 15-30 мин с дозой облучени  2-5 Дж/см.
Затем обрабатывают подложку 1 в ацетоне в течение 2-10 мин при 20-22 0.
Уменьшение дозы облучени  дл  каучука 2 Дж/см приводит к получению остаточной толщины органического сло  1 мкм, что
не у,;овлетвор ет требовани м тиражестойкости из-за увеличени  веро тности повреждени  фотошаблона частицами с размерами пор дка 0,5-1 мкм.
Увеличение дозы облучени  более 5
Дж/см дл  каучука, 10 Дж/см дл  полистирола приводит к увеличению жесткости амортизирующего сло  и по влению де- структурированных участков органического сло  вплоть до полного его разложени  с
образованием графитизироваиного сло , то есть к разрушению амортизирующей толстой прослойки между фотошаблоном и экс- понируемой подложкой со слоем фоторезиста. Обработка в ацетоне в течение 2-10 мин удовлетвор ет требовани м технологичности процесса. Уменьшение времени 2 мин приводит к неполному растворению и удалению неполимеризированных частей органического сло . Увеличение
времени обработки не улучшает амортизирующих свойств сло  и не приводит к изменению толщины сло , полученной после 10-минутной обработки.
Далее рисунок формируетс  аналогично
примеру 1.
(56) Мазель Б.З., Пресс Ф.П. Планарна  технологи  кремниевых приборов. М.: Энерги . 1974, с. 218-244, 258-264. J.Vac. Scl. and Technology, т. 1, N 4. окт брь-декабрь, 1983. с. 1225-1234.

Claims (1)

1. СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РИСУНКА ФОТОШАБЛОНА, включающий нанесение на прозрачную подложку сло  органического материала, его полимеризацию, последовательное нанесение на него пленок алюмини  и фоторезиста, литографическое формирование фоторезистивной маски, перенос рисунка в слой органического материала путем последовательного травлени  пленки алюмини  и сло  органического материала , нанесение маскирующего покрыти  и удаление пленки алюмини .
ч
ч Ч j Ч Ч Ч Ч Ч
отличающийс  тем, что, с целью увеличени  тиражестойкости фотошаблона, пол имеризациюсло органического
материала осуществл ют путем облучени  ультрафиолетовым излучением с длиной волны 115 - 430 нм 8 вакууме не ниже 1.3 Па с последующей стабилизацией сло  в ацетоне в течение 2-10 мин, л 2, Способ по п,1, отличающийс  тем. что в качестве материала органического сло  используют полиглицидилметакрилат с этилакрилатом или бутадиенстирольный каучук,
н J
ч
j
ч
.7
Фиг.2
Редактор
Составитель О,Павлова Техред М.Моргентал
Заказ 3243
ТиражПодписное
НПО Поиск Роспатента 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб,, 4/5
Производственно-издательский комбинат Патент, г, Ужгород, ул,Гагарина, 101
Корректор А, Козориз
SU3836518 1985-01-02 1985-01-02 Способ получени рисунка фотошаблона RU1314881C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU3836518 RU1314881C (ru) 1985-01-02 1985-01-02 Способ получени рисунка фотошаблона

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU3836518 RU1314881C (ru) 1985-01-02 1985-01-02 Способ получени рисунка фотошаблона

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1314881C true RU1314881C (ru) 1993-11-15

Family

ID=21155825

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU3836518 RU1314881C (ru) 1985-01-02 1985-01-02 Способ получени рисунка фотошаблона

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1314881C (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR940006196A (ko) 패턴형성방법
Allen et al. Deep UV hardening of positive photoresist patterns
US4403151A (en) Method of forming patterns
KR20070070036A (ko) 반도체 소자의 제조 방법
US4649100A (en) Production of resist images, and a suitable dry film resist
JPH0511457A (ja) フオトリソグラフイによる構造物の製造方法
JPS6341047B2 (ru)
US4321317A (en) High resolution lithography system for microelectronic fabrication
GB2154330A (en) Fabrication of semiconductor devices
US4101782A (en) Process for making patterns in resist and for making ion absorption masks useful therewith
RU1314881C (ru) Способ получени рисунка фотошаблона
US5258267A (en) Process for forming resist pattern
US4612270A (en) Two-layer negative resist
US3627599A (en) Method of applying an n,n{40 diallylmelamine resist to a surface
US3520685A (en) Etching silicon dioxide by direct photolysis
JPS5961928A (ja) パタ−ン形成方法
US4278754A (en) Resists and method of manufacturing semiconductor elements by using the same
JPS6013432B2 (ja) Al又はAl合金パタ−ンの形成方法
US3520687A (en) Etching of silicon dioxide by photosensitive solutions
US3951659A (en) Method for resist coating of a glass substrate
US4954424A (en) Pattern fabrication by radiation-induced graft copolymerization
JPS63213343A (ja) 微細パタ−ンの形成方法
JP2692059B2 (ja) 電子線レジストパターンの形成方法
US6309804B1 (en) Reducing contamination induced scumming, for semiconductor device, by acid treatment
JPH0128374B2 (ru)