RU1314881C - Способ получени рисунка фотошаблона - Google Patents
Способ получени рисунка фотошаблонаInfo
- Publication number
- RU1314881C RU1314881C SU3836518A RU1314881C RU 1314881 C RU1314881 C RU 1314881C SU 3836518 A SU3836518 A SU 3836518A RU 1314881 C RU1314881 C RU 1314881C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- layer
- minutes
- organic material
- film
- organic
- Prior art date
Links
Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к микроэлектронике и может быть использовано на литографических операци х при изготовлении фотошаблонов Цель изобретени - увеличение тиражеаойкости фотошаблона На аекл нную подложку нанос т слой органического материала - полиглицидилметакри- лата с этилакрилатом толщиной от 1 до 4 мкм и облучают его ультрафиолетовым облучением в вакууме не ниже 1,3 Па Затем обрабатывают подложку в ацетоне в течение 3 мин сушат при температуре 80°С в течение 30 мин и напыл ют пленку А1 толщиной 80-120 мкм. Далее нанос т пленку фоторезиаа толщиной 05- мкм, провод т сушку последнего при температуре 130°С в течение 30 мин и экспонируют рисунок топологии После про влени рисунка в 0,5%-иом рааворе КОН и за- дубливании его при температуре 140°С в течение 10 мин провод т травление пленки А1 и HgPO iHNO CH COOHW O I40.6:30:5 Затем провод т реактивно-ионное травление сло органического соединени в кислороде при давлении 2.6 Па и напыл ют огой кермета на основе двуокиси кремни с содержанием никел от 1 до 10 ат%. Полученную аруктуру обрабатывают в 10%-ном растворе КОН до удалени слоев и фоторезиста промывают в воде и сушат. Полимеризаци органического материала фазвуковым излучением с длиной волны 115 - 430 нм в вакууме не ниже 1.3 Па с последующей пабипизацией в ацетоне в течение 2-10 мин обеспечивает достижение по- аавленной цели. 1 злф-лы. 2 ил.
Description
Изобретение относитс к микроэлектронике и может быть использовано на литографических операци х при изготовлении фотошаблонов дл полупроводниковых приборов и интегральных схем.
Целью изобретени вл етс увеличение тиражестойкости фотошаблона.
На фиг. 1 и 2 показаны основные этапы получени рисунка фотошаблона.
На прозрачную подложку 1 нанос т слой 2 органического материала, представл ющий собой полностью сшитый полимер с сетчатой структурой, поверх сло 2 последовательно нанос т пленку 3 алюмини и пленку 4 фоторезиста, в которой формируют маску. Рисунок маски путем последовательного травлени пленки 3 и сло 2 органического материала перенос т в слой 2. После нанесени маскирующего покрыти 5 пленку 3 алюмини удап ют.
Пример 1. На стекл нную плоскопараллельную подложку 1 размером 102x102 мм (127x127 мм или другого стандартного размера) поспе отжига ее при в течение 40 мин нанос т на центрифуге слой 2 органического материала - полиглицидил- метакрилата с этилакрилатом толщиной от 1 до 4 мкм. провод т его облучение ультрафиолетовым излучением с длинами волн 360 нм в вакууме не ниже 1,3 Па. обрабатывают подложку в ацетоне в течение 3 мин, провод т сушку при температуре в течение 30 мин и напыл ют пленку 3 алюмини толщиной 80-120 нм. Далее нанос т пленку 4 фоторезиста ФП--РН-7 толщиной 0,5-1 мкм. провод т его сушку при температуре 130°С а течение 30 мин и экспонирование рисунка топологии на установке ЭМ-552. После про влени рисунка в 0,5%-ном растворе КОН и задубливании его при температуре 140°С в течение 10 мин провод т травление пленки 3 алюмини в травителе состава НзРО/i: HNOa: СНзСООН : Н20 140:6:30:5. Затем осуществл ют ре- активно-иоиное травление сло 2 сополимера полиглицидилметакрилата с этилакрилатом в кислороде на установке УВП-2 при давлении 2.6 Па на установке вакуумного напылени УРМЗ.279.040 электронно-лучевым и термическим испарением , одновременно напыл ют покрытие 5 (слой кермета на основе двуокиси кремни с содержанием никел от 1 до 10 вт.%). Затем полученную структуру обрабатывают в 10%-ном растворе КОН до удалени слоев алюмини и фоторезиста промывают в воде
и сушат при температуре 150°С в течение 30 мин.
Пример 2. На стекл нную плоскопараллельную подложку 1 размером 127x127 мм после отжига ее при Т - 100°С в течение 40 мин нанос т на центрифуге слой 2 бута- диенстирольного каучука
(- СН2СН СНСН2 -т - (-СН2СН-) п I
СбИб
в растворе толуола толщиной от 1 до 4 мкм и провод т его облучение ультрафиолетовым излучением в диапазоне длин волн 115-360 нм в вакууме не ниже 1,3 Па со скважностью импульс/пауза 1:10 в течение 15-30 мин с дозой облучени 2-5 Дж/см.
Затем обрабатывают подложку 1 в ацетоне в течение 2-10 мин при 20-22 0.
Уменьшение дозы облучени дл каучука 2 Дж/см приводит к получению остаточной толщины органического сло 1 мкм, что
не у,;овлетвор ет требовани м тиражестойкости из-за увеличени веро тности повреждени фотошаблона частицами с размерами пор дка 0,5-1 мкм.
Увеличение дозы облучени более 5
Дж/см дл каучука, 10 Дж/см дл полистирола приводит к увеличению жесткости амортизирующего сло и по влению де- структурированных участков органического сло вплоть до полного его разложени с
образованием графитизироваиного сло , то есть к разрушению амортизирующей толстой прослойки между фотошаблоном и экс- понируемой подложкой со слоем фоторезиста. Обработка в ацетоне в течение 2-10 мин удовлетвор ет требовани м технологичности процесса. Уменьшение времени 2 мин приводит к неполному растворению и удалению неполимеризированных частей органического сло . Увеличение
времени обработки не улучшает амортизирующих свойств сло и не приводит к изменению толщины сло , полученной после 10-минутной обработки.
Далее рисунок формируетс аналогично
примеру 1.
(56) Мазель Б.З., Пресс Ф.П. Планарна технологи кремниевых приборов. М.: Энерги . 1974, с. 218-244, 258-264. J.Vac. Scl. and Technology, т. 1, N 4. окт брь-декабрь, 1983. с. 1225-1234.
Claims (1)
1. СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РИСУНКА ФОТОШАБЛОНА, включающий нанесение на прозрачную подложку сло органического материала, его полимеризацию, последовательное нанесение на него пленок алюмини и фоторезиста, литографическое формирование фоторезистивной маски, перенос рисунка в слой органического материала путем последовательного травлени пленки алюмини и сло органического материала , нанесение маскирующего покрыти и удаление пленки алюмини .
ч
ч Ч j Ч Ч Ч Ч Ч
отличающийс тем, что, с целью увеличени тиражестойкости фотошаблона, пол имеризациюсло органического
материала осуществл ют путем облучени ультрафиолетовым излучением с длиной волны 115 - 430 нм 8 вакууме не ниже 1.3 Па с последующей стабилизацией сло в ацетоне в течение 2-10 мин, л 2, Способ по п,1, отличающийс тем. что в качестве материала органического сло используют полиглицидилметакрилат с этилакрилатом или бутадиенстирольный каучук,
н J
ч
j
ч
.7
Фиг.2
Редактор
Составитель О,Павлова Техред М.Моргентал
Заказ 3243
ТиражПодписное
НПО Поиск Роспатента 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб,, 4/5
Производственно-издательский комбинат Патент, г, Ужгород, ул,Гагарина, 101
Корректор А, Козориз
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU3836518 RU1314881C (ru) | 1985-01-02 | 1985-01-02 | Способ получени рисунка фотошаблона |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU3836518 RU1314881C (ru) | 1985-01-02 | 1985-01-02 | Способ получени рисунка фотошаблона |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1314881C true RU1314881C (ru) | 1993-11-15 |
Family
ID=21155825
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU3836518 RU1314881C (ru) | 1985-01-02 | 1985-01-02 | Способ получени рисунка фотошаблона |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1314881C (ru) |
-
1985
- 1985-01-02 RU SU3836518 patent/RU1314881C/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR940006196A (ko) | 패턴형성방법 | |
Allen et al. | Deep UV hardening of positive photoresist patterns | |
US4403151A (en) | Method of forming patterns | |
KR20070070036A (ko) | 반도체 소자의 제조 방법 | |
US4649100A (en) | Production of resist images, and a suitable dry film resist | |
JPH0511457A (ja) | フオトリソグラフイによる構造物の製造方法 | |
JPS6341047B2 (ru) | ||
US4321317A (en) | High resolution lithography system for microelectronic fabrication | |
GB2154330A (en) | Fabrication of semiconductor devices | |
US4101782A (en) | Process for making patterns in resist and for making ion absorption masks useful therewith | |
RU1314881C (ru) | Способ получени рисунка фотошаблона | |
US5258267A (en) | Process for forming resist pattern | |
US4612270A (en) | Two-layer negative resist | |
US3627599A (en) | Method of applying an n,n{40 diallylmelamine resist to a surface | |
US3520685A (en) | Etching silicon dioxide by direct photolysis | |
JPS5961928A (ja) | パタ−ン形成方法 | |
US4278754A (en) | Resists and method of manufacturing semiconductor elements by using the same | |
JPS6013432B2 (ja) | Al又はAl合金パタ−ンの形成方法 | |
US3520687A (en) | Etching of silicon dioxide by photosensitive solutions | |
US3951659A (en) | Method for resist coating of a glass substrate | |
US4954424A (en) | Pattern fabrication by radiation-induced graft copolymerization | |
JPS63213343A (ja) | 微細パタ−ンの形成方法 | |
JP2692059B2 (ja) | 電子線レジストパターンの形成方法 | |
US6309804B1 (en) | Reducing contamination induced scumming, for semiconductor device, by acid treatment | |
JPH0128374B2 (ru) |