PL74447B2 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL74447B2
PL74447B2 PL15226771A PL15226771A PL74447B2 PL 74447 B2 PL74447 B2 PL 74447B2 PL 15226771 A PL15226771 A PL 15226771A PL 15226771 A PL15226771 A PL 15226771A PL 74447 B2 PL74447 B2 PL 74447B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
contacts
contact
current
brushes
tested
Prior art date
Application number
PL15226771A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL15226771A priority Critical patent/PL74447B2/pl
Publication of PL74447B2 publication Critical patent/PL74447B2/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

Pierwszenstwo: 18.12.1971 (P. 152267) Zgloszenie ogloszono: 30.05.1973 Opis patentowy opublikowano: 30.04.1975 74447 KL. 21e,27/08 MKP GOlr 27/08 Twórca wynalazku: Tadeusz Leszczynski Uprawniony z patentu tymczasowego: Zaklady Wytwórcze Sprzetu Tele¬ technicznego „Telfa", Bydgoszc2 (Polska) Uklad do pomiaru rezystancji przejscia zestyków zlacz wielostykowych i przekazników Przedmiotem wynalazku jest uklad do pomiaru rezystancji przejscia zestyków zlacz wielostykowych i przekazników metoda techniczna pradem stalym.Znane sa rózne sposoby pomiaru rezystancji np. metody mostkowe i metoda techniczna. W metodzie technicznej pomiaru rezystancji przejscia, przez ba¬ dany zestyk przeplywa prad staly, a spadek napie¬ cia na nim odczytywany jest na woltomierzu. War¬ tosc badanej rezystancji otrzymuje sie dzielac spa¬ dek napiecia na zestyku przez wielkosc przeplywa¬ jacego przez niego pradu. Chcac zmierzyc rezystan¬ cje przejscia zestyków w zlaczach wielostykowych lub przekaznikach itrzeba kolejno do kazdego zesty¬ ku dolaczac cztery przewody, z których dwa dopro¬ wadzaja prad, a dwa podlaczaja do badanego zesty¬ ku woltomierz.Taki uklad nadaje sie jedynie do pojedynczych pomiarów natomiast jest nieprzydatny do pomia¬ rów w produkcji masowej z uwagi na duza praco¬ chlonnosc oraz skomplikowane i klopotliwe podla¬ czanie przewodów.Celem wynalazku jest unikniecie tych niedogod¬ nosci i opracowanie ukladu, który bylby przydatny do masowych pomiarów rezystancji przejscia zesty¬ ków.Zgodnie z wynalazkiem uklad zawiera wybierak obrotowy, którego styki dwóch pól stykowych — do których szczotek poprzez amperomierz i regu¬ lowany opornik dolaczone jesit zródlo pradu — znajduja sie w obwodach pradowych badanych ze- 15 25 30 styków, natomiast w obwodach napieciowych tych zestyków znajduja sie styki dwóch nastepnych pól stykowych, do których szczotek dolaczony jest wol¬ tomierz cyfrowy.Takie rozwiazanie umozliwia zautomatyzowanie pomiarów rezystancji przejscia zestyków zlacz sty¬ kowych i przekazników, a ponadto umozliwia re¬ jestracje wyników pomiarów przez drukator lub perforator dolaczony do woltomierza cyfrowego.Przedmiot wynalazku w przykladowym wykona¬ niu jes,t przedstawiony na rysunku, który przedsta¬ wia schemat ideowy ukladu wedlug wynalazku.Uklad wedlug wynalazku zawiera cztery pola sty¬ kowe PI, P2, P3 i P4 wybieraka. Do styków 1, 2...n dwóch pól stykowych PI i P2 dolaczone sa obwody pradowe badanych zestyków Zl, Z2... Zn.Do szczotek SI i S2 tych pól stykowych poprzez amperomierz A i regulowany opornik R dolaczone jest zródlo pradu U. Styki 1, 2... n dwóch nastep¬ nych pól stykowych P3 i P4 sa wlaczone w obwo¬ dy napieciowe badanych zestyków Zl, Z2... Zn, na¬ tomiast do szczotek S3 i S4 tych pól dolaczony jest woltomierz cyfrowy We. Dolaczanie obwodów pra¬ dowych i obwodów napieciowych badanych zesty¬ ków do styków pól wybieraka odbywa sie przy po¬ mocy specjalnych gniazd nie pokazanych na ry¬ sunku.Dzialanie ukladu wedlug wynalazku jest naste¬ pujace. W stanie spoczynku zaden z badanych ze¬ styków Zl, Z2... Zn nie jest podlaczony do zródla 7444774447 3 pradu U, ani do woltomierza cyfrowego We, a szczotki SI, S2, 83 i 84 poszczególnych pól styko¬ wych PI, P2, P3 i P4 wybieraka znajduja sie w stenie wyjsciowym. Wybierak napedzany jest im- pulsaitorem, który podaje impulsy na cewke wybie¬ raka. Kazdemu impulsowi towarzyszy zadzialanie i przemieszczenie sie wszystkich pól stykowych o jeden styk.Przy pierwszym zadzialaniu wybieraka obwód pradowy badanego zestyku Zl, poprzez styki 1 i szczoliki 81 i 82 pól stykowych PI i P2, zostaje polaczony ize zródlem pradu U, natomiast obwód na¬ pieciowy tego zestyku poprzez styki 1 i szczotki 83 i Sljpól stykowych P3 i P4 zostaje polaczony z wol- tomicrjiem^ W tym stanie nastepuje pomiar rezystancji-przejscia badanego zestyku Zl.Po skonczonym pomiarze nastepuje zadzialanie wy¬ bieraka U w,Jtajri^sam sfcosób nastepuje pomiar na¬ stepnego badaftiea,,zestyku. Tak dzieje sie az do chwdM gdy wszysllrie -zestyki zostana porniiemzone.Spadek napiecia bedacy funkcja rezystancji ba¬ danego zestyku odczytuje sie na woltomierzeu cy¬ frowym We. Wartosc ta moze by6 równiez reje¬ strowana przez drukator lub perforator dolaczony do woltomierza cyfrowego We. (Regulowany opqrnik R sluzy do ustalania wielkosci natezenia pradu w obwodzie pradowym. Uklad wedlug wynalazku umozliwia przy dobraniu odpowiedniej wielkosci 5 pradu pomiarowego uzyskiwanie na woltomierzu cyfrowym We wyników pomiaru w mohm. W ukla¬ dzie wedlug wynalazku moze byc równiez zastoso¬ wany inny wybierak na przyklad elektroniczny. io PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad do pomiaru rezystancji przejscia zestyków zlacz wielostykowych i przekazników, metoda tech¬ niczna, pradem stalym, znamienny tym, ze zawiera 15 wybierak obrotowy, którego styki (1, 2...n) dwóch pól stykowych (PI i P2) — do których szczotek (81 i 82) poprzez amperomierz (A) i regulowany opor¬ nik (R) dolaczone jest zródlo pradu (U) — znajdu¬ ja sie w obwodach pradowych badanych zestyków 20 (Zl, Z2... Zn), natomiast w obwodach napieciowych tych zestyków znajduja sie styki (1,
2... n) dwóch nastepnych pól stykowych (P3) i (P4) do których szczotek (83 i 84) jest dolaczony woltomierz cyfro¬ wy (Wc)w Druk. Techn. Bytom z. 513 — 125 egz. Cena 10 zl PL PL
PL15226771A 1971-12-18 1971-12-18 PL74447B2 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15226771A PL74447B2 (pl) 1971-12-18 1971-12-18

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL15226771A PL74447B2 (pl) 1971-12-18 1971-12-18

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL74447B2 true PL74447B2 (pl) 1974-10-31

Family

ID=19956674

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL15226771A PL74447B2 (pl) 1971-12-18 1971-12-18

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL74447B2 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102005047413B4 (de) Magnetoresistives Sensorelement und Verfaheren zum Durchführen eines On-Wafer-Funktionstests, sowie Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen und Verfahren zur Herstellung von Magnetfeldsensorelementen mit On-Wafer-Funktionstest
DE60200992T2 (de) "Timing"-Kalibrierung und -Verifikation von Testern für elektronische Schaltungen
DE19529489C2 (de) Kalibrierungsplatine zum Kalibrieren einer Testeinrichtung für elektronische Schaltungen
EP2384444A1 (de) Vorrichtung zur messung von richtung und/oder stärke eines magnetfeldes
CA1287184C (en) Printed circuit board testing employing mechanical isolation
DE102016210970A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Messung der Stromstärke eines einzelnen Leiters eines Mehrleitersystems
DE102014119276A1 (de) Stromsensor
US10267856B2 (en) TSV first ends connected to test stimulus and response signals
GB2175402A (en) Apparatus and method for measuring battery currents
PL74447B2 (pl)
EP1734374A1 (de) Verfahren zum Testen eines Wafers, insbesondere Hall-Magnetfeld-Sensors und Wafer bzw. Hallsensor
CH707219A2 (de) Messschaltung zum Bestimmen eines Widerstandswerts eines Sensorwiderstandsbauelements.
EP0381848A3 (de) Vorrichtung für die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
AT58704B (de) Schaltungsanordnung zur Fehlerortbestimmung an Kabeln und Leitungen.
DE841804C (de) Unmittelbare Messung der Haertewerte bei Brinell- und Vickerspruefung
DE2261806C3 (de) Verfahren und Anordnungen zur Gewinnung von Meßwerten für den Umwelteinfluß auf die elektrische Isolation
DE10235124B4 (de) Messeinrichtung zum elektrischen Vermessen der Oberfläche eines Prüflings
DE964342C (de) Einrichtung zur Pruefung der Elektroden-Sitzguete am physiologischen Objekt
DE880025C (de) Geraet zur Pruefung elektrischer Stromkreise, insbesondere der elektrischen Anlagen von Kraftfahrzeugen
DE568153C (de) Anordnung zur abwechselnden Anzeige oder Registrierung von zwei Gruppen von Messwerten, von denen die eine durch elektrische Widerstaende, die andere durch elektromotorische Kraefte, z. B. von Thermoelementen, dargestelit wird
SU151085A1 (ru) Наконечник дл измерени твердости
DE963353C (de) Kompensationsschaltung zur Messung der EMK von Normalelementen
SU1377751A1 (ru) Способ измерени активного сопротивлени с помощью неуравновешенного моста
WO2000020856A1 (de) Prüfvorrichtung zur erfassung und lokalisierung von materialinhomogenitäten
JPS6221069A (ja) コンタクト式マルチプロ−ブ