Opublikowano: 30.IX.18C9 57908 KI. 42 k, 53 MKP G 01 n 1$/#Jf UKD Wspóltwórcy wynalazku: mgr inz. Andrzej Kozlowski, Zygmunt Czaj¬ kowski, Bogumil Niedzielski, Ryszard Doman¬ ski Wlasciciel patentu: Lódzkie Zaklady Przemyslu Skórzanego, Lódz (Pol¬ ska) Przyrzad do badania przyczepnosci powlok Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do bada¬ nia przyczepnosci powloki do podloza, zwlaszcza powlok na skórach, tkaninach i tworzywach, po¬ krywanych farbami lub lakierami albo powleka¬ nych foliami.Zespolenie powloki z podlozem, posiada istotne znaczenie dla uzytecznosci wyrobów gotowych, wy¬ produkowanych z materialu na którym powloka zostala wytworzona, naniesiona lub naklejona.Mankamenty niedostatecznego zwiazania powloki z podlozem ujawniaja sie czesto dopiero w czasie uzytkowania produktu gotowego i dlatego prze¬ twórcy materialów powlekanych przywiazuja duze znaczenie do przeprowadzania badan przyczepnosci powloki do podloza, jeszcze przed przekazaniem materialu do produkcji.Znany sposób badania przyczepnosci (adhezji), polega na zmierzeniu sily jaka potrzebna jest dla oderwania jednostki powloki od podloza.Znane urzadzenia do badania przyczepnosci po-* siadaja wiele niedogodnosci, które rzutuja na nie¬ prawidlowosc lub przypadkowosc odczytywanych wyników tych badan.Z niedogodnosci tych mozna wymienic takie, jak zastosowanie probierczych plytek, wykonanych z metalu, co nie pozwala na stwierdzenie czy ba¬ dana próbka materialu zostala dokladnie przykle¬ jona na calej swej powierzchni. Taka niedogodno¬ scia jest takze przystosowanie tych znanych urza- 15 20 dzen tylko do obciazania mianowanymi odwazni¬ kami lub tylko obciazeniem niemianowanym.Niedogodnoscia jest równiez brak w znanych przyrzadach, urzadzenia do aretowania lub tez bardzo prymitywne wykonanie tego urzadzenia, co nie dajac plynnego ruchu elementu aretowa- nego, moze znieksztalcic odczytywany wynik, jak równiez niedogodnoscia jest zawieszanie szalki z obciazeniem w otworze wycietym w badanej prób¬ ce, co wywoluje niepozadane naprezenia kierun¬ kowe w czasie badania.Celem wynalazku jest usuniecie tych niedogod¬ nosci. Zgodnie z wytyczonym zadaniem, konstruk^ cja przyrzadu do badania przyczepnosci powloki do podloza, eliminuje wymienione niedogodnosci.Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony na ry¬ sunku, na którym fig. 1 przedstawia przyrzad z szalka zawieszona w stanie spoczynku, a fig. 2 przedstawia istote zastosowania przyrzadu w mo¬ mencie badania próbki.Przyrzad wedlug wynalazku, sklada sie z pod¬ stawy 1, kolumny 2, stolika 3, ramienia wysiego¬ wego 4, szalki 5, i urzadzenia do aretowania sto¬ lika.Stolik 3 i ramie wysiegowe 4 sa umieszczone przesuwnie na kolumnie 2 i posiadaja sruby za¬ ciskowe 7 do regulowania wysokosci zamocowa¬ nia tych elementów.Ramie wysiegowe 4 jest wyposazone w zaczep 8* zacisk mimosrodowy 9 oraz plytke oporowa 10 5790857908 3 umieszczona w szczelinie ramienia. Urzadzenie do aretowania stolika 3 sklada sie ze sprezyny 11, linki pociagowej 12, bloczka 13, kola linowego 14 i dzwigni 15.Wyposazenie przyrzadu wedlug wynalazku sta- 5 nowia plytka probiercza 16 oraz uchwyt 17.Zastosowanie przyrzadu wedlug wynalazku, przedstawia sie nastepujaco.Z badanego materialu wycina sie próbke ó sze- rokosci plytki wzorcowej i dluzsza od plytki o 10 20 mm. Nastepnie próbke badanego materialu na¬ kleja sie, strona na której znajduje sie powloka —¦ na plytke, przy pomocy kleju, na przyklad z zy¬ wicy epoksydowej. Po stwierdzeniu, po przez obserwacje odwrotnej strony plytki probierczej 16, 15 ze próbka materialu zostala przyklejona na calej powierzchni plytki i po ewentualnym wycisnieciu powstalych pecherzyków powietrza, próbke poza¬ stawia sie pod obciazeniem, do czasu wyschnie¬ ciakleju, 20 Nastepnie plytke probiercza 16 z naklejona prób¬ ka 18 wsuwa sie do szczeliny w ramieniu wysie¬ gowym 4, az do oporu 10, tak aby material ba¬ dany znajdowal sie pod plytka probiercza 16 i zakleszcza sie próbke zaciskiem mimosrodowym 9. 25 Po zawieszeniu szalki 5 przy pomocy uchwytu 17 na koncu próbki 18, zwisajacym poza plytke 16 i wyregulowaniu wysokosci zamocowania ramienia wysiegowego 4 na kolumnie 2, obciaza sie szalka odwaznikami, az do momentu oderwania sie próbki 30 od powloki, która przy zastosowaniu odpowiednie¬ go kleju, pozostaje na plytce 16.Wynik odczytuje sie w gramach obciazenia, któ¬ re spowodowalo oderwanie sie próbki od powloki, az do linii zakleszczenia plytki 16 zaciskiem mi- 35 mosrodowym 9.Przy zastosowaniu odwazników mianowanych, po kazdym zwiekszeniu obciazenia, aretuje sie stolik 3 po przez ruch obrotowy dzwigni 15, przy czym po zwolnieniu tej dzwigni, stolik wraca do po- 40 przedniego polozenia, przyciagany sprezyna 11, spi¬ najaca stolik 3 z ramieniem wysiegowym 4.Przy zastosowaniu srutu lub innego obciazenia, niemianowanego, obniza sie wysokosc zamocowa¬ nia stolika 3 na kolumnie 2, tak aby nie podtrzy^ 45 mywal szalki 5. W tym przypadku dla ustalenia wyniku, ustala sie osobno wage calego obciazenia, którego ciezar spowodowal oderwanie sie próbki 18 od powloki.W stanie spoczynku, szalka 5 jest zawieszona na zaczepie 8, umieszczonym na koncu ramienia wysiegowego 4.Zastosowanie plytki probierczej 16, wykonanej ze szkla lub twardego przejrzystego tworzywa, po¬ zwala na obserwacje czy próbka badanego mate- 55 rialu zostala dokladnie przyklejona na calej po¬ wierzchni, przy czym zastosowanie plytki probier¬ czej o brzegach profilowanych, zmniejsza efekt brzegowy przyklejenia, powstajacy w wyniku zgru¬ bienia warstwy kleju, którego nadmiar jest wy¬ ciskany na boki próbki i plytki, pod obciazeniem, pod którym próbka jest pozostawiona do czasu wyschniecia kleju.Zastosowanie w przyrzadzie wedlug wynalazku, urzadzenia do aretowania — przedstawionej kon¬ strukcji, daje plynnosc ruchu stolika 3 co pozwala na duza dokladnosc odczytywania wyniku badania.* Zastosowanie plytki oporowej 10 w szczelinie ramienia wysiegowego 4 ulatwia i przyspiesza obsluge przyrzadu, a zastosowanie uchwytu 17 do zawieszania szalki 5, eliminuje powstawanie nie¬ pozadanych naprezen kierunkowych w próbce 18 — w czasie badania.Przyrzad do badania przyczepnosci powloki do .podloza, wedlug wynalazku, jest" prosty w kon¬ strukcji i obsludze, dzieki czemu moze znalezc szerokie zastosowanie, wobec jego niskich kosztów wyprodukowania w porównaniu na przyklad z dy- namometrami, które sa takze stosowane do badan w omawianym zakresie. PL